JPS6254145A - 穀粒水分測定装置 - Google Patents
穀粒水分測定装置Info
- Publication number
- JPS6254145A JPS6254145A JP60194254A JP19425485A JPS6254145A JP S6254145 A JPS6254145 A JP S6254145A JP 60194254 A JP60194254 A JP 60194254A JP 19425485 A JP19425485 A JP 19425485A JP S6254145 A JPS6254145 A JP S6254145A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grain
- moisture
- grains
- measuring device
- converted
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、籾や麦等の穀粒の水分を測定する穀粒水分
測定装置に関する。
測定装置に関する。
(従来の技術)
穀粒を粉砕して水分を測定する構成である。
(この発明が解決しようとする問題点)然し乍ら、乾燥
作業を進めるにつれて、穀温も高くなシ穀温か変化する
。従って、穀温を考慮して補正しなければ、精度の高い
水分値を得ることが出来ない。この穀温測定と水分測定
作業とのタイミングが太きくずれていると、この水分測
定作業、即ち、粉砕時には穀温か変化することがあるの
で、精度の高い水分値を得ることが出来ない場合がある
。
作業を進めるにつれて、穀温も高くなシ穀温か変化する
。従って、穀温を考慮して補正しなければ、精度の高い
水分値を得ることが出来ない。この穀温測定と水分測定
作業とのタイミングが太きくずれていると、この水分測
定作業、即ち、粉砕時には穀温か変化することがあるの
で、精度の高い水分値を得ることが出来ない場合がある
。
(問題を解決するための手段)
この発明は、測定水分値の精度の向上を図ろうとするも
のであって、つぎのような技術的手段を講じた□ 即ち、粉砕装置(1)で穀粒を一粒ごと粉砕して穀粒水
分を測定するべく構成した穀粒水分測定装置において、
該粉砕装置(1)の近傍に、水分測定と略同期して穀温
を測定することが出来る穀温測定装置(2)ヲ設けてな
る穀粒水分測定装置の構成とする・(作用) 供給されたサンプル粒は、粉砕装置(1)で−粒づつ粉
砕されて得られた抵抗値から水分値に換算される。そし
て、該水分測定と略同期して粉砕装置(1)の近傍に設
けた穀温測定装置(2)が前記粉砕される穀粒の穀温を
測定する。
のであって、つぎのような技術的手段を講じた□ 即ち、粉砕装置(1)で穀粒を一粒ごと粉砕して穀粒水
分を測定するべく構成した穀粒水分測定装置において、
該粉砕装置(1)の近傍に、水分測定と略同期して穀温
を測定することが出来る穀温測定装置(2)ヲ設けてな
る穀粒水分測定装置の構成とする・(作用) 供給されたサンプル粒は、粉砕装置(1)で−粒づつ粉
砕されて得られた抵抗値から水分値に換算される。そし
て、該水分測定と略同期して粉砕装置(1)の近傍に設
けた穀温測定装置(2)が前記粉砕される穀粒の穀温を
測定する。
(効果)
−粒づつ直接測定するので、精度の高い測定値を得るこ
とが出来る。その上、両測定動作を略同期して行なうの
で、前記精度を一層向上出来る。
とが出来る。その上、両測定動作を略同期して行なうの
で、前記精度を一層向上出来る。
(実施例)
以下、この発明の一実施例を図面に基づいて具体的に説
明する・ まず、その構成について説明すると、穀粒乾燥機(3)
の上部には貯粒室(4)が設けられていると共に。
明する・ まず、その構成について説明すると、穀粒乾燥機(3)
の上部には貯粒室(4)が設けられていると共に。
その下部には前後に細長い左右一対の乾燥室(5)が連
通連設され、且つ各乾燥室(5)の下端には一定の低速
度で回転駆動される繰出しパルプ(6)が架設されてい
て、乾燥室(5)の穀粒が少量づつ下部の回収室(7)
に送シ出されるようになっている。両乾燥室(5)の左
右側壁は夫々網又は多孔板で構成されて艷て、バーナ(
8)とファン(9)からなる乾燥風によって均一に穀粒
を乾燥するように構成している。又、前記回収室(7)
の下部にはスクリュウコンベアαOが前後に向けて架設
されていて、乾燥処理を受けた穀粒を一旦後方に移送し
たのち、揚穀装置αυで上方に揚上し、その後に上部搬
送装置■で貯粒室(4)の上部中央に送9、拡散体α3
全介して拡散供給するべく構成している。
通連設され、且つ各乾燥室(5)の下端には一定の低速
度で回転駆動される繰出しパルプ(6)が架設されてい
て、乾燥室(5)の穀粒が少量づつ下部の回収室(7)
に送シ出されるようになっている。両乾燥室(5)の左
右側壁は夫々網又は多孔板で構成されて艷て、バーナ(
8)とファン(9)からなる乾燥風によって均一に穀粒
を乾燥するように構成している。又、前記回収室(7)
の下部にはスクリュウコンベアαOが前後に向けて架設
されていて、乾燥処理を受けた穀粒を一旦後方に移送し
たのち、揚穀装置αυで上方に揚上し、その後に上部搬
送装置■で貯粒室(4)の上部中央に送9、拡散体α3
全介して拡散供給するべく構成している。
穀粒水分測定装置α舶は、前記揚穀装置αυの揚穀ケー
スの外壁に着脱自在に取付けておシ、揚穀時に揚穀ケー
ス内に落下する穀粒をケース外に取り出すサンプル粒取
出部α9とサンプル粒を粉砕する測定部αel備えてい
る。そして、該測定部αGは。
スの外壁に着脱自在に取付けておシ、揚穀時に揚穀ケー
ス内に落下する穀粒をケース外に取り出すサンプル粒取
出部α9とサンプル粒を粉砕する測定部αel備えてい
る。そして、該測定部αGは。
外周面にラセン状の溝部(図示せず)を有する搬送体α
りとこの搬送体Ohの外面に沿わせた案内板(至)から
なり、サンプル粒を一粒づつ搬送することが出来る搬送
装置α9と、該搬送装置α9の搬送終端下方位置に矢印
方向に回転可能に架設した一対の粉砕装置(ローラ電極
)(1)を備えている。
りとこの搬送体Ohの外面に沿わせた案内板(至)から
なり、サンプル粒を一粒づつ搬送することが出来る搬送
装置α9と、該搬送装置α9の搬送終端下方位置に矢印
方向に回転可能に架設した一対の粉砕装置(ローラ電極
)(1)を備えている。
なお、該ローラ電極(1)は減速機溝(図示せず)を介
して電動モータ(イ)の駆動力を受は回転するべく構成
している。
して電動モータ(イ)の駆動力を受は回転するべく構成
している。
穀温測定装置(2)は、平面視において前記ローラ電極
(1)間の略中央位置で、且つ正面視において両ローラ
電極(1)の略最近接位置に設けておシ、放射形温度セ
ンサ(赤外線センサ、例えば、サーモノ(イル)等のよ
うな非接触型を用いているが、サーミスタのような接触
型でもよい。なお、このセンナは機枠に着脱自在に設け
て、ローラ電極(1)側にスリットにυを有するセンサ
ボックス(イ)に内装している。
(1)間の略中央位置で、且つ正面視において両ローラ
電極(1)の略最近接位置に設けておシ、放射形温度セ
ンサ(赤外線センサ、例えば、サーモノ(イル)等のよ
うな非接触型を用いているが、サーミスタのような接触
型でもよい。なお、このセンナは機枠に着脱自在に設け
て、ローラ電極(1)側にスリットにυを有するセンサ
ボックス(イ)に内装している。
第7図のブロック回路を説明すると、翰は制御プログラ
ムや必要データ等を格納するメモリ(図示せず)t−備
えたマイクロコンピュータの演!制御部(以下、CPU
とする)であって、算術論理演算及び比較演算を行なう
。そして、該CPU(ハ)に入力される情報としては、
R/V変換器(ハ)で変換された水分電圧のアナログ量
をデジタル量に変換するA/D変換器(至)から出力さ
れる水分情報と。
ムや必要データ等を格納するメモリ(図示せず)t−備
えたマイクロコンピュータの演!制御部(以下、CPU
とする)であって、算術論理演算及び比較演算を行なう
。そして、該CPU(ハ)に入力される情報としては、
R/V変換器(ハ)で変換された水分電圧のアナログ量
をデジタル量に変換するA/D変換器(至)から出力さ
れる水分情報と。
前記穀温測定装置(2)から出力されるアナログ量をデ
ジタル量に変換するA/D変換器翰から出力される穀温
情報とがある。また、CPtJ@から出力される信号と
しては、前記電動モーター全正転(ローラ電極(1)全
矢印方向に回転させる方向)させる正転回路−及び逆転
させる逆転回路(ハ)への駆動指令信号がある。さらに
、このCPUI211からは。
ジタル量に変換するA/D変換器翰から出力される穀温
情報とがある。また、CPtJ@から出力される信号と
しては、前記電動モーター全正転(ローラ電極(1)全
矢印方向に回転させる方向)させる正転回路−及び逆転
させる逆転回路(ハ)への駆動指令信号がある。さらに
、このCPUI211からは。
前記穀温測定装置(2)全作動させる測定装置駆動指令
信号がある。CPUe23はつぎの機能を有する。
信号がある。CPUe23はつぎの機能を有する。
即ち、■所定時間置きに正転回路(5)へ駆動指令信号
を出力する、■測定データが所定数得られたとき、逆転
回路(至)に駆動指令信号を出力し、所定時間経過後出
力を停止する。■A/DA/D変換器圧力されたデジタ
ル量を取込んで、水分値に換算する。■■と略同期して
穀温測定装置(2)へ駆動指令信号全出力する。そl−
で、測定データが所定数得られたとき、出力全停止する
・■A/DA/D変換器量力されたデジタル量を取込ん
で、穀温に換算する。■穀温から水分値全補正する。
を出力する、■測定データが所定数得られたとき、逆転
回路(至)に駆動指令信号を出力し、所定時間経過後出
力を停止する。■A/DA/D変換器圧力されたデジタ
ル量を取込んで、水分値に換算する。■■と略同期して
穀温測定装置(2)へ駆動指令信号全出力する。そl−
で、測定データが所定数得られたとき、出力全停止する
・■A/DA/D変換器量力されたデジタル量を取込ん
で、穀温に換算する。■穀温から水分値全補正する。
つぎに、その作用について説明すると、乾燥作業時に、
CPUeGから正転回路匈に駆動指令信号が出力される
と、電動モータ(イ)は正転して、減速i構を介して電
極ローラ(1)全矢印方向に回転させる。このとき、搬
送体αりも矢印方向に回転して案内板(至)との協働に
よって、揚穀装置0υからサンプル粒取出部顛を通って
搬送装置α9に案内されて来たサンプル粒全−粒づつに
整列しながら搬送し、そして、この搬送終端から電極ロ
ーラ(1)上に排出されて粉砕される。この粉砕タイミ
ングと略同期して穀温測定装置(2)が粉砕される穀粒
の穀温を測定する。従って、穀物の抵抗値はR/V変換
器(ハ)で水分電圧に変換された後、A/D変換器(イ
)でアナログ量からデジタル量に変換されてCPUEに
取込まれ、含水率に換算される、一方、A/D変換変換
器子ナログ量からデジタル量に変換された穀温情報は、
CP UEに取込まれて、穀温に換算される。そして、
所定数のデータが得られると、CPU(ハ)から逆転回
路(ハ)に駆動指令信号が出力されるので、電動モータ
(イ)は逆転してローラ電極(1)及び搬送体αηを矢
印方向とは反対側の方向に回転させる・従って・ローラ
電極(1)に付着している穀粒層を落下させることが出
来ると共に、搬送体αりや案内板(至)上に乗っている
残粒も排出することが出来る。
CPUeGから正転回路匈に駆動指令信号が出力される
と、電動モータ(イ)は正転して、減速i構を介して電
極ローラ(1)全矢印方向に回転させる。このとき、搬
送体αりも矢印方向に回転して案内板(至)との協働に
よって、揚穀装置0υからサンプル粒取出部顛を通って
搬送装置α9に案内されて来たサンプル粒全−粒づつに
整列しながら搬送し、そして、この搬送終端から電極ロ
ーラ(1)上に排出されて粉砕される。この粉砕タイミ
ングと略同期して穀温測定装置(2)が粉砕される穀粒
の穀温を測定する。従って、穀物の抵抗値はR/V変換
器(ハ)で水分電圧に変換された後、A/D変換器(イ
)でアナログ量からデジタル量に変換されてCPUEに
取込まれ、含水率に換算される、一方、A/D変換変換
器子ナログ量からデジタル量に変換された穀温情報は、
CP UEに取込まれて、穀温に換算される。そして、
所定数のデータが得られると、CPU(ハ)から逆転回
路(ハ)に駆動指令信号が出力されるので、電動モータ
(イ)は逆転してローラ電極(1)及び搬送体αηを矢
印方向とは反対側の方向に回転させる・従って・ローラ
電極(1)に付着している穀粒層を落下させることが出
来ると共に、搬送体αりや案内板(至)上に乗っている
残粒も排出することが出来る。
図は、この発明の一実施例であって・第1図は一部破断
した穀粒乾燥機の側面図、第2図は穀粒水分測定装置の
正面図、第3図はその側面図、第4図は穀温測定装置の
平面図、第5図はその断面図、第6図はローラ電極の正
面図、第7図はブロック回路、第8図はタイムチャート
である。 (1)は粉砕装置、(2)は穀温測定装置を示す。
した穀粒乾燥機の側面図、第2図は穀粒水分測定装置の
正面図、第3図はその側面図、第4図は穀温測定装置の
平面図、第5図はその断面図、第6図はローラ電極の正
面図、第7図はブロック回路、第8図はタイムチャート
である。 (1)は粉砕装置、(2)は穀温測定装置を示す。
Claims (1)
- 粉砕装置(1)で穀粒を一粒ごと粉砕して穀粒水分を測
定するべく構成した穀粒水分測定装置において、該粉砕
装置(1)の近傍に、水分測定と略同期して穀温を測定
することができる穀温測定装置(2)を設けてなる穀粒
水分測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60194254A JPS6254145A (ja) | 1985-09-02 | 1985-09-02 | 穀粒水分測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60194254A JPS6254145A (ja) | 1985-09-02 | 1985-09-02 | 穀粒水分測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6254145A true JPS6254145A (ja) | 1987-03-09 |
Family
ID=16321556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60194254A Pending JPS6254145A (ja) | 1985-09-02 | 1985-09-02 | 穀粒水分測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6254145A (ja) |
-
1985
- 1985-09-02 JP JP60194254A patent/JPS6254145A/ja active Pending
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