JPS6184849A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPS6184849A JPS6184849A JP59206143A JP20614384A JPS6184849A JP S6184849 A JPS6184849 A JP S6184849A JP 59206143 A JP59206143 A JP 59206143A JP 20614384 A JP20614384 A JP 20614384A JP S6184849 A JPS6184849 A JP S6184849A
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- JP
- Japan
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- chip
- resin
- soft
- semiconductor device
- apertures
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W42/00—Arrangements for protection of devices
- H10W42/20—Arrangements for protection of devices protecting against electromagnetic or particle radiation, e.g. light, X-rays, gamma-rays or electrons
- H10W42/25—Arrangements for protection of devices protecting against electromagnetic or particle radiation, e.g. light, X-rays, gamma-rays or electrons against alpha rays, e.g. for outer space applications
-
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/01—Manufacture or treatment
- H10W72/015—Manufacture or treatment of bond wires
- H10W72/01515—Forming coatings
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
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- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
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-
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- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
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Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
利用分野
本発明はソフトエラー防止用被覆を有する半導体装置に
関する。
関する。
従来技術
半4体メモリーのエラーには、チップの故障によるハー
ドエラーと、半導体メモリーの7? ツヶーソ信成材料
から検出されるα粒子によるソフトエラーとがあシ、α
粒子がチップに当ると、信号の101が:1′″に変っ
てメモリーが破壊される。−α粒子は、成形体に含まれ
る充填剤たとえばγ−8IO2の不純物であるα崩壊元
素のU、Thから発生する。これを防止するために、チ
ップの表面にソフトエラー防止用樹脂を被覆することが
行なわれている。しかし、ダイナミックメモリーのよう
な大容量メモリーの場合には、チップが縦長になシ、樹
脂を長端部まで塗布することが難しく、中央部が厚くな
りすぎる欠点がある。
ドエラーと、半導体メモリーの7? ツヶーソ信成材料
から検出されるα粒子によるソフトエラーとがあシ、α
粒子がチップに当ると、信号の101が:1′″に変っ
てメモリーが破壊される。−α粒子は、成形体に含まれ
る充填剤たとえばγ−8IO2の不純物であるα崩壊元
素のU、Thから発生する。これを防止するために、チ
ップの表面にソフトエラー防止用樹脂を被覆することが
行なわれている。しかし、ダイナミックメモリーのよう
な大容量メモリーの場合には、チップが縦長になシ、樹
脂を長端部まで塗布することが難しく、中央部が厚くな
りすぎる欠点がある。
問題点
ソフトエ・シー防止用樹脂をチップの上に均一に被覆す
ることが解決すべき問題点でちる。
ることが解決すべき問題点でちる。
解決手段
上記問題点は、チップの上面にソフトエラー防止用樹脂
を有するユ半導体装置であつて、ソフトエラー防止用樹
脂を塗布するために複数の開口を有するチップステージ
状部材をチップよf)lliIシて上方に設けたことを
特徴とする、半導体装置によって解決することができる
。
を有するユ半導体装置であつて、ソフトエラー防止用樹
脂を塗布するために複数の開口を有するチップステージ
状部材をチップよf)lliIシて上方に設けたことを
特徴とする、半導体装置によって解決することができる
。
実施例
第1図に実施例の半導体装置の断面図、第2図にチップ
ステージ状部材の平面図を示す。リードフレームは通常
のように42%Ni含有Fe合金であった。常法によシ
