JPS6252431A - 上降伏点検出方法 - Google Patents
上降伏点検出方法Info
- Publication number
- JPS6252431A JPS6252431A JP19230285A JP19230285A JPS6252431A JP S6252431 A JPS6252431 A JP S6252431A JP 19230285 A JP19230285 A JP 19230285A JP 19230285 A JP19230285 A JP 19230285A JP S6252431 A JPS6252431 A JP S6252431A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- load
- yield point
- upper yield
- lpk
- point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ａ、産業上の利用分野
この発明は、材料試験における上降伏点を検出する方法
に関する。
に関する。
Ｂ、従来の技術とその問題点
被試験材料に対する荷重と伸びの関係を調べる材料試験
において、材料のもつ一特性である上降伏点（第２図参
照）を検出することが行なわれている。
において、材料のもつ一特性である上降伏点（第２図参
照）を検出することが行なわれている。
ところで、従来の材料試験機用データ装置では、荷重減
少感度設定値（ｄ）のみを基準に上降伏点を検出してい
た。すなわち、検出アルゴリズムとして、試験中のサン
プリング荷重がそれまで現われた最大荷重点の荷ｆＩ（
Ｌｐｋ）より設定荷重減少感度以上下がり、かつその後
再び荷重がそれまでの最大荷重値（Ｌｐｋ）より上昇し
た場合、このＬｐｋ点を上降伏点として求めていた。第
３図を用いて説明すると、サンプリング時刻１．におけ
る荷重のサンプリング値Ｌ・とし、ｔ・までの最大荷重
鎮Ｌｐｋとし・の差（Ｌｐｋ−Ｌ−）がＬｐｋ−Ｊ≧ｄ
（ｄは荷重減少感度設定値）を満足し、かつその後Ｌ・
＞ Ｌ ｐｋを満足した場合、＋＋ｎ Ｌｐｋ点を上降伏点として検出するようにしている。
少感度設定値（ｄ）のみを基準に上降伏点を検出してい
た。すなわち、検出アルゴリズムとして、試験中のサン
プリング荷重がそれまで現われた最大荷重点の荷ｆＩ（
Ｌｐｋ）より設定荷重減少感度以上下がり、かつその後
再び荷重がそれまでの最大荷重値（Ｌｐｋ）より上昇し
た場合、このＬｐｋ点を上降伏点として求めていた。第
３図を用いて説明すると、サンプリング時刻１．におけ
る荷重のサンプリング値Ｌ・とし、ｔ・までの最大荷重
鎮Ｌｐｋとし・の差（Ｌｐｋ−Ｌ−）がＬｐｋ−Ｊ≧ｄ
（ｄは荷重減少感度設定値）を満足し、かつその後Ｌ・
＞ Ｌ ｐｋを満足した場合、＋＋ｎ Ｌｐｋ点を上降伏点として検出するようにしている。
しかし、上述のような荷重減少感度のチェックのみによ
る検出方法では、外来ノイズまたは試験片つかみ具（チ
ャック）と試験片との間に生ずるチャックすべりに起因
する、試験中の瞬時の荷重減少を上降伏点として検出し
てしまう問題があった（第４図の点Ａ参照）。
る検出方法では、外来ノイズまたは試験片つかみ具（チ
ャック）と試験片との間に生ずるチャックすべりに起因
する、試験中の瞬時の荷重減少を上降伏点として検出し
てしまう問題があった（第４図の点Ａ参照）。
Ｃ０問題点を解決するための手段
この発明は、上記のような問題を克服するためになされ
たものであって、上降伏点を検出する場合において、試
験中のノイズおよびチャックすべり等に起因する誤検出
を防止できるような上降伏点検出方法を提供することを
目的とする。
たものであって、上降伏点を検出する場合において、試
験中のノイズおよびチャックすべり等に起因する誤検出
を防止できるような上降伏点検出方法を提供することを
目的とする。
上記の目的を達成するため、この発明にかかる上降伏点
検出方法は、被試験材料に対する荷重が予め定める荷重
減少感度以上下がった後、再び荷重がそれまでの最大荷
重値（Ｌｐｋ）を越えるまでの時間を測定し、この測定
の結果酸る決められた設定時間経過後に荷重が前記最大
荷重値を越えたときのみ前記Ｌｐｋ点を上時伏点として
検出するようにしたものである。
検出方法は、被試験材料に対する荷重が予め定める荷重
減少感度以上下がった後、再び荷重がそれまでの最大荷
重値（Ｌｐｋ）を越えるまでの時間を測定し、この測定
の結果酸る決められた設定時間経過後に荷重が前記最大
荷重値を越えたときのみ前記Ｌｐｋ点を上時伏点として
検出するようにしたものである。
Ｄ、実施例
第５図はこの発明の一実施例の概略構成を示す図である
。図において、材料試験機１は、２本のねじざお２およ
び３が台座４内に設けられたモータ（図示せず）によっ
て回転され、このねじざお２および３に螺合するクロス
ヘッド５が上下動する構成となっている。ねじざお２お
よび３の上端は、固定枠６によって回転自在に支持され
ている。
。図において、材料試験機１は、２本のねじざお２およ
び３が台座４内に設けられたモータ（図示せず）によっ
て回転され、このねじざお２および３に螺合するクロス
ヘッド５が上下動する構成となっている。ねじざお２お
よび３の上端は、固定枠６によって回転自在に支持され
ている。
クロスヘッド５および固定枠６には、それぞれチャック
７および８が設けられ、これらチャック７および８によ
って試験片９が把持される。
７および８が設けられ、これらチャック７および８によ
って試験片９が把持される。
したがって、ねじざお２および３の回転によってクロス
ヘッド５が上下動すると、試験片９に圧縮力または引張
り力が与えられる。材料試験は、試験片９に加えられる
引張り力と伸び（又は圧縮力と縮み）の関係を調べるも
のである。
ヘッド５が上下動すると、試験片９に圧縮力または引張
り力が与えられる。材料試験は、試験片９に加えられる
引張り力と伸び（又は圧縮力と縮み）の関係を調べるも
のである。
固定枠６には、チャック８と関連して荷重センサ１０が
設けられる。この荷重センサ１０は、試験片９に加えら
れる荷重を検出するためのものである。又、固定枠６に
は、ねじざお３と関連してロータリエンコーダ１１が設
けられる。このロータリエンコーダ１１は、ねじざお３
の回転量を検出することにより、クロスヘッド５の移動
量かつしたがって試験片９の伸び（又は縮み）を検出す
るだめのものである。
設けられる。この荷重センサ１０は、試験片９に加えら
れる荷重を検出するためのものである。又、固定枠６に
は、ねじざお３と関連してロータリエンコーダ１１が設
けられる。このロータリエンコーダ１１は、ねじざお３
の回転量を検出することにより、クロスヘッド５の移動
量かつしたがって試験片９の伸び（又は縮み）を検出す
るだめのものである。
上記荷重センサ１０の出力は、荷重アンプ１２に与えら
れて増幅された侵、Ａ／Ｄ変換器１３に与えられてディ
ジタル信号に変換される。Ａ／Ｄ変換器１３の出力は、
ＣＰＵ１４に与えられる。
れて増幅された侵、Ａ／Ｄ変換器１３に与えられてディ
ジタル信号に変換される。Ａ／Ｄ変換器１３の出力は、
ＣＰＵ１４に与えられる。
一方、上記ロータリエンコーダ１１の出力はクロスヘッ
ド移動量パルスカウンタ１７に与えられてその出力パル
ス数が計数される。クロスヘッド移ｌｌｆｆ１パルスカ
ウンタ１７の出力はＣＰＵ１４に与えられる。
ド移動量パルスカウンタ１７に与えられてその出力パル
ス数が計数される。クロスヘッド移ｌｌｆｆ１パルスカ
ウンタ１７の出力はＣＰＵ１４に与えられる。
ＣＰＵ１４には、ＲＯＭ１５およびＲＡＭ１６が接続さ
れる。ＲＯＭ１５には、第１図に示すようなｃｐｕ １
４の動作プログラムが格納されている。ＲＡＭ１６はＣ
ＰＵ１４のデータ処理に必要な種々のデータを記憶する
ためのものであるが、この発明に特に興味ある記憶領域
として、時間カウンタＴｃおよび荷重ダウンフラグＤＦ
を含む。
れる。ＲＯＭ１５には、第１図に示すようなｃｐｕ １
４の動作プログラムが格納されている。ＲＡＭ１６はＣ
ＰＵ１４のデータ処理に必要な種々のデータを記憶する
ためのものであるが、この発明に特に興味ある記憶領域
として、時間カウンタＴｃおよび荷重ダウンフラグＤＦ
を含む。
第１図は第５図に示すＣＰＵ１４の動作を説明するため
のフローチャートである。第６図は上記実施例における
上降伏点検出原理を説明するためのグラフであり、試験
片９に与えられる荷重とサンプリングタイミングとの関
係を示している。
のフローチャートである。第６図は上記実施例における
上降伏点検出原理を説明するためのグラフであり、試験
片９に与えられる荷重とサンプリングタイミングとの関
係を示している。
まず、第６図を参照して、この実施例における上降伏点
検出原理を説明する。荷重が、それまでの最大荷重値Ｌ
ｐｋから設定荷重減少感度ｄ以上下がった時刻から再
度荷重がＬｐｋを越えるまでの最小時間設定値をａＸΔ
ｔとする。（ここでａは整数、Δｔはサンプリング周期
であり、この実施例ではたとえばａ−４，Δｔ＝５Ｑｍ
ｓである。）こ゛の実施例では、従来の荷重減少感度ｄ
