JPS62207962A - 波形デジタイザ - Google Patents
波形デジタイザInfo
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- JPS62207962A JPS62207962A JP62045076A JP4507687A JPS62207962A JP S62207962 A JPS62207962 A JP S62207962A JP 62045076 A JP62045076 A JP 62045076A JP 4507687 A JP4507687 A JP 4507687A JP S62207962 A JPS62207962 A JP S62207962A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
- G01R13/22—Circuits therefor
- G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
-
- H—ELECTRICITY
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/13—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals
- H03K5/135—Arrangements having a single output and transforming input signals into pulses delivered at desired time intervals by the use of time reference signals, e.g. clock signals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は波形デジタイザ、特に入力信号波形をサンプリ
ングし、デジタル変換して、半導体メモリ等の波形メモ
リに記憶する装Jに関する。
ングし、デジタル変換して、半導体メモリ等の波形メモ
リに記憶する装Jに関する。
サン!リングオシロスコープは帯域幅又は立上シ時間等
の制約によシ従来の実時間オシロスコーグが応答し得な
い微小且つ高速信号を観測する為に20年以上も前に開
発された。ナングリング技法は既に周知であるが、信号
路にサンプリングダートを挿入し、極めて短時間このr
−)を開き、その間の4気信号の実質的に瞬時振幅値(
1こ圧サンプル)を通過させるものである。この様にし
て得た各サンプルを電子回路で処刑して陰甑;1管(C
RT)スクリーン上に、水平方向にサンブリング時間を
縦方向にサングル振幅を表わす点として表示する。波形
を正確に再現するには多数のサンダルが必要である。し
かし信号の1周期又は単現象(非周期的信号)中に必要
とする聡てのサングルを得ることは不可能であるので、
信号が周期的、即ち反復信号のサンプリングの場合にサ
ンプリング技法は特に実用的である。事実、サンプリン
グの利点の1つは多数の入力信号のサイクル中の各サイ
クルに少くとも1サンプルをとり、これらサンプルから
入力信号波形を再現表示することである。
の制約によシ従来の実時間オシロスコーグが応答し得な
い微小且つ高速信号を観測する為に20年以上も前に開
発された。ナングリング技法は既に周知であるが、信号
路にサンプリングダートを挿入し、極めて短時間このr
−)を開き、その間の4気信号の実質的に瞬時振幅値(
1こ圧サンプル)を通過させるものである。この様にし
て得た各サンプルを電子回路で処刑して陰甑;1管(C
RT)スクリーン上に、水平方向にサンブリング時間を
縦方向にサングル振幅を表わす点として表示する。波形
を正確に再現するには多数のサンダルが必要である。し
かし信号の1周期又は単現象(非周期的信号)中に必要
とする聡てのサングルを得ることは不可能であるので、
信号が周期的、即ち反復信号のサンプリングの場合にサ
ンプリング技法は特に実用的である。事実、サンプリン
グの利点の1つは多数の入力信号のサイクル中の各サイ
クルに少くとも1サンプルをとり、これらサンプルから
入力信号波形を再現表示することである。
サンプリングモードはそのタイミング法により分類でき
る。順次(シーケンシャル)サンプリングモードは等間
隔の極めて順序正しいト9ットで表示を行うものである
。ランダムサンプリングモードはサンプリング時点と信
号トリガが無関係であシ、順次のドツトがランダム水平
位置に行われるものである。しかし、ランダムサンプリ
ングの場合には再現表示波形のドツトは正しい水平位1
1に挿入されるよう溝成される。
る。順次(シーケンシャル)サンプリングモードは等間
隔の極めて順序正しいト9ットで表示を行うものである
。ランダムサンプリングモードはサンプリング時点と信
号トリガが無関係であシ、順次のドツトがランダム水平
位置に行われるものである。しかし、ランダムサンプリ
ングの場合には再現表示波形のドツトは正しい水平位1
1に挿入されるよう溝成される。
ここでは古典的テンプラと呼ぶ従来のサンブリング装置
には高速サンプリングr−)、サンプリングコンデンサ
、メモリデート、メモリコンデンサ、サンノリング前置
増幅器とメモリ増幅器とを含む関連増幅器、及びメモリ
増幅器出力からサンプリング前置増福器への帰還減衰器
を含んでいる。
には高速サンプリングr−)、サンプリングコンデンサ
、メモリデート、メモリコンデンサ、サンノリング前置
増幅器とメモリ増幅器とを含む関連増幅器、及びメモリ
増幅器出力からサンプリング前置増福器への帰還減衰器
を含んでいる。
入出力端間の7オワート9(前方)利得と出力から入力
への帰還減衰度とを有するサンプリングループが形成さ
れ、これらによるループ利得を理想的には1とする。帰
還増幅器の目的は(ループ利得が1のとき)サンプリン
グコンデンサに現われる曲回のサンプルと同じ゛(圧を
、次にとるサンプルの目安とすることである。各サンプ
ルにより、メモリ出力はサンプリングダートの入出力端
間の′a圧差がOになるよう反復的に試みる。各サンプ
リング毎に入力電圧が同じであれば、帰2がこれにマツ
チしていれば差は減少して増幅されるステップの大きさ
は実用的には0である。連続した2個のサンプル間の電
圧変化を正しく表示するサンプリングオシロスコープの
性能はドツト過渡応答と呼ばれ、これが良好である為に
はループ利得が1でなければならない。
への帰還減衰度とを有するサンプリングループが形成さ
れ、これらによるループ利得を理想的には1とする。帰
還増幅器の目的は(ループ利得が1のとき)サンプリン
グコンデンサに現われる曲回のサンプルと同じ゛(圧を
、次にとるサンプルの目安とすることである。各サンプ
ルにより、メモリ出力はサンプリングダートの入出力端
間の′a圧差がOになるよう反復的に試みる。各サンプ
リング毎に入力電圧が同じであれば、帰2がこれにマツ
チしていれば差は減少して増幅されるステップの大きさ
は実用的には0である。連続した2個のサンプル間の電
圧変化を正しく表示するサンプリングオシロスコープの
性能はドツト過渡応答と呼ばれ、これが良好である為に
はループ利得が1でなければならない。
ループ利得を1以外の値にしたい場合もある。
例えば「スムージング」と呼ばれる処・川、即ち表示2
5為らランダムノイズやジッタの影響を軽減するもので
、ループ利得を1未満の適当な値に設定する。しかし、
スムージングすると、前のサンプリングによシ得てサン
プリングコンデンサに記憶シた値が新しいサンプルと(
相当程度)異なることがある為に、ドツト過度応答か悪
化する。また、再生表示した波形は低域通過フィルタを
通過させたように見えるが1表示波形からノイズは消え
、入力信号は歪むこととなる。更に、信号ノイズが完全
に排除されることはなく、単に表示される波形全体に分
散されるに過ぎない。
5為らランダムノイズやジッタの影響を軽減するもので
、ループ利得を1未満の適当な値に設定する。しかし、
スムージングすると、前のサンプリングによシ得てサン
プリングコンデンサに記憶シた値が新しいサンプルと(
相当程度)異なることがある為に、ドツト過度応答か悪
化する。また、再生表示した波形は低域通過フィルタを
通過させたように見えるが1表示波形からノイズは消え
、入力信号は歪むこととなる。更に、信号ノイズが完全
に排除されることはなく、単に表示される波形全体に分
散されるに過ぎない。
従って本発明の目的は高周波の波形が正確にデジタイズ
可能な高速波形デジタイザを提供することである。
可能な高速波形デジタイザを提供することである。
本発明の他の目的はハードウェアにょシ高速に平均化処
理(アペレーソング)を行い入力波形のノイズの影響が
軽減できる波形デジタイザを提供することである。
理(アペレーソング)を行い入力波形のノイズの影響が
軽減できる波形デジタイザを提供することである。
本発明の更に他の目的はサンプルデータがとられると容
易に較正できる波形デジタイザを提供することである。
易に較正できる波形デジタイザを提供することである。
本発明の別の目的は高精度且つ高分解能で波形がデジタ
イズ可能な波形デジタイザを提供することである。
イズ可能な波形デジタイザを提供することである。
本発明の波形デジタイザは入力波形のアナログサンプル
を得る高効率サンプリングダート(プリツノ)t−含ん
でいる。このr−トで得たサンゾルは可変利得及びオフ
セットの増襦器で増幅され、増幅器出力はアナログデジ
タル変換器(ADC)テ対応するデジタル値に変換され
てアドレス可能なメモリ(記憶装置)にストアする。高
効率のサンプリングダートの使用によ’)、NIN回路
全用いサンプリングコンデンサを予め充電する必要がな
くなシ、古典的サンシラに付随していたコンデンサのド
ループ(放電現象)及び帰還の不正確さの問題が排除で
きる。増幅器の利得とオフセットが調節可能であるので
、デジタイザに付随するオフセットや損失を「飛行中に
」ハードウェアで較正できるようにし、メモリにストア
されたデータが更に補正することなく正確に波形を表わ
すようにする。
を得る高効率サンプリングダート(プリツノ)t−含ん
でいる。このr−トで得たサンゾルは可変利得及びオフ
セットの増襦器で増幅され、増幅器出力はアナログデジ
タル変換器(ADC)テ対応するデジタル値に変換され
てアドレス可能なメモリ(記憶装置)にストアする。高
効率のサンプリングダートの使用によ’)、NIN回路
全用いサンプリングコンデンサを予め充電する必要がな
くなシ、古典的サンシラに付随していたコンデンサのド
ループ(放電現象)及び帰還の不正確さの問題が排除で
きる。増幅器の利得とオフセットが調節可能であるので
、デジタイザに付随するオフセットや損失を「飛行中に
」ハードウェアで較正できるようにし、メモリにストア
されたデータが更に補正することなく正確に波形を表わ
すようにする。
本発明を別の成魚から見ると、このデジタイザは予測可
能な時間軸回路を含んでおり、波形の反復区間のトリガ
現象の後、高精度で制御可能な間隔で波形サンプリング
を行うことができる。デジタイザは更にメモリのアドレ
ス選択回路を含んでおり、順次のサンプルデータがメモ
リの所定メモリアドレスインクリメントで順次ストアで
きるようにする。この予測可能な時間軸とメモリ制御回
路により、デジタイザは等何時間サン!す/グモードで
動作でさ、波形を2以上の波形区間にわたシサンプリン
グして、高周波波形の正確なデジタイズを可能にする。
能な時間軸回路を含んでおり、波形の反復区間のトリガ
現象の後、高精度で制御可能な間隔で波形サンプリング
を行うことができる。デジタイザは更にメモリのアドレ
ス選択回路を含んでおり、順次のサンプルデータがメモ
リの所定メモリアドレスインクリメントで順次ストアで
きるようにする。この予測可能な時間軸とメモリ制御回
路により、デジタイザは等何時間サン!す/グモードで
動作でさ、波形を2以上の波形区間にわたシサンプリン
グして、高周波波形の正確なデジタイズを可能にする。
本発明の更に他の観点によると、このサンプリング装置
はサンプリングし取込んだデジタル値を選択値で除算し
、且つ除算したデジタル値に既にメモリ内にストアした
データを加算する−・−ドウエアを含んでいる。本発明
のこの機能によると、波形の反復区間中の同様時点でと
ったサンダルの高速ハードウェア平均処理が可能になる
。サンプルのハードウェア平均によると、波形の他の点
のデジタル表示に影響を生じることなく、1サンプル中
のノイズの影響を低減することができる。
はサンプリングし取込んだデジタル値を選択値で除算し
、且つ除算したデジタル値に既にメモリ内にストアした
データを加算する−・−ドウエアを含んでいる。本発明
のこの機能によると、波形の反復区間中の同様時点でと
ったサンダルの高速ハードウェア平均処理が可能になる
。サンプルのハードウェア平均によると、波形の他の点
のデジタル表示に影響を生じることなく、1サンプル中
のノイズの影響を低減することができる。
本発明の別の観点によると、この波形デジタイザは高精
度動作モードで反復波形のデジタイズが可能である。先
ず波形をADCの分解能限界でサンプリング及びデジタ
イズし、メモリにストアする。
度動作モードで反復波形のデジタイズが可能である。先
ず波形をADCの分解能限界でサンプリング及びデジタ
イズし、メモリにストアする。
次に、増@器のオフセットをメモリにストアした最初の
サンプルデータの大きさに調節する。そして、増幅器の
利得を増加して後続の波形区+fJ1の同じ点で波形を
再びサンプリングする。新しい波形サンダルとの振幅差
と低分解能のストアされたデータを増幅してデジタイズ
する。この増幅された差信号を分圧し、下位ビットとし
て低分解能のストアされたデータに加算され、よシ高分
解能で且つよシ高精度の波形サンプルを得る。
サンプルデータの大きさに調節する。そして、増幅器の
利得を増加して後続の波形区+fJ1の同じ点で波形を
再びサンプリングする。新しい波形サンダルとの振幅差
と低分解能のストアされたデータを増幅してデジタイズ
