JPS62178562A - 1,2−キノンジアジド化合物の製造方法 - Google Patents
1,2−キノンジアジド化合物の製造方法Info
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/022—Quinonediazides
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Pyrane Compounds (AREA)
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は1.2−キノンジアジド化合物の製造方法に関
し、さらに詳しくは1.2−キノンジアジド化合物とア
ルカリ可溶性樹脂とからなる、紫外線、遠紫外線、X線
、電子線、分子線、γ線、シンクロトロン放射線、プロ
トンビーム等の放射線に感応するポジ型レジストとして
好適な感放射線性樹脂組成物に使用されるのに適した特
定の1゜2−キノンジアジド化合物の製造方法に関する
。
し、さらに詳しくは1.2−キノンジアジド化合物とア
ルカリ可溶性樹脂とからなる、紫外線、遠紫外線、X線
、電子線、分子線、γ線、シンクロトロン放射線、プロ
トンビーム等の放射線に感応するポジ型レジストとして
好適な感放射線性樹脂組成物に使用されるのに適した特
定の1゜2−キノンジアジド化合物の製造方法に関する
。
(従来の技術)
従来、集積回路を作製するために使用されるレジストと
しては、環化ゴムにビスアジド化合物を配合したネガ型
レジストと、アルカリ可溶性樹脂に1,2−キノンジア
ジド化合物を配合したポジ型レジストとが知られている
。ネガ型レジストは、紫外線照射によりビスアジド化合
物が窒素を脱離してナイトレンとなり、環化ゴムを三次
元架橋するため、環化ゴムの溶剤からなる現像液に対す
る紫外線照射部分と紫外線未照射部分の溶解性に差が生
じ、これによってバターニングされるが、架橋とはいっ
ても紫外線照射部分が完全に硬化するわけではないので
、環化ゴムの溶剤からなる現像液中でのレジストパター
ンの膨潤が大きく、レジストパターンの解像度が悪いと
いう欠点がある。
しては、環化ゴムにビスアジド化合物を配合したネガ型
レジストと、アルカリ可溶性樹脂に1,2−キノンジア
ジド化合物を配合したポジ型レジストとが知られている
。ネガ型レジストは、紫外線照射によりビスアジド化合
物が窒素を脱離してナイトレンとなり、環化ゴムを三次
元架橋するため、環化ゴムの溶剤からなる現像液に対す
る紫外線照射部分と紫外線未照射部分の溶解性に差が生
じ、これによってバターニングされるが、架橋とはいっ
ても紫外線照射部分が完全に硬化するわけではないので
、環化ゴムの溶剤からなる現像液中でのレジストパター
ンの膨潤が大きく、レジストパターンの解像度が悪いと
いう欠点がある。
一方、ポジ型レジストは、アルカリ可溶性樹脂にアルカ
リ不溶性の1.2−キノンジアジド化合物を配合するた
め、アルカリ性水溶液からなる現像液に熔解しにくく、
はとんど膨潤もしないため、紫外線照射部分の1,2−
キノンジアジド化合物がインデンカルボン酸に変化し、
アルカリ性水溶液からなる現像液で現像されても、レジ
ストパターンとなる紫外線未照射部分の変化が極端に少
な(、パターンマスクのパターンに忠実で、かつ高い解
像度のレジストパターンが得られる。そこで、集積回路
の高集積度化が要求される近年は、このような解像度の
優れたポジ型レジストが多用されている。
リ不溶性の1.2−キノンジアジド化合物を配合するた
め、アルカリ性水溶液からなる現像液に熔解しにくく、
はとんど膨潤もしないため、紫外線照射部分の1,2−
キノンジアジド化合物がインデンカルボン酸に変化し、
アルカリ性水溶液からなる現像液で現像されても、レジ
ストパターンとなる紫外線未照射部分の変化が極端に少
な(、パターンマスクのパターンに忠実で、かつ高い解
像度のレジストパターンが得られる。そこで、集積回路
の高集積度化が要求される近年は、このような解像度の
優れたポジ型レジストが多用されている。
しかしアルカリ可溶性樹脂と1.2−キノンジアジド化
合物を溶剤に溶解させてなるポジ型レジストを、例えば
孔径0.2μmのフィルタで濾過したのち保存してお(
と、異物が生成し、異物の生成したポジ型レジストをさ
らに長期にわたって保存すると、やがては沈殿物の発生
を見るに到る場合がある。このようなポジ型レジスト中
で発生する異物は粒径が0.5μm以上のものもある。
合物を溶剤に溶解させてなるポジ型レジストを、例えば
孔径0.2μmのフィルタで濾過したのち保存してお(
と、異物が生成し、異物の生成したポジ型レジストをさ
らに長期にわたって保存すると、やがては沈殿物の発生
を見るに到る場合がある。このようなポジ型レジスト中
で発生する異物は粒径が0.5μm以上のものもある。
このように大きい異物を含有するポジ型レジストを用い
てレジストパターンをシリコンウェーハ上に形成すると
、現像によりレジストが除去される部分に異物が残るた
め、解像度が低下し、さらに集積回路作製時の歩留りが
悪化する原因となる。
てレジストパターンをシリコンウェーハ上に形成すると
、現像によりレジストが除去される部分に異物が残るた
め、解像度が低下し、さらに集積回路作製時の歩留りが
悪化する原因となる。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明の目的は、前記のようにアルカリ可溶性樹脂と1
.2−キノンジアジド化合物を溶剤に溶解させることに
より調製されるポジ型レジストとして好適な感放射線性
樹脂組成物(以下、単に「樹脂組成物」と称する)の溶
液中の異物の発生の問題点を解決し、レジストパターン
形成の際の解像性および集積回路作製時の歩留りを向上
させることができる1、2−キノンジアジド化合物の製
造方法を提供することにある。
.2−キノンジアジド化合物を溶剤に溶解させることに
より調製されるポジ型レジストとして好適な感放射線性
樹脂組成物(以下、単に「樹脂組成物」と称する)の溶
液中の異物の発生の問題点を解決し、レジストパターン
形成の際の解像性および集積回路作製時の歩留りを向上
させることができる1、2−キノンジアジド化合物の製
造方法を提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明は、(1)(a)ポリヒドロキシ化合物の水酸基
の一部をアシル化剤および/またはスルホニル化剤と反
応させてアシル化および/またはスルホニル化した後、
さらにポリヒドロキシ化合物の残りの水酸基の一部また
は全部を1.2−キノンジアジド化剤と反応させて1.
2−キノンジアジド化するか、 (b)ポリヒドロキシ化合物の水酸基の一部または全部
にアシル化剤および/またはスルホニル化剤と1.2−
キノンジアジド化剤とを、反応させてアシル化および/
またはスルホニル化と同時に1.2−キノンジアジド化
するか、または(c)ポリヒドロキシ化合物の水酸基の
一部を1゜2−キノンジアジド化剤と反応させて1.2
−キノンジアジド化した後、さらにポリヒドロキシ化合
物の残りの水酸基の一部または全部をアシル化剤および
/またはスルホニル化剤と反応させてアシル化および/
またはスルホニル化する工程を含み、かつ、アシル化剤
、スルホニル化剤および1゜2−キノンジアジド化剤の
総使用量をポリヒドロキシ化合物の水酸基1グラム当量
に対して0.3モル以上とし、アシル化剤および/また
はスルホニル化剤〔A〕と1.2−キノンジアジド化剤
〔Q〕との使用割合を〔A〕 / 〔Q〕 =0.01
10.99〜0.710.3〔モル比〕とすることを特
徴とする1、2−キノンジアジド化合物の製造方法を提
供するものである。
の一部をアシル化剤および/またはスルホニル化剤と反
応させてアシル化および/またはスルホニル化した後、
さらにポリヒドロキシ化合物の残りの水酸基の一部また
は全部を1.2−キノンジアジド化剤と反応させて1.
2−キノンジアジド化するか、 (b)ポリヒドロキシ化合物の水酸基の一部または全部
にアシル化剤および/またはスルホニル化剤と1.2−
キノンジアジド化剤とを、反応させてアシル化および/
またはスルホニル化と同時に1.2−キノンジアジド化
するか、または(c)ポリヒドロキシ化合物の水酸基の
一部を1゜2−キノンジアジド化剤と反応させて1.2
−キノンジアジド化した後、さらにポリヒドロキシ化合
物の残りの水酸基の一部または全部をアシル化剤および
/またはスルホニル化剤と反応させてアシル化および/
またはスルホニル化する工程を含み、かつ、アシル化剤
、スルホニル化剤および1゜2−キノンジアジド化剤の
総使用量をポリヒドロキシ化合物の水酸基1グラム当量
に対して0.3モル以上とし、アシル化剤および/また
はスルホニル化剤〔A〕と1.2−キノンジアジド化剤
〔Q〕との使用割合を〔A〕 / 〔Q〕 =0.01
10.99〜0.710.3〔モル比〕とすることを特
徴とする1、2−キノンジアジド化合物の製造方法を提
供するものである。
本発明で使用されるポリヒドロキシ化合物は、少なくと
も分子中に水酸基を2個以上含有するも−のであり、具
体的にはレゾルシノール、ピロガロール、フロログルシ
ノール等のポリヒドロキシベンゼンH12,4−ジヒド
ロキシフェニルプロピルケトン、2.4−ジヒドロキシ
フェニル−n −へキシルケトン、2.3.4−)ジヒ
ドロキシフェニル−n−へキシルケトン等のポリヒドロ
キシフェニルアルキルケトン類、2,4−ジヒドロキシ
ベンゾフェノン、2.3.4−)ジヒドロキシベンゾフ
ェノン、2,4.6−)リヒドロキシベンゾフエノン、
2.4.2’、4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン
、2,3.4.4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン
、2,3,4.2’。
も分子中に水酸基を2個以上含有するも−のであり、具
体的にはレゾルシノール、ピロガロール、フロログルシ
ノール等のポリヒドロキシベンゼンH12,4−ジヒド
ロキシフェニルプロピルケトン、2.4−ジヒドロキシ
フェニル−n −へキシルケトン、2.3.4−)ジヒ
ドロキシフェニル−n−へキシルケトン等のポリヒドロ
キシフェニルアルキルケトン類、2,4−ジヒドロキシ
ベンゾフェノン、2.3.4−)ジヒドロキシベンゾフ
ェノン、2,4.6−)リヒドロキシベンゾフエノン、
2.4.2’、4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン
、2,3.4.4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン
、2,3,4.2’。
4′−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,3゜4.
