JPS6235699B2 - - Google Patents

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JPS6235699B2
JPS6235699B2 JP18200082A JP18200082A JPS6235699B2 JP S6235699 B2 JPS6235699 B2 JP S6235699B2 JP 18200082 A JP18200082 A JP 18200082A JP 18200082 A JP18200082 A JP 18200082A JP S6235699 B2 JPS6235699 B2 JP S6235699B2
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JP
Japan
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data
input
digital circuit
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Application number
JP18200082A
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English (en)
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JPS5971553A (ja
Inventor
Hironori Terada
Katsuhiko Asada
Hiroaki Nishikawa
Tosha Okamoto
Takeshi Tokura
Masahisa Shimizu
Kazuo Kamimura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC
Mitsubishi Electric Corp
Sanyo Denki Co Ltd
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC
Mitsubishi Electric Corp
Sanyo Denki Co Ltd
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC, Mitsubishi Electric Corp, Sanyo Denki Co Ltd, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Consejo Superior de Investigaciones Cientificas CSIC
Priority to JP57182000A priority Critical patent/JPS5971553A/ja
Publication of JPS5971553A publication Critical patent/JPS5971553A/ja
Publication of JPS6235699B2 publication Critical patent/JPS6235699B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing
    • G06F11/261Functional testing by simulating additional hardware, e.g. fault simulation

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はデイジタル回路シミユレーシヨン装
置に関し、特に、並列的にデータが入力されたこ
とに応じて動作する論理素子を含むようなデイジ
タル回路のシミユレーシヨン装置に関する。
最近では、超LSIによつて複雑なデイジタル回
路を集積化することにより、生産コストに対する
性能性が以前より比較的改善されてきている。デ
イジタル回路を超LSIによつて集積化すると、装
置の小形化およびコストの低下を図ることができ
るが、超LSI化するにあたつて欠点がないわけで
はない。すなわち、超LSIによつて回路集積度を
向上してもその技術変化への対応力には限度があ
り、開発設計から製造に至るまでに要する期間が
長くなり、また設計誤りを検出し訂正することが
非常に困難になつてきている。設計誤りが存在し
た場合、以前にも増して多大の経済的損失を伴う
ので、開発段階のできるだけ早い時期に設計の検
証を行なうことが望まれる。とりわけ、システム
の論理機能を初期段階で完全に検証することが重
要である。なぜならば、設計の後期段階で論理誤
りが見つかつた場合、相当量無駄な物理的再設計
を必要とするからである。
このような回路検証のために、従来より汎用コ
ンピユータを利用した回路シミユレーシヨン方法
