JPS62298046A - 光磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
光磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPS62298046A JPS62298046A JP14173586A JP14173586A JPS62298046A JP S62298046 A JPS62298046 A JP S62298046A JP 14173586 A JP14173586 A JP 14173586A JP 14173586 A JP14173586 A JP 14173586A JP S62298046 A JPS62298046 A JP S62298046A
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Links
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の詳細な説明
(産業上の利用分野)
本発明は光磁気メモリに用いられる記録媒体の製造方法
の改良に関するものである。
の改良に関するものである。
(従来の技術)
従来の一般的な光磁気記録媒体5は、第5図に示す様に
、基体1の上に、第一の1呆護層2、記録層3、第二の
保護層4、の順に、スパッタリングや蒸着などの成膜方
法によって形成される。基体1としては、ガラス、A1
合金及び、PMMA、ポリカーボネイト、エポキシなど
のプラスチック基板が用いられ、第−及び第二の保護層
としては、SiO,5i02゜Si3N4.AINなど
の誘電体薄膜が用いられる。記録層としては、MnB1
.MnCuB1などの多結晶薄膜、Tb。
、基体1の上に、第一の1呆護層2、記録層3、第二の
保護層4、の順に、スパッタリングや蒸着などの成膜方
法によって形成される。基体1としては、ガラス、A1
合金及び、PMMA、ポリカーボネイト、エポキシなど
のプラスチック基板が用いられ、第−及び第二の保護層
としては、SiO,5i02゜Si3N4.AINなど
の誘電体薄膜が用いられる。記録層としては、MnB1
.MnCuB1などの多結晶薄膜、Tb。
Gd、Dyなどの希土類金属とFe、Goなどの鉄族遷
移金属との組み合せによって作成される非晶質磁性合金
薄膜またGIGなどの単結晶薄膜などが知られている。
移金属との組み合せによって作成される非晶質磁性合金
薄膜またGIGなどの単結晶薄膜などが知られている。
これらの薄膜の中で、非晶質磁性合金薄膜は、書き込み
感度が高い、粒界ノイズが無い、膜面に垂直方向の磁気
異方性を有する膜が容易に作れるなどの利点を有するた
め記録媒体として最も有望視されている。
感度が高い、粒界ノイズが無い、膜面に垂直方向の磁気
異方性を有する膜が容易に作れるなどの利点を有するた
め記録媒体として最も有望視されている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかし、非晶質合金薄膜を記録層とする光磁気記録媒体
は、記録時に、レーザ光を熱源として用いて、キュリー
温度Tc近傍まで加熱する工程を経るため、非晶質固有
の熟的安定性が問題となる。
は、記録時に、レーザ光を熱源として用いて、キュリー
温度Tc近傍まで加熱する工程を経るため、非晶質固有
の熟的安定性が問題となる。
周知の如く、非晶質合金を加熱すると、大別して二つの
現象すなわち、構造緩和と結晶化が起こる。これらのう
ち、結晶化に対しては、Tcが結晶化温度Txより十分
低くなる様、合金組成を選択すると共に緻密な1呆護膜
でおおうことにより対処することができたが、構造緩和
による特性変化をのがれることは困難であった。例えば
、記録層とじてTbFe、TbFeCo、GdTbFe
を用いた媒体に対して何度も同じ場所で記録再生・消去
を繰り返した場合、または加速試験のため、室温より高
い温度(例えば80°C)に保持した場合、時間経過と
共に、カー回転角ekは殆ど変化しないが保磁力Heが
少しずつ低下した。この保磁力の低下は、室温における
補償組成に対する記録膜組成が希土類リッチ側の場合で
も、遷移金属リッチの側においても同様に見られた。こ
の様な記録膜特性の経時変化は、記録、条件及び再生特
性の微妙な変化をもたらすため、媒体としての信頼性上
好ましくない。
現象すなわち、構造緩和と結晶化が起こる。これらのう
ち、結晶化に対しては、Tcが結晶化温度Txより十分
低くなる様、合金組成を選択すると共に緻密な1呆護膜
でおおうことにより対処することができたが、構造緩和
による特性変化をのがれることは困難であった。例えば
、記録層とじてTbFe、TbFeCo、GdTbFe
を用いた媒体に対して何度も同じ場所で記録再生・消去
を繰り返した場合、または加速試験のため、室温より高
い温度(例えば80°C)に保持した場合、時間経過と
共に、カー回転角ekは殆ど変化しないが保磁力Heが
少しずつ低下した。この保磁力の低下は、室温における
補償組成に対する記録膜組成が希土類リッチ側の場合で
も、遷移金属リッチの側においても同様に見られた。こ
の様な記録膜特性の経時変化は、記録、条件及び再生特
性の微妙な変化をもたらすため、媒体としての信頼性上
好ましくない。
本発明の目的は、経時変化のない安定な光磁気記録媒体
の製造方法を提供することにある。