2’、6’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2.3
.4.3’、4’、5’−へキサヒドロキシベンゾフェ
ノン、2,4.6.3’、4’。
2’、6’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2.3
.4.3’、4’、5’−へキサヒドロキシベンゾフェ
ノン、2,4.6.3’、4’。
5′−へキサヒドロキシベンゾフェノン、2,3゜4.
5.4”−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2、 3
. 4. 5. 3’、 4”、 5”−へブタヒ
ドロキシベンゾフヱノン、2,3.3″、4’、5’−
ペンタヒドロキシ−4−メトキシベンゾフェノン、2.
3,4.3“、4”、5’−へキサヒドロキシ−5−ク
ロロベンゾフェノン、2,3.4゜3’、4’、5’−
へキサヒドロキシ−5−ベンゾイルベンゾフェノン等の
ポリヒドロキシフェニルアリールケトン類、ビス(2,
4−ジヒドロキシフェニル)メタン、2.2−ビス(2
,4−ジヒドロキシフェニル)プロパン、2,2−ビス
(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)プロパン等の
ビス(ポリヒドロキシフェニル)アルカン類、3.4.
5−)リヒドロキシ安患香酸プロピル、3.4.5−ト
リヒドロキシ安息香酸フェニル等のポリヒドロキシ安息
香酸アルキルエステル類またはポリヒドロキシ安息香酸
アリールエステル類、ビス(2,4−ジヒドロキシベン
ゾイル)メタンビ、2.(2,3,4−)ジヒドロキシ
ベンゾイル)メタン、ビス(2,4,6−)ジヒドロキ
シベンゾイル)メタン、2.2−ビス(2,3,4−)
ジヒドロキシフェニル)プロパン等のビス(ポリヒドロ
キシベンゾイル)アルカン類、p−ビス(2,5−ジヒ
ドロキシベンゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,3,4
−1リヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、p−ビス(2
,4,6−)ジヒドロキシベンゾイル)ベンゼン等のビ
ス(ポリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン類、エチレン
グリコールジ(3,5−ジヒドロキシベンゾエート)、
エチレングリコールジ(3,4,5−トリヒドロキシベ
ンゾエート)、1.4−ブタンジオールジ(3,4,5
−1−ジヒドロキシベンゾエート)、1゜8−オクタン
ジオールジ(3,4,5−)ジヒドロキシベンゾエート
)等のアルカンジオールジ(ポリヒドロキシベンゾエー
ト)類、ジエチレングリコールジ(3,4,5−)ジヒ
ドロキシベンゾエート)、トリエチレングリコールジ(
3,4゜5−トリヒドロキシベンゾエート)等のポリエ
チレングリコールジ(ポリヒドロキシベンゾエート)類
、ヒスピジン、グルベルジン等の水酸基を有するα−ピ
ロン系天然色素類、クリシン、アビゲニン、ケルセチン
、ルチン、モリン、ナリンゲニン、ブルネチン等の水酸
基を有するγ−ピロン系天然色素類、ロイコプテリン、
エントロプテリン、クリソプテリン、イオジニン等の水
酸基を有するジアジン系天然色素類、アトロメンチン、
ムスカルフィン、ニゲロン、アリザリン、プルプリン、
スカイリン等の水酸基を有するキノン系天然色素類、お
よびポリ (ヒドロキシスチレン)、アルカリ可溶性ノ
ボラック樹脂、ピロガロール・アセトン縮合樹脂等の水
酸基を有する樹脂類を挙げることができる。これらのポ
リヒドロキシ化合物は単独でまたは2種以上組合わせて
用いられる。
5.4”−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2、 3
. 4. 5. 3’、 4”、 5”−へブタヒ
ドロキシベンゾフヱノン、2,3.3″、4’、5’−
ペンタヒドロキシ−4−メトキシベンゾフェノン、2.
3,4.3“、4”、5’−へキサヒドロキシ−5−ク
ロロベンゾフェノン、2,3.4゜3’、4’、5’−
へキサヒドロキシ−5−ベンゾイルベンゾフェノン等の
ポリヒドロキシフェニルアリールケトン類、ビス(2,
4−ジヒドロキシフェニル)メタン、2.2−ビス(2
,4−ジヒドロキシフェニル)プロパン、2,2−ビス
(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)プロパン等の
ビス(ポリヒドロキシフェニル)アルカン類、3.4.
5−)リヒドロキシ安患香酸プロピル、3.4.5−ト
リヒドロキシ安息香酸フェニル等のポリヒドロキシ安息
香酸アルキルエステル類またはポリヒドロキシ安息香酸
アリールエステル類、ビス(2,4−ジヒドロキシベン
ゾイル)メタンビ、2.(2,3,4−)ジヒドロキシ
ベンゾイル)メタン、ビス(2,4,6−)ジヒドロキ
シベンゾイル)メタン、2.2−ビス(2,3,4−)
ジヒドロキシフェニル)プロパン等のビス(ポリヒドロ
キシベンゾイル)アルカン類、p−ビス(2,5−ジヒ
ドロキシベンゾイル)ベンゼン、p−ビス(2,3,4
−1リヒドロキシベンゾイル)ベンゼン、p−ビス(2
,4,6−)ジヒドロキシベンゾイル)ベンゼン等のビ
ス(ポリヒドロキシベンゾイル)ベンゼン類、エチレン
グリコールジ(3,5−ジヒドロキシベンゾエート)、
エチレングリコールジ(3,4,5−トリヒドロキシベ
ンゾエート)、1.4−ブタンジオールジ(3,4,5
−1−ジヒドロキシベンゾエート)、1゜8−オクタン
ジオールジ(3,4,5−)ジヒドロキシベンゾエート
)等のアルカンジオールジ(ポリヒドロキシベンゾエー
ト)類、ジエチレングリコールジ(3,4,5−)ジヒ
ドロキシベンゾエート)、トリエチレングリコールジ(
3,4゜5−トリヒドロキシベンゾエート)等のポリエ
チレングリコールジ(ポリヒドロキシベンゾエート)類
、ヒスピジン、グルベルジン等の水酸基を有するα−ピ
ロン系天然色素類、クリシン、アビゲニン、ケルセチン
、ルチン、モリン、ナリンゲニン、ブルネチン等の水酸
基を有するγ−ピロン系天然色素類、ロイコプテリン、
エントロプテリン、クリソプテリン、イオジニン等の水
酸基を有するジアジン系天然色素類、アトロメンチン、
ムスカルフィン、ニゲロン、アリザリン、プルプリン、
スカイリン等の水酸基を有するキノン系天然色素類、お
よびポリ (ヒドロキシスチレン)、アルカリ可溶性ノ
ボラック樹脂、ピロガロール・アセトン縮合樹脂等の水
酸基を有する樹脂類を挙げることができる。これらのポ
リヒドロキシ化合物は単独でまたは2種以上組合わせて
用いられる。
本発明でアシル化に使用するアシル化剤の具体例として
は、酢酸クロリド、酢酸プロミド、酢酸フルオリド、ク
ロル酢酸クロリド、ジクロル酢酸クロリド、トリクロル
酢酸クロリド、プロピオン酸クロリド、プロピオン酸プ
ロミド、α−クロロプロピオン酸クロリド、酪酸クロリ
ド、イソ酪酸クロリド、吉草酸クロリド、イソ吉草酸ク
ロリド、トリメチル酢酸クロリド等のアルカンカルボン
酸ハライド類、アクリル酸クロリド、アクリル酸ブロミ
ト、メタクリル酸クロリド、メタクリル酸プロミド、ク
ロトン酸クロリド、α−エチルアクリル酸クロリド、β
−メチルクロトン酸クロリド、アンゲリカ酸クロリド、
チグリン酸クロリド、α−エチルクロトン酸クロリド、
2−ペンテン酸クロリド等のアルケンカルボン酸ハライ
ド類、プロピオール酸りロリド、テトロール酸クロリド
、エチルプロピオール酸りロリド、ブチルプロピオール
酸りロリド等のアルキンカルボン酸ハライド類、2.4
−ペンタジェン酸クロリド、2.4−ヘキサジエン酸ク
ロリド等のアルカジエンカルボン酸ハライド類、安息香
酸クロリド、安息香酸プロミド、4−メチル安息香酸ク
ロリド、4−プロピル安息香酸クロリド、4−クロロ安
息香酸クロリド、3.4.5−1−リメトキシ安息香酸
クロリド、3゜4.5−1−リメトキシ安息香酸プロミ
ド等のアリールカルボン酸ハライド類、メトキシギ酸ク
ロリド、エトキシギ酸クロリド、プロポキシギ酸クロリ
ド、2−エトキシエトキシギ酸クロリド、メトキシ酢酸
クロリド、エトキシ酢酸クロリド、プロポキシ酢酸クロ
リド、3−メトキシプロピオン酸クロリド、3−エトキ
シプロピオン酸クロリド等のアルコキシアルカンカルボ
ン酸ハライド類、およびメトキシカルボニル酢酸クロリ
ド、エトキシカルボニルプロピオン酸クロリド、エトキ
シカルボニル酢酸クロリド、エトキシカルボニルプロピ
オン酸クロリド、メトキシカルボニル酪酸クロリド、エ
トキシカルボニル酪酸クロリド、メトキシカルボニル吉
草酸クロリド、エトキシカルボニル吉草酸クロリド等の
アルコキシカルボニルアルカンカルボン酸ハライド類を
挙げることができる。
は、酢酸クロリド、酢酸プロミド、酢酸フルオリド、ク
ロル酢酸クロリド、ジクロル酢酸クロリド、トリクロル
酢酸クロリド、プロピオン酸クロリド、プロピオン酸プ
ロミド、α−クロロプロピオン酸クロリド、酪酸クロリ
ド、イソ酪酸クロリド、吉草酸クロリド、イソ吉草酸ク
ロリド、トリメチル酢酸クロリド等のアルカンカルボン
酸ハライド類、アクリル酸クロリド、アクリル酸ブロミ
ト、メタクリル酸クロリド、メタクリル酸プロミド、ク
ロトン酸クロリド、α−エチルアクリル酸クロリド、β
−メチルクロトン酸クロリド、アンゲリカ酸クロリド、
チグリン酸クロリド、α−エチルクロトン酸クロリド、
2−ペンテン酸クロリド等のアルケンカルボン酸ハライ
ド類、プロピオール酸りロリド、テトロール酸クロリド
、エチルプロピオール酸りロリド、ブチルプロピオール
酸りロリド等のアルキンカルボン酸ハライド類、2.4
−ペンタジェン酸クロリド、2.4−ヘキサジエン酸ク
ロリド等のアルカジエンカルボン酸ハライド類、安息香
酸クロリド、安息香酸プロミド、4−メチル安息香酸ク
ロリド、4−プロピル安息香酸クロリド、4−クロロ安
息香酸クロリド、3.4.5−1−リメトキシ安息香酸
クロリド、3゜4.5−1−リメトキシ安息香酸プロミ
ド等のアリールカルボン酸ハライド類、メトキシギ酸ク
ロリド、エトキシギ酸クロリド、プロポキシギ酸クロリ
ド、2−エトキシエトキシギ酸クロリド、メトキシ酢酸
クロリド、エトキシ酢酸クロリド、プロポキシ酢酸クロ
リド、3−メトキシプロピオン酸クロリド、3−エトキ
シプロピオン酸クロリド等のアルコキシアルカンカルボ
ン酸ハライド類、およびメトキシカルボニル酢酸クロリ
ド、エトキシカルボニルプロピオン酸クロリド、エトキ
シカルボニル酢酸クロリド、エトキシカルボニルプロピ
オン酸クロリド、メトキシカルボニル酪酸クロリド、エ
トキシカルボニル酪酸クロリド、メトキシカルボニル吉
草酸クロリド、エトキシカルボニル吉草酸クロリド等の
アルコキシカルボニルアルカンカルボン酸ハライド類を
挙げることができる。
前記のアシル化剤としては主にカルボン酸ハライドを挙
げたが、アシル化反応の条件によってはカルボン酸また
はカルボン酸無水物であっても差し支えない。これらの
アシル化剤は単独でまたは2種以上組合わせて用いられ
る。
げたが、アシル化反応の条件によってはカルボン酸また
はカルボン酸無水物であっても差し支えない。これらの
アシル化剤は単独でまたは2種以上組合わせて用いられ
る。
本発明でスルホニル化に使用するスルホニル化剤の具体
例としては、メタンスルホン酸クロリド、メタンスルホ
ン酸フルオリド、エタンスルホン酸クロリド、プロパン
スルホン酸クロリド、ブタンスルホン酸クロリド、ペン
タンスルホン酸クロリド、ヘキサンスルホン酸クロリド
等のアルカンスルホン酸ハライド類、エチレンスルホン
酸クロリド、1−プロペン−1−スルホン酸クロリド等
のアルケンスルホン酸ハライド類、およびベンゼンスル
ホン酸クロリド、ベンゼンスルホン酸フルオリド、p−
)ルエンスルホン酸クロリド、p−キシレンスルホン酸
クロリド等のアリールスルホン酸ハライド類を挙げるこ
とができる。これらのスルホニル化剤は単独でまたは2
種以上組合わせて用いられる。
例としては、メタンスルホン酸クロリド、メタンスルホ
ン酸フルオリド、エタンスルホン酸クロリド、プロパン
スルホン酸クロリド、ブタンスルホン酸クロリド、ペン
タンスルホン酸クロリド、ヘキサンスルホン酸クロリド
等のアルカンスルホン酸ハライド類、エチレンスルホン
酸クロリド、1−プロペン−1−スルホン酸クロリド等
のアルケンスルホン酸ハライド類、およびベンゼンスル
ホン酸クロリド、ベンゼンスルホン酸フルオリド、p−
)ルエンスルホン酸クロリド、p−キシレンスルホン酸
クロリド等のアリールスルホン酸ハライド類を挙げるこ
とができる。これらのスルホニル化剤は単独でまたは2
種以上組合わせて用いられる。
本発明で1,2−キノンジアジド化に使用する1、2−
キノンジアジド化剤の代表例としては、1.2−キノン
ジアジドスルホン酸ハライド、具体的には1,2−ナフ
トキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド、1,2−
ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸クロリド、1,
2−ベンゾキノンジアジド−4−スルホン酸クロリド等
が挙げられる。これらの1.2−キノンジアジド化剤は
単独でまたは2種以上組合せて用いられる。
キノンジアジド化剤の代表例としては、1.2−キノン
ジアジドスルホン酸ハライド、具体的には1,2−ナフ
トキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド、1,2−
ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸クロリド、1,
2−ベンゾキノンジアジド−4−スルホン酸クロリド等
が挙げられる。これらの1.2−キノンジアジド化剤は
単独でまたは2種以上組合せて用いられる。
本発明の1.2−キノンジアジド化合物(以下、単にr
QD化合物」と称する)の製造方法の具体例としては、
下記(1)、(2)または(3)の方法を挙げることが
できる。
QD化合物」と称する)の製造方法の具体例としては、
下記(1)、(2)または(3)の方法を挙げることが
できる。
(1)ポリヒドロキシ化合物をア七トン、ジオキサン、
テトラヒドロフラン、メチルエチルケトン等の溶媒に溶
解後、ポリヒドロキシ化合物の水酸基の一部をアシル化
および/またはスルホニル化する量のアシル化剤および
/またはスルホニル化剤を、好ましくはポリヒドロキシ
化合物の水酸基1グラム当量に対して0.01〜0.8
モル添加し、反応させた後、さらにポリヒドロキシ化合
物の残りの水酸基の一部または全部を1,2−キノンジ
アジド化する量の1,2−キノンジアジド化剤を添加し
て反応させ、反応終了後、生成した塩酸塩を濾過するか
、または水を添加して塩酸塩を熔解させた後、大量の希
塩酸水、希硫酸水のような酸性水で再沈1ffl$i製
した後、乾燥する方法。
テトラヒドロフラン、メチルエチルケトン等の溶媒に溶
解後、ポリヒドロキシ化合物の水酸基の一部をアシル化
および/またはスルホニル化する量のアシル化剤および
/またはスルホニル化剤を、好ましくはポリヒドロキシ
化合物の水酸基1グラム当量に対して0.01〜0.8
モル添加し、反応させた後、さらにポリヒドロキシ化合
物の残りの水酸基の一部または全部を1,2−キノンジ
アジド化する量の1,2−キノンジアジド化剤を添加し
て反応させ、反応終了後、生成した塩酸塩を濾過するか
、または水を添加して塩酸塩を熔解させた後、大量の希
塩酸水、希硫酸水のような酸性水で再沈1ffl$i製
した後、乾燥する方法。
(2)ポリヒドロキシ化合物を前記と同様の溶媒に溶解
後、アシル化剤および/またはスルホニル他剤と1.2
−キノンジアジド化剤とを添加し、反応させ、反応終了
後、生成した塩酸塩を濾過するか、または水を添加して
塩酸塩を溶解させた後、大量の希塩酸水、希硫酸水のよ
うな酸性水で再沈殿精製した後、乾燥する方法。
後、アシル化剤および/またはスルホニル他剤と1.2
−キノンジアジド化剤とを添加し、反応させ、反応終了
後、生成した塩酸塩を濾過するか、または水を添加して
塩酸塩を溶解させた後、大量の希塩酸水、希硫酸水のよ
うな酸性水で再沈殿精製した後、乾燥する方法。
(3)ポリヒドロキシ化合物を前記と同様の溶媒に溶解
後、ポリヒドロキシ化合物の水酸基の一部を1.2−キ
ノンジアジド化する量の1,2−キノンジアジド化剤を
、好ましくはポリヒドロキシ化合物の水酸基1グラム当
量に対して0.3〜0.99モル添加し反応させた後、
さらにポリヒドロキシ化合物の残りの水酸基の一部もし
くは全部をアシル化および/またはスルホニル化する量
のアシル化剤および/またはスルホニル化剤を添加し、
反応させ、反応終了後、生成した塩酸塩を濾過するか、
または水を添加して塩酸塩を溶解させた後、大量の希塩
酸水、希硫酸水のような酸性水で再沈殿精製した後、乾
燥する方法。
後、ポリヒドロキシ化合物の水酸基の一部を1.2−キ
ノンジアジド化する量の1,2−キノンジアジド化剤を
、好ましくはポリヒドロキシ化合物の水酸基1グラム当
量に対して0.3〜0.99モル添加し反応させた後、
さらにポリヒドロキシ化合物の残りの水酸基の一部もし
くは全部をアシル化および/またはスルホニル化する量
のアシル化剤および/またはスルホニル化剤を添加し、
反応させ、反応終了後、生成した塩酸塩を濾過するか、
または水を添加して塩酸塩を溶解させた後、大量の希塩
酸水、希硫酸水のような酸性水で再沈殿精製した後、乾
燥する方法。
本発明で使用されるアシル化剤、スルホニル化剤および
1.2−キノンジアジド化剤の総使用量は、ポリヒドロ
キシ化合物の水酸基1グラム当量に対して0.3モル以
上、好ましくは0.4モル以上、特に好ましくは0.5
モル以上で、通常は1.2モル以下である。これが0.
3モル未満の場合は、樹脂組成物の特性である感度やこ
れをポジ型レジストとして使用する際の残膜率のバラン
スがくずれ、さらには解像性にも問題が生じる。
1.2−キノンジアジド化剤の総使用量は、ポリヒドロ
キシ化合物の水酸基1グラム当量に対して0.3モル以
上、好ましくは0.4モル以上、特に好ましくは0.5
モル以上で、通常は1.2モル以下である。これが0.
3モル未満の場合は、樹脂組成物の特性である感度やこ
れをポジ型レジストとして使用する際の残膜率のバラン
スがくずれ、さらには解像性にも問題が生じる。
アシル化剤および/またはスルホニル化剤〔A〕と1.
2−キノンジアジド化剤(Ql との使用割合は〔A〕
/ 〔Q〕 =0.0110.99〜0.710.3
〔モル比)、好ましくは〔A〕/ 〔Q〕=0゜011
0.99〜0.610.4Cモル比)、特に好ましくは
〔A〕 / 〔Q〕 = 0.110.9〜0.6 /
0.4〔モル比〕である。使用割合〔A〕/ 〔Q〕
が0゜0110.99Cモル比〕未満であると、ポリヒ
ドロキシ化合物の水酸基のアシル化および/またはスル
ホニル化される割合が1.2−キノンジアジド化される
割合に対して少ないため、樹脂組成物として溶液で保管
する時に異物の発生を止めることができない。一方、使
用割合〔A〕/ 〔Q〕が0.710.3[モル比〕を
超えると、ポリヒドロキシ化合物の水酸基の1,2−キ
ノンジアジド化される割合がアシル化および/またはス
ルホニル化される割合に対して少ないため、樹脂組成物
の特性である感度やこれをポジ型レジストとして使用す
る際の残膜率のバランスがくずれ、さらには解像性にも
問題が生じる。
2−キノンジアジド化剤(Ql との使用割合は〔A〕
/ 〔Q〕 =0.0110.99〜0.710.3
〔モル比)、好ましくは〔A〕/ 〔Q〕=0゜011
0.99〜0.610.4Cモル比)、特に好ましくは
〔A〕 / 〔Q〕 = 0.110.9〜0.6 /
0.4〔モル比〕である。使用割合〔A〕/ 〔Q〕
が0゜0110.99Cモル比〕未満であると、ポリヒ
ドロキシ化合物の水酸基のアシル化および/またはスル
ホニル化される割合が1.2−キノンジアジド化される
割合に対して少ないため、樹脂組成物として溶液で保管
する時に異物の発生を止めることができない。一方、使
用割合〔A〕/ 〔Q〕が0.710.3[モル比〕を
超えると、ポリヒドロキシ化合物の水酸基の1,2−キ
ノンジアジド化される割合がアシル化および/またはス
ルホニル化される割合に対して少ないため、樹脂組成物
の特性である感度やこれをポジ型レジストとして使用す
る際の残膜率のバランスがくずれ、さらには解像性にも
問題が生じる。
前記1.2−キノンジアジド化反応において、塩基性試
剤を用いることが必要である。
剤を用いることが必要である。
前記塩基性試剤としては、例えば水酸化ナトリウム、水
酸化カリウム、炭酸ナトリウム等の無機アルカリ類、ト
リエチルアミン、トリプロピルアミン、ピリジン、アニ
リン等の有機アミン類を挙げることができる。これらの
塩基性試剤の使用量は、1.2−キノンジアジド他剤1
モルに対して通常、0.8〜2モル、好ましくは1〜1
.5モルである。
酸化カリウム、炭酸ナトリウム等の無機アルカリ類、ト
リエチルアミン、トリプロピルアミン、ピリジン、アニ
リン等の有機アミン類を挙げることができる。これらの
塩基性試剤の使用量は、1.2−キノンジアジド他剤1
モルに対して通常、0.8〜2モル、好ましくは1〜1
.5モルである。
また、アシル化および/またはスルホニル化反応におい
て、前記カルボン酸ハライドおよび/またはスルホン酸
ハライドを用いる場合にも塩基号1試剤を用いることが
必要であり、その使用量は、カルボン酸ハライドおよび
スルホン酸ハライドの総量1モルに対して、通常、0.
8〜2モル、好ましくは1〜1.5である。
て、前記カルボン酸ハライドおよび/またはスルホン酸
ハライドを用いる場合にも塩基号1試剤を用いることが
必要であり、その使用量は、カルボン酸ハライドおよび
スルホン酸ハライドの総量1モルに対して、通常、0.
8〜2モル、好ましくは1〜1.5である。
なお、アシル化反応において、前記カルボン酸無水物を
使用する場合には、特に前記塩基性試剤は必要ではなく
、また前記カルボン酸を使用する場合には、反応系に前
記塩基性試剤が存在しないようにすることが必要である
。
使用する場合には、特に前記塩基性試剤は必要ではなく
、また前記カルボン酸を使用する場合には、反応系に前
記塩基性試剤が存在しないようにすることが必要である
。
また、上記(1)、(2)および(3)の方法における
反応温度は、通常、−20〜60℃、好ましくは0〜4
0℃である。
反応温度は、通常、−20〜60℃、好ましくは0〜4
0℃である。
前記のようにして合成される本発明によるQD化合物は
、樹脂組成物として使用する際に単独でまたは2種以上
混合してアルカリ可溶性樹脂に配合して使用されるが、
その配合量はアルカリ可溶性樹脂100重量部に対して
好ましくは5〜100重量部、特に好ましくは10〜5
0重量部である。QD化合物の配合量が少なすぎると、
QD化合物が放射線を吸収して生成するカルボン@量が
少ないので、樹脂組成物をポジ型レジストとして使用す
る際にパターニングが困難となり、また配合量が多すぎ
ると、短時間の放射線照射では加えたQD化合物のすべ
てを分解することができず、アルカリ性水溶液からなる
現像液による現像が困難となる。
、樹脂組成物として使用する際に単独でまたは2種以上
混合してアルカリ可溶性樹脂に配合して使用されるが、
その配合量はアルカリ可溶性樹脂100重量部に対して
好ましくは5〜100重量部、特に好ましくは10〜5
0重量部である。QD化合物の配合量が少なすぎると、
QD化合物が放射線を吸収して生成するカルボン@量が
少ないので、樹脂組成物をポジ型レジストとして使用す
る際にパターニングが困難となり、また配合量が多すぎ
ると、短時間の放射線照射では加えたQD化合物のすべ
てを分解することができず、アルカリ性水溶液からなる
現像液による現像が困難となる。
本発明の製造方法により得られるQD化合物を含有する
樹脂組成物に用いられるアルカリ可溶性樹脂としては、
例えばアルカリ可溶性ノボラック樹脂(以下、単に「ノ
ボラック樹脂」と称する)が挙げられる。ノボラック樹
脂は、フェノール類とアルデヒド類とを酸触媒の存在下
に付加縮合して合成されるものである。
樹脂組成物に用いられるアルカリ可溶性樹脂としては、
例えばアルカリ可溶性ノボラック樹脂(以下、単に「ノ
ボラック樹脂」と称する)が挙げられる。ノボラック樹
脂は、フェノール類とアルデヒド類とを酸触媒の存在下
に付加縮合して合成されるものである。
この際使用されるフェノール類としては、例えばフェノ
ール、0−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾー
ル、0−エチルフェノール、m−エチルフェノール、p
−エチルフェノール、0−ブチルフェノール、m−ブチ
ルフェノール、p−ブチルフェノール、2.3−キシレ
ノール、2.4−キシレノール、2.5−キシレノール
、3.4−キシレノール、3.5−キシレノール、2,
3゜5−トリメチルフェノール、p−フェニルフェノー
ル、ヒドロキノン、カテコール、レゾルシノール、2−
メチルレゾルシノール、ピロガロール、α−ナフトール
、ビスフェノールA1ジヒドロキシ安息香酸エステル、
没食子酸エステル等が挙げられる。これらのフェノール
類は、単独でまたは2種以上組合わせて用いられる。
ール、0−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾー
ル、0−エチルフェノール、m−エチルフェノール、p
−エチルフェノール、0−ブチルフェノール、m−ブチ
ルフェノール、p−ブチルフェノール、2.3−キシレ
ノール、2.4−キシレノール、2.5−キシレノール
、3.4−キシレノール、3.5−キシレノール、2,
3゜5−トリメチルフェノール、p−フェニルフェノー
ル、ヒドロキノン、カテコール、レゾルシノール、2−
メチルレゾルシノール、ピロガロール、α−ナフトール
、ビスフェノールA1ジヒドロキシ安息香酸エステル、
没食子酸エステル等が挙げられる。これらのフェノール
類は、単独でまたは2種以上組合わせて用いられる。
また前記アルデヒド類としては、例えばホルムアルデヒ
ド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピ
ルアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセトアル
デヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−フェニ
ルプロピルアルデヒド、0−ヒドロキシベンズアルデヒ
ド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロキシ
ベンズアルデヒド、0−クロロベンズアルデヒド、m−
クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデヒド
、0−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズアル
デヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、O−メチルベン
ズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−メチ
ルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒド、p
−n−ブチルベンズアルデヒド等が挙げられる。これら
のアルデヒド類は、単独でまたは2種以上組合わせて用
いられる。アルデヒド類の使用量は、フェノール類1モ
ル当たり、通常、0.7〜3モルである。
ド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プロピ
ルアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセトアル
デヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−フェニ
ルプロピルアルデヒド、0−ヒドロキシベンズアルデヒ
ド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロキシ
ベンズアルデヒド、0−クロロベンズアルデヒド、m−
クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデヒド
、0−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズアル
デヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、O−メチルベン
ズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−メチ
ルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒド、p
−n−ブチルベンズアルデヒド等が挙げられる。これら
のアルデヒド類は、単独でまたは2種以上組合わせて用
いられる。アルデヒド類の使用量は、フェノール類1モ
ル当たり、通常、0.7〜3モルである。
前記酸触媒としては、塩酸、硝酸、硫酸等の無ta酸、
または蟻酸、蓚酸、酢酸等の有機酸が用いられる。これ
らの酸触媒の使用量は、フェノール類1モル当たり、好
ましくは1×10″″4〜5×10−1モルである。
または蟻酸、蓚酸、酢酸等の有機酸が用いられる。これ
らの酸触媒の使用量は、フェノール類1モル当たり、好
ましくは1×10″″4〜5×10−1モルである。
ノボラック樹脂を合成する際の縮合反応においては、通
常、反応媒質として水を用いるが、縮合反応において使
用するフェノール類がアルデヒド類の水溶液に溶解せず
、反応初期から不均一系になる場合には、反応媒質とし
て親水性溶媒を使用することもできる。この際用いられ
る親水性溶媒としては、例えばメタノール、エタノール
、プロパツール、ブタノール等のアルコール類、または
テトラヒドロフラン、ジオキサン等の環状エーテル類が
挙げられる。これらの反応媒質の使用量は、通常、反応
原料100重量部当たり、20〜1000重量部である
。
常、反応媒質として水を用いるが、縮合反応において使
用するフェノール類がアルデヒド類の水溶液に溶解せず
、反応初期から不均一系になる場合には、反応媒質とし
て親水性溶媒を使用することもできる。この際用いられ
る親水性溶媒としては、例えばメタノール、エタノール
、プロパツール、ブタノール等のアルコール類、または
テトラヒドロフラン、ジオキサン等の環状エーテル類が
挙げられる。これらの反応媒質の使用量は、通常、反応
原料100重量部当たり、20〜1000重量部である
。
縮合反応の反応温度は、反応原料に応じて適宜調整する
ことができるが、通常、10〜200℃である。
ことができるが、通常、10〜200℃である。
縮合反応終了後、系内に存在する未反応原料、酸触媒お
よび反応媒質を除去するため、減圧下に揮発分を留去し
、次いで溶融したノボラック樹脂をスチール製ベルト等
の上に流源して回収する。
よび反応媒質を除去するため、減圧下に揮発分を留去し
、次いで溶融したノボラック樹脂をスチール製ベルト等
の上に流源して回収する。
前記ノボラック樹脂以外のアルカリ可溶性樹脂としては
、例えばポリヒドロキシスチレンもしくはその誘導体、
スチレン−無水マレイン酸共重合体、ポリビニルヒドロ
キシベンゾエート、カルボキシル基含有(メタ)アクリ
ル系樹脂等が挙げられる。これらのアルカリ可溶性樹脂
は単独でまたは2種以上組合わせて用いられる。
、例えばポリヒドロキシスチレンもしくはその誘導体、
スチレン−無水マレイン酸共重合体、ポリビニルヒドロ
キシベンゾエート、カルボキシル基含有(メタ)アクリ
ル系樹脂等が挙げられる。これらのアルカリ可溶性樹脂
は単独でまたは2種以上組合わせて用いられる。
本発明の製造方法により得られるQD化合物を含有する
樹脂組成物を基板に塗布するに際しては、該組成物を、
例えば濃度が5〜50重量%となるように適当な溶剤に
溶解し、これを回転塗布、流し塗布、ロール塗布等によ
りシリコンウェーハ等の基板に塗布する。この際に用い
られる溶剤としては、例えばエチレングリコールモノメ
チルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル
等のグリコールエーテル類、メチルセロソルブアセテー
ト、エチルセロソルブアセテート等のセロソルブエステ
ル類、2−オキシプロピオン酸エチル、2−オキシプロ
ピオン酸エチル等のモノオキシモノカルボン酸エステル
類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、メチル
エチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、または
酢酸エチル、酢酸ブチル等のエステル類が挙げられる。
樹脂組成物を基板に塗布するに際しては、該組成物を、
例えば濃度が5〜50重量%となるように適当な溶剤に
溶解し、これを回転塗布、流し塗布、ロール塗布等によ
りシリコンウェーハ等の基板に塗布する。この際に用い
られる溶剤としては、例えばエチレングリコールモノメ
チルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル
等のグリコールエーテル類、メチルセロソルブアセテー
ト、エチルセロソルブアセテート等のセロソルブエステ
ル類、2−オキシプロピオン酸エチル、2−オキシプロ
ピオン酸エチル等のモノオキシモノカルボン酸エステル
類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、メチル
エチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、または
酢酸エチル、酢酸ブチル等のエステル類が挙げられる。
これらの溶剤は単独でまたは2種以上組合わせて用いら
れる。また必要に応じ、ベンジルエチルエーテル、ジヘ
キシルエーテル等のエーテル類、ジエチレングリコール
七ツメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチル
エーテル等のグリコールエーテル類、アセトニルアセト
ン、イソホロン等のケトン類、カプロン酸、カプリル酸
等の脂肪酸類、1−オクタツール、1−ノナノール、ベ
ンジルアルコール等のアルコール類、または酢酸ベンジ
ル、安息香酸エチル、シュウ酸ジエチル、マレイン酸ジ
エチル、γ−ブチロラクトン、炭酸エチレン、・炭酸エ
チレン、フェニルセロソルブアセテート等のエステル類
のような高沸点溶剤を添加することもできる。
れる。また必要に応じ、ベンジルエチルエーテル、ジヘ
キシルエーテル等のエーテル類、ジエチレングリコール
七ツメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチル
エーテル等のグリコールエーテル類、アセトニルアセト
ン、イソホロン等のケトン類、カプロン酸、カプリル酸
等の脂肪酸類、1−オクタツール、1−ノナノール、ベ
ンジルアルコール等のアルコール類、または酢酸ベンジ
ル、安息香酸エチル、シュウ酸ジエチル、マレイン酸ジ
エチル、γ−ブチロラクトン、炭酸エチレン、・炭酸エ
チレン、フェニルセロソルブアセテート等のエステル類
のような高沸点溶剤を添加することもできる。
本発明の製造方法により得られるQD化合物を含有する
樹脂組成物には、感度を向上させるために増感剤を配合
することができる。この増感剤としては、例えば2H−
ピリド(3,2−b)−1゜4−オキサジン−3〔4H
)オン類、l0H−ピリド(3,2−b)(1,4)−
ベンゾチアジン類、ウラゾール類、ヒダントイン類、バ
ルビッール酸類、グリシン無水物類、1−ヒドロキシベ
ンゾトリアゾール類、アロキサン類、マレイミド類、さ
らには特公昭4B−12242号公報、特公昭48−3
5402号公報、特開昭58−37641号公報、特開
昭58−149042号公報等に記載されている増感剤
が挙げられる。これらの増感剤の配合量は、QD化合物
100重量部に対し、通常、100重量部以下である。
樹脂組成物には、感度を向上させるために増感剤を配合
することができる。この増感剤としては、例えば2H−
ピリド(3,2−b)−1゜4−オキサジン−3〔4H
)オン類、l0H−ピリド(3,2−b)(1,4)−
ベンゾチアジン類、ウラゾール類、ヒダントイン類、バ
ルビッール酸類、グリシン無水物類、1−ヒドロキシベ
ンゾトリアゾール類、アロキサン類、マレイミド類、さ
らには特公昭4B−12242号公報、特公昭48−3
5402号公報、特開昭58−37641号公報、特開
昭58−149042号公報等に記載されている増感剤
が挙げられる。これらの増感剤の配合量は、QD化合物
100重量部に対し、通常、100重量部以下である。
さらに本発明の製造方法により得られるQD化合物を含
有する樹脂組成物には、塗布性、例えばス) IJエニ
ーョンや乾燥塗膜形成後の放射線照射部の現像性を改良
するため、界面活性剤等を配合することができる。界面
活性剤等としては、例えばポリオキシエチレンラウリル
エーテル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポ
リオキシエチレンオレイルエーテル等のポリオキシエチ
レンアルキルエーテル類、ポリオキシエチレンオクチル
フェニルエーテル、ポリオキシエチレンノニルフェニル
エーテル等のポリオキシエチレンアルキルフェニルエー
テル類、ポリエチレングリコールジラウレート、ポリエ
チレングリコールジステアレート等のポリエチレングリ
コールジアルキルエーテル類のノニオン系界面活性剤、
エフトップEF301、EF303、EF352(新秋
田化成(株)製)、メガファックF171、F173
(大日本インキ(株)製)、特開昭57−178242
号公報に例示されるフッ化アルキル基またはパーフルオ
ロアルキル基を有する直鎮状のフッ素系界面活性剤、フ
ロラードFC430、FC431(住友スリーエム(株
)製)、アサヒガードAG710、サーフロンS−38
2,5C101,5C102,5C103,5C104