する。この増幅された差信号を分圧し、下位ビットとし
て低分解能のストアされたデータに加算され、よシ高分
解能で且つよシ高精度の波形サンプルを得る。
第1図は本発明による波形デジタイザのブロック図であ
り、入力波形vlnt−サンプリング及びデジタイズす
るよう構成されてbる。デジタイザは高効率サンプリン
グr−)αQを含み、波形Vlnを反復してサンプリン
グし、それぞれ入力波形の瞬時値と等しい大きさを有す
る一連の第1出力電圧v1を得る。サンプリングr−)
(11の各サンニア4ル電圧出力v1は増幅器(呻の非
反転入力端に印加され、オフセット電圧V。ffがその
反転入力端に印加される。増幅器(6)は印加される利
得制御電圧vgにより決まる可変利得を有する。よって
、増幅器(6)の出力は第1の電圧シーケンスvlに対
応し調節可能なオフセット4圧と利得で決まる第2の電
圧シーケンスv2となる。各4圧v2はフラッシュAD
CαQ。
り、入力波形vlnt−サンプリング及びデジタイズす
るよう構成されてbる。デジタイザは高効率サンプリン
グr−)αQを含み、波形Vlnを反復してサンプリン
グし、それぞれ入力波形の瞬時値と等しい大きさを有す
る一連の第1出力電圧v1を得る。サンプリングr−)
(11の各サンニア4ル電圧出力v1は増幅器(呻の非
反転入力端に印加され、オフセット電圧V。ffがその
反転入力端に印加される。増幅器(6)は印加される利
得制御電圧vgにより決まる可変利得を有する。よって
、増幅器(6)の出力は第1の電圧シーケンスvlに対
応し調節可能なオフセット4圧と利得で決まる第2の電
圧シーケンスv2となる。各4圧v2はフラッシュAD
CαQ。
レジスタ0本(イ)及び(至)、並列シック(1)、及
び論理演算ユニット(ALU)(ハ)よシ構成されるデ
ジタル・9イブラインα→に入力される。フラッシュA
DC(t*は第2電圧シーケンスVz ’(、それに対
応する、例えば10ビツトのデジタルデータシーケンス
D3に変換する。
び論理演算ユニット(ALU)(ハ)よシ構成されるデ
ジタル・9イブラインα→に入力される。フラッシュA
DC(t*は第2電圧シーケンスVz ’(、それに対
応する、例えば10ビツトのデジタルデータシーケンス
D3に変換する。
フラッシュADC(ト)の各データ出力D3はレジスタ
(至)にストアされ、その入力と同じビット・やターン
を有するが選択されたビット数(n)だけシフトされた
出力を生ずる並列シフタ翰への入力として印加され、こ
れにより並列シック■へのデジタルデータ入力t−2”
で除算する。従って、第3データシーケンスD3に対応
する並列シフタ四の出力は第4のデジタルシーケンスD
4となυ、各データD4は対応する第3データシーケン
スD3の調節可能な1部分、即ち整数(2n)分の1と
なる。並列シフタ(イ)の各データ出力D4は一時的に
レジスタ@にストアされ、次K ALU(財)の入力へ
転送される。ALU(ハ)は対応する第4データシーケ
ンスD4とALU(至)の!2 人7[K入力される他
のデータD6との和に4しい大きさの第5のデータシー
ケンスD5を作ることができる。
(至)にストアされ、その入力と同じビット・やターン
を有するが選択されたビット数(n)だけシフトされた
出力を生ずる並列シフタ翰への入力として印加され、こ
れにより並列シック■へのデジタルデータ入力t−2”
で除算する。従って、第3データシーケンスD3に対応
する並列シフタ四の出力は第4のデジタルシーケンスD
4となυ、各データD4は対応する第3データシーケン
スD3の調節可能な1部分、即ち整数(2n)分の1と
なる。並列シフタ(イ)の各データ出力D4は一時的に
レジスタ@にストアされ、次K ALU(財)の入力へ
転送される。ALU(ハ)は対応する第4データシーケ
ンスD4とALU(至)の!2 人7[K入力される他
のデータD6との和に4しい大きさの第5のデータシー
ケンスD5を作ることができる。
また、ALU(財)はデータシーケンスD4に第2人力
データD6を加算しないように設定することもできる。
データD6を加算しないように設定することもできる。
その場合には、第5のデータシーケンスDSは対応する
第4データシーケンスD4と同じ値を有する。第5シー
ケンスの各データD5はレジスタ(ト)にストアされ、
ランダムアクセス型メモリ(RAM) CAのデータ入
力端に転送される。
第4データシーケンスD4と同じ値を有する。第5シー
ケンスの各データD5はレジスタ(ト)にストアされ、
ランダムアクセス型メモリ(RAM) CAのデータ入
力端に転送される。
取込みメモリ(至)内の現在アドレスされたデータはA
LU(ハ)の第2人力データD6として印加されると共
に1イントレゾスタ(至)へも入力される。ポイントレ
ジスタ(至)とオフセットレジスタ0■の内容ハ加算器
(ロ)によシ加算され、その和は例えば16ピツトのデ
シタルアナログ変換器(DAC)(ト)Kより比例する
アナログ値に変換される。このアナログ値はオフセット
電圧V。ffとして増幅a(ロ)の反転入力端に印加さ
れる。増幅器(6)の利得は利得制御レジスタ(至)内
にストアされたデータによシ調節され、そのレジスタの
内容は10ビツトDAC++0により増幅器(6)の利
得を制御する信号vgに変換される。このデシタイプは
後述する如くオフセット及び利得制御電圧V。ff、v
gを調節することにより較正される。
LU(ハ)の第2人力データD6として印加されると共
に1イントレゾスタ(至)へも入力される。ポイントレ
ジスタ(至)とオフセットレジスタ0■の内容ハ加算器
(ロ)によシ加算され、その和は例えば16ピツトのデ
シタルアナログ変換器(DAC)(ト)Kより比例する
アナログ値に変換される。このアナログ値はオフセット
電圧V。ffとして増幅a(ロ)の反転入力端に印加さ
れる。増幅器(6)の利得は利得制御レジスタ(至)内
にストアされたデータによシ調節され、そのレジスタの
内容は10ビツトDAC++0により増幅器(6)の利
得を制御する信号vgに変換される。このデシタイプは
後述する如くオフセット及び利得制御電圧V。ff、v
gを調節することにより較正される。
サンプリングデートα0のサンプリングタイミングは時
間軸制御回路−のストローブ信号により制御される。ま
た、時間軸制御回路■はフラッシュADC(IQのタイ
ミングを制御し、レジスタ(層、に)及び?時の入力イ
ネーブルを行う。この制御回路−の各種動作・fラメー
タはμP(IQからのデータにより制御される。並列シ
フタ翰がデータをシフトする量とALU(ハ)の動作モ
ードとはμP y+4により与えられるデータにより決
まる。メモリ(至)のアドレス選択と書込みイネーブル
は時間軸制御回路−からのタイミング信号によりロック
されるメモリ制御回路−により行われ、またμP 、1
1小らのデータにょシ制御される。またμP■はレジス
タ0埠と(至)にストアされた利得制御データを与えて
レジスタ(ト)、0■及び(増の入力イネーブルを行う
。
間軸制御回路−のストローブ信号により制御される。ま
た、時間軸制御回路■はフラッシュADC(IQのタイ
ミングを制御し、レジスタ(層、に)及び?時の入力イ
ネーブルを行う。この制御回路−の各種動作・fラメー
タはμP(IQからのデータにより制御される。並列シ
フタ翰がデータをシフトする量とALU(ハ)の動作モ
ードとはμP y+4により与えられるデータにより決
まる。メモリ(至)のアドレス選択と書込みイネーブル
は時間軸制御回路−からのタイミング信号によりロック
されるメモリ制御回路−により行われ、またμP 、1
1小らのデータにょシ制御される。またμP■はレジス
タ0埠と(至)にストアされた利得制御データを与えて
レジスタ(ト)、0■及び(増の入力イネーブルを行う
。
別の16ビツトDAC(ロ)が設けられ、μP 、、4
からのデータを基準1圧Vr64に変換し、vrofを
スイッチ0Iを介してデジタイザの較正の為に入力vl
nに代ってサンブリ、ンググートαQに印加する。デシ
タイプα0は先ずDAC(ロ)からの0撮幅(接地レベ
ル)のDC4圧をサンプリングf−)(7)に入力して
較正される。次に、との0?ルトのサンプルを増1@器
(6)によシオフセット及び増幅し、フラッシュADC
(10でデジタイズし、・9イブライン(I4を介して
伝送し、メそり脅にストアする。メモリに)にストアし
たデータをμp4で読む。ALU(ハ)がデータDs(
!−D4に加算しないようにセットすると、基準電圧を
表わすデータDSはV。ffを正しく調節していなけれ
ばゼロ以外の値になる。μp4はメモリ(至)からのデ
ータt−tXみ、取込んだデータの大きさにょシオフセ
ットレジスタ0φにストアしたデータの大きさを増減す
る。即ち、データが0未満(又は0を超す)のときは、
μP4はオフセットレジスタu4にストアされるデータ
の大きさを減少(又は増加)する。オフセットレジスタ
0″4の変化は、DAC(xiのvOff出力を変化さ
せ、装置内のオフセットの影響を相殺する。増幅器(6
)の利得を高くして同様工程を反復してメモリ(至)に
ストアされたデータがより高精度で0であることを保証
する。
からのデータを基準1圧Vr64に変換し、vrofを
スイッチ0Iを介してデジタイザの較正の為に入力vl
nに代ってサンブリ、ンググートαQに印加する。デシ
タイプα0は先ずDAC(ロ)からの0撮幅(接地レベ
ル)のDC4圧をサンプリングf−)(7)に入力して
較正される。次に、との0?ルトのサンプルを増1@器
(6)によシオフセット及び増幅し、フラッシュADC
(10でデジタイズし、・9イブライン(I4を介して
伝送し、メそり脅にストアする。メモリに)にストアし
たデータをμp4で読む。ALU(ハ)がデータDs(
!−D4に加算しないようにセットすると、基準電圧を
表わすデータDSはV。ffを正しく調節していなけれ
ばゼロ以外の値になる。μp4はメモリ(至)からのデ
ータt−tXみ、取込んだデータの大きさにょシオフセ
ットレジスタ0φにストアしたデータの大きさを増減す
る。即ち、データが0未満(又は0を超す)のときは、
μP4はオフセットレジスタu4にストアされるデータ
の大きさを減少(又は増加)する。オフセットレジスタ
0″4の変化は、DAC(xiのvOff出力を変化さ
せ、装置内のオフセットの影響を相殺する。増幅器(6
)の利得を高くして同様工程を反復してメモリ(至)に
ストアされたデータがより高精度で0であることを保証
する。
DACIゆからサンプリングゲート叫への基準人力vr
efl″!:列えば1deルトの他の既知電圧に変化さ
せ、再度サンプリング、デジタイズそしてメモリ(ハ)
にストアする。ストアされたデータが1ボルトのデジタ
ル値とずれていれば、増幅器(6)の利得調節が不正確
であることを示す。そこでμP Qlはレジスタ(至)
内のデータを調節して、必要に応じてDAC60の利得
制御出力信号vgを増減する。このプロセスを必要に応
じて反復してメモリに)にストアされるデータが正しい
値になるように調節する。
efl″!:列えば1deルトの他の既知電圧に変化さ
せ、再度サンプリング、デジタイズそしてメモリ(ハ)
にストアする。ストアされたデータが1ボルトのデジタ
ル値とずれていれば、増幅器(6)の利得調節が不正確
であることを示す。そこでμP Qlはレジスタ(至)
内のデータを調節して、必要に応じてDAC60の利得
制御出力信号vgを増減する。このプロセスを必要に応
じて反復してメモリに)にストアされるデータが正しい
値になるように調節する。
この装置の較正が完了すると、ストアされた波形データ
は波形の振幅を正しく反映する。従来の古典的サンプリ
ング装置では、メモリにストアされたデジタル波形デー
タはデータs積の後にソフトウェアルーチンによシ調節
され、メそりにストアする前にハードウェアの較正を行
わない。しかし、サンプリング装置に不可避的に存する
オフセット及び利得を取込んだデータから調節するに要
する付加的な処理時間は、例えば波形表示の制御等のそ
の後のデータ使用を遅らせる。
は波形の振幅を正しく反映する。従来の古典的サンプリ
ング装置では、メモリにストアされたデジタル波形デー
タはデータs積の後にソフトウェアルーチンによシ調節
され、メそりにストアする前にハードウェアの較正を行
わない。しかし、サンプリング装置に不可避的に存する
オフセット及び利得を取込んだデータから調節するに要
する付加的な処理時間は、例えば波形表示の制御等のそ
の後のデータ使用を遅らせる。
このデジタイザは数種のサンプリングモードで動作可能
である。実時間(リアルタイム)モード動作では、サン
プリングr−)α0は入力波形Vinの単−区間中に一
定間隔で必要とする総てのサンプルを得る。サンプリン
グr−)αQが入力波形”In’t”サンプリングする
苺に、対応するアナログサンプルv1が増幅4(6)に
送られ、これによりV。ffのオフセットと増嘔がなさ
れて増幅器出力v2を出力する。フラッシュADCαQ
は増幅!(6)の出力をデジタルデータD3に変換し、
レジスタ・、鴫はこのデータDst’一時的にストアす
る。並列シフタ(7)はμPε→によシゾリセットされ
て、レジスタα樽からの入力データをレジスタに)にピ
ットシフトを生じることなく送る。ALU(ハ)の動作
もまたμP(→によりセットされ、レジスタに)からの
データD4にデータD6を加えすることなく。
である。実時間(リアルタイム)モード動作では、サン
プリングr−)α0は入力波形Vinの単−区間中に一
定間隔で必要とする総てのサンプルを得る。サンプリン
グr−)αQが入力波形”In’t”サンプリングする
苺に、対応するアナログサンプルv1が増幅4(6)に
送られ、これによりV。ffのオフセットと増嘔がなさ
れて増幅器出力v2を出力する。フラッシュADCαQ
は増幅!(6)の出力をデジタルデータD3に変換し、
レジスタ・、鴫はこのデータDst’一時的にストアす
る。並列シフタ(7)はμPε→によシゾリセットされ
て、レジスタα樽からの入力データをレジスタに)にピ
