JPS6237898A - X線自動露出制御装置 - Google Patents

X線自動露出制御装置

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JPS6237898A
JPS6237898A JP17839185A JP17839185A JPS6237898A JP S6237898 A JPS6237898 A JP S6237898A JP 17839185 A JP17839185 A JP 17839185A JP 17839185 A JP17839185 A JP 17839185A JP S6237898 A JPS6237898 A JP S6237898A
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Fumio Murakami
村上 文男
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔゛技術分野〕 本発明は、X線自動露出制御装置に係り、特に、X線診
断における透視又は撮影時のX線条件を適正に制御する
のに好適なX線自動露出制御装置に関するものである。
〔背景技術〕
X線診断に用いられるX線自動露出制御装置は、古くか
ら工夫、改良が行われているが、被写体透過時の造影剤
とか骨とかの影響で適正なX線条件設定が難しぐ、特に
多用されている消化器診断においては、その改良の要求
が強い。その工夫の一つとして、特開昭57−8869
8号(特願昭55−166290号)公報に記載される
X線自動露出制御装置がある。
このようなX線自動露出制御装置では、種々の体格、体
質め人の透視又は撮影時に、適正なX線露出条件を得る
ため、管電圧をおよそ50KVからll0KVまで変化
させている。そして、X線自動露出の特性である被写体
厚特性及び管電圧特性による黒化度のばらつきを補正す
るために、X線照射野内の所定の位置のX線量を複数個
の検出器で検出し、それぞれの出力が露出不足、露出オ
ーバーの検出器の出力は、除外して補正する手段が請じ
られている。
しかしながら、消化器の診断において、診断目的から、
二重造影法、圧迫法など種々の透視撮影法がとられる場
合に;前記従来の各々の検出器の出力が露出不足又は露
出オーバーであるかを決める手段では、前記種々の透視
撮影法における条件を加味した方法を採用していないの
で、目的とする適正なX線条件を得るためには不十分で
あった。
〔発明の目的〕
本発明は、前記従来装置の問題点を改善するためになさ
れたものであり、その目的は、透視又は撮影が行われる
X線診断に用いるX線自動露出制御装置において、被写
体の体厚、造影剤、撮影法などの影響を低減し、常に適
正なX線条件を制御するX線自動露出制御装置を提供す
ることにある。
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述及び添付図面によって明らかになるであろ
う。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概
要を説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、X線照射野内の所定の位置のx、wtiを複
数個の検出器で検出し、これらの検出器全体の出力の平
均信号に比例した信号Aを発生し、透視又は撮影時の管
電圧に比例した信号Bを発生し。
これらの信号A及びBに基ずいて前記検出器の出力信号
の各々を独立して除外し、除外後残った検出器の出力信
号を平均化し、この平均化された信号によりX線条件を
適正に制御するようにしたことを特徴とするX線自動露
出制御装置である。
【発明の構成〕
、以下、本発明の構成について、実施例とともに説明す
る。
なお、実施例を説明するための全回↓こおいて、同一機
能を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明
は省略する。
第1図は、本発明をX線自動露出制御装置に適用した一
実施例の概略構成を示すブロック図である。
第1図において、1はX線管装置、2は被写体、3はX
線フィルムなどのX線映像の記録媒体、4はX線を光に
変換するイメージインテンシファイア(以下、1.1.
という。)、5はレンズ系、6は1.1.4の2次蛍光
面の像を分光するためのプリズム等の分光器、7はX線
テレビカメラ、8は集光レンズ、9はX線高電圧装置、
10はX線照射野内の診断目的に合致した位置に複数個
の検出器を配設した光−電気信号変換回路である。
この光−電気信号変換回路10の一つの検出器の具体的
な構成を第2v4に示す。
第2図において、IOAはシリコンフォトダイオードで
あり、集光レンズ8で集光された光に応じた光電流を出
力するが、その出力光電流は、非常に微弱な信号電流で
あるため、増幅器10B。
抵抗10Cにより1o1fl〜1012倍に増幅され、
出力端子10Dから出力されるようになっている9この
出力端子10Dは、各検出器ごとに次段の回路に接続さ
れている。
第1図に示すように、11は各々の検出器から出力され
た電気信号の停止・通過制御を行うためのゲート回路で
あり、第3図に示すように、入力端子群11A〜11G
に前記第2図に示す各々の検出器の出力端子10Dから
信号が入力される。
この入力された信号は、アナログスイッチIID〜II
Fを介して出力端子11V−11Xに出力されるように
なっている。アナログスイッチ11D〜11Fは、ラッ
