JPS62266910A - シユミツトトリガ回路 - Google Patents

シユミツトトリガ回路

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JPS62266910A
JPS62266910A JP11112286A JP11112286A JPS62266910A JP S62266910 A JPS62266910 A JP S62266910A JP 11112286 A JP11112286 A JP 11112286A JP 11112286 A JP11112286 A JP 11112286A JP S62266910 A JPS62266910 A JP S62266910A
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threshold voltage
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Norishige Tanaka
田中 教成
Masanori Kinugasa
昌典 衣笠
Munenobu Kida
木田 宗伸
Yasuo Kawahara
川原 康夫
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は入力信号と出力信号との間にヒステリシス特
性を有するCMOS構成のシュミツ1−トリガ回路に関
する。
(従来の技術) 論理回路などに入力される信号として比較的ノイズの多
い信号源からの出力を用いる場合、信号源からの出力信
号を積分回路を通した後、シュミットトリガ回路に入力
して波形整形することによりノイズを除去することが知
られている。
第10図はCM OS I成による従来のシュミットト
リガ回路の回路図である。積分回路を通過した入力信号
VINは、PチャネルM OS トランジスタ51及び
NチャネルMO8i−ランジスタ52で構成されたCM
OSインバータ53に供給されると共に、このCMOS
インバータ53の出力ノード54と高電位の電源電圧V
ooとの間に接続されたPチャネルMOSトランジスタ
55のゲート及びこの出力ノード54と低電位の電源電
圧、例えばアース電圧V88との間に接続されたNチャ
ネルMOSトランジスタ56のゲートにそれぞれ供給さ
れている。
上記Clvl 0 Sインバータ53の出力ノード54
の信号はPチャネルMOSトランジスタ57及びNチャ
ネルM OS l−ランジスタ58で構成されたもう一
つのCMOSインバータ59に供給されている。このC
M OSインバータ59の出力ツードロ0の信号は、上
記ノード54と上記トランジスタ55との間に接続され
たPチャネルMO8トランジスタ61のゲート及び上記
ノード54と上記トランジスタ56との間に接続された
NチャネルMOSトランジスタ62のゲートにそれぞれ
供給されている。そして上記インバータの出力ツードロ
0からノイズが除去された信号■○UTが出力される。
このように構成されたシュミットトリガ回路では第11
図の特性図に示されるように、CM OSインバータの
回路閾値電圧をv thcとすると、入力信号VINの
電位が低電位から上昇する際の回路閾値電圧VPはv 
thcよりも高いものとなり、これとは逆に入力信号V
INの電位が高電位から下降する際の回路閾値電圧VN
はv thcよりも低いものとなり、これにより図示す
るようなとステリシス特性が得られる。
しかしながら、上記従来回路では所望する特性を得るた
めに二つのCMOSインバータと4i1のMOSトラン
ジスタが必要であり、合計で8個のMOSトランジスタ
が必要である。このようなシュミツ1〜トリガ回路は他
の論理回路などと共に1個の半導体チップ上に集積化さ
れるため、チップサイズなできるだけ小さくして製造価
格を低減させるためにはシュミットトリガ回路自体の素
子数をできるだけ少なくする必要がある。
(発明が解決しようとする問題点) このように従来のシュミットトリガ回路では、0MO3
化する場合に多くの素子が必要となる欠点がある。
この発明は上記のような事情を考慮してなされたもので
あり、その目的は、従来に比べて素子数の少ないシュミ
ットトリガ回路を提供することにある。
[発明の構成] 〈問題点を解決するための手段) この発明のシュミット1−リガ回路は、入力信号が供給
されるCMOS型の第1の反転回路と、上記第1の反転
回路の出力信号が供給される第2の反転回路と、上記第
1の反転回路の出力端と電源電圧との間に接続され、上
記第2の反転回路の出力信号で導通制御される第1のト
ランジスタと、上記第1のトランジスタに対して直列に
接続され、常時導通状態に設定され、上記第1のトラン
ジスタと同極性の第2のトランジスタとから構成されて
いる。
(作用) この発明のシュミットトリガ回路では、入力信号が第1
のレベルから第2のレベルに変化し、第1の反転回路の
出力端の信号が第2のレベルから第1のレベルに変化し
ようとする際に、第1のトランジスタを第2の反転回路
の出力端の信号によって導通制御することにより第1の
反転回路の出力端の信号のレベル変化を遅らせるように
している。
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明の詳細な説明する。
第1図はこの発明のシュミットトリガ回路の第1の実施
例の構成を示す回路図である。入力信号INは、Pチャ
ネルMO8t−ランジスタ11及びNチャネルMOSト
ランジスタ12で構成されたCMOSインバータ13に
供給される。このCMOSインバータ13の出力ノード
14の信号はPチャネルMOSトランジスタ15及びN
チャネルMOSトランジスタ16で構成されたもう一つ
のCMOSインバータ17に供給される。さらに上記C
MOSインバータ13の出力ノード14と低電位の’I
I電圧、例えばアース電圧Vssとの間には2個のNチ
ャネルMO8トランジスタ19.20のソース、ドレイ
ン間が直列接続されている。そして、出力ノード14に
近い側に設けられているトランジスタ19のゲートには
高電位側の電源電圧v0゜が供給され、このトランジス
タ19は常時導通状態に設定されている。またアース電
圧Vssに近い側に設けられているトランジスタ20の
ゲートには上記CMOSインバータ17の出力ノード1
8の信号が供給され、このトランジスタ20はこの信号
で導通制御される。
なお、上記両CMOSインバータ13.17それぞれの
回路閾値電圧v thcは通常の場合と同様にVOI)
とVSSのほぼ1/2の値、例えばVDOが+5V、V
ssが○vのときには2.5Vにされている。
次に上記のような構成の回路の動作を第2図の波形図を
用いて説明する。
まず、入力信号VINが低レベル(Vs sレベル)の
とき、インバータ13の出力ノード14の信号は高レベ
ル(Vooレベル)であり、さらにインバータ17の出
力ノード18の信号、すなわち出力信号VOUTは低レ
ベルである。ここで、トランジスタ19は常時導通して
いるため、このトランジスタ19は単なる抵抗として作
用する。また、トランジスタ20のゲートにはインバー
タ17の出力ノード18の信号が入力されていので、こ
のトランジスタ20は非導通状態である。従って、トラ
ンジスタ19゜20からなる経路には電流が流れず、イ
ンバータ13の出力ノード14の信号は高レベルに保た
れる。
次にこの状態から入力信号VINが低レベルから高レベ
ルに向かってゆっくり変化する。そして入力信号VIN
の電位がCMOSインバータ13の回路閾値電圧v t
hcに達すると、インバータ13の出力ノード14の信
号が高レベルから低レベルに反転する。このノード14
の信号が低レベルに反転した直後にインバータ17の出
力ノード18の信号、すなわち出力信号VOUTが低レ
ベルから高レベルに反転する。出力信号VOUTが高レ
ベルに反転するとトランジスタ20が導通する。
次にこの状態で、今度は入力信号VINが高レベルから
低レベルに向かってゆっくり変化する。
そして入力信号VINの電位がCMOSインバータ13
の回路閾値電圧v thcに達しても、今度はインバー
タ13の出力ノード14の信号は反転しない。
すなわち、信号VINの電位が低下してCMOSインバ
ータ13の回路閾値電圧v thcに達すると、CMO
Sインバータ13内のPチャネルMOSトランジスタ1
1が導通し始める。ところが、CMOSインバータ17
の出力ノード18の信号(VOUT)はまだ高レベルで
あり、トランジスタ20が導通している。このため、ト
ランジスタ11による出力ノード14の充電は、CMO
Sインバータ13内のNチャネル〜10Sトランジスタ
12の他にトランジスタ19、20からなる経路によっ
ても妨げられる。従って、インバータ13の出力ノード
14の信号がインバータ17の回路閾値電圧y thC
に到達する時間が遅れ、出力信号VOUTが低レベルに
反転する実質的な閾値電圧VN’ は第2図に示される
ようにCMOSインバータの回路rAliI!電圧Vt
hCヨリモ低い値にされる。
この結果、この実施例回路では入力信号V I Nと出
力信号VOUTとの関係を示す特性図は第3図のように
なり、入力信号VI\の電位が低電位から上昇する際の
回路間Wi電圧はCMOSインバータの回路v thc
となり、入力信号VINの電位が高電位から下降する際
の回路間i電圧はv thcよりも低いVN’ となり
、これにより図示するようなヒステリシス特性が得られ
る。
このように上記実施例回路でも所定のヒステリシス特性
を得ることができる。そしてこの実施例回路では従来回
路に比較して2個のM OS トランジスタが省略され
、合計で6個のMOSトランジスタで構成することがで
きる。このため、この実施例のシュミットトリガ回路を
他の論理回路などと共に1個の半導体チップ上に集積化
した場合に、従来に比べてチップサイズを小さくするこ
とができ、これにより製造l11i格の低減化が実現で
きる。
なお、上記実施例回路ではC〜・+ o sインバータ
13の回路閾値電圧\/lhcを通常のCMOSインバ
ータと同様に1 /’ 2 (Voo  Vss)に設
定し、ヒステリシス特性の高レベル側の回路量(直電圧
を1/2(Voo  Vss)としているが、これは次
のような手段により、高レベル側の回路閾値電圧を1/
2 (Vo o  Vs s )よりも高い方にシフト
させることが可能である。
■ CIvl OSインバータ13内のPチャネルM 
OS l−ランジスタ11のチャネル幅Wpを回路量I
I圧が1/2(Voo  Vss)に設定された通常の
CM OSインバータ内のPチャネルMOSトランジス
タよりも大きく設定する。
■ CMOSインバータ13内のNチャネル〜10Sト
ランジスタ12のチャネル幅Wnを回路閾値電圧か1.
/2 (Vo o  Vs s )に設定された通常の
CMOSインバータ内のNチャネルMOSトランジスタ
よりも小さく設定する。
■ ■と■を同時に行なう。
上記■、(■、■のいずれか一つの手段を採用すること
により、第4図の特性図に示されるように前記第11図
の持せ図と同様のヒステリシス特性を得ることができる
。さらに、上記■、■、■とは逆の操作を行なうことに
より、高レベル側の回路閾値電圧を1/2 (Vo o
  V3 R>よりも低い方にシフトさせることも可能
である、出力、さらに、第4図中のVHで示されるヒス
テリシス幅も自由に設定することができる。これは、ト
ランジスタ20による帰還量の調整により達成づること
ができ、例えばトランジスタ20のチャネル幅を大きく
することによりヒステリシス幅VHが広がり、反対に小
さくすることにより狭められる。
第5図はこの発明の第2の実施例の構成を示す回路図で
ある。この実施例回路では、抵抗としで作用するトラン
ジスタ19と、C、M○Sインバータ17の出力ノード
18の信号で導通耐引されるトランジスタ20の位置を
反対に(7た点のみが上記第1図の実施例のものと異な
り、動作及び特性などは第1図の実施例と同じである。
第6図はこの発明の第3の実施例の構成を示す回路図で
ある。この実施例回路では、C〜!08インバータ13
の出力ノード14とV98との間にNチャネル1′V1
0Sトランジスタ19及び20のソース、ドレイン間を
直列接続する代わりに、ノード14とVODとの間に2
gのPチャネル1\ios トランジスタ21及び22
のソース、ドレイン間を直列接続し、さらにトランジス
タ21のゲートにはインバータ17の出力ノード18の
信号、すなわら出力信号V OU T’を供給し、トラ
ンジスタ22のゲートには低電位側の電源電圧vssを
供給するように構成したものである。
この実施例回路では、前記NtネルMO3lヘラレジス
タ19.20の代わりにPtネルMOSトランジスタ2
1.22が設けられているので、入力信号INが低レベ
ルから高レベルに向かって変化する際の、トランジスタ
12による出力ノード14の敢電がトランジスタ21.