ットシフトを生じることなく送る。ALU(ハ)の動作
もまたμP(→によりセットされ、レジスタに)からの
データD4にデータD6を加えすることなく。
そのままデータD5としてレジスタに)に通過させる。
次に、レジスターのデータD5はメモリ(至)にストア
される。メモリ(至)のアドレスはデータがメモリ(ハ
)にストアされる毎にメ七す制御回路fiKよりインク
リメントされ、データシーケンスD5の波形データはメ
モリ(ハ)のアドレスに順次ストアされる。波形は順次
一定間隔でサンプリングされたので、メモリ(ハ)にス
トアした順にデータの大きさを順次一定間隔でプロット
することによシ入力波形のサンプリングされた区間が再
生表示できる、この実時間モードは、サンプリングした
い入力波形が:姿二のサンプリング速度(周波数)に比
して十分低周波の場合に好適である。しかし、高周波入
力波形vinの場合には、波形1サイクル中にとれるサ
ンプル数は多くてせいぜい2〜3 aであり、波形を正
確に表示再生することはできない、 高周波信号のサンプリングを行うには、本発明の波形デ
ソタイデは「等価時間」モードで動作することもできる
。このモードでは、反復波形Vinの複数区間を各区間
につき一定間隔で1回以上サンプリングする。サンプリ
ング時点は各波形区間毎にトリガ現象を基準に順次遅延
時間が増加するようスキュさせる。第2図にこの波形サ
ンプリングの例を示す。この例では、各波形区間は高周
波方形波の1サイクルを含み、トリガ現波はその前縁と
する。サンプリング速度の限界によシ、各サイクル中に
4回のサンプリングが行われる。最初のサンプリング点
pHはトリが点の直後であシ、後続の3つのサンプルP
12 ” PI3は入力波形Vinの1サイクル中/4
ルス)@の1/2−fルス唱相当の一定間隔で行われる
。2番目のサイクル(区間2)の最初のサンダルP21
はトリガ現象の後・ぐルス幅の1/B相当時間遅れてと
られ、後続サンプルP22−P24はその後1/2/母
ルス幅毎にとられる。同様にして、3番目のサイクル(
区間3)の4つのサンプルP31””34はトリガ現象
後1/4・ぐルス幅相当位置から始まる1/2−fルス
幅時間毎にとられる。また、4番目のサイクル(区間4
)中のサンプルP41”44はトリガ現象後3Aパルス
幅相当位置から始まり1/2・母ルス幅間隔でとられる
。
される。メモリ(至)のアドレスはデータがメモリ(ハ
)にストアされる毎にメ七す制御回路fiKよりインク
リメントされ、データシーケンスD5の波形データはメ
モリ(ハ)のアドレスに順次ストアされる。波形は順次
一定間隔でサンプリングされたので、メモリ(ハ)にス
トアした順にデータの大きさを順次一定間隔でプロット
することによシ入力波形のサンプリングされた区間が再
生表示できる、この実時間モードは、サンプリングした
い入力波形が:姿二のサンプリング速度(周波数)に比
して十分低周波の場合に好適である。しかし、高周波入
力波形vinの場合には、波形1サイクル中にとれるサ
ンプル数は多くてせいぜい2〜3 aであり、波形を正
確に表示再生することはできない、 高周波信号のサンプリングを行うには、本発明の波形デ
ソタイデは「等価時間」モードで動作することもできる
。このモードでは、反復波形Vinの複数区間を各区間
につき一定間隔で1回以上サンプリングする。サンプリ
ング時点は各波形区間毎にトリガ現象を基準に順次遅延
時間が増加するようスキュさせる。第2図にこの波形サ
ンプリングの例を示す。この例では、各波形区間は高周
波方形波の1サイクルを含み、トリガ現波はその前縁と
する。サンプリング速度の限界によシ、各サイクル中に
4回のサンプリングが行われる。最初のサンプリング点
pHはトリが点の直後であシ、後続の3つのサンプルP
12 ” PI3は入力波形Vinの1サイクル中/4
ルス)@の1/2−fルス唱相当の一定間隔で行われる
。2番目のサイクル(区間2)の最初のサンダルP21
はトリガ現象の後・ぐルス幅の1/B相当時間遅れてと
られ、後続サンプルP22−P24はその後1/2/母
ルス幅毎にとられる。同様にして、3番目のサイクル(
区間3)の4つのサンプルP31””34はトリガ現象
後1/4・ぐルス幅相当位置から始まる1/2−fルス
幅時間毎にとられる。また、4番目のサイクル(区間4
)中のサンプルP41”44はトリガ現象後3Aパルス
幅相当位置から始まり1/2・母ルス幅間隔でとられる
。
波形のptt点での大きさを表わすデジタイズされたデ
ータは、データ取込み前にμP(7)によりメモリtl
JII御回路−によシ与えられるデータにより1択され
たメモリに)の開始点にストアされる。次に、メモリア
ドレスは4アドレスおきにインクリメントシ、その後4
番目のアドレスにサンプルptzのデータをストアする
。同様に、サンプルP13のデータは8番目、サンプル
P14のデータは12番目のアドレスにストアする。そ
の後、メモリアドレス全減少して、サンプルPHのデー
タをサンプルpttのアドレスの次に大きいアドレスに
ストアする。サンプルP 2! + P 23及びP2
4のデータはその後4メモリアドレスおきに順次ストア
する。サンダルpat −P44のデータがとられるに
つれて、メモリ(財)のアドレスは同様に制御され、最
終的にはPll。
ータは、データ取込み前にμP(7)によりメモリtl
JII御回路−によシ与えられるデータにより1択され
たメモリに)の開始点にストアされる。次に、メモリア
ドレスは4アドレスおきにインクリメントシ、その後4
番目のアドレスにサンプルptzのデータをストアする
。同様に、サンプルP13のデータは8番目、サンプル
P14のデータは12番目のアドレスにストアする。そ
の後、メモリアドレス全減少して、サンプルPHのデー
タをサンプルpttのアドレスの次に大きいアドレスに
ストアする。サンプルP 2! + P 23及びP2
4のデータはその後4メモリアドレスおきに順次ストア
する。サンダルpat −P44のデータがとられるに
つれて、メモリ(財)のアドレスは同様に制御され、最
終的にはPll。
P21 、p3t l P41 * ptz I PX
3 s P3m+ Pd2 +++” + PI3 +
P24νP34sP44の順序でデータが順次ストア
される。そこで、メモリ(ハ)にストアされた順序に一
定間隔でデータの大きさをプロットすると、第3図に示
す如く反復入力波形が図形表示できる。この表示波形の
サンプリング区間分解能はサンブリング速度t−4倍に
して実時間サンプリングモードで動作したのと等価であ
る。従って、最大サンプリング速度が一定であれば、等
何時間サンプリングモードでは実時間サンプリングモー
ド時のサンプリング期間分解能が改善できる。サンプリ
ング分解能の改善は時間軸+1ilJ御回路−により与
えられるスキュインクリメントの細かさと精度とのみに
よシ制限される。
3 s P3m+ Pd2 +++” + PI3 +
P24νP34sP44の順序でデータが順次ストア
される。そこで、メモリ(ハ)にストアされた順序に一
定間隔でデータの大きさをプロットすると、第3図に示
す如く反復入力波形が図形表示できる。この表示波形の
サンプリング区間分解能はサンブリング速度t−4倍に
して実時間サンプリングモードで動作したのと等価であ
る。従って、最大サンプリング速度が一定であれば、等
何時間サンプリングモードでは実時間サンプリングモー
ド時のサンプリング期間分解能が改善できる。サンプリ
ング分解能の改善は時間軸+1ilJ御回路−により与
えられるスキュインクリメントの細かさと精度とのみに
よシ制限される。
本発明のデジタイザは高精度モードで動作させることも
可能である。即ち、この動作モードではデジタイズ精度
及び分解能はフラッシュADC(t*の10ビット精度
及び分解能を、遣えて、デシタイプの他の部品の精度に
依シ、例えば12ビツト以上に増加することができる。
可能である。即ち、この動作モードではデジタイズ精度
及び分解能はフラッシュADC(t*の10ビット精度
及び分解能を、遣えて、デシタイプの他の部品の精度に
依シ、例えば12ビツト以上に増加することができる。
最初、サンプルデータを取込み、10ヒットノ分解能と
精度でデジタイズし、上述した実時間又は等何時間動作
モードによりメモリ(ハ)にストアする。
精度でデジタイズし、上述した実時間又は等何時間動作
モードによりメモリ(ハ)にストアする。
次に、波形の後う売区間の同じ点でサンプリングを行う
。しかし各サンプルがとられる前に、ポイントデータ(
ト)には前の波形区間の対応部分で取込んだサンプルデ
ータをメモリ(7)にロードする。レジスタ(至)のポ
イントデータとオフセットレジスタ0埠のオフセットデ
ータを加算器(ロ)により加算し、増1[aα埴の反転
入力に印加されるDAC(ロ)のオフセット屯圧出力を
増加する。よって、デシタイプの較正に必要な入力1圧
をオフセットすることに加えて、増輻器α嗜は入力サン
プル電圧v凰を前に取込みメモリ(ハ)にストアした1
0ビツトデータの等価アナログ値だけオフセットして増
幅する。次のサンプリングプロセスの前に、利得制御レ
ジスタ(至)のデータをμP (i→によシ変更し、増
幅器(6)の利得が例えば256倍に増加するようにし
、且つ並列シフタ四は入力データを8ビツトシフトさせ
てデータを256で除算するようにする。ALU(ハ)
はレジスタ@からの入力データD4に前に取込みメモリ
(至)にストア済の10ピツトポイントデータD6と加
算して入力′電圧の大きさをより正確に反映するようK
する。
。しかし各サンプルがとられる前に、ポイントデータ(
ト)には前の波形区間の対応部分で取込んだサンプルデ
ータをメモリ(7)にロードする。レジスタ(至)のポ
イントデータとオフセットレジスタ0埠のオフセットデ
ータを加算器(ロ)により加算し、増1[aα埴の反転
入力に印加されるDAC(ロ)のオフセット屯圧出力を
増加する。よって、デシタイプの較正に必要な入力1圧
をオフセットすることに加えて、増輻器α嗜は入力サン
プル電圧v凰を前に取込みメモリ(ハ)にストアした1
0ビツトデータの等価アナログ値だけオフセットして増
幅する。次のサンプリングプロセスの前に、利得制御レ
ジスタ(至)のデータをμP (i→によシ変更し、増
幅器(6)の利得が例えば256倍に増加するようにし
、且つ並列シフタ四は入力データを8ビツトシフトさせ
てデータを256で除算するようにする。ALU(ハ)
はレジスタ@からの入力データD4に前に取込みメモリ
(至)にストア済の10ピツトポイントデータD6と加
算して入力′電圧の大きさをより正確に反映するようK
する。
増幅器に)の増幅した差出力v2をフラッシュADCα
Qによシ10ビットの分解能で量子化し、並列シック…
で8ビツトシフトし、メモリ(7)に予めストアされた
10ビツトデータD6とALU(ハ)により加算する。
Qによシ10ビットの分解能で量子化し、並列シック…
で8ビツトシフトし、メモリ(7)に予めストアされた
10ビツトデータD6とALU(ハ)により加算する。
ALU Klが12ピツトの出力を出す大きさであると
仮定すると、12ビツト精度の出力がレジスタに)を通
シ、予めストアされている10ビツトのデータに代って
メモリー内にストアされる。この精度改善方法は、との
サンプリング装置の較正時にも使用可能である。
仮定すると、12ビツト精度の出力がレジスタに)を通
シ、予めストアされている10ビツトのデータに代って
メモリー内にストアされる。この精度改善方法は、との
サンプリング装置の較正時にも使用可能である。
波形に高周波ノイズが含まれているときは、サンプリン
グ装置はこのノイズのピーク値をサンプリングして再生
した波形を大幅に歪ませることがあシ得る。従来の古典
的なサンプリング装置では「スムー・ジンク」と呼ばれ
る技法を用いてノイズ・ぜルスの影響を波形の広い範囲
に分散させている。
グ装置はこのノイズのピーク値をサンプリングして再生
した波形を大幅に歪ませることがあシ得る。従来の古典
的なサンプリング装置では「スムー・ジンク」と呼ばれ
る技法を用いてノイズ・ぜルスの影響を波形の広い範囲
に分散させている。
しかし、このスムージング技法では装置の過渡応答を低
下させ、このデータから再生した波形は低域通過フィル
タで歪まされたように見える。例えば、矩形波入力を表
示すると、その前後縁が丸められてしまう。入力波形の
過渡信号の影響を低減する為、第1図のサンプリング装
置は種々の平均化モードで動作できる。その1つでは、
反復波形’t−dj数の波形区間中の同じ点でサンプリ
ングする。
下させ、このデータから再生した波形は低域通過フィル
タで歪まされたように見える。例えば、矩形波入力を表
示すると、その前後縁が丸められてしまう。入力波形の
過渡信号の影響を低減する為、第1図のサンプリング装
置は種々の平均化モードで動作できる。その1つでは、
反復波形’t−dj数の波形区間中の同じ点でサンプリ
ングする。
各サンプリングで得たデジタル結果をサンプル数で除算
して、それらを總て加算した後メモリに)にストアする
。
して、それらを總て加算した後メモリに)にストアする
。
波形の反復区間の同じ点で多数のサンプルをとυ、各点
の平均サンダル値を求めると、1つのサンダル中に起シ
得るス・母イクノイズの影・膠は大幅に低減される。例
えば、1024の反復波形区間をサンプリングすると、
並列シフタ(1)は入力データを10”:7トシフトさ
せて入力サンプルデータ11024で除算する。ALU
(ハ)はこの除算データを、このサンプリング点に対応
するメモリに)のアドレスに予めストアしたデータと/
IO算して、このメモリアドレスのデータを、この加算
結果と置換する。異なるサンプリング点の各々につき1
024個のサンプルをとると、メモリ(至)の各位置に
ストアされた合計値は1024の反復波形区間の各々に
つき同じサンプリング点でとった1024個のサンプル
の平均値となる。この平均化手法を使用すると、定常的
に発生する高周波信号を高精度でサンプリングするこの