がある。しかしながら、前述のごとく集積度が向
上して、システムに含まれる素子数が飛躍的に増
加すると、汎用コンピユータを利用した方法では
プログラミングおよび実行処理に限界が生じつつ
ある。すなわち、検証しようとするシステムが大
規模になるにしたがつて、検証に必要とするプロ
グラム量、記憶容量、計算時間が大幅に増大する
からである。これは、主として対象となる論理回
路の動作が並列的であり、同時に回路の各部の入
出力状態が変化するのに対して、汎用コンピユー
タにおいては並列的な動作をノイマン型の逐次的
な処理に展開しなくてはならないことに起因す
る。このような問題点を解消するために、並列処
理方式あるいはパイプライン方式によるハードウ
エア構成が提案され、これによつて実行処理時間
を短縮化することが可能である。けれども、プロ
グラミングの改善に対する配慮は従来からほとん
どなされていなかつた。
それゆえに、この発明の主たる目的は、並列的
に動作する論理素子をそのまま並列的にシミユレ
ーシヨンすることができ、しかも比較的簡単な構
成であつて安価なデイジタル回路シミユレーシヨ
ン装置を提供することである。
この発明は、要約すれば、デイジタル回路に含
まれる各素子に関するデータを各素子ごとに記憶
せしめると同時に、着目する世代より以前の世代
における履歴データを用いて次の世代のデータが
処理されるような履歴依存処理については或る着
目する世代前のデータを記憶しておき、各素子の
うち入力設定手段から入力データが設定されるか
あるいは入力データとともに履歴データが設定さ
れたことに応じて、そのデータの設定された素子
に関する演算を実行してシミユレーシヨンするよ
うに構成したものである。
この発明の上述の目的および他の目的と特徴は
以下に図面を参照して行なう詳細な説明から一層
明らかとなろう。
第1図はこの発明の一実施例の概略ブロツク図
であり、第2図は第1図に含まれる入出力サブシ
ステム1の概略ブロツク図であり、第3図は第1
図に示す実行制御ユニツト2の概略ブロツク図で
ある。
まず、第1図ないし第3図を参照してこの発明
の一実施例の概略の構成について説明する。この
発明の一実施例におけるシミユレーシヨン装置は
入出力サブシステム1と実行制御ユニツト2と機
能メモリ3とから構成される。そして、入出力サ
ブシステム1と実行制御ユニツト2と機能メモリ
3は共通バス4によつて接続される。
入出力サブシステム1は第2図に示すように、
シミユレーシヨンされるべきデイジタル回路の入
力数に対応した入力パケツト群11ないし13
と、アービタ14と、デイジタル回路の出力数に
対応した出力パケツト群15ないし17と、デイ
ストリビユータ18とを含む。アービタ14は入
力パケツト群11ないし13のいずれかからのパ
ケツトを選択して共通バス4に与えるものであ
る。また、デイストリビユータ18は共通バス4
から与えられた出力パケツトを出力パケツト群1
5ないし17のいずれかに設定するためのもので
ある。
実行制御ユニツト2は第3図に示すように、共
通バス4に接続されるデイストリビユータ21と
複数のテンプレート22ないし24と、アービタ
25と、ALU26とから構成される。デイスト
リビユータ21は共通バス4に接続され、入出力
サブシステム1あるいは機能メモリ3から与えら
れたデータをテンプレート22ないし24のいず
れかに設定したり、あるいはALU26で演算さ
れたデータを共通バス4に与えるためのものであ
る。テンプレート22ないし24は後述の第4図
で詳細に説明するが、シミユレーシヨンされるべ
きデイジタル回路に含まれる各素子に関するデー
タを記憶するものである。アービタ25はテンプ
レート22ないし24のいずれかから読出された
データをALU26に与えるものである。ALU2
6は基本的な素子を特徴付ける演算機能、すなわ
ちたとえばANDゲートであれば論理積演算機能
を有しており、素子特有の電気的特性たとえば伝
達遅延特性などを演算するものである。
機能メモリ3は後述の第5図で詳細に説明する
が、たとえばDタイプフリツプフロツプのよう
に、着目する世代以前、すなわち、クロツクパル
スが入力されるまでの或る単位時間前の状態のデ
ータを保持していて、次のクロツクパルスが入力
されたとき、保持していたデータを用いてその出
力状態が決定されるような履歴依存素子における
初期状態のデータを記憶するものである。
第4図は第3図に示すテンプレート22ないし
24に記憶されるデータを示す図であり、第5図
は機能メモリ3に記憶されるデータを示す図であ
り、第6A図ないし第6C図は伝送されるパケツ
トの内容を示す図であり、第7図はこの発明の一
実施例によつてシミユレーシヨンされるべきデイ
ジタル回路の一例を示す図である。
テンプレート22には第4図に示すように、た
とえば第7図に示すNANDゲート8に関するデー