22からなる経路によって妨げられる。従って、インバ
ータ13の出力ノード14の信号がインバータ17の回
路閾値電圧v thcに到達する時間が遅れ、出力信号
VOtJTが低レベルから高レベルに反転する実質的な
閾値電圧VP’は第7図の波形図に示されるようにCM
OSインバータの回路閾値電圧v thcよりも高い値
にされる。
第8図はこの実施例回路の入出力持性図である。
図示するように、入力信号VINの電位が低電位から上
昇する際の回路i +i z圧はCMOSインバータの
回路v thcよりも高いVP′ となり、入力信号V
INの電位が高電位から下降する際の回路閾値電圧はv
 thcとなり、これにより図示するようなヒステリシ
ス特性が得られるaなお、この実施例回路でも、上記と
同様にトランジスタ+1.12゜チャネル幅の設定によ
ってヒステリシス特性を移動させることができ、かつト
ランジスタ21のチトネル幅の設定によってヒステリシ
ス幅の調整を11なうことができる。
第9図はこの発明の第4の実施例の構成な示す回路図で
ある。この実Ilf!例回路では、抵抗として作用する
トランジスタ22と、CM OSインパーク17の出力
ノード18の信号で導通耐重されるトランジスタ21の
位置を反対にした点のみが十肥第5図の実施例のものと
異なり、動作及び特性などは第5図の実施例と同じであ
る。
上記各実施例のシュミットトリガ回路はいずれの場合に
も従来回路に比較してMOSトランジスタの数を2個削
減でき、しかも所定のヒステリシス特性を得ることがで
きる。
[発明の効果] 以上説明したようにこの発明によれば、従来に比べて素
子数の少ないシュミットトリガ回路を提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の第1の実施例の構成を示す回路図、
第2図は上記実施例回路の波形図、第3図及び第4図は
それぞれ上記実施例回路の特性図、第5図はこの発明の
第2の実施例の構成を示す回路図、第6図はこの発明の
第3の実施例の構成を示す回路図、第7図は上記第3の
実施例回路の波形図、第8図は上記第3の実施例回路の
特性図、M9図はこの発明の第4の実施例の構成を示す
回路図、第10図は従来回路の回路図、第11図は上記
従来回路の特性図である。 11、15.21.22・Pチvネ/L、MO3I−ラ
ンジスタ、12.16.19.20− N f tネル
MOsトランジスタ、13.17−CMOS−+’ンハ
ータ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 20 VN’  Vthc     VIN 第3図 vthc     VIN 第4 図 −一                       
   〇2                    
   〉(り 〉      〉 Vthc  VP −VIN 第8図 第9 図 第10図 VN  V″jhc VP VIN 第11図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)入力信号が供給されるCMOS型の第1の反転回
    路と、上記第1の反転回路の出力信号が供給される第2
    の反転回路と、上記第1の反転回路の出力端と電源電圧
    との間に接続され、上記第2の反転回路の出力信号で導
    通制御される第1のトランジスタと、上記第1のトラン
    ジスタに対して直列に接続され、常時導通状態に設定さ
    れ、上記第1のトランジスタと同極性の第2のトランジ
    スタとを具備したことを特徴とするシュミットトリガ回
    路。
  2. (2)前記電源電圧が低電位の電源電圧であり、前記第
    1、第2のトランジスタがNチャネルのMOSトランジ
    スタである特許請求の範囲第1項に記載のシュミットト
    リガ回路。
  3. (3)前記電源電圧が高電位の電源電圧であり、前記第
    1、第2のトランジスタがPチャネルのMOSトランジ
    スタである特許請求の範囲第1項に記載のシュミットト
    リガ回路。
  4. (4)前記第1の反転回路を構成するPチャネルMOS
    トランジスタとNチャネルMOSトランジスタの素子寸
    法が異なるように設定される特許請求の範囲第1項に記
    載のシュミットトリガ回路。
JP61111122A 1986-05-15 1986-05-15 シュミットトリガ回路 Expired - Lifetime JPH0831780B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103607184A (zh) * 2013-10-23 2014-02-26 上海华力微电子有限公司 一种cmos施密特触发电路

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5480058A (en) * 1977-12-09 1979-06-26 Hitachi Ltd Schmitt trigger circuit

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