のチェックに加えて、時間ａ・Δｔの判定を行い上降伏
点の検出を行なう。すなわち、サンプリング時刻ｔｉに
おける荷重り、が、それまでの最大筒ｆｆｉ［Ｌｐｋと
比較して、 Ｌｐｋ−ＬＨ≧ｄ（ｄ：荷重減少感度）を満足したとす
ると、その後の時刻１．＋。における荷重Ｌ・ を１ｐ
ｌｔと比較する。もし、Ｌ、＋。〉＋＋ｎ Ｌｐｋとなったとすれば、さらに時間のチェックを行な
う。
検出原理を説明する。荷重が、それまでの最大荷重値Ｌ
ｐｋから設定荷重減少感度ｄ以上下がった時刻から再
度荷重がＬｐｋを越えるまでの最小時間設定値をａＸΔ
ｔとする。（ここでａは整数、Δｔはサンプリング周期
であり、この実施例ではたとえばａ−４，Δｔ＝５Ｑｍ
ｓである。）こ゛の実施例では、従来の荷重減少感度ｄ
のチェックに加えて、時間ａ・Δｔの判定を行い上降伏
点の検出を行なう。すなわち、サンプリング時刻ｔｉに
おける荷重り、が、それまでの最大筒ｆｆｉ［Ｌｐｋと
比較して、 Ｌｐｋ−ＬＨ≧ｄ（ｄ：荷重減少感度）を満足したとす
ると、その後の時刻１．＋。における荷重Ｌ・ を１ｐ
ｌｔと比較する。もし、Ｌ、＋。〉＋＋ｎ Ｌｐｋとなったとすれば、さらに時間のチェックを行な
う。
１、 −１．≧ａ・Δｔ
１＋０ １
すなわ“ちｎ≧ａ＠満足すればｌｐｋ点を上降伏点とし
て求める。もし、ｎ＜ａであればＬｐｋ点は上降伏点と
せず、新たにＬ ｉ＋ｎ点を最大荷重値におきかえて以
降の検出を続ける。
て求める。もし、ｎ＜ａであればＬｐｋ点は上降伏点と
せず、新たにＬ ｉ＋ｎ点を最大荷重値におきかえて以
降の検出を続ける。
次に、第１図を参照して上記実施例のさらに具体的な動
作を説明する。まず、ステップＳ１において任意の時刻
ｔｋにおける荷重１ｋをサンプリングする。そして、ス
テップＳ２でそれまでの最大荷重値Ｌｐｋを検出する。
作を説明する。まず、ステップＳ１において任意の時刻
ｔｋにおける荷重１ｋをサンプリングする。そして、ス
テップＳ２でそれまでの最大荷重値Ｌｐｋを検出する。
最大荷重値Ｌｌ）ｋが検出されると、ステップＳ３に進
み荷重ダウンフラグＯＦがセットされているか否かが判
断される。当初は、荷重ダウンフラグＤＦはリセットさ
れているため、ステップＳ４に進み、最大荷重値Ｌｐｋ
からの荷重の減少値が設定荷重減少感度ｄ以上下がった
か否かが判断される。荷重の減少値が設定荷重減少感度
ｄまで下がっていない場合はステップＳ１の動作に戻る
が、設定荷重減少＠度ｄ以上下がった場合はステップＳ
５で荷重ダウンフラグＤＦがセットされる。そして、ス
テップＳ６に進み、時間カウンタＴｃがクリアされる。
み荷重ダウンフラグＯＦがセットされているか否かが判
断される。当初は、荷重ダウンフラグＤＦはリセットさ
れているため、ステップＳ４に進み、最大荷重値Ｌｐｋ
からの荷重の減少値が設定荷重減少感度ｄ以上下がった
か否かが判断される。荷重の減少値が設定荷重減少感度
ｄまで下がっていない場合はステップＳ１の動作に戻る
が、設定荷重減少＠度ｄ以上下がった場合はステップＳ
５で荷重ダウンフラグＤＦがセットされる。そして、ス
テップＳ６に進み、時間カウンタＴｃがクリアされる。
その後、ステップＳ１の動作に戻る。
ステップ８１．３２の動作の後、ステップＳ３で荷重ダ
ウンフラグＤＦのセットが判断され、ステップＳ７に進
む。ステップＳ７では、時間カウンタＴＣがインクリメ
ントされ計時動作が開始される。続いて、ステップＳ８
に進み、今回サンプリングされた荷！！［Ｌｋがそれま
での最大荷重値１１）ｋを越えたか否かが判断される。
ウンフラグＤＦのセットが判断され、ステップＳ７に進
む。ステップＳ７では、時間カウンタＴＣがインクリメ
ントされ計時動作が開始される。続いて、ステップＳ８
に進み、今回サンプリングされた荷！！［Ｌｋがそれま
での最大荷重値１１）ｋを越えたか否かが判断される。
荷重値しｋが最大荷重値Ｌ ｐｋを越えていない場合は
、再びステップＳ１に戻り、新たな荷重値がサンプリン
グされる。以後、ステップＳ１〜８３．Ｓ７．８８の一
連の動作が繰返して行なわれ、荷重値Ｌｋが最大荷重値
Ｌｉｃｋを越えると、ステップＳ９に進み、タイムカウ
ンタＴｃの値が予め設定された値ａよりも大きいか否か
が判断される。すなわち、最大荷重値Ｌｐｋから設定向
Ｍ減少感度ｄ以上下がった時点１．から再び最大筒用値
以上に上昇する時点ｔ・ までの間の時間幅ｔ・ −１
，が予め定めＩｎｎ
ｍｌられた時間幅ａ・Δｔ（Δｔサンプリン
グ周ＩＱ）よりも大きいか否かが判断される。前記時間
幅ｔｉｎｎ ”ｉＳ時間幅ａ・Δｔよりも小さい場合
は、ステップＳ１０で荷重ダウンフラグＤＦがリセッｌ
〜された後、ステップＳ１の動作に戻る。すなわち、こ
の場合は前記最大荷重値Ｌ ｐｋを上降伏点とはみなさ
ない。一方、時間幅１． −１．が時間１＋ｎ
１ 幅ａ・Δｔよりも大きい場合は、ステップ８１１に進み
、Ｌｐｋ点を降伏点ＹｐとしてＲＡＭ１６に格納する。
、再びステップＳ１に戻り、新たな荷重値がサンプリン
グされる。以後、ステップＳ１〜８３．Ｓ７．８８の一
連の動作が繰返して行なわれ、荷重値Ｌｋが最大荷重値
Ｌｉｃｋを越えると、ステップＳ９に進み、タイムカウ
ンタＴｃの値が予め設定された値ａよりも大きいか否か
が判断される。すなわち、最大荷重値Ｌｐｋから設定向
Ｍ減少感度ｄ以上下がった時点１．から再び最大筒用値
以上に上昇する時点ｔ・ までの間の時間幅ｔ・ −１
，が予め定めＩｎｎ
ｍｌられた時間幅ａ・Δｔ（Δｔサンプリン
グ周ＩＱ）よりも大きいか否かが判断される。前記時間
幅ｔｉｎｎ ”ｉＳ時間幅ａ・Δｔよりも小さい場合
は、ステップＳ１０で荷重ダウンフラグＤＦがリセッｌ
〜された後、ステップＳ１の動作に戻る。すなわち、こ
の場合は前記最大荷重値Ｌ ｐｋを上降伏点とはみなさ
ない。一方、時間幅１． −１．が時間１＋ｎ
１ 幅ａ・Δｔよりも大きい場合は、ステップ８１１に進み
、Ｌｐｋ点を降伏点ＹｐとしてＲＡＭ１６に格納する。
Ｅ０発明の詳細
な説明したように、この発明によれば、上降伏点後荷重
は比較的ゆるやかに下がりその後上界することに着目し
、時間幅の判定を上降伏点検出アルゴリズムに加えるよ
うにしたので、ノイズやチャックすべり等の影響を排除
でき正確な上降伏点のリアルタイム検出が可能となる。
は比較的ゆるやかに下がりその後上界することに着目し
、時間幅の判定を上降伏点検出アルゴリズムに加えるよ
うにしたので、ノイズやチャックすべり等の影響を排除
でき正確な上降伏点のリアルタイム検出が可能となる。
第１図は第５図に示すＣＰＵ１４の動作を説明するため
のフローチャートである。第２図は材料試験における荷
重−伸び曲線を示す図である。第３図は従来の上降伏点
検出アルゴリズムを説明するための図である。第４図は
従来の上降伏点検出方法の問題点を説明するための図で
ある。第５図はこの発明の一実施例の概略構成を示す図
である。 第６図はこの発明の一実施例の上降伏点検出原理を説明
するための図であり、試験片９に与えられる荷重とサン
プリングタイミングとの関係を示している。 １・・・材料試験機 ５・・・クロスヘッド ９・・・試験片 １０・・・荷重センサ １１・・・ロータリエンコーダ １４・・・ＣＰｔＪ １５・・・ＲＯＭ １６・・・ＲＡＭ ＴＣ・・・時間カウンタ ＤＦ・・・荷重ダウンフラグ
のフローチャートである。第２図は材料試験における荷
重−伸び曲線を示す図である。第３図は従来の上降伏点
検出アルゴリズムを説明するための図である。第４図は
従来の上降伏点検出方法の問題点を説明するための図で
ある。第５図はこの発明の一実施例の概略構成を示す図
である。 第６図はこの発明の一実施例の上降伏点検出原理を説明
するための図であり、試験片９に与えられる荷重とサン
プリングタイミングとの関係を示している。 １・・・材料試験機 ５・・・クロスヘッド ９・・・試験片 １０・・・荷重センサ １１・・・ロータリエンコーダ １４・・・ＣＰｔＪ １５・・・ＲＯＭ １６・・・ＲＡＭ ＴＣ・・・時間カウンタ ＤＦ・・・荷重ダウンフラグ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被試験材料に対する荷重と伸びの関係を調べる材料試験
において、当該被試験材料の上降伏点を求める方法であ
って、 荷重が予め定める荷重減少感度以上下がった後荷重が再
度それまでの最大荷重値（Ｌｐｋ）を越えるまでの時間
を測定し、この測定の結果或る決められた設定時間経過
後に荷重が前記最大荷重値を越えたときのみ前記Ｌｐｋ
点を上降伏点として検出することを特徴とする、上降伏
点検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60192302A JPH0695061B2 (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | 上降伏点検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60192302A JPH0695061B2 (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | 上降伏点検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6252431A true JPS6252431A (ja) | 1987-03-07 |
| JPH0695061B2 JPH0695061B2 (ja) | 1994-11-24 |
Family
ID=16289012
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60192302A Expired - Fee Related JPH0695061B2 (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | 上降伏点検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0695061B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5416758A (en) * | 1978-03-20 | 1979-02-07 | Toshiba Corp | Heat pump system air conditioner |
-
1985
- 1985-08-30 JP JP60192302A patent/JPH0695061B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5416758A (en) * | 1978-03-20 | 1979-02-07 | Toshiba Corp | Heat pump system air conditioner |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0695061B2 (ja) | 1994-11-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS61145457A (ja) | クロマトグラフ用データ処理方法 | |
| JPS6252431A (ja) | 上降伏点検出方法 | |
| JPH09250971A (ja) | 異常検査方法及びその装置 | |
| JP2744606B2 (ja) | 材料試験機における破断点検出方法 | |
| JPH0629719Y2 (ja) | 材料試験機の停止装置 | |
| JP2741723B2 (ja) | 材料試験機の荷重測定装置 | |
| JPH10325787A (ja) | 材料試験機 | |
| JPH0676957B2 (ja) | 材料試験機 | |
| JPS5817405B2 (ja) | 信号測定装置 | |
| JPH0145014B2 (ja) | ||
| JPS6382340A (ja) | 材料試験機 | |
| JPH0568648B2 (ja) | ||
| JPH0783781A (ja) | トルクレンチのトルク値チェック方法 | |
| JPH0697202B2 (ja) | 材料の引張試験方法 | |
| JPS6486080A (en) | Method and apparatus for diagnosing abnormality of current detector | |
| JPS6236164B2 (ja) | ||
| JPS6183936A (ja) | 降伏伸び検出装置 | |
| JPS62195535A (ja) | 降伏点伸び測定方法 | |
| SU1370538A1 (ru) | Способ измерени параметров трещин в ферромагнитных объекта при усталостных испытани х | |
| JPH039138Y2 (ja) | ||
| JPH03144342A (ja) | 材料試験機 | |
| JPH0820345B2 (ja) | 供試体の破断点検出方法 | |
| JPH0224520A (ja) | Ａｅ計測装置 | |
| JPS5767839A (en) | Detector for generation of low cycle fatigue crack | |
| JPS5918648B2 (ja) | 材料のくり返し試験におけるエネルギ−計測装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |