JPS62143142A - マイクロプロセツサテスト回路 - Google Patents

マイクロプロセツサテスト回路

Info

Publication number
JPS62143142A
JPS62143142A JP60285264A JP28526485A JPS62143142A JP S62143142 A JPS62143142 A JP S62143142A JP 60285264 A JP60285264 A JP 60285264A JP 28526485 A JP28526485 A JP 28526485A JP S62143142 A JPS62143142 A JP S62143142A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
program
microprocessor
test
address
control terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60285264A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiyuki Kano
敏行 加納
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60285264A priority Critical patent/JPS62143142A/ja
Publication of JPS62143142A publication Critical patent/JPS62143142A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はテスト回路に関し、特に半専体集積回路で実現
されたマイクロプログラム制御によるマイクロプロセッ
サをテストするマイクロプロセッサテスト回路に間する
〔従来の技術〕
従来、この種のテスト回路は、例えば第2図に示すよう
に、マイクロプロセッサの実動作時には、プログラムカ
ウンタ6のアドレスが示すプログラムメモ1ノ4の実動
作プログラムを、また、マイクロプロセッサのテスト時
には、プログラム入力端子7から入力されたテストプロ
グラムを、制御端9に印加される制御信号によりプログ
ラム入力切換回路8で切換えてマイクロプロセッサに出
力し、マイクロプロセッサをテストするようになってい
た。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来のマイクロプロセッサテスト回路は、テス
トプログラムを外部端子から直接、入力しでいるため、
テスト時におけるマイクロプロセッサの動作か、プログ
ラムメモリの出力により制御されるマイクロプロセッサ
の実動作と異なる欠点かあり、ざらに、プログラムメモ
リの出力、すなわちプログラムのビット長か長くなると
、テスト入力端子数か増加するという欠点がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明のマイクロプロセッサテスト回路は、マイクロプ
ロセッサの実動作用およびテスト用プログラムが格納さ
れているプログラムメモリと、制御端子と、プログラム
アドレス入力端子と、第1の論理値が制御端子に印加さ
れると、アドレスをプログラムメモリに順次、出力し、
第2の論理値が制御端子に印加されると、プログラムア
ドレス入力端子から入力されたアドレスを初期アドレス
としてアドレスをプログラムメモリに出力するプログラ
ムカウンタを有する。
このように、プログラムメモリにテスト用プログラムと
実動作用プログラムを格納し、テスト用または実動作用
プログラムのアドレスをプログラムアドレス入力端子か
らプログラムカウンタに設定することにより、テスト時
におけるマイクロプロセッサの動作がマイクロプロセッ
サの実動作と−敗し、また、テスト端子が少なくすむ。
〔実施例〕
本発明の実施例についで図面を参照して説明する。
第1図は、本発明のマイクロプロセッサテスト回路の一
実施例を示すブロック図である。
本実施例のマイクロプロセッサテスト回路は、プログラ
ムメモリ4と制御端子5とプログラムアドレス入出力端
子2とプログラムカウンタ1とゲート回路3を有する。
プログラムメモリ4には、マイクロプロセッサの実動作
用およびテスト用プログラムが格納されている。プログ
ラムカウンタ1は、マイクロプロセッサの実動作を指定
する論理値が制御端子5に印加されると、プログラムメ
モリ4に格納されている実動作用プログラムのアドレス
をプログラムメモリ4に順次出力し、マイクロプロセッ
サのテストを指定する論理値が制御端子5に印加される
と、プログラムアドレス入出力端子2から入力されたア
ドレスを初期アドレスとしてアドレスをプログラムメモ
リ4に出力する。ゲート回路3は、マイクロプロセッサ
のテストを指定する論理値が制御端子5に印加されたと
きのみ開いて、プログラムアドレス入出力端子2から入
力されたアドレスをプログラムカウンタ1に出力し、プ
ログラムカウンタ]から出力されたアドレスをプログラ
ムアドレス入出力端子2に出力する。
なお、本実施例仁は逆に、プログラムアドレス入出力端
子2から実動作用プログラムの初期アドレスをゲート回
路3%升してプログラムカウンタ1にセットし、テスト
用プログラムは制wJ端子5に所定の論理値を印加する
だけにしでもよい。また、ゲート回路3を省略してプロ
グラムアドレス入出力端子2とプログラムカウンタ1を
直接、接続しでもよい。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、プログラムメモリにテス
ト用プログラムも格納し、実動作用あるいはテスト用プ
ログラムのアドレスをプログラムアドレス入出力端子か
らプログラムカウンタに設定することにより、少数の外
部端子を用いて、プログラムメモリ内の任意のアドレス
のプログラムの実行を、監視を可能にし、複雑なマイク
ロプロセッサ回路の動作試験の容易化と、外部端子数の
削減によるチップ面積の縮小化を寅現できる効果がある
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明のマイクロプロセッサテスト回路の一
実施例を示すブロック図、第2図は従来例のマイクロプ
ロセッサテスト回路のブロック図である。 1・・・プログラムカウンタ、 2・・・プログラムアドレス入出力端子、3・・・ゲー
ト回路、 4・・・プログラムメモリ、 5・・・制御端子。 特許出願人 日本電気株式会社− 01,い 第1.ヤヵゎ ヵ″゛。 \・−9゛