サンプリング装置の性能を低下することなく入力信号中
のランダムノイズの影響が軽減できる。
の平均サンダル値を求めると、1つのサンダル中に起シ
得るス・母イクノイズの影・膠は大幅に低減される。例
えば、1024の反復波形区間をサンプリングすると、
並列シフタ(1)は入力データを10”:7トシフトさ
せて入力サンプルデータ11024で除算する。ALU
(ハ)はこの除算データを、このサンプリング点に対応
するメモリに)のアドレスに予めストアしたデータと/
IO算して、このメモリアドレスのデータを、この加算
結果と置換する。異なるサンプリング点の各々につき1
024個のサンプルをとると、メモリ(至)の各位置に
ストアされた合計値は1024の反復波形区間の各々に
つき同じサンプリング点でとった1024個のサンプル
の平均値となる。この平均化手法を使用すると、定常的
に発生する高周波信号を高精度でサンプリングするこの
サンプリング装置の性能を低下することなく入力信号中
のランダムノイズの影響が軽減できる。
次に、「スピ/」モードと呼ばれるデシタイプの平均化
勘作モードにつき説明する。これは等何時間サンプリン
グ技法とノ・−ドウエア平均化を組合せたものである。
勘作モードにつき説明する。これは等何時間サンプリン
グ技法とノ・−ドウエア平均化を組合せたものである。
各反復波形区間中のトリガ点(現象)に対し同じ相対位
dで入力信号をただ1回すンノリングする。メモリ(ハ
)の現在のアドレスは例えば1024サンプルがとられ
、除算され、加算されてメモリのそのアドレスにストア
されるまで変化しない。次にメモリ(ハ)の現在のアド
レスを1つインクリメントし、別の1024反1波形の
各区間で1個のサンプリングを行う。しかし、2回目の
1024個のサンプリング時点は各波形区間内のトリガ
点に対して1回目に1024個のサンプリングを行った
時点よシ連れている。2回目の1024個のy” −タ
サンプルも同機に除算、JM算して次のメモリアドレス
にストアされる。この1024個のサンプリング工程を
何回か行い、毎回のサンプリング時点をトリが点に対し
て順次遅延(スキュ)させ、メモリ(財)にストアされ
たデータがこの波形区間の何点かの平均す/ノル値とな
るようにする。
dで入力信号をただ1回すンノリングする。メモリ(ハ
)の現在のアドレスは例えば1024サンプルがとられ
、除算され、加算されてメモリのそのアドレスにストア
されるまで変化しない。次にメモリ(ハ)の現在のアド
レスを1つインクリメントし、別の1024反1波形の
各区間で1個のサンプリングを行う。しかし、2回目の
1024個のサンプリング時点は各波形区間内のトリガ
点に対して1回目に1024個のサンプリングを行った
時点よシ連れている。2回目の1024個のy” −タ
サンプルも同機に除算、JM算して次のメモリアドレス
にストアされる。この1024個のサンプリング工程を
何回か行い、毎回のサンプリング時点をトリが点に対し
て順次遅延(スキュ)させ、メモリ(財)にストアされ
たデータがこの波形区間の何点かの平均す/ノル値とな
るようにする。
上述したスピンモードに対して、「コム」モードと呼ば
れるデノタイデの平均化1作モードがある。
れるデノタイデの平均化1作モードがある。
このモードでは、各波形区間中に1回でなく何回かサン
プリングする。サンプリングの後、その点の入力データ
をデジタイズし、除算し、そのサンプリング点に関連し
てメそす(至)の現在のアドレスにストアされたデータ
D6と/JnXする。次に、このアドレスを次のサンプ
リング点のアドレスにインクリメントする。各サンプル
波形区間のサンプルデータかデジタイズされた後、メモ
リ(ハ)のアドレスを初期アドレスにリセットする。こ
の工程は数箇所の同じ点で1024個のサンプル力;と
れるまで反復する。メそりに)内にストアされたデータ
はその波形区間に沿った数箇所の各1024サンダルの
平均値となる。
プリングする。サンプリングの後、その点の入力データ
をデジタイズし、除算し、そのサンプリング点に関連し
てメそす(至)の現在のアドレスにストアされたデータ
D6と/JnXする。次に、このアドレスを次のサンプ
リング点のアドレスにインクリメントする。各サンプル
波形区間のサンプルデータかデジタイズされた後、メモ
リ(ハ)のアドレスを初期アドレスにリセットする。こ
の工程は数箇所の同じ点で1024個のサンプル力;と
れるまで反復する。メそりに)内にストアされたデータ
はその波形区間に沿った数箇所の各1024サンダルの
平均値となる。
「スムーズ」動作モードはハードウェア平均と実時間サ
ンプリングの組合せである。1波形区間の順次のサンプ
リング区間をいくつか定め、各区間の多くのサンプリン
グ点で入力波形のサンプリングを行う。メモリ(至)の
アドレスは各サンプリング間隔後のみインクリメントさ
れる。各区間でとったサンプルデータを除算及び加算し
て、各区間のサンプリングデータの平均値とする。この
データから、平均値が各区間の中点における波形の振幅
であるとの前提で入力波形を再現する。
ンプリングの組合せである。1波形区間の順次のサンプ
リング区間をいくつか定め、各区間の多くのサンプリン
グ点で入力波形のサンプリングを行う。メモリ(至)の
アドレスは各サンプリング間隔後のみインクリメントさ
れる。各区間でとったサンプルデータを除算及び加算し
て、各区間のサンプリングデータの平均値とする。この
データから、平均値が各区間の中点における波形の振幅
であるとの前提で入力波形を再現する。
これらスピン、コム又はスムーズ平均動作モードのいず
れを選択するかはデジタイズしたい波形の周波数によシ
決める。デノタイデが平均モードで動作すると、メモリ
アドレスを変更しなければならないときμP4は新しh
アドレスをメモリ制御回路図に与える。従って、コム平
均セードでは、μP−はサンプルをとる毎にメモリアド
レスをリセットする必要があシ、スピン平均モードでは
μPに)は多くの(例えば1024個)サンプルをとる
毎にメモリアドレスをリセットすれば足りる。高周波入
力信号の周期はμP(9)がメモリアドレスを変更する
に要する時間に比して短いので、高周波入力信号の場合
、1点当りのサンプル数が同じであればスピン平均モー
ドはコム平均モードよシ迅速に入力信号のデジタイズを
行う。しかし、:7ム平均モー)は低周波入力信号の場
合にはスピン平均モードよシ高速である。スムーズ平均
モードは、慕てのサンプルt−1つの波形区間中にとる
ので、極めて低周波のデジタイズのみに有効である。
れを選択するかはデジタイズしたい波形の周波数によシ
決める。デノタイデが平均モードで動作すると、メモリ
アドレスを変更しなければならないときμP4は新しh
アドレスをメモリ制御回路図に与える。従って、コム平
均セードでは、μP−はサンプルをとる毎にメモリアド
レスをリセットする必要があシ、スピン平均モードでは
μPに)は多くの(例えば1024個)サンプルをとる
毎にメモリアドレスをリセットすれば足りる。高周波入
力信号の周期はμP(9)がメモリアドレスを変更する
に要する時間に比して短いので、高周波入力信号の場合
、1点当りのサンプル数が同じであればスピン平均モー
ドはコム平均モードよシ迅速に入力信号のデジタイズを
行う。しかし、:7ム平均モー)は低周波入力信号の場
合にはスピン平均モードよシ高速である。スムーズ平均
モードは、慕てのサンプルt−1つの波形区間中にとる
ので、極めて低周波のデジタイズのみに有効である。
第4図は41図の時間、油制御回路(ロ)とメモリ制御
回路−の詳訓ブロック図である。この7″ノタイデのサ
ンプリングr−)αQは入力信号vlnをストローブ発
生器(52)からの短い・やルスでストローブされたと
きサンプリングする。ストローブ発生器(52)はトリ
ガされるプロゲラiプルスキュ発振器(54)からの矩
形信号に応じてストローブ・9ルスを発生する。スキュ
発振器(54)の矩形波出力周波数は第1図のμP−坤
力為らのデータで決まシ、その出力は入力信号Winが
例えばゼロ交差する時点である選択されたトリガ点の検
出によりトリガ信号を送るべく入力信号vinをモニタ
するトリが発生器(55)によシトリがされる。トリガ
現象の性質(レベル、極性等)はμP s4のデータで
定義される。スキュ発振器(54)の出力信号はトリガ
信号TRIGにより開始し、トリガ信号の後、μP、→
から与えられるスキュデータにより決まる遅延時間労連
れる。よって、信号vinの各反復区間の最初のサンプ
リング時点はトリガ点の後、グログラムされた期間が終
了した時点である。このスキュ発振3 (54)の出力
は周期的であるので、各波形区間中の残りのサンプリン
グ時点はその後一定間隔である。スキュ発振器(54)
のサンプリング制御出力信号は後続のトリが信号が発生
する毎に停止及び再開し、再開時点は順次プログラムさ
れた微小時間分だけスキュ、即ち遅延する。
回路−の詳訓ブロック図である。この7″ノタイデのサ
ンプリングr−)αQは入力信号vlnをストローブ発
生器(52)からの短い・やルスでストローブされたと
きサンプリングする。ストローブ発生器(52)はトリ
ガされるプロゲラiプルスキュ発振器(54)からの矩
形信号に応じてストローブ・9ルスを発生する。スキュ
発振器(54)の矩形波出力周波数は第1図のμP−坤
力為らのデータで決まシ、その出力は入力信号Winが
例えばゼロ交差する時点である選択されたトリガ点の検
出によりトリガ信号を送るべく入力信号vinをモニタ
するトリが発生器(55)によシトリがされる。トリガ
現象の性質(レベル、極性等)はμP s4のデータで
定義される。スキュ発振器(54)の出力信号はトリガ
信号TRIGにより開始し、トリガ信号の後、μP、→
から与えられるスキュデータにより決まる遅延時間労連
れる。よって、信号vinの各反復区間の最初のサンプ
リング時点はトリガ点の後、グログラムされた期間が終
了した時点である。このスキュ発振3 (54)の出力
は周期的であるので、各波形区間中の残りのサンプリン
グ時点はその後一定間隔である。スキュ発振器(54)
のサンプリング制御出力信号は後続のトリが信号が発生
する毎に停止及び再開し、再開時点は順次プログラムさ
れた微小時間分だけスキュ、即ち遅延する。
スキ゛ユ発振器(54)のサンプリング制御出力信号は
マルチタッグ付き遅延d (59)にも印加され、各タ
ッグからフラッシュADCαlびレジスタQ1.に)、
に)を含む第1図のデジタル・4イグラインα→の各デ
バイスにイネーブル信号を供給する。各タップの遅延時
間は・母イグラインα→のデバイスの動作速度に応じて
選択され、データサンプルが・母イグラインを正常にシ
ーケンスするようにする。スキュ発振器(54)の出力
はサンプリング速度カウンタ(58)にも供給され、そ
の出力矩形・母ルス数を計数してN番目の矩形波発生毎
に書込みストローブ・母ルスを発生させる。Nの大きさ
は第1図のμP t4によシカウンタ(58)に与えら
れるデータによシ決まる。カウンタ(58)の計数値は
トリガ発生器(55)からのトリが信号によシゼロにリ
セットされる。カウンタ(58)の各出力・ぐルスは遅
延回路(60)により遅延され、サンプルデータがデジ
タルパイプライン(1−Iをメモリ(ハ)のデータ入力
端子に正しく通過するようにする。カウンタ(58)の
各遅延出力パルスはメモリに)の読み/8き制御入力(
R,、W)に印加され、スキュ発振器(54)からのサ
ンブリング制御信号のN番目毎にメモリ(財)を書込み
イネーブルする。聡てのサンプルをメモリ弼にストアす
るには、カウンタ(58)の計数限界を1にセットする
。しかし、N番目のサンプル毎にストアするには、計数
限界をNにセットする。この機能は上述した高精度モー
ド動作に峙に有用である。即ち、最初のサンダルをとシ
、デジタイズし、メモリ(至)とポイントレノスタ■に
ストアすると共に、後続波形区間の同じ点で2番目のサ
ンプルをとったときオフセットε圧V。ff′t−増加
する。ストローブ制御信号の各サイクルでサンダルデー
タはデジタルパイプラインαψを進行するので、サンプ
リングゲートα埠からメモリ(至)ヘサンデルデータを
ステップさせるには、数サイクルのストローブ制御信号
が必要となる。また、ストローブ信号の各サイクルでサ
ンプルをとるので、最初と2番目のサンプル間に何個か
不要な波形サンプルがとられる。カウンタ(58)の計
数限界をうまくセットして、これら不要なサンプルがメ
モリ(ハ)内にストアされないよう(できる。
マルチタッグ付き遅延d (59)にも印加され、各タ
ッグからフラッシュADCαlびレジスタQ1.に)、
に)を含む第1図のデジタル・4イグラインα→の各デ
バイスにイネーブル信号を供給する。各タップの遅延時
間は・母イグラインα→のデバイスの動作速度に応じて
選択され、データサンプルが・母イグラインを正常にシ
ーケンスするようにする。スキュ発振器(54)の出力
はサンプリング速度カウンタ(58)にも供給され、そ
の出力矩形・母ルス数を計数してN番目の矩形波発生毎
に書込みストローブ・母ルスを発生させる。Nの大きさ
は第1図のμP t4によシカウンタ(58)に与えら
れるデータによシ決まる。カウンタ(58)の計数値は
トリガ発生器(55)からのトリが信号によシゼロにリ
セットされる。カウンタ(58)の各出力・ぐルスは遅
延回路(60)により遅延され、サンプルデータがデジ
タルパイプライン(1−Iをメモリ(ハ)のデータ入力
端子に正しく通過するようにする。カウンタ(58)の
各遅延出力パルスはメモリに)の読み/8き制御入力(
R,、W)に印加され、スキュ発振器(54)からのサ
ンブリング制御信号のN番目毎にメモリ(財)を書込み
イネーブルする。聡てのサンプルをメモリ弼にストアす
るには、カウンタ(58)の計数限界を1にセットする
。しかし、N番目のサンプル毎にストアするには、計数
限界をNにセットする。この機能は上述した高精度モー
ド動作に峙に有用である。即ち、最初のサンダルをとシ
、デジタイズし、メモリ(至)とポイントレノスタ■に
ストアすると共に、後続波形区間の同じ点で2番目のサ
ンプルをとったときオフセットε圧V。ff′t−増加
する。ストローブ制御信号の各サイクルでサンダルデー
タはデジタルパイプラインαψを進行するので、サンプ
リングゲートα埠からメモリ(至)ヘサンデルデータを
ステップさせるには、数サイクルのストローブ制御信号
が必要となる。また、ストローブ信号の各サイクルでサ
ンプルをとるので、最初と2番目のサンプル間に何個か
不要な波形サンプルがとられる。カウンタ(58)の計
数限界をうまくセットして、これら不要なサンプルがメ
モリ(ハ)内にストアされないよう(できる。
第4図のメモリ制御回路間はアドレスレジスタ(64)
を含み、その内容でメモリ(至)のアドレス選択をする
。レジスタ(64)内のアドレスデータは加算器(66
)の−人力とすると共に、インターリーブレジスタ(6
8)にストアしたデータを加算器(66)の他の入力と
する。遅延回路(60)からのメモリ書込みストローブ
信号はアドレスレジスタ(64)のクロック入力ft駆
動し、レジスタ(64)が770x器ω6)の出力を各
書込みストローブ信号の終シに次のメモリアドレスとし
てストアする。よって、メモリアドレスは遅延回路(6
0)がパルスを発生する毎にインターリーブレジスタ(
68)にストアされたデータ値によシインクリメントし
てもよい。メモリアドレスがインクリメントする蛍がプ
ログラム可能であるので、このデノタイデは上述した等
価時間モードで1作中正しい順序でデータをメモリ(至
)にストアでき、またμP k4の介入なく各サンプル
後迅速にメモリアドレスの変更が可能になる。
を含み、その内容でメモリ(至)のアドレス選択をする
。レジスタ(64)内のアドレスデータは加算器(66
)の−人力とすると共に、インターリーブレジスタ(6
8)にストアしたデータを加算器(66)の他の入力と
する。遅延回路(60)からのメモリ書込みストローブ
信号はアドレスレジスタ(64)のクロック入力ft駆
動し、レジスタ(64)が770x器ω6)の出力を各
書込みストローブ信号の終シに次のメモリアドレスとし
てストアする。よって、メモリアドレスは遅延回路(6
0)がパルスを発生する毎にインターリーブレジスタ(
68)にストアされたデータ値によシインクリメントし
てもよい。メモリアドレスがインクリメントする蛍がプ
ログラム可能であるので、このデノタイデは上述した等
価時間モードで1作中正しい順序でデータをメモリ(至
)にストアでき、またμP k4の介入なく各サンプル
後迅速にメモリアドレスの変更が可能になる。
遅延回路(60)の書込みストローブ出力信号はスキャ
ン(走査)終了カウンタ(7のにも印加され、このカウ
ンタ(70)は書込みストローブ・fルス数がμP4Φ
でプリセットされた限界直に到達するときμP141:
信号を送る。これによシ、データ取込みプロセスの完了
をμP <4に知らせる。トリが発生器(55)はμP
榊からの信号により選択的にイネ−グル/ディスエーブ
ルできるので、μp、tlhよトリガ発生器(55)
tイネ−グルして1つのトリガを発生し、その後ス牟ヤ
ン終了カウンタ(70)が所定数のサンプルをとったこ
とを指示する迄ディスエーブルすることかで色る。次に
、μP(6)は再度トリが発生器をイネーブルする。こ
の機能によ)、μP 、l・は各反贋波形区間当シのサ
ンダル数t−+UU御することができる。
ン(走査)終了カウンタ(7のにも印加され、このカウ
ンタ(70)は書込みストローブ・fルス数がμP4Φ
でプリセットされた限界直に到達するときμP141:
信号を送る。これによシ、データ取込みプロセスの完了
をμP <4に知らせる。トリが発生器(55)はμP
榊からの信号により選択的にイネ−グル/ディスエーブ
ルできるので、μp、tlhよトリガ発生器(55)
tイネ−グルして1つのトリガを発生し、その後ス牟ヤ
ン終了カウンタ(70)が所定数のサンプルをとったこ
とを指示する迄ディスエーブルすることかで色る。次に
、μP(6)は再度トリが発生器をイネーブルする。こ
の機能によ)、μP 、l・は各反贋波形区間当シのサ
ンダル数t−+UU御することができる。
よって、時間−1御回路■はサンプリング速度、トリガ
点に対する各サンダルの位は、サンダルデータが取込み
メモリにストアされるサンプリングデータの周波数及び
各データがストアされるメモリアドレスを正確に、σ1
j御することにより、とのデ・ゾタイデが予d[11可
能なサンプリング・妨作を行うようにすることかできる
。μP(7)はスキュ発振R(54)の出力周波数を調
整してサンプリング速度を制御し、スキュ量を調節する
ことによりトリガ点と波形のサンプリング点の位置関係
を制御する。μP(ト)はサンプリング速度カウンタ(
58)の計数限界(N)を調節することによりメモリ(
ハ)のデータストレージ速度を制御し、またインターリ
ーブレジスタ(至)にストアされたデータの大きさを調
節することにより取込みメモリ(ハ)にストアされる速
読データのアドレス選択ステップを制御する。更に、μ
P(7)はアドレスレジスタ(64)に直接データをロ
ードすることによりメモリアドレスを直接セットでき、
またスキャン終了カウンタ(70)のプログラミングと
トリガ発生器(55) ft適当に制御することによプ
、各トリガ信号の後ストアされるす/グリング点の総数
が制御できる。
点に対する各サンダルの位は、サンダルデータが取込み
メモリにストアされるサンプリングデータの周波数及び
各データがストアされるメモリアドレスを正確に、σ1
j御することにより、とのデ・ゾタイデが予d[11可
能なサンプリング・妨作を行うようにすることかできる
。μP(7)はスキュ発振R(54)の出力周波数を調
整してサンプリング速度を制御し、スキュ量を調節する
ことによりトリガ点と波形のサンプリング点の位置関係
を制御する。μP(ト)はサンプリング速度カウンタ(
58)の計数限界(N)を調節することによりメモリ(
ハ)のデータストレージ速度を制御し、またインターリ
ーブレジスタ(至)にストアされたデータの大きさを調
節することにより取込みメモリ(ハ)にストアされる速
読データのアドレス選択ステップを制御する。更に、μ
P(7)はアドレスレジスタ(64)に直接データをロ
ードすることによりメモリアドレスを直接セットでき、
またスキャン終了カウンタ(70)のプログラミングと
トリガ発生器(55) ft適当に制御することによプ
、各トリガ信号の後ストアされるす/グリング点の総数
が制御できる。
メモリアドレス発生器(5のと時間軸制御回路−との各
ブロックはデログラマツルスキュ発振R(54)を除き
周知のものであるので、ここで詳、【」は省略する。第
5図はスキュ発振器(54)の詳細ブロック図であ)、
トリガされる発振器(72) 、プログラマツルスキュ
発生器(74)及びグログラマプル分周器(76)を含
んでhる。第4図のトリが発生器(55)からのトリガ
信号を発振器(72)に印加し、トリガ信号を受ける毎
に100MHzの矩形出力信号CLKI i発生する。
ブロックはデログラマツルスキュ発振R(54)を除き
周知のものであるので、ここで詳、【」は省略する。第
5図はスキュ発振器(54)の詳細ブロック図であ)、
トリガされる発振器(72) 、プログラマツルスキュ
発生器(74)及びグログラマプル分周器(76)を含
んでhる。第4図のトリが発生器(55)からのトリガ
信号を発振器(72)に印加し、トリガ信号を受ける毎
に100MHzの矩形出力信号CLKI i発生する。
発振器(72)の出力信号はスキ二発生5 (74)に
印加し、これはトリガ信号を受けた後、7’oグツム可
能な遅延時間だけ遅れて20MHzの出力信号を発生す
る。この20MHzのスキ二発生器出力信号CLK4は
分局器(76)に入力され、ここで第4図のストローブ
発生器(52)を駆動するストローブ制御信号出力を発
生する。ストローブ制御出力信号の周波数は分局器(7
6)で選択して、ス午ユ発生器(74)からの20MH
z入力信号CLK4を第4図のμPOφにより与えられ
るデータで決まる量で分周する。発振器(72)と分局
器(76)の機能を果す回路は当業者に周知であるので
、ここでは詳述しない。
印加し、これはトリガ信号を受けた後、7’oグツム可
能な遅延時間だけ遅れて20MHzの出力信号を発生す
る。この20MHzのスキ二発生器出力信号CLK4は
分局器(76)に入力され、ここで第4図のストローブ
発生器(52)を駆動するストローブ制御信号出力を発
生する。ストローブ制御出力信号の周波数は分局器(7
6)で選択して、ス午ユ発生器(74)からの20MH
z入力信号CLK4を第4図のμPOφにより与えられ
るデータで決まる量で分周する。発振器(72)と分局
器(76)の機能を果す回路は当業者に周知であるので
、ここでは詳述しない。
第6図は第5図のプログラマツルスキュ発生器(74)
の詳細ブロック図であ)、スキ二回路(80) 。
の詳細ブロック図であ)、スキ二回路(80) 。
タイミング回路(82) 、÷Nカウンタ(84)及び
ANDグー ) (86)より成る。このスキ二回路(
80)は第5図のトリガされる発振器(72)の出力信
号(CLKI)と同じ周波数(例えば100MHz )
である矩形出力信号CLKZを発生し、CLKIはスキ
ニー回路(80)に基準クロックとして印加される。C
LKIとCLK2とは同一周波数であるが、スキ二回路
出力信号CLK2はCLKIに対し名1.囚のμP0・
力島らの位相角データD!で決まるOo乃至3600の
位相遅れか生じる。
ANDグー ) (86)より成る。このスキ二回路(
80)は第5図のトリガされる発振器(72)の出力信
号(CLKI)と同じ周波数(例えば100MHz )
である矩形出力信号CLKZを発生し、CLKIはスキ
ニー回路(80)に基準クロックとして印加される。C
LKIとCLK2とは同一周波数であるが、スキ二回路
出力信号CLK2はCLKIに対し名1.囚のμP0・
力島らの位相角データD!で決まるOo乃至3600の
位相遅れか生じる。
基準信号CLKIはCLK2と共にタイミング回路03
2)にも入力される。タイミング回路(82)には基準
クロック信号CLKIを始幼させ、従ってCLKIの最
初の・母ルス前縁と一致するトリガ信号TRIGも入力
され、トリが信号の後、所定期間の終了後の最初のCL
K2・ヂルスの前縁でイネーブル信号S1を作る。
2)にも入力される。タイミング回路(82)には基準
クロック信号CLKIを始幼させ、従ってCLKIの最
初の・母ルス前縁と一致するトリガ信号TRIGも入力
され、トリが信号の後、所定期間の終了後の最初のCL
K2・ヂルスの前縁でイネーブル信号S1を作る。
この期間の長さは第1図のμP−からタイミング回路(
82)への入力として印加されたタイミングデータD2
とスキ二回路(80)が作り、CLKIとCLK2の位
相差が180’を超すか否かを示すバイナリ制御信号X
、の状態により決まる。データD、は基準クロックパル
スCLKIの周期(T)の整数(J)倍で表わされる。
82)への入力として印加されたタイミングデータD2
とスキ二回路(80)が作り、CLKIとCLK2の位
相差が180’を超すか否かを示すバイナリ制御信号X
、の状態により決まる。データD、は基準クロックパル
スCLKIの周期(T)の整数(J)倍で表わされる。
タイミング回路(82)は信号S1を遅砥させる期間を
JXT秒又はJxT+T/2秒に調整する。T/2秒の
付加は、信号CLKIとCLK2の位相差が1800を
超すと信号X、が示丈と きに行われる。
JXT秒又はJxT+T/2秒に調整する。T/2秒の
付加は、信号CLKIとCLK2の位相差が1800を
超すと信号X、が示丈と きに行われる。
イネーブル信号Slはス千二回路(80)のクロック信
号CLK2の出力/fルスを計数する÷Nカウンタ(8
4)をカウントイネーブルする。カウンタ(84)はカ
ウントイネーブルされる毎にT秒幅の出力パルスを作り
、その後クロック信号CI、に2のNパルスを計数する
毎に周期的な付加量カッ々ルスを出す。ここで。
号CLK2の出力/fルスを計数する÷Nカウンタ(8
4)をカウントイネーブルする。カウンタ(84)はカ
ウントイネーブルされる毎にT秒幅の出力パルスを作り
、その後クロック信号CI、に2のNパルスを計数する
毎に周期的な付加量カッ々ルスを出す。ここで。
NはμPに)からの制御データD、にょυ決まる。この
例では、クロック信号CLK2は100MHz テ;h
l) 、 20MHzのスキ二発生器出力が必要であ
るので、Nは5に設定し、÷Nカウンタ(84)によυ
分周した出方信号CLK3の周波数は20MHzとなる
。これら信号CLK2とCLK3社A付Dダート(86
)に入力され、これによりスキ二発生器の20MI(を
出力クロック信号CLKJを作る。
例では、クロック信号CLK2は100MHz テ;h
l) 、 20MHzのスキ二発生器出力が必要であ
るので、Nは5に設定し、÷Nカウンタ(84)によυ
分周した出方信号CLK3の周波数は20MHzとなる
。これら信号CLK2とCLK3社A付Dダート(86
)に入力され、これによりスキ二発生器の20MI(を
出力クロック信号CLKJを作る。
信号CLKI乃至CLK4の時間関係1に第7図及び第
8図に示す。第7図は信号CLKIとCLK2間の位相
差Pが180°未満の場合である。このとき信号X。
8図に示す。第7図は信号CLKIとCLK2間の位相
差Pが180°未満の場合である。このとき信号X。
はトリガ信号TR/IGの後の期間Iに772秒の時間
を付加する必要のない期間である。イネーブル信号S1
は期間■の終了後の最初のCLK2パルス(92)の前
縁で生じるので、信号TRIGとS1間の期間はJxT
(−PxT/360秒であるJPxT/360秒の付
加時間は1番目のCLKl/41ルス(90)と対応す
るCL、に2ノぐルス(92)の前縁間の位相差でめる
一CLK2パルス(92)は÷Nl!21路(84)か
ら最初のCL、に3パルス(g4)を発生させる。第6
図のANDゲート(86)はこのCLK2.#ルス□□
□)と最初のCLK3/41ルスーとの論理積で最初の
C[、に4.臂ルス(96)を出す。次のCLKJ−臂
ルス(98)はCLK2信号のNサイクル後1次のCL
K3/J?ルス(Zoo )と同時に発生する。よって
、最初のCLKJ ノ#ルス(96)はトリが信号TR
IGからJxT+ PxT/360秒に発生し、その後
絖CLK4パルスはその後NXT秒毎に発生する。
を付加する必要のない期間である。イネーブル信号S1
は期間■の終了後の最初のCLK2パルス(92)の前
縁で生じるので、信号TRIGとS1間の期間はJxT
(−PxT/360秒であるJPxT/360秒の付
加時間は1番目のCLKl/41ルス(90)と対応す
るCL、に2ノぐルス(92)の前縁間の位相差でめる
一CLK2パルス(92)は÷Nl!21路(84)か
ら最初のCL、に3パルス(g4)を発生させる。第6
図のANDゲート(86)はこのCLK2.#ルス□□
□)と最初のCLK3/41ルスーとの論理積で最初の
C[、に4.臂ルス(96)を出す。次のCLKJ−臂
ルス(98)はCLK2信号のNサイクル後1次のCL
K3/J?ルス(Zoo )と同時に発生する。よって
、最初のCLKJ ノ#ルス(96)はトリが信号TR
IGからJxT+ PxT/360秒に発生し、その後
絖CLK4パルスはその後NXT秒毎に発生する。
信号CLKIとCLK2間の位相差Pが1806t−超
す場合の信号CLKI乃至CLK4の時間関係を第8図
に示す。この場合の信号X、の状態は* トリW信号
TRIG後の期間IをTXJl−772秒となす。イネ
ーブル信号S!は次のCLK2パルス(104)の前縁
、即ち期間Iの終了後PXT/360− T/2秒後に
発生する。このCLK2パルス(104);i÷Nカウ
ンタ(84)から最初のCLK3パルス(106) t
−発生させ、これ’i AND ff−ト(86)でC
LK2ノ9ルス(104)とAND t−とシ、最初の
CLK4パルス(108)を発生する。次のCLK4パ
ルス(110)ハソの後NXT秒後に発生させる。よっ
て、位相差Pが180’未満の場合と同様に、最初のC
LK4パルス(108)ハトリカ信号TRIGからJX
T −)−PXT7360秒後に。
す場合の信号CLKI乃至CLK4の時間関係を第8図
に示す。この場合の信号X、の状態は* トリW信号
TRIG後の期間IをTXJl−772秒となす。イネ
ーブル信号S!は次のCLK2パルス(104)の前縁
、即ち期間Iの終了後PXT/360− T/2秒後に
発生する。このCLK2パルス(104);i÷Nカウ
ンタ(84)から最初のCLK3パルス(106) t
−発生させ、これ’i AND ff−ト(86)でC
LK2ノ9ルス(104)とAND t−とシ、最初の
CLK4パルス(108)を発生する。次のCLK4パ
ルス(110)ハソの後NXT秒後に発生させる。よっ
て、位相差Pが180’未満の場合と同様に、最初のC
LK4パルス(108)ハトリカ信号TRIGからJX
T −)−PXT7360秒後に。
後続ノクルス(110)等は夫々その後NxT秒毎に発
生する。このT/2 C半サイクル)の時間が付加され
た理由は、それがない場合には、CLK2パルス(10
4)に先行するCLK2パルス(112)がCLK3ノ
ぐルス(114)を発生してしまい、これがANDグー
) (86)からCLKJ ノ母ルス(116) ’t
−出すので遅延時間が不足する(図中点線で示す)。後
続・9ルス(109)等についても同様に早く発生し過
ぎる。
生する。このT/2 C半サイクル)の時間が付加され
た理由は、それがない場合には、CLK2パルス(10
4)に先行するCLK2パルス(112)がCLK3ノ
ぐルス(114)を発生してしまい、これがANDグー
) (86)からCLKJ ノ母ルス(116) ’t
−出すので遅延時間が不足する(図中点線で示す)。後
続・9ルス(109)等についても同様に早く発生し過
ぎる。
第7図及び第8図から判るとおり、CLKIとCLK2
との位相差Pに関係なく、トリガ信号TRIGと最初(
D CLKJ a4 k )C間Oa延時間はJxT+
PxT/360秒であり、後続のCLK4パルスとの間
隔はNX7秒になる。ここで、P、J及びNの大きさは
第1図のμpHからのデータD、、D、及びD3の関数
であるので。
との位相差Pに関係なく、トリガ信号TRIGと最初(
D CLKJ a4 k )C間Oa延時間はJxT+
PxT/360秒であり、後続のCLK4パルスとの間
隔はNX7秒になる。ここで、P、J及びNの大きさは
第1図のμpHからのデータD、、D、及びD3の関数
であるので。
最初のCL、に4パルスのタイミングと、その後の各C
LK4 、Ifルスの発生頻度(周波a)は完全に予測
可能であり、また信号CLKIとCLK2間の位相角p
t−正確に調節するスキ二回M (80)の能力で主と
して決まる精度で制御可能である。
LK4 、Ifルスの発生頻度(周波a)は完全に予測
可能であり、また信号CLKIとCLK2間の位相角p
t−正確に調節するスキ二回M (80)の能力で主と
して決まる精度で制御可能である。
第9図は第6図のスキ二回路(80)の詳細ブロックで
あシ1位相角データDlでアドレス選択されるメモリ(
120)t−含んでいる。データDIを信号CI、Kl
とCLKZ間の希望位相角(o’乃至360°)t−表
わすように設定すると、メモリ(120)は希望位相角
に対応するアドレス選択されたストレージ位置のデータ
を出力する。この出力データにはデータD、とり。
あシ1位相角データDlでアドレス選択されるメモリ(
120)t−含んでいる。データDIを信号CI、Kl
とCLKZ間の希望位相角(o’乃至360°)t−表
わすように設定すると、メモリ(120)は希望位相角
に対応するアドレス選択されたストレージ位置のデータ
を出力する。この出力データにはデータD、とり。
及びバイナリビットに1とXtfe含んでいる。データ
D、の大きさは、データD1の位相角Pの余弦絶対値に
比例し、データD、の大きさはこの位相角の正弦絶対値
に比例する。ピッ) XIとX、はバイナリ制御信号で
あり、位相角Pに応じて下記表−工に示す如く高低いず
れか一方である。
D、の大きさは、データD1の位相角Pの余弦絶対値に
比例し、データD、の大きさはこの位相角の正弦絶対値
に比例する。ピッ) XIとX、はバイナリ制御信号で
あり、位相角Pに応じて下記表−工に示す如く高低いず
れか一方である。
表−工
位相角が180’t−超し第6図のタイミング回路(8
2)が正常動作に必要なV2の付加遅延を必要とすると
き、信号X、は高レベルであることに注目されたい。
2)が正常動作に必要なV2の付加遅延を必要とすると
き、信号X、は高レベルであることに注目されたい。
メモリ(120)の出力データD、は第1デジタルアナ
off換器DAC(122)に入力する。第1 DAC
(x22)aデータD、に対応する大きさの電流!Iを
流す定電流源として作用する。一方、データD6は第2
DAC(124)に入力される。第2 DAC(12
4)もデータD、に対応する大きさの電流I8を流す定
電流源として作用する。
off換器DAC(122)に入力する。第1 DAC
(x22)aデータD、に対応する大きさの電流!Iを
流す定電流源として作用する。一方、データD6は第2
DAC(124)に入力される。第2 DAC(12
4)もデータD、に対応する大きさの電流I8を流す定
電流源として作用する。
スキ二回路(80)は6個−組のスイッチSW、乃至s
w、 6含んでいる。スイッチSW1 トSW、 ノx
インテング吠態はメモリ(120)から出る信号X1の
状態により制御され、スイッチsw4とswsは信号X
、により制御される。SW、のスイッデング状態は基準
クロンク信号CLKIにょシ制御され、他方sw、はC
LKI信号をそ(7) 174周期、即ち100MHz
(D CLKI信号の場合には2,5ns遅延させた
遅延クロック信号CLKI’で制御される。DAC(1
22)の電流IiはスイッチSW、を通りCLKIが低
(又は高)のときスイッチbW、 (又?’i SW、
+ )ftK しす。他j5 、 DAC(124)O
g流■2はスイッチSW6を流れ、更に信号CLKI’
が低(又は高)のときスイッチ5W11(又は5W4)
を夫夫流れる。
w、 6含んでいる。スイッチSW1 トSW、 ノx
インテング吠態はメモリ(120)から出る信号X1の
状態により制御され、スイッチsw4とswsは信号X
、により制御される。SW、のスイッデング状態は基準
クロンク信号CLKIにょシ制御され、他方sw、はC
LKI信号をそ(7) 174周期、即ち100MHz
(D CLKI信号の場合には2,5ns遅延させた
遅延クロック信号CLKI’で制御される。DAC(1
22)の電流IiはスイッチSW、を通りCLKIが低
(又は高)のときスイッチbW、 (又?’i SW、
+ )ftK しす。他j5 、 DAC(124)O
g流■2はスイッチSW6を流れ、更に信号CLKI’
が低(又は高)のときスイッチ5W11(又は5W4)
を夫夫流れる。
スイッチSW、は信号Klが低であればノード(12B
)から電流I、Af:流し、高であれば正電源+Vから
電流■1金流す。−万、スイッチsw、は信号Xlが高
であればノード(128)から゛磁流!111′fI−
流し、低であれば正電源+Vから電流I+t−流す。同
様にして。
)から電流I、Af:流し、高であれば正電源+Vから
電流■1金流す。−万、スイッチsw、は信号Xlが高
であればノード(128)から゛磁流!111′fI−
流し、低であれば正電源+Vから電流I+t−流す。同
様にして。
スイッチSW4は信号X!が低のときノード(128)
から電流I2Aを流し、高であれば正電源+Vから電流
I。
から電流I2Aを流し、高であれば正電源+Vから電流
I。
を流す。またスイッチSW、は信号が高のときノード(
128)に電流I2.l流し、低のとき正電源+Vから
電流I、を流す。ノード(128)の電流■IAl ■
IBl ■2Al■2m+の合成値である!、はQの高
い100MHzのフィルタ(130)を介して接地に流
れ、を流I、によりこのフィルタ(130)両端に生じ
る電圧降下v0は比較器(132)の反転入力端に入力
され、その非反転入力端子は接地される。
128)に電流I2.l流し、低のとき正電源+Vから
電流I、を流す。ノード(128)の電流■IAl ■
IBl ■2Al■2m+の合成値である!、はQの高
い100MHzのフィルタ(130)を介して接地に流
れ、を流I、によりこのフィルタ(130)両端に生じ
る電圧降下v0は比較器(132)の反転入力端に入力
され、その非反転入力端子は接地される。
スキ二回路(80)の動作を第9図の回路と第1OA乃
至100図の波形図を参照して以下に説明する。
至100図の波形図を参照して以下に説明する。
第1OA乃至100図は信号CLKIとCLK2間の位
相角Pが異なる場合の各部波形の変化状態に示す。第1
0A図はデータD、の位相角がθ°の場合のスキ二回路
(80)の主要動作波形図である。この場合5表−Iか
ら明らかな如く信号X1とX、は共に低であるので、ス
イッチsw1とSW4はノード(128)に電流IIA
と■2A ”流す。メモリ(120)からのデータDs
の大きさは1(2)0°l=1であシ、電流工、は最大
値、例えば100mAである。スイッチSW、は基準ク
ロック信号CLKIの高レベル期間中のみ電流I、t−
8W、に流すので、電流’IAはCLKIと同相の矩形
波となる。
相角Pが異なる場合の各部波形の変化状態に示す。第1
0A図はデータD、の位相角がθ°の場合のスキ二回路
(80)の主要動作波形図である。この場合5表−Iか
ら明らかな如く信号X1とX、は共に低であるので、ス
イッチsw1とSW4はノード(128)に電流IIA
と■2A ”流す。メモリ(120)からのデータDs
の大きさは1(2)0°l=1であシ、電流工、は最大
値、例えば100mAである。スイッチSW、は基準ク
ロック信号CLKIの高レベル期間中のみ電流I、t−
8W、に流すので、電流’IAはCLKIと同相の矩形
波となる。
他方、データD、の大きさは1幽0’1==Oであシ、
’2Aは常時Oである。よって、電流1. FiI、A
と等しく、比較器(132)の入カ亀圧は0直位を中心
にして発振する正弦波となシ、その出力はCLKIと同
相の矩形波CLK2となる。
’2Aは常時Oである。よって、電流1. FiI、A
と等しく、比較器(132)の入カ亀圧は0直位を中心
にして発振する正弦波となシ、その出力はCLKIと同
相の矩形波CLK2となる。
第10B図はデータD、の位相角が45” +7)場合
のスキ二回路(80)の動作を示す。45°は第1現象
であるので、信号X、 、 X2共に低レベルであシ、
ノード(128)にはスイッチsw、とw4を介して電
流■1゜と12Aとが流れる。しかし、”IAの大きさ
は1m4s’l =0.707、即ち最大値の0.70
7倍である、前記の例では70.7mAである。スイッ
チsw、はCLKIの高レベル期間中のみ■、全スイン
テSW、 K流すので、電流”IAはCL′Klと同相
の70.7mAの矩形波となる。r−タDの大きさは1
dn45°l=0.707テあり、!、ト同じく最大値
の0.707倍のI、が流れる。スイッチ8W、は遅延
クロックCLK 1’の高レベル中のみ電流■、をスイ
7 テSW 、 ヘ流t (D f、■2AハcLK1
カラ9oo遅レタ矩形波となる。電流IjBとI2.は
常時0である。
のスキ二回路(80)の動作を示す。45°は第1現象
であるので、信号X、 、 X2共に低レベルであシ、
ノード(128)にはスイッチsw、とw4を介して電
流■1゜と12Aとが流れる。しかし、”IAの大きさ
は1m4s’l =0.707、即ち最大値の0.70
7倍である、前記の例では70.7mAである。スイッ
チsw、はCLKIの高レベル期間中のみ■、全スイン
テSW、 K流すので、電流”IAはCL′Klと同相
の70.7mAの矩形波となる。r−タDの大きさは1
dn45°l=0.707テあり、!、ト同じく最大値
の0.707倍のI、が流れる。スイッチ8W、は遅延
クロックCLK 1’の高レベル中のみ電流■、をスイ
7 テSW 、 ヘ流t (D f、■2AハcLK1
カラ9oo遅レタ矩形波となる。電流IjBとI2.は
常時0である。
電流!1AとI2□の合成1直が電流I、となり、比較
器(132)に入力される正弦波電圧v0はg 108
図に示すとおシであり、信号CLK2は信号CLK 1
に対して45゜位相遅れの矩形波となる。位相角が00
乃至90’間で変化すると、スキ二回路(80)の動作
は上述と同、様であるが、 ill、(if、 11と
!、の大きさが異なり、位相角がぴから増加するにつれ
てt流l5(L)は増加(減少)する。その結果、デー
タD、が増加して位相角が増加するに応じて正弦波v0
が右へ移動してパルスCLKIとCLK2の前縁間の位
相差は増加する。
器(132)に入力される正弦波電圧v0はg 108
図に示すとおシであり、信号CLK2は信号CLK 1
に対して45゜位相遅れの矩形波となる。位相角が00
乃至90’間で変化すると、スキ二回路(80)の動作
は上述と同、様であるが、 ill、(if、 11と
!、の大きさが異なり、位相角がぴから増加するにつれ
てt流l5(L)は増加(減少)する。その結果、デー
タD、が増加して位相角が増加するに応じて正弦波v0
が右へ移動してパルスCLKIとCLK2の前縁間の位
相差は増加する。
第10C図はデータD1によりセットされる位相角が3
15’の場合のスキ二回路(80)の動作波形図である
。315°は第4!i!限であるので、表−工から信号
X1は低、X、は高であシ、スイッチSW1とSW、が
夫々を流IIAとI2Bをノード(128)に流す。D
、の大きさはl cas 31fl = 0.707で
あるので、スイッチSW3はSW、を介してCLKIの
高レベル期間中電流I。
15’の場合のスキ二回路(80)の動作波形図である
。315°は第4!i!限であるので、表−工から信号
X1は低、X、は高であシ、スイッチSW1とSW、が
夫々を流IIAとI2Bをノード(128)に流す。D
、の大きさはl cas 31fl = 0.707で
あるので、スイッチSW3はSW、を介してCLKIの
高レベル期間中電流I。
f、流し、電流■、Aは第10C図に示す如(CL、K
lと同相の矩形波となる。他方、データD、の大きさも
1出31581=0.707であり、スイッチSW、は
この電流I、をスイッチsw、t−介してCL、Kl’
の低レベル期間中のみノード(128)に電流■2□を
流す。よって、電流I2BはCLKIに対して270°
遅れた矩形波となる。
lと同相の矩形波となる。他方、データD、の大きさも
1出31581=0.707であり、スイッチSW、は
この電流I、をスイッチsw、t−介してCL、Kl’
の低レベル期間中のみノード(128)に電流■2□を
流す。よって、電流I2BはCLKIに対して270°
遅れた矩形波となる。
このとき、′電流■IBとI2Aは常時0である。電流
11Aと12Bを合成して電流I、を得ると、比較器(
132)への入力正弦波電圧v0は第10c図に示すと
おりであり、比較器(132)からCLKIに対して3
15°位相遅れの矩形波出力CLK2が得られる。
11Aと12Bを合成して電流I、を得ると、比較器(
132)への入力正弦波電圧v0は第10c図に示すと
おりであり、比較器(132)からCLKIに対して3
15°位相遅れの矩形波出力CLK2が得られる。
よって、スキ二回路(80)は信号CLKIとCLK2
間の位相差を0°乃至3600の全範囲にわたり調節で
きる。この−節の分解能はDAC(122)と(124
)の分解能(ビット数)とメモリ(120)にストアさ
れるデータD、とり、のテイズにより決まる。
間の位相差を0°乃至3600の全範囲にわたり調節で
きる。この−節の分解能はDAC(122)と(124
)の分解能(ビット数)とメモリ(120)にストアさ
れるデータD、とり、のテイズにより決まる。
第11図は第6因のタイミング回路(82)の詳細ブロ
ック図であり、ノ母ルスカウンタ(134)、遅[回路
(136)、マルチプレクサ(138)及びJ−にフリ
クデフロツf (FF) (140)より成る。カウン
タ(134)はクロック入力端(CLK)のC1,Kl
信号・ンルスを計数し、その計数値がカウンタ(134
)の計数限界入力端(CNTLIMIT)に印加したデ
ータD2で決まる計数限界に達したとき出力信号Sat
”発生する。カウンタ(134)はTRIG信号により
イネーブルされる。出力信号S。
ック図であり、ノ母ルスカウンタ(134)、遅[回路
(136)、マルチプレクサ(138)及びJ−にフリ
クデフロツf (FF) (140)より成る。カウン
タ(134)はクロック入力端(CLK)のC1,Kl
信号・ンルスを計数し、その計数値がカウンタ(134
)の計数限界入力端(CNTLIMIT)に印加したデ
ータD2で決まる計数限界に達したとき出力信号Sat
”発生する。カウンタ(134)はTRIG信号により
イネーブルされる。出力信号S。
はマルチプレクサ(MUX) (138)の−入力端に
直接入力されると共1c CLKI信号の1/4周期、
即ち100MIh (D CLKI k 使用する場合
には2.5ns遅延きせる遅延回路(136) を介し
てMUX (138)の他の入力端に入力する。MUX
(138)のスイッチング状態は第6図のスキ二回路(
80)からの信号X、により制御される。MUX(13
B)の出力はX、が低(高)のとき夫々Ss (Ss’
)であシ、 FF(140)のJ入力端に印加される。
直接入力されると共1c CLKI信号の1/4周期、
即ち100MIh (D CLKI k 使用する場合
には2.5ns遅延きせる遅延回路(136) を介し
てMUX (138)の他の入力端に入力する。MUX
(138)のスイッチング状態は第6図のスキ二回路(
80)からの信号X、により制御される。MUX(13
B)の出力はX、が低(高)のとき夫々Ss (Ss’
)であシ、 FF(140)のJ入力端に印加される。
論理θレベルでFF(140)のに入力を駆動し。
CLK2信号FF(140)のクロック入力端(C[、
K) t−駆動する。イネーブル信号S1がFF (1
40)のQ出力から得られ、十Nカウンタ(84)のイ
ネーブル入力(IN)に印加される。
K) t−駆動する。イネーブル信号S1がFF (1
40)のQ出力から得られ、十Nカウンタ(84)のイ
ネーブル入力(IN)に印加される。
TRIG信号がカウンタ(134)をイネーブルした後
、カウンタ(134)はデータD!で決まる計数限界J
になるまで、CLKIノ臂ルスを計数する。このとき、
カウンタ(134)は信号s、t−発生し、MUX(1
38)を介して直接信号S、が又は遅延信号S、IがF
F(140)のJ入力端に入力され1次のCLK2パル
スでFF(140)のQ出力端からイネーブル信号S1
を発生するようセットする。信号発生を終えると、 F
F(140)と÷Nカウング(84)はμP(ハ)のリ
セット信号でリセットされる。
、カウンタ(134)はデータD!で決まる計数限界J
になるまで、CLKIノ臂ルスを計数する。このとき、
カウンタ(134)は信号s、t−発生し、MUX(1
38)を介して直接信号S、が又は遅延信号S、IがF
F(140)のJ入力端に入力され1次のCLK2パル
スでFF(140)のQ出力端からイネーブル信号S1
を発生するようセットする。信号発生を終えると、 F
F(140)と÷Nカウング(84)はμP(ハ)のリ
セット信号でリセットされる。
上述したとおり1本発明による波形デジタイザは予測可
能な時間軸回路を用いてデータサンプリング及びストア
時点を制御しており、実時間又は等励時間テンプリング
モードのいずれでも動作でき、高精度モードで動作する
ことも可能である。
能な時間軸回路を用いてデータサンプリング及びストア
時点を制御しており、実時間又は等励時間テンプリング
モードのいずれでも動作でき、高精度モードで動作する
ことも可能である。
更に3種類のハードウェア平均モードで動作することも
でき、これにより広範囲の周波数にわたり高度のノイズ
除去及び分解能で波形デジタイズが可能になる。
でき、これにより広範囲の周波数にわたり高度のノイズ
除去及び分解能で波形デジタイズが可能になる。
尚、上述の説明は本発明を好適一実施例について行った
ものであシ、当業者には本発明の要旨を逸脱することな
く種々の変形変更が可能である。
ものであシ、当業者には本発明の要旨を逸脱することな
く種々の変形変更が可能である。
従って、本発明の技術的範囲にはこれら変形変更を含む
こと勿論である。
こと勿論である。
本発明の波形デノタイザによると、入力波形をトリガ信
号を基準にしてデジタル的に調節可能な時点及び周期で
サンプリングして1連アナログサンプルを得、これを調
節可能なオフセットと利得の増幅器で増幅して第2のア
ナログサンプルとし。
号を基準にしてデジタル的に調節可能な時点及び周期で
サンプリングして1連アナログサンプルを得、これを調
節可能なオフセットと利得の増幅器で増幅して第2のア
ナログサンプルとし。
更に高速ADCでデジタルサンプルに変換している。
従って、高精度の実時間・等価時間丈ンデリングモード
で動作すると共に波形の歪t−最小にして各617ベV
−ジングモードで動作できる。特に並列シフタを用い1
反復波形の対応部分又は相互に隣接した複数部分を多数
(N)回テンプリングし、その各サンプルをNで除した
N個のサンプル全加算して高速且り忠実なハードウエア
アベレージングが可能であるので、ランダムノイズを非
反復的信号波形又は反復高周波信号波形の高精度波形デ
・ノタイプとして極めて有用である。
で動作すると共に波形の歪t−最小にして各617ベV
−ジングモードで動作できる。特に並列シフタを用い1
反復波形の対応部分又は相互に隣接した複数部分を多数
(N)回テンプリングし、その各サンプルをNで除した
N個のサンプル全加算して高速且り忠実なハードウエア
アベレージングが可能であるので、ランダムノイズを非
反復的信号波形又は反復高周波信号波形の高精度波形デ
・ノタイプとして極めて有用である。
第1図は本発明による波形デジタイザのブロック図、第
2図は本発明による波形デジタイザの等励時間サンプル
リングモードにおける動作説明図。 第3図は第2図の場合の波形再生状態説明図、第4図は
第1図の時間軸回路とメモリ制御回路の詳細ブロック図
、第5図は第4図のプログラマプルスキュ発振器の詳細
ブロック図、第6図は第5図のプログラマブルスキュ発
生器の詳細ブロック図。 第7図及び第8図は第6図の要部動作説明図、第9図は
第6図のスキ二回路の詳細ブロック図、第10A図乃至
第10C図は第9図の各主要信号間の時間関係説明図、
第11図は第6図のタイミング回路の詳細ブロック図で
ある。 叫はサンプリング手段、Q4は増幅手段、(′leはア
ナログデジタル変換手段、 cll)は除算手段、(ハ
)は加算手段、(ハ)はメモリである。
2図は本発明による波形デジタイザの等励時間サンプル
リングモードにおける動作説明図。 第3図は第2図の場合の波形再生状態説明図、第4図は
第1図の時間軸回路とメモリ制御回路の詳細ブロック図
、第5図は第4図のプログラマプルスキュ発振器の詳細
ブロック図、第6図は第5図のプログラマブルスキュ発
生器の詳細ブロック図。 第7図及び第8図は第6図の要部動作説明図、第9図は
第6図のスキ二回路の詳細ブロック図、第10A図乃至
第10C図は第9図の各主要信号間の時間関係説明図、
第11図は第6図のタイミング回路の詳細ブロック図で
ある。 叫はサンプリング手段、Q4は増幅手段、(′leはア
ナログデジタル変換手段、 cll)は除算手段、(ハ
)は加算手段、(ハ)はメモリである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、入力波形のアナログサンプルをトリガ信号に対して
順次遅延した時点でサンプリングして第1のアナログサ
ンプルシーケンスを得るサンプリング手段と、 上記第1のアナログサンプルシーケンスを調節可能なオ
フセット及び利得で増幅して第2のアナログサンプルシ
ーケンスを得る増幅手段と、上記第2のアナログサンプ
ルシーケンスを対応する第3のデジタルサンプルシーケ
ンスに変換するデジタル変換手段と を具える波形デジタイザ。 2、上記デジタル変換手段は入力波形の対応する部分の
N個の各サンプルデータをNで除算し、除算したサンプ
ルデータを加算する除算及び加算手段を含むことを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の波形デジタイザ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US835582 | 1986-03-03 | ||
| US06/835,582 US4755951A (en) | 1986-03-03 | 1986-03-03 | Method and apparatus for digitizing a waveform |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62207962A true JPS62207962A (ja) | 1987-09-12 |
Family
ID=25269881
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62045076A Pending JPS62207962A (ja) | 1986-03-03 | 1987-02-27 | 波形デジタイザ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4755951A (ja) |