の製造方法を提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
本発明における光磁気記録媒体の製造方法は基体上に、
希土類と遷移金属から成る非晶質磁性合金膜を、少なく
とも記録層として有する様に成膜後、記録層をそのキュ
リー温度Tc近傍で加熱処理することを特徴とする。
希土類と遷移金属から成る非晶質磁性合金膜を、少なく
とも記録層として有する様に成膜後、記録層をそのキュ
リー温度Tc近傍で加熱処理することを特徴とする。
記録層の加熱処理には、赤外線加熱炉もしくは、対流オ
ープンもしくは、数ミリ秒のパルス幅で、キセノンラン
プによるフラッシュ露光が用いられる。また、ディスク
状に形成した光磁気記録媒体に対しては、回転させなが
ら連続光を照射しても良い。さらに、記録層に集光した
レーザスポット光を一つ以上用いても良い。
ープンもしくは、数ミリ秒のパルス幅で、キセノンラン
プによるフラッシュ露光が用いられる。また、ディスク
状に形成した光磁気記録媒体に対しては、回転させなが
ら連続光を照射しても良い。さらに、記録層に集光した
レーザスポット光を一つ以上用いても良い。
(作用)
発明者等の実験によれば、希土類−遷移金属から成る非
晶質磁性合金膜の保磁力Heと温度Tの間には第6図も
しくは第7図に示す関係がある。第6図は、室温R,T
とTcの間に補償温度Tampがない場合、第7図は、
室温R,TとTcの間に補償温度Tampがある場合を
示す。図において、実線A、A’は成膜直後の膜をR,
TからTc近傍まで加熱した時のHe変化を示し、破線
B、B’はTc近傍からR,Tまで徐冷した時のHe変
化を示す。加熱徐冷後は、Heは、いずれの場合も、2
〜3割低下する。しかし、−担この加熱処理を経ると、
その後は、同様の加熱徐冷過程を何度繰り返しても、同
じ破線B、B’に従って、Hcが変化することがわかっ
た。
晶質磁性合金膜の保磁力Heと温度Tの間には第6図も
しくは第7図に示す関係がある。第6図は、室温R,T
とTcの間に補償温度Tampがない場合、第7図は、
室温R,TとTcの間に補償温度Tampがある場合を
示す。図において、実線A、A’は成膜直後の膜をR,
TからTc近傍まで加熱した時のHe変化を示し、破線
B、B’はTc近傍からR,Tまで徐冷した時のHe変
化を示す。加熱徐冷後は、Heは、いずれの場合も、2
〜3割低下する。しかし、−担この加熱処理を経ると、
その後は、同様の加熱徐冷過程を何度繰り返しても、同
じ破線B、B’に従って、Hcが変化することがわかっ
た。
これはTcまでの加熱徐冷処理によって、非晶質磁性合
金膜に、構造緩和が起こり、その結果、熱的に安定な非
晶質磁性合金膜が実現できることを示している。
金膜に、構造緩和が起こり、その結果、熱的に安定な非
晶質磁性合金膜が実現できることを示している。
(実施例)
基体1としてガラス及びアルミ合金上に、第1の保護層
2として厚さ1000人のSiN膜、記録層3として厚
さ1000人のTb0.22(FeO,9C06,1)
0.78第2の保護層4として厚さ100OAのSiN
膜の順にスパッタリングにより、成膜することにより第
5図に示す光磁気記録媒体を形成した。成膜直後の記録
層のHcは、約10KOeであった。この光磁気記録媒
体5を第1図(a)。
2として厚さ1000人のSiN膜、記録層3として厚
さ1000人のTb0.22(FeO,9C06,1)
0.78第2の保護層4として厚さ100OAのSiN
膜の順にスパッタリングにより、成膜することにより第
5図に示す光磁気記録媒体を形成した。成膜直後の記録
層のHcは、約10KOeであった。この光磁気記録媒
体5を第1図(a)。
(b)に示す様に赤外線ヒータ8を有する。約200°
Cに昇温した赤外線加熱炉6もしくは対流オープン7中
に数分〜数十分保持後徐冷したところ、構造緩和により
Hcは、7KOeに低下していた。このサンプルに対し
て、806C90%で100時間以上加速試験したが、
これ以上のHeの低下は見られなかった。又、106回
以上の配録・消去に対しても、Heの低下は見られなか
った。
Cに昇温した赤外線加熱炉6もしくは対流オープン7中
に数分〜数十分保持後徐冷したところ、構造緩和により
Hcは、7KOeに低下していた。このサンプルに対し
て、806C90%で100時間以上加速試験したが、
これ以上のHeの低下は見られなかった。又、106回
以上の配録・消去に対しても、Heの低下は見られなか
った。
PMMA及びポリカーボネイト基板上にも、同様の膜を
、成膜後、加熱処理として第2図に示す様に、数ミリ秒
のパルス幅でキセノンランプ9によるフラッシュ露光を
施すことにより、ガラス及びアルミ合金上に形成した膜
と同様に、安定な配録膜を実現できた。
、成膜後、加熱処理として第2図に示す様に、数ミリ秒
のパルス幅でキセノンランプ9によるフラッシュ露光を
施すことにより、ガラス及びアルミ合金上に形成した膜
と同様に、安定な配録膜を実現できた。
PMMA、ポリカーボネイトなどの尉脂基板の場合、基
板の昇温をさけるため、ディスク状に形成した記録膜を
第3図に示す様に回転しながら連続光10を照射するこ
とによっても、同様の加熱処理が実現できた。この連続
光として記録層に集光したレーザスポット光11を、用
いることもできる。
板の昇温をさけるため、ディスク状に形成した記録膜を
第3図に示す様に回転しながら連続光10を照射するこ
とによっても、同様の加熱処理が実現できた。この連続