タを記憶するためのエリアが設けられている。す
なわち、このテンプレート22にはNANDゲート
8が2入力NANDであることを表わすデータ、デ
レー量、出力数および出力先がORゲート10の
一方入力端であることを表わすデータがそれぞれ
予め記憶されている。また入力データの格納場所
としてデータ1、データ2のエリアが設けられて
いる。同様にして、テンプレート23にはORゲ
ート10に関する同種のデータが記憶され、テン
プレート24にはDタイプフリツプフロツプ9に
関する同種のデータが記憶されている。なお、テ
ンプレート24はDタイプフリツプフロツプ9の
動作に関するデータを記憶しているが、Dタイプ
フリツプフロツプ9の保持状態のデータは前述の
ごとく機能メモリ3に記憶されている。
すなわち、機能メモリ3は第5図に示すように
インターフエイス30と複数のフリツプフロツプ
に関するデータを記憶するためのエリア31ない
し33が設けられる。各エリアには要素名として
たとえばDタイプフリツプフロツプを表わすデー
タが、また世代内参照回路としてたとえばDタイ
プフリツプフロツプの出力結線数が予め書込まれ
ている。さらに、各エリアには世代番号、参照
数、データを1つのセツトとして記憶する欄が複
数設けられる。なお、第7図に示すシミユレーシ
ヨンされるべきデイジタル回路にはDタイプフリ
ツプフロツプが1つしか設けられていないので、
この実施例ではエリア31のみが用いられる。そ
して、初期状態においてエリア31には世代番号
として1、参照回数として世代内参照回数ここで
は1が設定されていて、データの項にはDタイプ
フリツプフロツプ9の初期状態における出力状態
が設定され、それ以外の項にはすべて0が書込ま
れている。
次に、第1図ないし第7図を参照してこの発明
の一実施例の具体的な動作について説明する。入
力1ないし2に対応するデータは入出力サブシス
テム1に与えられる。入出力サブシステム1で
は、入力1ないし2に対応するパケツトIN1な
いしIN2を作成し、それをアービタ14から共
通バス4を介して実行制御ユニツト2に与える。
実行制御ユニツト2では、パケツトIN1のデー
タを受取ると、そのデータをデイストリビユータ
21によつてテンプレート22のデータ1のエリ
アにセツトする。続いて、パケツトIN2のデー
タは同様にしてテンプレート22のデータ2のエ
リアと、テンプレート24のデータ1のエリアに
セツトされる。このようにして、テンプレート2
2に必要なデータがすべてセツトされると、テン
プレート22はアクテイブな状態になり、テンプ
レート22にセツトされたデータはアービタ25
を介してALU26に転送される。ALU26はテ
ンプレート22にセツトされているデータに基づ
いて必要とされる演算を実行する。すなわち、テ
ンプレート22はNANDゲート8に対応するもの
であるため、論理積演算を実行し、NANDゲート
8の出力に現われる論理およびデレー量を演算す
る。この演算結果はテンプレート22にセツトさ
れている出力先すなわちORゲート10に対応す
るテンプレート23のデータ1のエリアにセツト
される。
一方テンプレート24は、データ1のエリアは
セツトされたがステータスのエリアはまだセツト
されていない状態にある。このエリアにセツトさ
れるべきデータはDタイプフリツプフロツプの初
期状態のデータであり、機能メモリ3に記憶され
ている。テンプレート24をアクテイブにするた
めにはこのデータを機能メモリ3から読み取る作
業が必要であるが、この作業はテンプレート24
にデータ1が到着することがトリガーとなつて開
始される。すなわち、実行制御ユニツト2は第6
A図に示す読出要求パケツト5を機能メモリ3に
与える。この読出要求パケツト5には回路要素名
としてDタイプフリツプフロツプ、世代番号とし
て1および読出されたデータの行先としてテンプ
レート24がそれぞれ情報として含まれている。
機能メモリ3に含まれるインターフエイス30は
読出要求パケツト5を受取ると、その読出要求パ
ケツトに含まれる回路要素名に一致するエリア3
1からデータを読出す。すなわち、世代番号1に
一致するエリアからDタイプフリツプフロツプ9
の初期状態におけるデータを読出すとともに、デ
ータを1回読出したことを示すために参照回数を
1だけ減少させる。エリア31から読出されたデ
ータはインターフエイス30によつて第6B図に
示すようなパケツト6として構成され、このパケ
ツト6が共通バス4を介して実行制御ユニツト2
に転送される。実行制御ユニツト2では機能メモ
リ3から送られたパケツト6に基づいて、データ
行先がテンプレート24であることを判別して、
テンプレート24のステータスのエリアに読出デ
ータを書込む。
このようにして、テンプレート24はすべての
データがセツトされたことによりアクテイブとな
り、各データはアービタ25を介してALU26