チ、ブステージ1の上に、接M層のAgペースト2を介
してSiチップ3を載せ、加熱して接着し、他方、予め
Agめっきした内部リード4のビンディングエリヤとS
iチップ3との間にAuワイヤ5を加熱ビンディングし
た。
ステージ状部材の平面図を示す。リードフレームは通常
のように42%Ni含有Fe合金であった。常法によシ
チ、ブステージ1の上に、接M層のAgペースト2を介
してSiチップ3を載せ、加熱して接着し、他方、予め
Agめっきした内部リード4のビンディングエリヤとS
iチップ3との間にAuワイヤ5を加熱ビンディングし
た。
次に本発明の特徴でちる複数の開口を有するチップステ
ージ状部材6はリードフレームと同じ材料とし、チップ
3よ、i50.4〜0.51m上方に位置するようにリ
ードフレームと一体化し、開口を通してソフトエラー防
止用樹脂であるシリコーン樹脂をチップ3の上にビンデ
ィングし、加熱して硬化させた。このシリコーン樹脂は
Ul、0ppb以下、の極めて微量の不純物含量のもの
であった。
ージ状部材6はリードフレームと同じ材料とし、チップ
3よ、i50.4〜0.51m上方に位置するようにリ
ードフレームと一体化し、開口を通してソフトエラー防
止用樹脂であるシリコーン樹脂をチップ3の上にビンデ
ィングし、加熱して硬化させた。このシリコーン樹脂は
Ul、0ppb以下、の極めて微量の不純物含量のもの
であった。
ナオ、チップステージ状部材6とチップ3にビンディン
グしたワイヤ5との接触を避けるために、部材6の大き
さはワイヤ5をビンディングしたチップ領域を含まない
程度とし、これによって、ワイヤ5の高さに関係なく、
部材6の高さを設定し、従ってシリコーン樹脂7の厚み
を設定することが便宜である。
グしたワイヤ5との接触を避けるために、部材6の大き
さはワイヤ5をビンディングしたチップ領域を含まない
程度とし、これによって、ワイヤ5の高さに関係なく、
部材6の高さを設定し、従ってシリコーン樹脂7の厚み
を設定することが便宜である。
最後に、常法によりて、r −5in2を充填剤として
含みエポキシ樹脂を主成分とする成形用グラスチックで
成形して・クツケージを形成した。
含みエポキシ樹脂を主成分とする成形用グラスチックで
成形して・クツケージを形成した。
発明の効果
本発明のンフトエラー防止半導体装置によれば、チップ
上に塗布するα粒子遮蔽用樹脂の厚みが均一であるので
、従来困難であった縦長チップのソフトエラー防止が可
能となり、大容量メモリーを容易に製造することができ
る。
上に塗布するα粒子遮蔽用樹脂の厚みが均一であるので
、従来困難であった縦長チップのソフトエラー防止が可
能となり、大容量メモリーを容易に製造することができ
る。
第1図は本発明による半導体装置のi折面図であり、第
2図はチップステージ状部材の平面図でちる。 1・・・チップステーソ、2・・・接着層、3・・・チ
ップ、4・・・内部リード、5・・・ワイヤ、6・・・
開口を有するチップステージ状部材、7・・・ソフトエ
ラー防止用樹脂、8・・・成形体。
2図はチップステージ状部材の平面図でちる。 1・・・チップステーソ、2・・・接着層、3・・・チ
ップ、4・・・内部リード、5・・・ワイヤ、6・・・
開口を有するチップステージ状部材、7・・・ソフトエ
ラー防止用樹脂、8・・・成形体。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、チップの上面にソフトエラー防止用樹脂層を有する
半導体装置であって、ソフトエラー防止用樹脂を塗布す
るために複数の開口を有するチップステージ状部材をチ
ップより離して上方に設けたことを特徴とする、半導体
装置。 2、チップステージ状部材の大きさを、チツプにボンデ
ィングしたワイヤをカバーしない程度とする、特許請求
の範囲第1項記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59206143A JPS6184849A (ja) | 1984-10-03 | 1984-10-03 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59206143A JPS6184849A (ja) | 1984-10-03 | 1984-10-03 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6184849A true JPS6184849A (ja) | 1986-04-30 |
Family
ID=16518500
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59206143A Pending JPS6184849A (ja) | 1984-10-03 | 1984-10-03 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6184849A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63239977A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-05 | Sony Corp | 半導体記憶装置 |
-
1984
- 1984-10-03 JP JP59206143A patent/JPS6184849A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63239977A (ja) * | 1987-03-27 | 1988-10-05 | Sony Corp | 半導体記憶装置 |
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