チ回路11Yからの信号によって、そのオン・オフ(開
閉)が制御されるようになっている。これらのアナログ
スイッチllD〜IIFのうちオンした信号線の信号が
、出力端子群11V〜IIXから出力される。ラッチ回
路11Yは、例えば市販されている半導体集積回路(I
C)を用いる。前記ラッチ回路11Yは、ラッチ信号2
4によって、OR回路11Q〜IISの状態を保持する
ものである。
110〜IIMは比較器であり、比較器11G〜IIJ
は、オーバーレベル信号発生回路16からのオーバーレ
ベル信号(第8図に示すas、b重で作られる信号であ
り、入力端子11Tへ入力する)と各検出器の出力電圧
とを比較するためのものであり、オーバーレベルを越え
ている検出器の前記アナログスイッチをオフする信号を
出力する。
また、比較器11G−11Jは、アンダーレベル信号発
生回路16′からのアンダーレベル信号(第8図に示す
a2.b2で作られる信号であり、入力端子11Uへ入
力する)と各検出器の出力電圧とを比較するためのもの
である。そして、比較器11に〜IIMの出力には、イ
ンバータ回路lIN〜11Pが接続されており、アンダ
ーレベルより低い信号を出力している検出器のアナログ
スイッチがオフする信号を出力するようになっている。
12はゲート回路11を通過してきた信号の加算回路で
あり、13は検出器全体の信号の平均値を求める信号平
均化回路である。この信号平均化回路13は、第4図に
示すように、第2図に示すような各検出器の出力電圧■
1〜Vnを入力端子13A〜13Cで受け、抵抗群13
D〜13Fで加算するとともに、抵抗群13G〜13J
で割算して出力端子13Lから出力電圧V。を出力する
ようになっている。
ここで、抵抗群13D〜13Fと抵抗群13G〜13J
は、同一の抵抗値を有するものであり、増幅回路13に
は、増幅回路の原理から次の式(1)が成立する。
Vx+V2− ・ ・ ・ +V口 vo=□・・・ (1) なお、第1図において、加算回路12及び割算回路17
は、説明の都合士別々なブロックとしているが、信号平
均化回路13Lと同じ原理を利用したものである。
14.15はりジエクションレベル出力回路である。リ
ジェクションレベル出力回路14の具体的な構成は、第
5図に示すように、演算増幅器を用いた増幅回路からな
っており、入力端子14Aには、第4図に示す出力端子
13Lから出力電圧Voが入力され、この電圧が抵抗1
4B、14Eを適当に選択しておくことにより、必要な
電圧に増幅され、出力端子14Gに出力電圧a1を出力
するようになっている。抵抗14C,14Dは、目的に
合致したalなる電圧を得るため(第8図の直線a、な
る関係を持たせるため)に直線a。
を平行移動させる回路である。この定数の直線a1の傾
斜は、抵抗14B、14Eの値を適当にすることにより
、変化させることができる。
抵抗14H,14J、14L、演算増幅器14Mで前記
の回路と同様に構成することにより、直線a2の定数を
得るようになっている。
前記リジェクションレベル出力回路15も、第5図に示
す回路と同様な構成で実現することができ、入力端子1
4AにX線高電圧装置9からの管電圧に比例した信号を
入力し、各定数を直線b1゜b2が得られるように設定
すればよい。
前記オーバーレベル信号を発生するオーバーレベル信号
発生回路16の具体的な構成は、第6図に示すように、
入力端子16A、16Bにはそれぞれリジェクションレ
ベル出力回路14.15の出力電圧が入力されるため、
ダイオード16E。
16Fによって、電圧の大きい方の値が出力端子16G
から出力されるようになっている。
前記アンダーレベル信号発生回路16′も、オーバーレ
ベル信号発生回路16と同様な回路構成になっている。
第1図に示すように、17は平均値を得るための割算回
路で、出力電圧は透視時オン(閉路)する接点18と撮
影時オン(閉路)する接点19に接続されている。20
は透視時、X線テレビカメラ7への光量を適正にする透
視X線条件を決定する透視X線条件設定回路で、一般的
には透視管電圧を可変する制御を行う。21はフォトタ
イマのための積分回路、22は比較回路である。23は
被写体厚や管電圧補正を行うための信号である。
24は透視終了と同時に、その時のゲート回路の状態を
再び透視が開始するまで保持するラッチ信号である。
第7図に消化器に用いる場合の前記検出器配置の一例を
示す。25は1.1.の2次蛍光面、26はそこに映し
出された胃形、斜線部は造影剤が充盈している部分を示
している。27は消化器用に配列されたシリコンフォト
ダイオード群である。
次に、本実施例のX線自動制御装置の動作を簡単に説明
する。
第1図に示す装置においては、撮影に先だって必ず透視
が行なわれるものであり、X線テレビの適正な輝度を得
るための透視条件を決定するために光−電気信号変換回
路lOの検出器の出力信号が用いられる。
第7図に示す像の場合、各々の検出器の出力について露
出量の不足、過剰を判断する際に、固定的な基準値と比
較すると、造影剤の無い部分の検出器の出力が適正にな
る透視条件で、検出器■。
■の出力が露出不足で除外される場合と、造影剤の有る
検出器の出力が適正になる透視条件で検出器■〜■が露
出過剰で除外される場合の二つの状態で安定することが
起る。これでは目的を達成することができない。
第8図は、被写体厚又は管電圧−比較電圧及び信号電圧
特性を示す図であり、斜線を施した部分は、検出器の信
号が適正であると判断する領域である。