| EP (1) | EP0235912A3 (ja) |
| JP (1) | JPS62207962A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009516175A (ja) * | 2005-11-10 | 2009-04-16 | テラダイン、 インコーポレイテッド | ジッターの周波数成分の決定 |
Families Citing this family (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4926360A (en) * | 1988-04-08 | 1990-05-15 | Brown & Sharpe Manufacturing Co. | Electronic gage amplifier and display |
| US4958139A (en) * | 1988-06-23 | 1990-09-18 | Nicolet Instrument Corporation | Method and apparatus for automatically calibrating the gain and offset of a time-shifted digitizing channel |
| US4888588A (en) * | 1988-10-17 | 1989-12-19 | Tektronix, Inc. | Digital trigger |
| US5056051A (en) * | 1989-06-06 | 1991-10-08 | Technology For Communications International | Signal direction finding processor using fast Fourier transforms for receiver matching |
| US5185874A (en) * | 1989-10-30 | 1993-02-09 | Tektronix, Inc. | Address generator for high speed data averager |
| US5184062A (en) * | 1990-05-11 | 1993-02-02 | Nicolet Instrument Corporation | Dynamically calibrated trigger for oscilloscopes |
| US5053770A (en) * | 1990-05-18 | 1991-10-01 | Analogic Corporation | Digital autozero circuit operable in a plurality of modes with separate storage for offset corrections for each mode |
| US5243343A (en) * | 1990-12-03 | 1993-09-07 | Zeelan Technology, Inc. | Signal acquisition system utilizing ultra-wide time range time base |
| US5414635A (en) * | 1991-11-08 | 1995-05-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Oscilloscope with dynamic triggering determination |
| US5191295A (en) * | 1992-03-11 | 1993-03-02 | Ltx Corporation | Phase shift vernier for automatic test systems |
| US5404054A (en) * | 1992-08-06 | 1995-04-04 | Silicon Systems, Inc. | Method and apparatus for controlling programmable hysteresis |
| US5452446A (en) * | 1992-11-12 | 1995-09-19 | Spx Corporation | Method and apparatus for managing dynamic vehicle data recording data by current time minus latency |
| US5485078A (en) * | 1994-03-23 | 1996-01-16 | Venturedyne, Ltd. | Method for analyzing a circuit board waveform for faults |
| US5555424A (en) * | 1994-10-06 | 1996-09-10 | The Dow Chemical Company | Extended Harvard architecture computer memory system with programmable variable address increment |
| US5764551A (en) * | 1996-10-15 | 1998-06-09 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Fast high-signal-to-noise ratio equivalent time processor |
| US6031479A (en) * | 1998-04-24 | 2000-02-29 | Credence Systems Corproation | Programmable digitizer with adjustable sampling rate and triggering modes |
| US6418162B1 (en) | 1998-09-25 | 2002-07-09 | Tektronix, Inc. | Frequency spectrum measurement apparatus |
| US7173443B1 (en) * | 1998-11-24 | 2007-02-06 | Advantest Corp. | Semiconductor test system |
| US6501413B2 (en) * | 1999-03-22 | 2002-12-31 | Sensors & Software Inc. | Timing and control and data acquisition for a multi transducer ground penetrating radar system |
| US6606041B1 (en) * | 2000-05-10 | 2003-08-12 | Micron Technology, Inc. | Predictive timing calibration for memory devices |
| US6665621B2 (en) * | 2000-11-28 | 2003-12-16 | Scientific Technologies Incorporated | System and method for waveform processing |
| US7461295B1 (en) * | 2005-07-29 | 2008-12-02 | Netlogic Microsystems, Inc. | Timing failure analysis in a semiconductor device having a pipelined architecture |
| US8542005B2 (en) | 2010-04-28 | 2013-09-24 | Teradyne, Inc. | Connecting digital storage oscilloscopes |
| US8502522B2 (en) | 2010-04-28 | 2013-08-06 | Teradyne, Inc. | Multi-level triggering circuit |
| US8531176B2 (en) | 2010-04-28 | 2013-09-10 | Teradyne, Inc. | Driving an electronic instrument |
| US8098181B2 (en) | 2010-04-28 | 2012-01-17 | Teradyne, Inc. | Attenuator circuit |
| US8446220B2 (en) * | 2011-05-09 | 2013-05-21 | Honeywell International Inc. | Method and apparatus for increasing the effective resolution of a sensor |
| JP6214993B2 (ja) * | 2013-10-11 | 2017-10-18 | 株式会社キーエンス | 光電センサ |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55158734A (en) * | 1979-05-29 | 1980-12-10 | Takasuke Ooura | Analog-digital converter |
| JPS60224332A (ja) * | 1984-03-23 | 1985-11-08 | テクトロニツクス・インコーポレイテツド | デジタル波形取り込み方法 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4490713A (en) * | 1978-11-17 | 1984-12-25 | Burr-Brown Inc. | Microprocessor supervised analog-to-digital converter |
| JPS6059772B2 (ja) * | 1979-01-26 | 1985-12-26 | 株式会社日立製作所 | アナログ・デイジタル変換器 |
| JPS57111421A (en) * | 1980-12-29 | 1982-07-10 | Fuji Photo Film Co Ltd | Measuring device of multielement sensor |
| JPS5873231A (ja) * | 1981-10-27 | 1983-05-02 | Shimadzu Corp | Ad変換装置 |
| US4494212A (en) * | 1982-03-03 | 1985-01-15 | The Perkin-Elmer Corporation | Variable gain amplifier |
| US4616329A (en) * | 1983-08-26 | 1986-10-07 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Self-calibrating adaptive ranging apparatus and method |
| US4641246A (en) * | 1983-10-20 | 1987-02-03 | Burr-Brown Corporation | Sampling waveform digitizer for dynamic testing of high speed data conversion components |
| JPH0246980B2 (ja) * | 1984-02-23 | 1990-10-18 | Japan Radio Co Ltd | Deijitarushingoshorisochi |
| US4590458A (en) * | 1985-03-04 | 1986-05-20 | Exxon Production Research Co. | Offset removal in an analog to digital conversion system |
-
1986
- 1986-03-03 US US06/835,582 patent/US4755951A/en not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-01-26 EP EP87300623A patent/EP0235912A3/en not_active Ceased
- 1987-02-27 JP JP62045076A patent/JPS62207962A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55158734A (en) * | 1979-05-29 | 1980-12-10 | Takasuke Ooura | Analog-digital converter |
| JPS60224332A (ja) * | 1984-03-23 | 1985-11-08 | テクトロニツクス・インコーポレイテツド | デジタル波形取り込み方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009516175A (ja) * | 2005-11-10 | 2009-04-16 | テラダイン、 インコーポレイテッド | ジッターの周波数成分の決定 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4755951A (en) | 1988-07-05 |
| EP0235912A3 (en) | 1988-10-26 |
| EP0235912A2 (en) | 1987-09-09 |
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