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 マイクロプロセッサの実動作用およびテスト用プログラ
    ムか格納されているプログラムメモリと、 制御端子と、 プログラムアドレス入力端子と、 第1の論理値が制御端子に印加されると、アドレスをプ
    ログラムメモリに順次、出力し、第2の論理値が制御端
    子に印加されると、プログラムアドレス入力端子から入
    力されたアドレスを初期アドレスとしてアドレスをプロ
    グラムメモリに出力するプログラムカウンタを有するマ
    イクロプロセッサテスト回路。
JP60285264A 1985-12-17 1985-12-17 マイクロプロセツサテスト回路 Pending JPS62143142A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60285264A JPS62143142A (ja) 1985-12-17 1985-12-17 マイクロプロセツサテスト回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60285264A JPS62143142A (ja) 1985-12-17 1985-12-17 マイクロプロセツサテスト回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62143142A true JPS62143142A (ja) 1987-06-26

Family

ID=17689247

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60285264A Pending JPS62143142A (ja) 1985-12-17 1985-12-17 マイクロプロセツサテスト回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62143142A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02259938A (ja) * 1989-03-31 1990-10-22 Ricoh Co Ltd プロセッサ装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5193135A (en) * 1975-02-12 1976-08-16 Maikurokonpyuutano puroguramukauntasetsuteihoshiki
JPS59177657A (ja) * 1983-03-29 1984-10-08 Fujitsu Ltd マイクロコンピユ−タ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5193135A (en) * 1975-02-12 1976-08-16 Maikurokonpyuutano puroguramukauntasetsuteihoshiki
JPS59177657A (ja) * 1983-03-29 1984-10-08 Fujitsu Ltd マイクロコンピユ−タ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02259938A (ja) * 1989-03-31 1990-10-22 Ricoh Co Ltd プロセッサ装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6298437A (ja) マイクロコンピユ−タ
JPS6167148A (ja) マイクロコンピユ−タ
JPS6349870A (ja) マイクロコンピユ−タ
JPS6355090B2 (ja)
JPS6349811B2 (ja)
JPH011032A (ja) マイクロコンピュ−タ回路
JPS63240639A (ja) マイクロコンピユ−タ
JPS62125441A (ja) 1チツプマイクロコンピユ−タ
JPH0353342A (ja) テストモード設定回路
JPS60193056A (ja) シングルチツプマイクロコンピユ−タ
JPH0325784A (ja) メモリ素子
JPH02103482A (ja) 集積回路装置
JPS6235947A (ja) 制御装置
JPH025146A (ja) ワンチップマイクロコンピュータ
JPH01284934A (ja) ディジタル信号処理装置
JPH0559356U (ja) デジタルlsi用テスト回路
JPS62166448A (ja) プログラムトレ−ス装置
JPH02205987A (ja) 演算処理システム
JPH03196231A (ja) 情報処理装置
JPS62248043A (ja) マイクロコンピユ−タ・インストラクシヨン・フエツチ用メモリ切換回路
JPH01224849A (ja) マイクロコンピュータ
JPS5944658B2 (ja) プログラム点検回路
JPH0862292A (ja) 半導体ic試験装置
JPH01276484A (ja) 論理回路
JPH0431777A (ja) Lsiテスト装置