JPS6195428A - リセツト信号自己検証方式 - Google Patents
リセツト信号自己検証方式Info
- Publication number
- JPS6195428A JPS6195428A JP59216051A JP21605184A JPS6195428A JP S6195428 A JPS6195428 A JP S6195428A JP 59216051 A JP59216051 A JP 59216051A JP 21605184 A JP21605184 A JP 21605184A JP S6195428 A JPS6195428 A JP S6195428A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reset signal
- reset
- pulse
- microcomputer
- turned
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はマイクロコンピュータシステムの電源投入時に
発生されるリセット信号をシステム自身で検証する自己
検証方式に関する。
発生されるリセット信号をシステム自身で検証する自己
検証方式に関する。
パーソナルコンピュータ等のマイクロコンピュータシス
テム(マイコン)では電源投入時にマイクロプロセッサ
、RAM、 カウンタ、レジスタ類をクリアする(初期
状態に戻す)ためのりセット信号を発生するパワーオン
・リセット回路が設けられている。通常、このパワーオ
ン・リセット回路は電源投入後所定の時間経過後にリセ
ット解除するよう動作するが、さらに例えば国体の後面
パネルに設けられたりセント釦を手動操作することによ
ってもシステムをリセットし所定の時間後にリセット解
除出来るようになっている。
テム(マイコン)では電源投入時にマイクロプロセッサ
、RAM、 カウンタ、レジスタ類をクリアする(初期
状態に戻す)ためのりセット信号を発生するパワーオン
・リセット回路が設けられている。通常、このパワーオ
ン・リセット回路は電源投入後所定の時間経過後にリセ
ット解除するよう動作するが、さらに例えば国体の後面
パネルに設けられたりセント釦を手動操作することによ
ってもシステムをリセットし所定の時間後にリセット解
除出来るようになっている。
今、マイコンの製造ラインでの試験を考えた場合、前述
の後面パネルのリセット端子(外部リセット端子)にあ
られれるリセット信号を検証(チェック)することが行
われる。通常このチェックは外部に別個に設けられた電
源を用いてシステムとは別個に起動する回路(テスター
)によって行われる。すなわら、システムから取り出さ
れたリセット信号によりこのテスターがリセットされ、
所定の時間後にリセット解除されるとテスター内部に設
けられた試験用中央処理装置(テスI−CPυ)がオン
してリセット信号が正しく動作していることがチェック
できる。
の後面パネルのリセット端子(外部リセット端子)にあ
られれるリセット信号を検証(チェック)することが行
われる。通常このチェックは外部に別個に設けられた電
源を用いてシステムとは別個に起動する回路(テスター
)によって行われる。すなわら、システムから取り出さ
れたリセット信号によりこのテスターがリセットされ、
所定の時間後にリセット解除されるとテスター内部に設
けられた試験用中央処理装置(テスI−CPυ)がオン
してリセット信号が正しく動作していることがチェック
できる。
上記のチェック方式においては、リセット信号のチェッ
クのために、システムとは別個に少なくとも電源と、ラ
ッチ回路と、テストCPUからなるテスターを必要とす
る。この場合、ラッチ回路に入力されたリセット信号(
Lレベル)は電源投入後リセット解除()(レベル)に
なるまで所定の時間保持されHレベルに切替わるとQ出
力をテストCPUに送出する。テストCPUは既に外部
電源がオンされているためにリセット解除に応答して所
定の試験を行う。
クのために、システムとは別個に少なくとも電源と、ラ
ッチ回路と、テストCPUからなるテスターを必要とす
る。この場合、ラッチ回路に入力されたリセット信号(
Lレベル)は電源投入後リセット解除()(レベル)に
なるまで所定の時間保持されHレベルに切替わるとQ出
力をテストCPUに送出する。テストCPUは既に外部
電源がオンされているためにリセット解除に応答して所
定の試験を行う。
しかしながら、製造ラインにおける試験は、通常、製造
中のマイコンの所定の被試験プリント基板に設けられた
マルチコネクタを介して行われるので、テスターとマル
チコネクタ間を配線する必要があるが、この配線は種々
の外部ノイズの影響をうけることが多く誤動作の要因と
なり正確なチェックの障害となっている。さらに、別個
の外部電源を必要とするために検査装置として大型化す
るばかりでなくその為のコストアンプも来している。
中のマイコンの所定の被試験プリント基板に設けられた
マルチコネクタを介して行われるので、テスターとマル
チコネクタ間を配線する必要があるが、この配線は種々
の外部ノイズの影響をうけることが多く誤動作の要因と
なり正確なチェックの障害となっている。さらに、別個
の外部電源を必要とするために検査装置として大型化す
るばかりでなくその為のコストアンプも来している。
〔問題点を解決するための手段および作用〕本発明は上
述の問題点を解消したリセット信号の自己検証方式であ
って、従来外部のテスター等により行われていたリセッ
ト信号のチェックをマイコンシステム自身で行うことが
出来るようにした検証方式を提供するものであり、その
手段は、電源投入時に発生されるリセット信号に基づい
て立上り、所定のパルス幅を有するパルス信号を出力す
る手段と、該パルス信号を入力し該立上りと該パルス幅
に基づいて該リセット信号が切替わったことを判別する
判別手段とを設け、該リセット信号の検証を該パルス信
号の立上りおよびパルス幅により行うことを特徴とする
。
述の問題点を解消したリセット信号の自己検証方式であ
って、従来外部のテスター等により行われていたリセッ
ト信号のチェックをマイコンシステム自身で行うことが
出来るようにした検証方式を提供するものであり、その
手段は、電源投入時に発生されるリセット信号に基づい
て立上り、所定のパルス幅を有するパルス信号を出力す
る手段と、該パルス信号を入力し該立上りと該パルス幅
に基づいて該リセット信号が切替わったことを判別する
判別手段とを設け、該リセット信号の検証を該パルス信
号の立上りおよびパルス幅により行うことを特徴とする
。
第1図は本発明によるリセット信号自己検証方式を実施
するための装置としてワンショット・マルチバイブレー
クおよび判別回路を示し、第2図は第1図装置の信号タ
イミングチャートを示す。
するための装置としてワンショット・マルチバイブレー
クおよび判別回路を示し、第2図は第1図装置の信号タ
イミングチャートを示す。
第1図において、ワンショット・マルチバイブレークお
よび判別回路2.1はマイコン自身に組込まれ従って電
源Vccもマイコン自身の電源を利用する。マイコンの
電源Vccが第2図(a)に示す如く時間L1において
オンされると、内蔵するパワーオン・リセット解除(図
示せず)により第2図(b)に示す如(所定の時間t2
までリセット状態(Lレベル)が保持された後リセット
解除されVccはオンしマイコンは動作可能状態になる
。この場合、同時にリセ・ノド信号(RS T)はワン
ショット・マルチバイブレーク1のB端子に入力される
。ワンショット・マルチバイブレークlはRCにより定
まる時定数に基づいて第2図(c)に示す如くパルス幅
T (t+ Lx)のパルスをQ端子から出力する。
よび判別回路2.1はマイコン自身に組込まれ従って電
源Vccもマイコン自身の電源を利用する。マイコンの
電源Vccが第2図(a)に示す如く時間L1において
オンされると、内蔵するパワーオン・リセット解除(図
示せず)により第2図(b)に示す如(所定の時間t2
までリセット状態(Lレベル)が保持された後リセット
解除されVccはオンしマイコンは動作可能状態になる
。この場合、同時にリセ・ノド信号(RS T)はワン
ショット・マルチバイブレーク1のB端子に入力される
。ワンショット・マルチバイブレークlはRCにより定
まる時定数に基づいて第2図(c)に示す如くパルス幅
T (t+ Lx)のパルスをQ端子から出力する。
このQ端子出力は判別回路2に入力され、判別回路2は
パルスのLからHへの立上りとパルス幅Tを確認するこ
とによりリセット信号がLレベルからHレベルに切替っ
たことを判別する。
パルスのLからHへの立上りとパルス幅Tを確認するこ
とによりリセット信号がLレベルからHレベルに切替っ
たことを判別する。
本発明によれば、リセット信号のような信号によっては
システムが特別な状態になり自己検証が行えなかった信
号に対しても自己検証することができる。さらに外部電
源を必要としないために検査装置の小型化、低価格化を
図ることができる。
システムが特別な状態になり自己検証が行えなかった信
号に対しても自己検証することができる。さらに外部電
源を必要としないために検査装置の小型化、低価格化を
図ることができる。
第1図は本発明によるリセット信号自己検証方式を実施
する装置の一実施例回路図、および第2図は第1図回路
の各点における信号タイミングチャートである。 (符号の説明) 1・・・ワンショット・マルチハイブレーク、2・・・
判別回路。
する装置の一実施例回路図、および第2図は第1図回路
の各点における信号タイミングチャートである。 (符号の説明) 1・・・ワンショット・マルチハイブレーク、2・・・
判別回路。
Claims (1)
- 1、電源投入時に発生されるリセット信号に基づいて立
上り、所定のパルス幅を有するパルス信号を出力する手
段と、該パルス信号を入力し該立上りと該パルス幅に基
づいて該リセット信号が切替ったことを判別する判別手
段とを設け、該リセット信号の検証を該パルス信号の立
上りおよびパルス幅により行うことを特徴とするリセッ
ト信号自己検証方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59216051A JPS6195428A (ja) | 1984-10-17 | 1984-10-17 | リセツト信号自己検証方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59216051A JPS6195428A (ja) | 1984-10-17 | 1984-10-17 | リセツト信号自己検証方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6195428A true JPS6195428A (ja) | 1986-05-14 |
Family
ID=16682510
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59216051A Pending JPS6195428A (ja) | 1984-10-17 | 1984-10-17 | リセツト信号自己検証方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6195428A (ja) |
-
1984
- 1984-10-17 JP JP59216051A patent/JPS6195428A/ja active Pending
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