光として記録層に集光したレーザスポット光11を、用
いることもできる。
(発明の効果)
本発明によれば、成膜後に引き続き加熱処理を施こすこ
とにより、熱的に安定な非晶質磁性合金膜が実現でき、
その結果、信頼性の高い光磁気記録媒体を提供できる。
とにより、熱的に安定な非晶質磁性合金膜が実現でき、
その結果、信頼性の高い光磁気記録媒体を提供できる。
第1〜4図は本発明の詳細な説明するための図、第5図
は、媒体構成を示す図、第6.7図は、本発明の詳細な
説明するための図である。 図において、 1・・・基体、 2,4・−保護層、3・・・記録層、
5−・光磁気記録媒体、 60.、赤外線加熱炉、
7・・・対流オープン、 8・・・赤外線ヒータ
、9・・・キセノンランプ、 10・・・連続光光
源、11・・・レーザスポット光である。 −二で 代理人ブf理士 内1 晋3.:p /第1図 第2図 巴−二トア5 第3図 第4図 第5図 第6図 RT Tc T 第7図 RT Twm Tc T
は、媒体構成を示す図、第6.7図は、本発明の詳細な
説明するための図である。 図において、 1・・・基体、 2,4・−保護層、3・・・記録層、
5−・光磁気記録媒体、 60.、赤外線加熱炉、
7・・・対流オープン、 8・・・赤外線ヒータ
、9・・・キセノンランプ、 10・・・連続光光
源、11・・・レーザスポット光である。 −二で 代理人ブf理士 内1 晋3.:p /第1図 第2図 巴−二トア5 第3図 第4図 第5図 第6図 RT Tc T 第7図 RT Twm Tc T
Claims (5)
- (1)基板上に、希土類と遷移金属から成る非晶質磁性
合金膜を少なくとも記録層として有する様に成膜後、記
録層を、そのキュリー温度近傍で、加熱処理することを
特徴とする光磁気記録媒体の製造方法。 - (2)記録層の加熱処理に赤外線加熱炉もしくは、対流
オープンを用いる特許請求の範囲第一項に記載の光磁気
記録媒体の製造方法。 - (3)記録層の加熱処理に、数ミリ秒のパルス幅で、キ
セノンランプによるフラッシュ露光を用いる特許請求の
範囲第一項に記載の光磁気記録媒体の製造方法。 - (4)ディスク状に形成した光磁気記録媒体を、回転し
ながら連続光を照射することにより記録層の加熱処理を
行う特許請求の範囲第一項に記載の光磁気記録媒体の製
造方法。 - (5)記録層の加熱処理に、記録層に集光したレーザス
ポット光を、一つ以上用いることを特徴とする特許請求
の範囲第一項または第四項に記載の光磁気記録媒体の製
造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14173586A JPS62298046A (ja) | 1986-06-17 | 1986-06-17 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14173586A JPS62298046A (ja) | 1986-06-17 | 1986-06-17 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62298046A true JPS62298046A (ja) | 1987-12-25 |
Family
ID=15298987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14173586A Pending JPS62298046A (ja) | 1986-06-17 | 1986-06-17 | 光磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62298046A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5934618A (ja) * | 1982-08-20 | 1984-02-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気光学薄膜の製造法 |
| JPS6180637A (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-24 | Hitachi Ltd | 光磁気記録媒体の製造方法 |
| JPS61182652A (ja) * | 1985-02-08 | 1986-08-15 | Toshiba Corp | 光磁気記録媒体の製造方法 |
-
1986
- 1986-06-17 JP JP14173586A patent/JPS62298046A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5934618A (ja) * | 1982-08-20 | 1984-02-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気光学薄膜の製造法 |
| JPS6180637A (ja) * | 1984-09-28 | 1986-04-24 | Hitachi Ltd | 光磁気記録媒体の製造方法 |
| JPS61182652A (ja) * | 1985-02-08 | 1986-08-15 | Toshiba Corp | 光磁気記録媒体の製造方法 |
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