本実施例において、第7図に示す像を説明すると、この
場合造影剤の無い部分の検出器の数が多いため、信号平
均化回路13から出力される平均信号は高い値を示し、
それに従って検出器のりジェクションレベルも高くなる
。このような制御を行なえば造影剤の有る部分の検出器
の信号は除外され易くなり、検出器■、■の信号で安定
することは避けられる。
第9図は、圧迫法の場合の像と検出器の関係を示す図で
ある。この方法は、背部の限られた部分を圧迫しながら
診断するもので、はとんどの検出器が造影剤の有る部分
に位置される。この場合は第7図に示す場合より透視の
管電圧は高い値に設定されるため従来の装置では検出器
の、■が除外され診断したい部分のX線条件が適正にな
らなかった・ しかし、本実施例では、第8図に示すように、管電圧が
高くなるに従い、リジェクシ目ンレベルがbl、b2と
変化するため、造影剤の無い部分の検出器■が適正とな
り、造影剤の有る検出器■。
■、■、■、■の検出器は容易に除外されるようになる
。これにより被写体の体厚、造影剤、撮影法などの影響
を低減することができる。
以上本発明を実施例に基ずき具体的に説明したが、本発
明は、前記実施例に限定されるものではなく、その要旨
を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言
うまでもない。
例えば、前記実廠例は消化W診断で例示し、説明したが
この方法は、他のX線診断のX線自動露出にも応用でき
るものである。蓋た、検出器についてもI 、1.の2
次蛍光面を採光する方法を述べたが、フィルムの前面又
は後面にX線を光に変換する検出器を設ける方法モもよ
い。
〔効果〕
以上説明したように、本発明によれば、X線照射野内の
所定の位置のX線量を複数個の検出器で検出し、これら
の検出器全体の出力の平均信号に比例した信号Aを発生
し、透視又は撮影時の管電圧に比例した信号Bを発生し
、これらの信号A及びBに基ずいて設定された範囲外の
前記検出器の出力信号の各々を独立して除外し、除外後
残った検出器の出力信号を平均化し、この平均化された
信号によりX線条件を適正に制御するようにしたので、
診断したい部分のX線条件を適正に制御でき、被写体の
体厚、造影剤、撮影法などの影響を低減することができ
る。また、これによりX線診断の効率を向上することが
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明をX線自動露出制御装置に適用した一
実施例の概略構成を示すブロック図、−2図は、第1図
の光−電気信号変換回路の一つの検出器め具体的な構成
を示す回路図、第3図は、第1図のゲート回路の具体的
な構成を示す回路図、 第4図は、第1図の信号平均化回路の具体的な構成を示
す回路図、 第5図は、第1図のりジェクシゴンレベル出力回路の具
体的な構成を示す回路図、 第6図は、オーバーレベル信号を発生するオーバーレベ
ル信号発生回路の具体的な構成を示す回略図。 第7図は、充盈法における背形と配設した検出器の位置
関係を示す図、 第8図は、被写体厚又は管電圧−比較電圧及び信号電圧
特性を示す図、 第9図は、圧迫法の場合の像と検出器の関係を示す図で
ある。 図中、1・・・X線管装置、2・・・被写体、3・・・
記録媒体、4・・・1.1..5・・・レンズ系、6・
・・分光器、7・・・X線テレビカメラ、8・・・集光
レンズ、9・・・X線高電圧装置、10・・・光−電気
信号変換回路、11・・・ゲート回路、12・・・加算
回路、13・・・信号平均化回路、14.15・・・リ
ジェクションレベル出力回路、16・・・オーバーレベ
ル信号発生回路、16′・・・アンダーレベル信号発生
回路、17・・・割算回路、18・・・透視時オンする
接点、19・・・撮影時オンする接点、20・・・透視
X線条件設定回路、21・・・積分回路、22・・・比
較回路である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被写体を透過してきたX線の量を光に変換した信号で採
    光してX線条件を自動的に制御するようにしたX線自動
    露出制御装置において、X線照射野内の所定の位置のX
    線量を複数個の検出器で検出する手段と、これらの検出
    器全体の出力の平均信号に比例した信号Aを発生する手
    段と、透視又は撮影時の管電圧に比例した信号Bを発生
    する手段と、これらの信号A及びBに基ずいて設定され
    た範囲外の前記検出器の出力の各々を独立して除外する
    手段と、除外後残った検出器の出力信号を平均化する手
    段を具備したことを特徴とするX線自動露出制御装置。
JP60178391A 1985-08-12 1985-08-12 X線自動露出制御装置 Expired - Fee Related JPH0634399B2 (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5875800A (ja) * 1981-10-30 1983-05-07 Hitachi Medical Corp X線自動露出装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5875800A (ja) * 1981-10-30 1983-05-07 Hitachi Medical Corp X線自動露出装置

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