JPS62271036A - インタフエ−ス制御装置 - Google Patents

インタフエ−ス制御装置

Info

Publication number
JPS62271036A
JPS62271036A JP11555086A JP11555086A JPS62271036A JP S62271036 A JPS62271036 A JP S62271036A JP 11555086 A JP11555086 A JP 11555086A JP 11555086 A JP11555086 A JP 11555086A JP S62271036 A JPS62271036 A JP S62271036A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
interface
control signal
con
turned
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11555086A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Masumura
増村 孝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP11555086A priority Critical patent/JPS62271036A/ja
Publication of JPS62271036A publication Critical patent/JPS62271036A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Information Transfer Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 3、発明の詳細な説明 〔産業上の利用分野〕 本発明は、周辺装置が接続されたチャネル装置のインタ
フェースの診断手段に関する。
〔概要〕
本発明は、チャネル装置のインタフェース部の診断手段
において、 擬似インタフェース入力信号を通常動作で用いるインタ
フェース制御部に入力し、また、この入力信号のタイミ
ングを自由に設定することにより、通常動作時に用いる
インタフェース制御部の診断が確実に行えるようにした
ものである。
〔従来の技術〕
従来この種のインタフェースの診断はインタフェース制
御部にインタフェース制御信号の各々に対して通常動作
と診断動作との各々に対して制御回路を設けて行うか、
または出力インタフェース制御信号を入力インタフェー
ス制御信号に擬似的に対応づけこの信号を外部で折返し
て行っていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
このような従来のインタフェース診断方式のうち、通常
動作用信号と診断動作用信号との各々に対して回路を設
ける方式は動作モードが多数ある場合にハードウェア量
が増大し、かつ診断動作用に別の制御部を設けるので、
通常動作のインタフェース制御部を完全に診断すること
ができない欠点がある。
また、出力インタフェース信号を入力インタフェース信
号に折返す方式は診断用に新たに回路を設ける必要がな
いが、出力インタフェース信号を入力インタフェース信
号にうまく対応づけることができない場合が多く、また
タイミングが固定化される欠点がある。
本発明はこのような欠点を除去するもので、ハードウェ
ア量の増大を招くことなくかつ確実に自装置を診断でき
るインタフェース制御装置を提供することを目的とする
。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、チャネル装置と周辺装置との間に介在するイ
ンタフェースに、この周辺装置から到来する第一制御信
号に基づいて第二制御信号を出力するインタフェース制
御装置において、上記インタフェースの動作モードを設
定する設定手段(2)と、第二制御信号にかかわるアド
レス信号によりあらかじめ格納された一つの第二制御信
号を擬似する制御信号を読出し、または、一つの第二制
御信号を擬似する制御信号にかかわるアドレス信号によ
りあらかじめ格納された他の第二制御信号を読出す記憶
手段(3)と、第二制御信号に基づいてこの記憶手段か
ら読出される制御信号に所望の遅延を与える遅延手段(
4,5)と、動作モードが診断モードのときに、この遅
延手段の出力を選択して自装置に与える選択手段(6)
とを備えたことを特徴とする。
〔作用〕
設定手段に診断モードが設定されると、このモードに応
じたメモリ範囲が限定される。インタフェース制御部か
らCON信号がオンになると記憶手段および遅延手段に
より所望の遅延後にR3−C0N信号の擬似信号が出力
され選択手段を経由してインタフェース制御装置に与え
られる。遅延手段により所定の時間にわたりこの擬似R
3−C0N信号は保持される一方この擬似R3−C0N
信号でCON信号はオフにされる。また擬似R5−C0
N信号のオフは遅延手段によりCON信号オフ後に所望
の遅延で行われる。同様の動作がインタフェース制御装
置の入出力制御信号について行われる。
〔実施例〕
以下、本発明実施例装置を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明実施例装置の構成を示すブロック構成図
である。第2図は本実施例で用いるインタフェースシー
ケンスを示すシーケンス図である。
この実施例装置は、第1図に示すように、通常動作のイ
ンタフェース信号の制御を行うインタフェース制御部l
と、インタフェースのモードを設定するモード設定レジ
スタ2と、インタフェースの入出力信号をアドレスとし
て擬似インタフェース信号を出力する読出専用メモリ3
と、読出専用メモリ3の出力を保持するラッチ回路4お
よび5と、ラッチ回路4の出力信号と周辺装置から人力
インタフェース信号とを切換える選択回路6とを備える
。ここで、ランチ回路5は読出専用メモリ3のアドレス
の下位に入り、インタフェース出力信号の変化からイン
タフェースの入力信号を変化させる迄のプレイを制御す
るのに用いる。また、インタフェース上の信号CONお
よびDC−DTAは出力インタフェース信号を示し、ま
た信号R3−C0N、DA−DTA、DTA−ENAお
よびREQLIESTは入力インタフェース信号を示す
。
次に、第1図および第2図を参照してこの実施例装置の
動作を説明する。インクフェース制御部lで診断の種類
およびコマンドの種類に応じて設定されるインタフェー
スの動作モードおよび診断モードが設定されると、続出
専用メモリ3はそのモードに応じたメモリ範囲(、Mx
xxxxxD)に限定される。ここで、Mはモードの種
類に応じたビット数を示し、Xは読出専用メモリ3に入
力されるインタフェース信号がオンのとき1になりまた
オフのときOとなる。また、Dはインタフェース信号間
のプレイ値を示し、最大プレイ値に応じたビット数に設
定される。インタフェース制御部1からのCON信号が
オンになると、続出専用メモリ3のアドレスはMloo
OOODになり、(Dの値)×(クロック周期)のプレ
イ後(すなわち1クロツク毎にアドレスが−1される)
D部が全0になったアドレスでR3−C0N信号に相当
する続出専用メモリ3の出力がオンになる。この擬似R
3−C0N信号が選択回路6を通って適当なプレイを持
ってインタフェース制御部1と読出専用メモリ3に供給
される。このときの続出専用メモリ3のアドレスはMl
oloooDであるが、D部が全OになるまでR3−C
0N信号出力はオンのまま保持するように続出専用メモ
リ3の内容は設定される。インタフェース制御部1はR
3−C0N信号オンによりCON信号をオフにする。読
出専用メモリ3のアドレスはMOOlooODとなり、
D部を適当なプレイ値になるようにしておくことにより
R5−C0N信号のオフをCON信号オフから適当なプ
レイで行う4とができる。同様にして第2図に示すシー
ケンスが実行される。
〔発明の効果〕
本発明は以上説明したように、インタフェース上の信号
に基づいて擬似インタフェース人力信号を生成し、それ
を通常動作のインタフェース制御部に入力し、また出力
信号の変化に基づいて入力信号の変化の遅延を自由に設
定可能にすることにより、通常動作時に用いるインタフ
ェース制御部の診断を確実に行える効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例装置の構成を示すブロック構成図
。 第2図は本発明は実施例装置の動作を示すシーケンス図
。 1・・・インタフェース制御部、2・・・モード設定レ
ジスタ、3・・・続出専用メモリ、4.5・・・ランチ
回路、6・・・選択回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)チャネル装置と周辺装置との間に介在するインタ
    フェースに、この周辺装置から到来する第一制御信号に
    基づいて第二制御信号を出力するインタフェース制御装
    置において、 上記インタフェースの動作モードを設定する設定手段(
    2)と、 第二制御信号にかかわるアドレス信号によりあらかじめ
    格納された一つの第二制御信号を擬似する制御信号を読
    出し、または、一つの第二制御信号を擬似する制御信号
    にかかわるアドレス信号によりあらかじめ格納された他
    の第二制御信号を読出す記憶手段(3)と、 第二制御信号に基づいてこの記憶手段から読出される制
    御信号に所望の遅延を与える遅延手段(4、5)と、 動作モードが診断モードのときに、この遅延手段の出力
    を選択して自装置に与える選択手段(6)と を備えたことを特徴とするインタフェース制御装置。
JP11555086A 1986-05-19 1986-05-19 インタフエ−ス制御装置 Pending JPS62271036A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11555086A JPS62271036A (ja) 1986-05-19 1986-05-19 インタフエ−ス制御装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11555086A JPS62271036A (ja) 1986-05-19 1986-05-19 インタフエ−ス制御装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62271036A true JPS62271036A (ja) 1987-11-25

Family

ID=14665314

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11555086A Pending JPS62271036A (ja) 1986-05-19 1986-05-19 インタフエ−ス制御装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS62271036A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5781558A (en) Diagnostic memory access
US5841968A (en) Processor circuit with testing device
JPH0769399B2 (ja) Lsiテスト方式
JP4226108B2 (ja) ディジタルシグナルプロセッサ及びプロセッサのセルフテスト方法
JP2760027B2 (ja) I/o装置
JP2806645B2 (ja) スキャンパスエラー検出回路
JPS6314257A (ja) インタフエ−ス診断方式
JPS581248A (ja) インタロツク条件制御方式
JPH0751630Y2 (ja) 二重化システム
JP3315900B2 (ja) ビルトインセルフテスト回路を備えた処理装置
JPS62140453A (ja) 半導体集積回路装置
JPH0769400B2 (ja) Lsiテスト方式
JPS6324330A (ja) 試験容易化方式
JPS5857687A (ja) メモリ書込パルス調整方式
JPS6045828B2 (ja) マスクメモリ
JPH0291586A (ja) 集積回路装置
JPS63231282A (ja) 半導体集積回路
JPS62293452A (ja) メモリic診断回路
JPH05257790A (ja) 集合パネル装置
JPH0944412A (ja) メモリ試験回路
JPS6386046A (ja) メモリ・セレクト方式
JPS6324329A (ja) 試験容易化方式
JPH0514290B2 (ja)
JPS6292042A (ja) 記憶装置
JPH01122099A (ja) レジスタ制御方式