,5CIO5,5C106(旭硝子(株)製)等のフッ
素系界面活性剤、オルガノシロキサンポリマーKP34
1(信越化学工業(株)製)、アクリル酸系またはメタ
クリル酸系(共)重合体ポリフロー隘75、l1h95
(共栄社油脂化学工業(株)製)等が挙げられる。これ
らの界面活性剤等の配合量は、本発明の製造方法により
得られるQD化合物を含有する樹脂組成物の固形分10
0重量部当たり、通常、2重量部以下である。
有する樹脂組成物には、塗布性、例えばス) IJエニ
ーョンや乾燥塗膜形成後の放射線照射部の現像性を改良
するため、界面活性剤等を配合することができる。界面
活性剤等としては、例えばポリオキシエチレンラウリル
エーテル、ポリオキシエチレンステアリルエーテル、ポ
リオキシエチレンオレイルエーテル等のポリオキシエチ
レンアルキルエーテル類、ポリオキシエチレンオクチル
フェニルエーテル、ポリオキシエチレンノニルフェニル
エーテル等のポリオキシエチレンアルキルフェニルエー
テル類、ポリエチレングリコールジラウレート、ポリエ
チレングリコールジステアレート等のポリエチレングリ
コールジアルキルエーテル類のノニオン系界面活性剤、
エフトップEF301、EF303、EF352(新秋
田化成(株)製)、メガファックF171、F173
(大日本インキ(株)製)、特開昭57−178242
号公報に例示されるフッ化アルキル基またはパーフルオ
ロアルキル基を有する直鎮状のフッ素系界面活性剤、フ
ロラードFC430、FC431(住友スリーエム(株
)製)、アサヒガードAG710、サーフロンS−38
2,5C101,5C102,5C103,5C104
,5CIO5,5C106(旭硝子(株)製)等のフッ
素系界面活性剤、オルガノシロキサンポリマーKP34
1(信越化学工業(株)製)、アクリル酸系またはメタ
クリル酸系(共)重合体ポリフロー隘75、l1h95
(共栄社油脂化学工業(株)製)等が挙げられる。これ
らの界面活性剤等の配合量は、本発明の製造方法により
得られるQD化合物を含有する樹脂組成物の固形分10
0重量部当たり、通常、2重量部以下である。
また本発明の製造方法により得られるQD化合物を含有
する樹脂組成物には、放射線照射部の潜増を可視化させ
たり、放射線照射時のハレーションの影響を少なくする
ために着色剤を、また接着性を改良するために接着助剤
を配合することもできる。
する樹脂組成物には、放射線照射部の潜増を可視化させ
たり、放射線照射時のハレーションの影響を少なくする
ために着色剤を、また接着性を改良するために接着助剤
を配合することもできる。
さらに、本発明の製造方法により得られるQD化合物を
含有する樹脂組成物には、必要に応じて保存安定剤、消
泡剤等も配合することができる。
含有する樹脂組成物には、必要に応じて保存安定剤、消
泡剤等も配合することができる。
本発明の製造方法により得られるQD化合物を含有する
樹脂組成物は、溶剤にアルカリ可溶性樹脂、QD化合物
および各種配合剤を所定量ずつ熔解させ、例えば孔径0
.2μm程度のフィルタで濾過することにより、調製さ
れる。
樹脂組成物は、溶剤にアルカリ可溶性樹脂、QD化合物
および各種配合剤を所定量ずつ熔解させ、例えば孔径0
.2μm程度のフィルタで濾過することにより、調製さ
れる。
本発明の製造方法により得られるQD化合物を含有する
樹脂組成物の現像液としては、例えば水酸化ナトリウム
、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、珪酸ナトリウム、
メタ珪酸ナトリウム、アンモニア水等の無機アルカリ類
、エチルアミン、n−プロピルアミン等の第1級アミン
類、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン等の第2
級アミン類、トリエチルアミン、メチルジエチルアミン
等の第3級アミン類、ジメチルエタノールアミン、トリ
エタノールアミン等のアルコールアミン類、テトラメチ
ルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウ
ムヒドロキシド等の第4級アンモニウム塩、またはビロ
ール、ピペリジン、1゜8−ジアザビシクロ(5,4,
0) −7−ウンデセン、1.5−ジアザビシクロ(4
,3,0)−5−ノナン等の環状アミン類を熔解してな
るアルカリ性水溶液が使用される。
樹脂組成物の現像液としては、例えば水酸化ナトリウム
、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、珪酸ナトリウム、
メタ珪酸ナトリウム、アンモニア水等の無機アルカリ類
、エチルアミン、n−プロピルアミン等の第1級アミン
類、ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン等の第2
級アミン類、トリエチルアミン、メチルジエチルアミン
等の第3級アミン類、ジメチルエタノールアミン、トリ
エタノールアミン等のアルコールアミン類、テトラメチ
ルアンモニウムヒドロキシド、テトラエチルアンモニウ
ムヒドロキシド等の第4級アンモニウム塩、またはビロ
ール、ピペリジン、1゜8−ジアザビシクロ(5,4,
0) −7−ウンデセン、1.5−ジアザビシクロ(4
,3,0)−5−ノナン等の環状アミン類を熔解してな
るアルカリ性水溶液が使用される。
また前記現像液に水溶性有機溶媒、例えばメタノール、
エタノール等のアルコール類や界面活性剤を適量添加し
た水溶液を現像液として使用することもできる。
エタノール等のアルコール類や界面活性剤を適量添加し
た水溶液を現像液として使用することもできる。
次に、実施例を挙げて本発明をさらに具体的に説明する
が、本発明はこれらの実施例によって何ら制約されるも
のではない。
が、本発明はこれらの実施例によって何ら制約されるも
のではない。
実施例1
(1)攪拌器、滴下ロートおよび温度針付きの5Q Q
m 12セパラブルフラスコに、遮光下にポリヒドロ
キシ化合物としてエチレングリコールージ(3,4,5
−)リヒドロキシベンゾエート) (H)8.9g、
1.2−キノンジアジド化剤として1゜2−ナフトキノ
ンジアジド−5−スルホン酸クロリド〔Q〕 32.6
g (〔Q〕 / (H) =5 Cモル比〕)、ア
シル化剤としてプロピオン酸クロリド〔A〕 2.3
g (〔A〕 / 〔Q〕 =0.1710.83〔モ
ル比〕)および溶媒としてジオキサン240gを仕込み
、攪拌しながら溶解した。さらに滴下ロートに16.2
gのトリエチルアミンを仕込んだ。
m 12セパラブルフラスコに、遮光下にポリヒドロ
キシ化合物としてエチレングリコールージ(3,4,5
−)リヒドロキシベンゾエート) (H)8.9g、
1.2−キノンジアジド化剤として1゜2−ナフトキノ
ンジアジド−5−スルホン酸クロリド〔Q〕 32.6
g (〔Q〕 / (H) =5 Cモル比〕)、ア
シル化剤としてプロピオン酸クロリド〔A〕 2.3
g (〔A〕 / 〔Q〕 =0.1710.83〔モ
ル比〕)および溶媒としてジオキサン240gを仕込み
、攪拌しながら溶解した。さらに滴下ロートに16.2
gのトリエチルアミンを仕込んだ。
セパラブルフラスコを30℃にコントロールされた水浴
に浸し、内温か30℃一定となった時点でこの溶液にト
リエチルアミンを内温か35℃を超えないようにゆっく
りと滴下した。その後、析出したトリエチルアミン塩酸
塩を濾過して除き、濾液を大量の希塩酸中に注ぎこんで
、QD化合物を析出させた。析出物を回収し、40℃に
コントロールされた加熱真空乾燥器で一昼夜乾燥した。
に浸し、内温か30℃一定となった時点でこの溶液にト
リエチルアミンを内温か35℃を超えないようにゆっく
りと滴下した。その後、析出したトリエチルアミン塩酸
塩を濾過して除き、濾液を大量の希塩酸中に注ぎこんで
、QD化合物を析出させた。析出物を回収し、40℃に
コントロールされた加熱真空乾燥器で一昼夜乾燥した。
得られたQD化合物の収率は98%であった。
(2)攪拌器付きの2βセパラブルフラスコに、遮光下
、m−クレゾール336g、p−クレゾール224g、
37重量%、ホルムアルデヒド水溶液400gおよびシ
ュウ酸0.24 gを仕込み、100℃で3時間線合重
合させた後加熱処理して得られるノボラック樹脂260
g、(1)で得られたQD化合物39g1エチルセロソ
ルブアセテート720gおよびγ−ブチロラクトン18
0gを加え、室温でよく攪拌して熔解した。溶解後、孔
径0.2μmのメンブランフィルタで濾過し、組成物の
溶液を調製した。調製直後の溶液の異物の数を自動微粒
子計測器で測定したところ、0.5μm以上の異物の数
は10(llil/mI2であった。次に溶液を40℃
にコントロールされた恒温槽に入れ1ケ月間保存したと
ころ、自動微粒子計測器で測定した0、 5μm以上の
異物の数は15個/mβとほとんど増加しなかった。ま
た、レジストとしての性能評価を実施したところ、40
℃での保存安定性テストを始める前のものと、後のもの
での感度および残膜率に変化がなく、保存安定性が高い
ことがわかった。
、m−クレゾール336g、p−クレゾール224g、
37重量%、ホルムアルデヒド水溶液400gおよびシ
ュウ酸0.24 gを仕込み、100℃で3時間線合重
合させた後加熱処理して得られるノボラック樹脂260
g、(1)で得られたQD化合物39g1エチルセロソ
ルブアセテート720gおよびγ−ブチロラクトン18
0gを加え、室温でよく攪拌して熔解した。溶解後、孔
径0.2μmのメンブランフィルタで濾過し、組成物の
溶液を調製した。調製直後の溶液の異物の数を自動微粒
子計測器で測定したところ、0.5μm以上の異物の数
は10(llil/mI2であった。次に溶液を40℃
にコントロールされた恒温槽に入れ1ケ月間保存したと
ころ、自動微粒子計測器で測定した0、 5μm以上の
異物の数は15個/mβとほとんど増加しなかった。ま
た、レジストとしての性能評価を実施したところ、40
℃での保存安定性テストを始める前のものと、後のもの
での感度および残膜率に変化がなく、保存安定性が高い
ことがわかった。
比較例1
攪拌器、滴下ロートおよび温度計付きの500mβセパ
ラブルフラスコに、遮光下にエチレングリコールージ(
3,4,5−トリヒドロキシヘンシェード)(H)9.
7g、1.2−ナフトキノンジアジド−5−スルポン酸
りロリド(Q335.6g (〔Q〕 / (H) =
5 (モル比))およびジオキサン240gを仕込み、
攪拌しながら溶解した。
ラブルフラスコに、遮光下にエチレングリコールージ(
3,4,5−トリヒドロキシヘンシェード)(H)9.
7g、1.2−ナフトキノンジアジド−5−スルポン酸
りロリド(Q335.6g (〔Q〕 / (H) =
5 (モル比))およびジオキサン240gを仕込み、
攪拌しながら溶解した。
さらに滴下ロートに14.7gのトリエチルアミンを仕
込んだ。実施例1 (1)と同様にトリエチルアミンを
滴下しながら反応させた後、生成物を回収し、乾燥して
アシル化されていないQD化合物を得た。
込んだ。実施例1 (1)と同様にトリエチルアミンを
滴下しながら反応させた後、生成物を回収し、乾燥して
アシル化されていないQD化合物を得た。
次に実施例1 (2)で使用したQD化合物に替え、前
記のQD化合物を使用した他は実施例1 (2)と同様
にして組成物の溶液を調製した。調製直後の溶液の異物
の数を自動微粒子計測器で測定したところ、0.5μm
以上の異物の数は15個/mlであった。次に溶液を4
0℃にコントロールされた恒温槽に入れ1ケ月間保存し
たところ、自動微粒子計測器で測定した0、5μm以上
の異物の数は1200個/ m lと増加していた。
記のQD化合物を使用した他は実施例1 (2)と同様
にして組成物の溶液を調製した。調製直後の溶液の異物
の数を自動微粒子計測器で測定したところ、0.5μm
以上の異物の数は15個/mlであった。次に溶液を4
0℃にコントロールされた恒温槽に入れ1ケ月間保存し
たところ、自動微粒子計測器で測定した0、5μm以上
の異物の数は1200個/ m lと増加していた。
実施例2〜lO
実施例1 (1)でアシル化剤として使用したプロピオ
ン酸クロリドに替えて、〔A〕/ 〔Q〕=0.171
0.83〔モル比〕となる条件で第1表に示すアシル化
剤またはスルホニル化剤〔A〕を使用した他は実施例1
(1)と同様にしてQD化合物を得た。次にこれらQ
D化合物を用い、それぞれ実施例1 (2)と同様にし
て組成物の溶液を調製した。ti!l!直後と40℃で
1ケ月間恒温槽中で保存した各々の溶液につき、0.5
μm以上の異物の数を自動微粒子計測器で測定したとこ
ろ、いずれの溶液にも異物の増加は認められなかった。
ン酸クロリドに替えて、〔A〕/ 〔Q〕=0.171
0.83〔モル比〕となる条件で第1表に示すアシル化
剤またはスルホニル化剤〔A〕を使用した他は実施例1
(1)と同様にしてQD化合物を得た。次にこれらQ
D化合物を用い、それぞれ実施例1 (2)と同様にし
て組成物の溶液を調製した。ti!l!直後と40℃で
1ケ月間恒温槽中で保存した各々の溶液につき、0.5
μm以上の異物の数を自動微粒子計測器で測定したとこ
ろ、いずれの溶液にも異物の増加は認められなかった。
結果を第1表に示す。
以下余白
第 1 表
廻
ニ]」
実施例11〜18
ポリヒドロキシ化合物(H)として第2表に示す化合物
を選び、その他は実施例1 (1)と同様にしてQD化
合物を得た。次にこれらのQD化合物を使用し、それぞ
れ実施例1 (2)と同様にして組成物の溶液を調製し
た。調製直後と40℃で1ケ月間恒温槽中で保存した各
々の溶液につき、0、5μm以上の異物の数を自動微粒
子計測器で測定したところ、いずれの溶液にも異物の数
の増加は認められなかった。結果を第2表に示す。
を選び、その他は実施例1 (1)と同様にしてQD化
合物を得た。次にこれらのQD化合物を使用し、それぞ
れ実施例1 (2)と同様にして組成物の溶液を調製し
た。調製直後と40℃で1ケ月間恒温槽中で保存した各
々の溶液につき、0、5μm以上の異物の数を自動微粒
子計測器で測定したところ、いずれの溶液にも異物の数
の増加は認められなかった。結果を第2表に示す。
以下余白
実施例19
攪拌器、滴下ロートおよび温度針付きの500m1セパ
ラブルフラスコに、遮光下にポリヒドロキシ化合物とし
てエチレングリコールージ(3゜4.5−)リヒドロキ
シベンゾエート)(H)8゜9g1アシル化剤としてプ
ロピオン酸クロリド〔A)2.3gおよびジオキサン1
00gを仕込み、攪拌しながら溶解した。さらに滴下ロ
ートに16゜2gのトリエチルアミンを仕込んだ。実施
例1 (1)と同様にトリエチルアミンを滴下しながら
反応させた後、反応溶液を30分攪拌した。さらに滴下
ロートに1,2−キノンジアジド化剤として1.2−ナ
フトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド32.6
g (〔Q〕/ (H)=5 Cモル比〕、〔A〕 /
〔Q〕 =0.1 ’I10.83 (モル比〕)お
よびジオキサン140gから調製した溶液を仕込んだ。
ラブルフラスコに、遮光下にポリヒドロキシ化合物とし
てエチレングリコールージ(3゜4.5−)リヒドロキ
シベンゾエート)(H)8゜9g1アシル化剤としてプ
ロピオン酸クロリド〔A)2.3gおよびジオキサン1
00gを仕込み、攪拌しながら溶解した。さらに滴下ロ
ートに16゜2gのトリエチルアミンを仕込んだ。実施
例1 (1)と同様にトリエチルアミンを滴下しながら
反応させた後、反応溶液を30分攪拌した。さらに滴下
ロートに1,2−キノンジアジド化剤として1.2−ナ
フトキノンジアジド−5−スルホン酸クロリド32.6
g (〔Q〕/ (H)=5 Cモル比〕、〔A〕 /
〔Q〕 =0.1 ’I10.83 (モル比〕)お
よびジオキサン140gから調製した溶液を仕込んだ。
セパラブルフラスコを30℃にコントロールされた水浴
に浸し、内温か30℃一定となった時点でこの反応溶液
に前記調製溶液を内温か35℃を超えないようにゆっく
りと滴下しながら反応させた後、生成物を回収し、乾燥
してQD化合物を得た。得られたQD化合物の収率は9
7%であった。
に浸し、内温か30℃一定となった時点でこの反応溶液
に前記調製溶液を内温か35℃を超えないようにゆっく
りと滴下しながら反応させた後、生成物を回収し、乾燥
してQD化合物を得た。得られたQD化合物の収率は9
7%であった。
次に前記QD化合物を用い、実施例1 (2)と同様に
して組成物の溶液を開裂した。調製直後の溶液の異物の
数を自動微粒子計測器で測定したところ、0.5μm以
上の異物の数は13個/mlであった。次に溶液を40
℃にコントロールされた恒温槽に入れ1ケ月間保存した
ところ、自動微粒子計測器で測定した0、5μm以上の
異物の数は21(固/m1と異物の増加はほとんど認め
られなかった。
して組成物の溶液を開裂した。調製直後の溶液の異物の
数を自動微粒子計測器で測定したところ、0.5μm以
上の異物の数は13個/mlであった。次に溶液を40
℃にコントロールされた恒温槽に入れ1ケ月間保存した
ところ、自動微粒子計測器で測定した0、5μm以上の
異物の数は21(固/m1と異物の増加はほとんど認め
られなかった。
実施例20
攪拌器、滴下ロートおよび温度計付きの500m1lセ
パラブルフラスコに、遮光下にポリヒドロキシ化合物と
してエチレングリコールージ(3゜4.5−1−リヒド
ロキシベンゾエート)(H)8゜9g、1.2−キノン
ジアジド化剤として1,2−ナフトキノンジアジド−5
−スルホン酸クロリド〔Q〕 32.6 g (〔Q〕
/ (H) =5 Cモル比〕)およびジオキサン2
40gを仕込み、攪拌しながら溶解した。さらに滴下ロ
ートに16.2 gのトリエチルアミンを仕込んだ。実
施例1 (1)と同様にトリエチルアミンを滴下しなが
ら反応させた後、反応溶液を30分攪拌した。さらに滴
下ロートにアシル化剤としてプロピオン酸クロリド〔A
) 2.3 g (〔A〕 / 〔Q〕 =0.171
0.83 (モル比〕)を仕込んだ。セパラブルフラ
スコを30℃にコントロールされた水浴に浸し、内温か
30℃一定となった時点でこの反応溶液に前記アシル化
剤を内温か35℃を超えないようにゆっくりと滴下しな
がら反応させた後、生成物を回収し、乾燥してQD化合
物を得た。得られたQD化合物の収率は98%であった
。
パラブルフラスコに、遮光下にポリヒドロキシ化合物と
してエチレングリコールージ(3゜4.5−1−リヒド
ロキシベンゾエート)(H)8゜9g、1.2−キノン
ジアジド化剤として1,2−ナフトキノンジアジド−5
−スルホン酸クロリド〔Q〕 32.6 g (〔Q〕
/ (H) =5 Cモル比〕)およびジオキサン2
40gを仕込み、攪拌しながら溶解した。さらに滴下ロ
ートに16.2 gのトリエチルアミンを仕込んだ。実
施例1 (1)と同様にトリエチルアミンを滴下しなが
ら反応させた後、反応溶液を30分攪拌した。さらに滴
下ロートにアシル化剤としてプロピオン酸クロリド〔A
) 2.3 g (〔A〕 / 〔Q〕 =0.171
0.83 (モル比〕)を仕込んだ。セパラブルフラ
スコを30℃にコントロールされた水浴に浸し、内温か
30℃一定となった時点でこの反応溶液に前記アシル化
剤を内温か35℃を超えないようにゆっくりと滴下しな
がら反応させた後、生成物を回収し、乾燥してQD化合
物を得た。得られたQD化合物の収率は98%であった
。
次に前記QD化合物を用い、実施例1 (2)と同様に
して組成物の溶液をm製した。調製直後の溶液の異物の
数を自動微粒子計測器で測定したところ、0.5μm以
上の異物の数は12個/ m lであった。次に溶液を
40℃にコントロールされた恒温槽に入れ1ケ月間保存
したところ、自動微粒子計測器で測定した0、 5μm
以上の異物の数は15個/ m lと異物の増加はほと
んど認められなかった。
して組成物の溶液をm製した。調製直後の溶液の異物の
数を自動微粒子計測器で測定したところ、0.5μm以
上の異物の数は12個/ m lであった。次に溶液を
40℃にコントロールされた恒温槽に入れ1ケ月間保存
したところ、自動微粒子計測器で測定した0、 5μm
以上の異物の数は15個/ m lと異物の増加はほと
んど認められなかった。
(発明の効果)
本発明の製造方法により得られる特定の1,2−キノン
ジアジド化合物は、これとアルカリ可溶性樹脂を使用す
ることにより、異物の発生が極めて少なく、かつレジス
トパターン形成の際の解像性および集積回路作製時の歩
留りを向上させることができるポジ型レジストとして好
適な感放射線性樹脂組成物を得ることができる。
ジアジド化合物は、これとアルカリ可溶性樹脂を使用す
ることにより、異物の発生が極めて少なく、かつレジス
トパターン形成の際の解像性および集積回路作製時の歩
留りを向上させることができるポジ型レジストとして好
適な感放射線性樹脂組成物を得ることができる。
Claims (1)
- (1)(a)ポリヒドロキシ化合物の水酸基の一部をア
シル化剤および/またはスルホニル化剤と反応させてア
シル化および/またはスルホニル化した後、さらにポリ
ヒドロキシ化合物の残りの水酸基の一部または全部を1
,2−キノンジアジド化剤と反応させて1,2−キノン
ジアジド化するか、 (b)ポリヒドロキシ化合物の水酸基の一部または全部
にアシル化剤および/またはスルホニル化剤と1,2−
キノンジアジド化剤とを、反応させてアシル化および/
またはスルホニル化と同時に1,2−キノンジアジド化
するか、または (c)ポリヒドロキシ化合物の水酸基の一部を1,2−
キノンジアジド化剤と反応させて1,2−キノンジアジ
ド化した後、さらにポリヒドロキシ化合物の残りの水酸
基の一部または全部をアシル化剤および/またはスルホ
ニル化剤と反応させてアシル化および/またはスルホニ
ル化する工程を含み、かつ、アシル化剤、スルホニル化
剤および1,2−キノンジアジド化剤の総使用量をポリ
ヒドロキシ化合物の水酸基1グラム当量に対して0.3
モル以上とし、アシル化剤および/またはスルホニル化
剤〔A〕と1,2−キノンジアジド化剤〔Q〕との使用
割合を〔A〕/〔Q〕=0.01/0.99〜0.7/
0.3〔モル比〕とすることを特徴とする1,2−キノ
ンジアジド化合物の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1689286A JPS62178562A (ja) | 1986-01-30 | 1986-01-30 | 1,2−キノンジアジド化合物の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1689286A JPS62178562A (ja) | 1986-01-30 | 1986-01-30 | 1,2−キノンジアジド化合物の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62178562A true JPS62178562A (ja) | 1987-08-05 |
| JPH0583543B2 JPH0583543B2 (ja) | 1993-11-26 |
Family
ID=11928808
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1689286A Granted JPS62178562A (ja) | 1986-01-30 | 1986-01-30 | 1,2−キノンジアジド化合物の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62178562A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63110446A (ja) * | 1986-10-29 | 1988-05-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | ポジ型フオトレジスト組成物 |
| JPH01156738A (ja) * | 1987-12-15 | 1989-06-20 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | 感放射線性樹脂組成物 |
| EP0565006A2 (en) | 1992-04-06 | 1993-10-13 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method for preparing PS plate |
| EP0710886A1 (en) | 1994-10-31 | 1996-05-08 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Positive photoresist composition |
| JP2018154625A (ja) * | 2008-07-21 | 2018-10-04 | ユニゲン・インコーポレーテッド | スキンホワイトニング(色を薄くする)化合物系列 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4407926A (en) * | 1980-11-21 | 1983-10-04 | Hoechst Aktiengesellschaft | Light-sensitive mixture comprising O-naphthoquinone-diazides and light sensitive copying material prepared therefrom |
| US4409314A (en) * | 1980-10-24 | 1983-10-11 | Hoechst Aktiengesellschaft | Light-sensitive compounds, light-sensitive mixture, and light-sensitive copying material prepared therefrom |
| EP0167778A1 (de) * | 1984-06-08 | 1986-01-15 | Hoechst Aktiengesellschaft | Perfluoralkylgruppen aufweisende 1,2-Naphthochinondiazidverbindungen und Reproduktionsmaterialien, die diese Verbindungen enthalten |
-
1986
- 1986-01-30 JP JP1689286A patent/JPS62178562A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4409314A (en) * | 1980-10-24 | 1983-10-11 | Hoechst Aktiengesellschaft | Light-sensitive compounds, light-sensitive mixture, and light-sensitive copying material prepared therefrom |
| US4407926A (en) * | 1980-11-21 | 1983-10-04 | Hoechst Aktiengesellschaft | Light-sensitive mixture comprising O-naphthoquinone-diazides and light sensitive copying material prepared therefrom |
| EP0167778A1 (de) * | 1984-06-08 | 1986-01-15 | Hoechst Aktiengesellschaft | Perfluoralkylgruppen aufweisende 1,2-Naphthochinondiazidverbindungen und Reproduktionsmaterialien, die diese Verbindungen enthalten |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63110446A (ja) * | 1986-10-29 | 1988-05-14 | Fuji Photo Film Co Ltd | ポジ型フオトレジスト組成物 |
| JPH01156738A (ja) * | 1987-12-15 | 1989-06-20 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | 感放射線性樹脂組成物 |
| EP0565006A2 (en) | 1992-04-06 | 1993-10-13 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method for preparing PS plate |
| EP0710886A1 (en) | 1994-10-31 | 1996-05-08 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Positive photoresist composition |
| JP2018154625A (ja) * | 2008-07-21 | 2018-10-04 | ユニゲン・インコーポレーテッド | スキンホワイトニング(色を薄くする)化合物系列 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0583543B2 (ja) | 1993-11-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |