JPS62149218A - 高耐圧cmos回路 - Google Patents
高耐圧cmos回路Info
- Publication number
- JPS62149218A JPS62149218A JP60291133A JP29113385A JPS62149218A JP S62149218 A JPS62149218 A JP S62149218A JP 60291133 A JP60291133 A JP 60291133A JP 29113385 A JP29113385 A JP 29113385A JP S62149218 A JPS62149218 A JP S62149218A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- mos transistor
- type mos
- channel mos
- gate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 title description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 101100535994 Caenorhabditis elegans tars-1 gene Proteins 0.000 abstract 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の目的)
本発明の目的はCMO8EFROMにおける書き込み時
、などに高い電圧で動作する回路を提供することである
。
、などに高い電圧で動作する回路を提供することである
。
(発明の構成)
相補型絶縁ゲート半導体(CMOS)集積回路において
、高い電源電圧VPにて動作する基本ゲートがP型MO
SトランジスタとN型MOSトランジスタ間に、はぼ1
/ 2 VP を圧VFをゲート電圧としたP型MO
Sトランジスタ1とN型MOSトランジスタ2を直列に
接続し、前記P型MO8トランジスタ1とN型MOSト
ランジスタ2の接続点を出力とする構成を特徴とした高
電圧用CMOS回路。
、高い電源電圧VPにて動作する基本ゲートがP型MO
SトランジスタとN型MOSトランジスタ間に、はぼ1
/ 2 VP を圧VFをゲート電圧としたP型MO
Sトランジスタ1とN型MOSトランジスタ2を直列に
接続し、前記P型MO8トランジスタ1とN型MOSト
ランジスタ2の接続点を出力とする構成を特徴とした高
電圧用CMOS回路。
(作用)
基本ゲートのP型MOSトランジスタとN型MOSトラ
ンジスタのドレイン電圧はグー1圧VFのP型MOSト
ランジスタ1とN型MOSトランジスタ2によってクラ
ンプされ、またMOSトランジスタ1と2のドレインの
ブレークダウン電圧はこれらのゲートにVFの電圧が印
加されているために高くなっている。
ンジスタのドレイン電圧はグー1圧VFのP型MOSト
ランジスタ1とN型MOSトランジスタ2によってクラ
ンプされ、またMOSトランジスタ1と2のドレインの
ブレークダウン電圧はこれらのゲートにVFの電圧が印
加されているために高くなっている。
(発明の効果)
従来CMO8EFROMの書き込み回路には高い12〜
25Vプログラム電圧電源を必要とし、このプログラム
電源で動作するトランジスタには高耐圧トランジスタが
使用されていた。このために使用マスク枚数の増大を伴
なっていた。本発明は以上の高耐圧トランジスタを使用
しないで高い電圧で動作する回路を提供するものである
。
25Vプログラム電圧電源を必要とし、このプログラム
電源で動作するトランジスタには高耐圧トランジスタが
使用されていた。このために使用マスク枚数の増大を伴
なっていた。本発明は以上の高耐圧トランジスタを使用
しないで高い電圧で動作する回路を提供するものである
。
(実施例)
本発明の実施例を第1図に示す。基本ゲートであるイン
バータ回路に適用したものである。電源電圧VPを抵抗
5と6によって分割した電圧VFをゲート電圧としたP
型MOSトランジスタ1とN型MOSトランジスタ2が
インバータを構成するP型MOSトランジスタ3とN型
MOSトランジスタ40間に直列に配置されている。
バータ回路に適用したものである。電源電圧VPを抵抗
5と6によって分割した電圧VFをゲート電圧としたP
型MOSトランジスタ1とN型MOSトランジスタ2が
インバータを構成するP型MOSトランジスタ3とN型
MOSトランジスタ40間に直列に配置されている。
第2図に第1図の回路の動作波型を示す。P型MO8h
ランジスタ1と3の接続点S■にはvI =VP”RV
F+lVTPl(PmMO8) ラ:yジスタノしきい
値VTP)の電圧しか印加されず、N型MOSトランジ
スタ2と4の接続点S2にはvI = o v(D時V
F−VTn (N型〜10Sトランジスタのしきい値)
の宿、圧しか印加されず、また出力0■〜VPまで電圧
が印加されてもMOSトランジスタ1と2のゲート電圧
がvpが印加されているためドレイン宵圧の耐圧は上昇
する。第3図(a)にレベルシフター回路に本発明を適
用した実施例を示す。出力b、D端子に接するN型MO
Sトランジスタ23.24のゲート電圧は電源電圧VP
の1/2はどの電圧VFNであシ、出力り、 D端子に
接するP型MOSトランジスタ25.26のゲート電圧
VFPは電源電圧の1/2はどの電圧であり、VFP=
VFNでなくてもよい。第3図(b)にVFN、VFP
霜、圧を抵抗用P型MOSトランジスタ31とN型MO
Sトランジスタ32及び抵抗33によって発生する一例
を示している。
ランジスタ1と3の接続点S■にはvI =VP”RV
F+lVTPl(PmMO8) ラ:yジスタノしきい
値VTP)の電圧しか印加されず、N型MOSトランジ
スタ2と4の接続点S2にはvI = o v(D時V
F−VTn (N型〜10Sトランジスタのしきい値)
の宿、圧しか印加されず、また出力0■〜VPまで電圧
が印加されてもMOSトランジスタ1と2のゲート電圧
がvpが印加されているためドレイン宵圧の耐圧は上昇
する。第3図(a)にレベルシフター回路に本発明を適
用した実施例を示す。出力b、D端子に接するN型MO
Sトランジスタ23.24のゲート電圧は電源電圧VP
の1/2はどの電圧VFNであシ、出力り、 D端子に
接するP型MOSトランジスタ25.26のゲート電圧
VFPは電源電圧の1/2はどの電圧であり、VFP=
VFNでなくてもよい。第3図(b)にVFN、VFP
霜、圧を抵抗用P型MOSトランジスタ31とN型MO
Sトランジスタ32及び抵抗33によって発生する一例
を示している。
(発明のまとめ)
以上本発明によって、書き込み時に高い電圧を必要トス
ル紫外線消去uFROM(UV−BFROM)や電気的
消去可能なPROM(EEPR,OM)のCMO8製品
などに対して、高耐圧トランジスタを使用しなくてもよ
くなり、従って使用マスク枚数がこの分食なくなり、製
造工程が短縮される。
ル紫外線消去uFROM(UV−BFROM)や電気的
消去可能なPROM(EEPR,OM)のCMO8製品
などに対して、高耐圧トランジスタを使用しなくてもよ
くなり、従って使用マスク枚数がこの分食なくなり、製
造工程が短縮される。
第1図は本発明の実施例を示す。P型MOSトランジス
タ1.3、N型MOSトランジスタ2.4、抵抗5.6
である。第2図は入力第1図の動作波形を示す。第3図
(a)も本発明の実施例を示す。 N型MOSトランジスタ21.22.23.24、P型
MoSトランジスタ25.26.27.28、入カニ、
逆相式カニ、出力り、D、一定入力電圧VFP1VFN
s電源VPである。第3図(b)は分圧回路である。抵
抗用P型MOSトランジ2夕31、抵抗用N型MOSト
ランジスタ32、抵抗33である。 代理人 弁理士 内 原 晋 第2 図 第3図
タ1.3、N型MOSトランジスタ2.4、抵抗5.6
である。第2図は入力第1図の動作波形を示す。第3図
(a)も本発明の実施例を示す。 N型MOSトランジスタ21.22.23.24、P型
MoSトランジスタ25.26.27.28、入カニ、
逆相式カニ、出力り、D、一定入力電圧VFP1VFN
s電源VPである。第3図(b)は分圧回路である。抵
抗用P型MOSトランジ2夕31、抵抗用N型MOSト
ランジスタ32、抵抗33である。 代理人 弁理士 内 原 晋 第2 図 第3図
Claims (1)
- 相補型絶縁ゲート半導体(CMOS)集積回路において
、高い電源電圧V_Pにて動作する基本ゲートがP型M
OSトランジスタとN型MOSトランジスタ間にほぼ1
/2V_P電圧V_Fをゲート電圧としたP型MOSト
ランジスタ1とN型MOSトランジスタ2を直列に接続
し、前記P型MOSトランジスタ1とN型MOSトラン
ジスタ2の接続点を出力とする構成を特徴とした高耐圧
CMOS回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60291133A JPS62149218A (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 | 高耐圧cmos回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60291133A JPS62149218A (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 | 高耐圧cmos回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62149218A true JPS62149218A (ja) | 1987-07-03 |
Family
ID=17764875
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60291133A Pending JPS62149218A (ja) | 1985-12-23 | 1985-12-23 | 高耐圧cmos回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62149218A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07161853A (ja) * | 1993-12-01 | 1995-06-23 | Nec Corp | 不揮発性半導体記憶装置、その消去法及び製造方法 |
| EP0703665A2 (en) | 1994-09-21 | 1996-03-27 | Nec Corporation | Voltage level shift circuit |
| US6249169B1 (en) | 1998-06-01 | 2001-06-19 | Fujitsu Limited | Transistor output circuit |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5628412A (en) * | 1979-08-15 | 1981-03-20 | Furukawa Electric Co Ltd | Fireeresisting electric wire |
-
1985
- 1985-12-23 JP JP60291133A patent/JPS62149218A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5628412A (en) * | 1979-08-15 | 1981-03-20 | Furukawa Electric Co Ltd | Fireeresisting electric wire |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07161853A (ja) * | 1993-12-01 | 1995-06-23 | Nec Corp | 不揮発性半導体記憶装置、その消去法及び製造方法 |
| US5535158A (en) * | 1993-12-01 | 1996-07-09 | Nec Corporation | Non-volatile semiconductor memory device and method for erasure and production thereof |
| EP0703665A2 (en) | 1994-09-21 | 1996-03-27 | Nec Corporation | Voltage level shift circuit |
| US5729155A (en) * | 1994-09-21 | 1998-03-17 | Nec Corporation | High voltage CMOS circuit which protects the gate oxides from excessive voltages |
| US6249169B1 (en) | 1998-06-01 | 2001-06-19 | Fujitsu Limited | Transistor output circuit |
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