に転送され、そこで必要とされる演算が行なわれ
る。この演算はDタイプフリツプフロツプ9の動
作を決定するための演算であつて、機能メモリ3
から与えられた初期状態におけるデータと、D入
力に対応するデータ1とに基づいて、Dタイプフ
リツプフロツプ9の出力状態が決定される。この
ようにして、演算されたDタイプフリツプフロツ
プ9の出力データはテンプレート23のデータ2
のエリアにセツトされる。さらに、実行制御ユニ
ツト2は演算したDタイプフリツプフロツプ9の
出力データを機能メモリ3に書込むための処理を
行なう。
すなわち、実行制御ユニツト2は第6C図に示
す書込要求パケツト7を作成する。この書込要求
パケツト7には、機能メモリ3のエリア31を指
定するために回路要素名としてDタイプフリツプ
フロツプ、世代番号として1ならびに演算したD
タイプフリツプフロツプ9の出力データが書込デ
ータとして含まれている。機能メモリ3のインタ
ーフエイス30は書込要求パケツト7を受取る
と、書込要求パケツト7に含まれている回路要素
名に一致するエリア31のうち参照回数が0の欄
を捜し、その欄の世代番号の項には入力パケツト
の世代番号より1だけ大きい数を、参照回数の項
には世代内参照回数を、データの項には書込デー
タを書込む。
他方、テンプレート23はデータ2のエリアに
Dタイプフリツプフロツプ9の出力データがセツ
トされたことによりアクテイブな状態になり、必
要な演算すなわちテンプレート23がORゲート
10に対応するものであるため、論理和演算を行
なう。そして、演算されたデータはデイストリビ
ユータ21から共通バス4を介して入出力サブシ
ステム1に含まれるパケツトOUT1に出力され
る。
続いて、入出力サブシステム1には、次のクロ
ツクパルスに対応する次の単位時間における入力
データが与えられ、上述の動作を繰返して各単位
時間におけるシミユレーシヨンが行なわれる。こ
の場合、機能メモリ3のエリア31のデータの項
には前述のごとく或る世代において動作したDタ
イプフリツプフロツプ9の出力データがセツトさ
れているので、次の世代において入力2が変化し
たデータが与えられれば、機能メモリ3からのデ
ータを読込むことにより、Dタイプフリツプフロ
ツプ9の出力データが演算される。
上述のごとく、シミユレーシヨンされるべきデ
イジタル回路に含まれる各素子に関するデータを
各素子ごとにテンプレートにセツトすることによ
つて実行プログラムを作成することができ、シミ
ユレーシヨンされるべきデイジタル回路と実行プ
ログラムとの整合性をとることができる。そし
て、各素子に対応する演算順序はテンプレートに
セツトされるデータのみによつて規定され、それ
以外の順序規定を不要にすることができる。ま
た、機能メモリ3に複数のフリツプフロツプのよ
うな履歴依存系素子に関するデータを記憶するた
めのエリアを個別的に設けたので、シミユレーシ
ヨンされるべきデイジタル回路に複数のフリツプ
フロツプが設けられていても、それぞれのフリツ
プフロツプについて実行制御ユニツト2から機能
メモリ3をアクセスすることが可能となる。
なお、或る世代の処理において、機能メモリ3
にセツトされた書込データに変化がなくかつその
次の世代の入力が直前の世代の入力と同じであれ
ば、その次の世代でDタイプフリツプフロツプ9
の出力は変化しない。したがつて、このような場
合には、入出力サブシステム1は入力パケツトの
転送を行なわずに、前の世代の出力パケツトのデ
ータをそのまま出力するようにすれば、演算の必
要のない世代をスキツプすることができ、処理効
率を高めることができる。また、実行制御ユニツ
ト2を複数設け、各世代ごとに各実行制御ユニツ
ト2を割当てるようにすれば、たとえ複雑なデイ
ジタル回路であつても、各実行制御ユニツト2が
演算を均等に分担することができる。その結果、
シミユレーシヨンされるべきデイジタル回路に含
まれる並列処理部分がたとえ多くても極めて高速
に処理することができる。
さらに、上述の実施例では、実行制御ユニツト
2内に複数のテンプレート22ないし24と
ALU26とを設けたが、ALU26を分離して演
算装置として複数設け、実行制御ユニツト2も複
数設けるようにしてもよい。そうすれば、複数の
並列回路を同時に処理できるため、高速なシミユ
レーシヨンを可能にできる。
以上のように、この発明によれば、デイジタル
回路に含まれる各素子に関するデータを記憶して
おくとともに、履歴依存素子については着目する
世代より以前の世代のデータを記憶しておき、各
素子について入力データが設定されるかあるいは
履歴依存素子に関して入力データとともに履歴デ
ータが設定されたことに応じてデータの設定され
た素子に関する演算を実行するようにしたので、
シミユレートされるべきデイジタル回路に対応す
る実行プログラムを作成することができる。そし
て、シミユレーシヨンの実行順序は各素子に関す
るデータがすべて設定されているか否かによつて
規定され、それ以外の順序規定を不要にすること
ができる。したがつて、並列性を有するデイジタ
ル回路のシミユレーシヨンを比較的簡単な構成で
実行することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例の概略ブロツク図
である。第2図は第1図に示す入出力サブシステ
ムの概略ブロツク図である。第3図は第1図に示
す実行制御ユニツトの概略ブロツク図である。第
4図は実行制御ユニツトに含まれるテンプレート
に記憶されるデータを示す図である。第5図は第
1図に示す機能メモリに記憶されるデータを示す
図である。第6A図ないし第6C図はパケツトを
示す図である。第7図はこの発明の一実施例によ
つてシミユレーシヨンされるべきデイジタル回路
の一例を示す図である。 図において、1は入出力サブシステム、11な
いし13は入力パケツト、14はアービタ、15
ないし17は出力パケツト、18はデイストリビ
ユータ、2は実行制御ユニツト、21はデイスト
リビユータ、22ないし24はテンプレート、2
5はアービタ、26はALU、3は機能メモリ、
8はNANDゲート、9はDタイプフリツプフロツ
プ、10はORゲートを示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 論理素子と、或る処理実行以前の世代におけ
    るデータを用いて次の世代のデータが処理される
    ような履歴依存素子とを含むデイジタル回路をシ
    ミユレートするデイジタル回路シミユレーシヨン
    装置であつて、 前記各素子に入力されるべき入力データを設定
    するための入力設定手段、 前記履歴依存素子の前記或る処理実行以前の世
    代の履歴データを記憶する履歴データ記憶手段、 前記各素子に関するデータを各論理素子ごとに
    記憶する複数の素子データ記憶手段、および 前記複数の素子データ記憶手段のいずれかに前
    記入力設定手段から入力データが設定されるかあ
    るいは前記入力データとともに前記履歴データ記
    憶手段からのデータが設定されたことに応じて、
    データの設定された素子に関する演算を実行する
    実行制御手段を備えた、デイジタル回路シミユレ
    ーシヨン装置。 2 前記実行制御手段は前記演算の実行によつて
    得られた結果のデータを当該素子の出力が接続さ
    れる素子に対応する素子データ記憶手段に設定す
    るための手段を含む、特許請求の範囲第1項記載
    のデイジタル回路シミユレーシヨン装置。 3 前記実行制御手段は、前記履歴依存素子の次
    の世代における演算の実行によつて得られた結果
    のデータを前記履歴データ記憶手段の前記或る実
    行世代前のデータに代えて記憶させる手段を含
    む、特許請求の範囲第1項記載のデイジタル回路
    シミユレーシヨン装置。
JP57182000A 1982-10-15 1982-10-15 デイジタル回路シミユレ−シヨン装置 Granted JPS5971553A (ja)

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JP57182000A JPS5971553A (ja) 1982-10-15 1982-10-15 デイジタル回路シミユレ−シヨン装置

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JPS5971553A JPS5971553A (ja) 1984-04-23
JPS6235699B2 true JPS6235699B2 (ja) 1987-08-03

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ID=16110566

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JP (1) JPS5971553A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02122893A (ja) * 1988-10-31 1990-05-10 Meidensha Corp 嫌気処理装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02122893A (ja) * 1988-10-31 1990-05-10 Meidensha Corp 嫌気処理装置

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JPS5971553A (ja) 1984-04-23

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