JPS6257710B2 - - Google Patents

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JPS6257710B2
JPS6257710B2 JP54082091A JP8209179A JPS6257710B2 JP S6257710 B2 JPS6257710 B2 JP S6257710B2 JP 54082091 A JP54082091 A JP 54082091A JP 8209179 A JP8209179 A JP 8209179A JP S6257710 B2 JPS6257710 B2 JP S6257710B2
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JP
Japan
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film
support
gas
electrode
film forming
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JP54082091A
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JPS565972A (en
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Hidekazu Inoe
Isamu Shimizu
Kyosuke Ogawa
Nobuo Kitajima
Tadaharu Fukuda
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Canon Inc
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Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPS565972A publication Critical patent/JPS565972A/ja
Publication of JPS6257710B2 publication Critical patent/JPS6257710B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/50Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、グロー放電等の放電を利用して、例
えば光導電膜、半導体膜、無機絶縁膜或いは有機
樹脂膜を形成するに有効な膜形成法に関する。
プラズマ現象を利用して、膜形成用の反応ガス
を分解し所定の支持体上に所望の特性を有する膜
を形成しようとする場合、殊に、大面積の膜の場
合には、全面積に亘つてその膜厚並びに、電気
的、光学的或いは光電的等の物理特性の均一化及
び品質の均一化を計るには、通常の真空蒸着法に
較べてて非常に困難が附纏う。
例えば、SiH4ガスを放電エネルギーを使つて
分解し支持体上にアモルフアス水素化シリコン
(以後a―Si:Hと記す)膜を形成して、この膜
の電気物性を利用し様とする場合、この膜の電気
物性が膜形成時の放電強度に大きく依存するた
め、膜の全領域における電気物性の均一性を得る
には、膜形成の全領域において放電強度の均一化
を計る必要がある。
この放電強度の均一性は、電界強度、ガス流
量、ガス圧、ガスの入口位置と出口位置の配置放
電電極の形状、配置等の要素に主に依存する。
而乍ら、従来より提案されている平行平板型電
極を使用した膜形成法では上記の諸要素を一義的
に決定して、膜形成条件が最適となる様な均一な
放電強度を得ることは出来ず、ある程度の条件緩
和の下で膜形成を行つているのが現状である。
また、大面積の膜を生産性及び量産性良く形成
するには、ガスの消費が出来るだけ膜形成用だけ
になる様にガス消費量を経済化する事、反応ガス
濃度が膜形成領域で不均一分布しない様にするこ
と、多量のキヤリアガスを要しない様にする事、
膜成長速度の向上を計る事、等々が挙げられ、更
に、均一特性と良好な品質の大面積の膜を得るに
は、成長膜厚分布が均一である事、放電によつて
生ずるガスプラズマに空間的不均一分布が生じな
い様にする事等が必要である。
従来法は、これ等の諸点に於いても充分満足し
得るものではなく、生産技術上必要な性能を有す
る装置の具現化を計る事が出来なかつた。
本発明は、上記の諸点に鑑みて成されたもので
あつて、大きな面積の膜であつても全面積に亘つ
て、その物理的特性及び膜厚が実質的に均一であ
る膜が再現性良く高効率で形成され得る膜形成法
を提供するのを主たる目的とする。
又、本発明はマスプロダクトに極めて有効な膜
形成法を提供することをも目的とする。
又、別には本発明は放電強度が全膜形成領域に
亘つて均一にする事が出来、ガス消費量を極力低
減し得、且つ膜成長速度の大きい成長膜厚分布の
均一な極めて経済的で生産性に富む膜形成法を提
供することも目的の1つである。
本発明の膜形成法は、減圧にし得る堆積室内に
膜形成用の支持体を可動な状態に設置し、所定内
圧迄前記堆積室内を減圧にした後、外部より膜形
成用の反応ガスを前記堆積室内に導入して前記支
持体の膜形成面に実質的に平行になる様に配設さ
れたワイヤー状の放電電極に電気エネルギーを投
入して放電を生起させ、前記支持体の膜形成面と
前記ワイヤー状の放電電極とを相対的に移動させ
乍ら膜形成を行う事を特徴とする。
本発明の膜形成法に因れば、全面積に亘つてそ
の膜厚並びに、電気的、光学的或いは光電的等の
物理特性の均一化及び膜品質の均一化を大面積に
亘つて行う事が出来、大面積を用する例えば、太
陽電池、電子写真用感光体、或いは大型テレビ、
大型デイスプレイ等の光電変換層の形成に極めて
有効である。
又、更には、ガス消費量が少なく、且つ膜成長
速度が大きく、成長膜厚分布が全面積に亘つて均
一であり、極めて経済的で生産性に富み、企業ベ
ースにのり得るものである。
以下、本発明の膜形成法を図面に従つて説明す
る。
第1図は、本発明の膜形成法を具現化し得る装
置の好適な実施態様例を模式的に示した一部破断
斜視図である。
第1図に示される堆積装置100は、帯状の支
持体107上に連続的に所望の膜を形成するのに
有効な例であつて、全自動化し得るものである。
堆積装置100は、通常の真空膜形成法で適用
されている様な構造のベースプレート101上に
ベルジヤ102をOリング、或いはガスケツトを
介して設置することで形成される堆積室103を
有する。
堆積室103は、メインバルブ104を開放
し、リークバルブ105を閉じる事によつて、真
空口106より、他所に設置してある排気装置
(不図示)によつて、その内部を減圧にし得る構
造を有する。
又、堆積室103の内部には、その表面に膜形
成された帯状の支持体107が自動的に巻取られ
る為の巻取りローラ108アース側とされる平板
状電極109、堆積室103外部より、堆積室1
03内部にガスを供給する為のガス供給手段11
0、該ガス供給手段110と、膜形成の為に可動
設置される膜形成用の支持体107との間に配設
されるワイヤー状の放電電極111、及び電極1
09の脇に設けられた、支持体107を所定温度
に加熱する為の加熱ヒーター112が各々設けら
れている。
膜形成用の支持体107は、巻取ローラ108
とは反対側に配設されてある供給ローラ(不図
示)に、所定の長さ分巻かれていて、その先端部
が放電電極109と電極111との間をその膜形
成面がガス供給手段110と対面する様にして通
されて巻取ローラ108に取り付けられ、該巻取
ローラー108が矢印A方向に回転することによ
つて膜形成された分の支持体が順次巻取られる。
ガス供給手段110は、ベルジヤ102上部に
取付けられたガス流量調節バルブ112を介し
て、供給ガス輸送用の輸送パイプ113と気密に
連結され、又、そのガス供給部は多数の貫通孔が
設けられたパイプとされ、支持体107の膜形成
面に略々平行に該パイプが配される構造を有して
いる。
ガス供給手段110を構成するパイプはその内
径と外径、及び貫通して設けられる多数の孔の開
口径、個数、分布が所望通りに決定されて設計製
造され所定の通りに配設される。
パイプに設けられる多数の貫通孔は、図に於い
ては、支持体107の配される側のみならず、横
方向にも設けられてあるが、ガス流量分布が均一
化し得るのであれば、支持体107の配される側
のみに、所定の密度と開口径で設けるだけでも良
い。
ガス供給手段110のガス供給部を構成するパ
イプに設けられる貫通孔の開口径、密度、分布
は、形成される膜の種類、膜形成材料、所望する
膜特性に依つて適宜決定され、最適膜形成条件が
得られる様に設計し製造する。
前記貫通孔の分布密度は、電極109とワイヤ
ー状の電極111との間に生起される放電の放電
密度が膜形成の全領域に於いて、均一となるよう
に、電極109と電極111との間の電界強度と
の関連において適宜所望に従つて決定される。
又、供給される反応ガスが膜形成の為に効率良く
消費され、未反応ガスとして堆積室103の外部
に排気されない様にする為にも、ガス供給手段1
10のパイプに設けられる貫通孔の開口径、分布
密度、パイプの内外径及びパイプの配設状態を最
適条件に設計する必要がある。
本発明の膜形成法に依れば、上記の点は、従来
法に較べて極めて容易に最適条件になる設計が可
能である。
ガス供給手段110は、第1図に於いては一本
のパイプでそのガス供給部が構成されているが、
この他、多数のパイプを支持体107に平行にな
る様に配列した構成としても良いし、又、同心円
状のパイプを1本以上配した構成としても良い
等、種々の変形例が可能であるが、基本的には支
持体107の膜形成面全領域に於いて、均一なガ
ス流量分布が形成され、又、ガス流量が精度良く
容易に制御し得る構成となる様に設計される必要
があり、この条件の満足し得る様に設計されれば
大概の構造を本発明に於けるガス供給手段110
に適用され得る。
ガス供給手段110のガス供給口と支持体10
7の膜形成面との距離は、支持体107の膜形成
面とワイヤー状の放電電極111との距離、及び
電極111と対向電極109との距離、更には、
これ等電極間の電界強度等の相互関係の基に適宜
決定される。
殊に、上記距離の設定はガス供給手段110の
ガス供給能力及び放電電極111の配列構造に依
存して決定されて良い。
本発明に於いては、電極111の構造が以下に
詳述される如くになつており、支持体107の膜
形成面と電極111とを相対的に移動させ乍ら膜
形成を行うので、ガス供給手段の110のガス供
給能力を従来に較べて飛躍的に向上させる事が出
来ると共に、支持体107の膜形成面と放電電極
111との距離を極近接した距離にまで選定出
来、反応ガス濃度を高め、且つ均一放電強度の下
に膜形成が出来る。従つて、従来法に較べて膜形
成速度が飛躍的に向上し得、然も成長膜厚分布も
均一化し得、且つ均一特性で大面積に亘つて膜形
成を行う事が出来る。
電極111は、図示されてある如く、ワイヤー
が多数本所定間隔で互いに平行に且つ支持体10
7の膜形成面に平行に規則正しく所定通りに配列
された構造を有する。
この様に電極111を規則正しく配列された多
数のワイヤーで構成することによつて、従来の如
くの平板状電極に較べてマクロ的な電界強度斑が
生じない事、支持体107の膜形成面の全領域に
於いて、フレツシユな反応ガスが絶えず供給され
得る事、ワイヤーの配列ピツチを変える事によつ
て、ガス流量分布の不均一化に基く膜形成速度の
部分的バラツキを無くすことが出来ること、電極
111の支持体107とは反対側にガス供給手段
110のガス排出口を配して、反応ガスの供給を
行う事がで出来る為に、膜形成空間に於けるガス
流量的不分布を解消する事が出来る、等々の利点
が生ずる。
第2図に於いては、ガス供給手段110のガス
供給部を構成するパイプが電極111に対して支
持体107との反対側に配置されてあるが、本発
明に於いては支持体107と電極111との間に
配しても良いものである。
電極111を構成するワイヤーは、その径、長
さ、及び配列ピツチ、材質が反応ガスの種々形成
される膜の特性、及び膜形成条件に従つて適宜決
定される。
例えばシランガスを反応ガスとし、キヤリアガ
スとしてアルゴンから成る供給ガスを使用する場
合には、タングステンに金鍍度したワイヤーを使
用し、ワイヤーの太さ約100μφ配列ピツチ8
mm、ワイヤー本数140本、ワイヤー長30cmに選定
して電極111を設計製造し、電極109とでん
きよく111とのきより約20mm、支持体107の
膜形成面とワイヤーの距離約15mmとして堆積室1
03内に配置して支持体107の移動速度10mm/
mmとしa―Si:H膜を支持体107の表面上に連
結的に形成した場合、膜形成空間領域に於ける供
給ガスの濃度は約10Torrと高濃度にする事が出
来、且つ膜形成速度は従来に較べて数倍とする事
が出来、形成されたa―Si:H膜は全領域に於い
て均一な電気的及び光電的特性を示した。
このときパイプの各部の寸法は内径10mm外径13
mm、貫通口の開口径1mm、貫通口の分布密度2
ケ/cm2とし、第1図に示す通りに膜形成装置に配
設した。
例えば、下記のそれぞれの成膜条件下で膜形成
を行つたところ、従来装置の平行平板型電極(前
記ワイヤー状電極群を一枚の平板状電極で置き換
えたもの;ガスの導入の仕方は2枚の平行平板電
極の間をガスがスムースに流れる様に排気孔と反
対側に設けた。装置の他の寸法については上記し
たものに同じ)を使用した場合には、いずれの条
件下においても安定した放電が得られた。また成
膜可能であつた条件A下での従来法においては、
30分後の膜厚が支持体の中心点で1μm、支持体
の辺の中心点から内側へ3cmのところで0.6〜1.3
μm、暗抵抗値が同じ順番で1011Ωcm、10〜10Ω
cmとバラツキが非常に大きかつた。これに比べ、
本発明の膜形成法によると、膜厚は30分後にそれ
ぞれA,B,Cの条件で1.0μm、2.7μm、10μ
mとなり、そのバラツキは7%以下に納つた。暗
抵抗値については、それぞれ8×10Ωcm、2×10
Ωcm、8×10Ωcm、でそのバラツキはそれぞれの
条件下で充分無視し得るものであつた。
成膜条件 A 使用ガス:SiH4ガス(100sccm) Arガス(100sccm) 圧 力:0.1Torr 印加電圧:100V 成膜条件 B 使用ガス:SiH4ガス(100sccm) Arガス(100sccm) 圧 力:0.1Torr 印加電圧:200V 成膜条件C 使用ガス:SiH4ガス(100sccm) Arガス(100sccm) 圧 力:7Torr 印加電圧:100V 尚、いずれの成膜条件でも50Hzの交流電源を使
用した。
電極111を形成する多数のワイヤーは、その
両端を共通的に固定される方が、支持体107の
膜形成面との平行性を保ち膜形成時に於ける振動
を防止する事が出来るので好ましいものである。
第1図に示される装置に於いては、放電電極1
11を構成するワイヤーの配列は、その軸が支持
体107の膜形成面に平行に、且つ膜形成面の移
動方向と略々垂直になる様になされてあるが、そ
の他、例えば支持体107の膜形成面に平行に且
つ膜形成面の移動方向に対して0〜90゜の範囲の
角度を有する様にしても良いし、又、支持体10
7の膜形成面との距離を、図示されている様に、
各ワイヤーに於いて等しくする代わりに、膜形成
面の移動方向に順次増大する様にしても良いし、
更には、例えば移動方向に順次ワイヤー間の間隔
を拡くする様に配列する等、前記の移動方向に配
列ピツチを漸次変えても良い。
又、ワイヤーの太さは全ワイヤー等しいものと
する必要はなく、支持体107の移動方向に順次
その太さを変えても良い。
上記の様な電極111の設計上の変更は、所望
する反応ガスを使用して最適膜形成条件の下で所
望の特性を有する膜が形成される様に成される。
第1図に示した装置の例においては、電極11
1を構成するワイヤーは多数本とされてあるが、
本発明の目的は基本的には、一本だけでもその膜
形成速度が多少低下するのだけを考慮するならば
効果的に達成される。
第2図には、本発明の膜形成法を具現化し得る
装置の別の好適な実施態様例を示す模式的一部破
断斜視図が示される。
第2図に示される装置に於いては、膜形成用の
支持体がドラムタイプであつて、その為用に本発
明の特徴とするワイヤー状の電極が設計され配設
されている以外は、基本的には第1図に示す装置
と同様である。
第2図に示される装置200は、円筒状のベル
ジヤ201と、支持体引出用の2本のレール20
2―1,202―2に移動可能の状態で取付けら
れているベルジヤ蓋203、該ベルジヤ蓋203
に回転自在に取付けられてある支持体回転用の回
転軸棒、204、回転軸棒204に設置されたド
ラム状の膜形成用の支持体205の膜形成面周囲
に、配設されてあるワイヤー状の放電電極206
とを具備し、ベルジヤ蓋203によつてベルジヤ
201を密封し、リークバルブ207を閉じ、メ
インバルブ208を開いて外部に配設されてある
排気装置(不図示)によつて、ベルジヤ201内
が排気され所望の真空度になる構造を有する。
ベルジヤ201内への供給ガスの導入は、ガス
流量調節バルブ209を調節することによつて、
輸送パイプ210を介して外部のガスボンベ(不
図示)より成される。
第2図に示される装置200に於いては、放電
電極として一方を多数のワイヤーで構成された円
筒状の電極206とされ、他方は膜形成用のドラ
ム状支持体205とされる。
膜形成用の支持体205は、所定の表面清浄化
処理が施された後、回転軸棒204に取付けられ
て、ベルジヤ蓋203がレール202をスライド
されてベルジヤ201を密封することによつてベ
ルジヤ201内に収納され膜形成の準備を完了す
る。
放電電極206はベルジヤ蓋203に取付けら
れた電気絶縁性の端子211を通じて、外部のリ
ード電極ケーブル212と電気的に結線され、外
部に配設されてある電源(不図示)より電気エネ
ルギーが投入される様になつている。
放電電極206は、図に於いては、膜形成用の
支持体205の膜形成面の周囲全周に回転軸棒2
04の中心軸に沿つて平行に配設された多数のワ
イヤーで構成され、各ワイヤーは、等ピツチで且
つ支持体205の膜形成面と等間隔の位置関係と
されているが、この他、例えばワイヤーの配列ピ
ツチは不等間隔にしても良いし、また支持体20
5の膜形成面の全面に対面させてワイヤーを配設
することなく一部のみでも良い。但し、この様な
電極構造とする場合には、放電全領域に於ける膜
成長速度の均一化を計る為に回転軸棒204を矢
印Bで示す如く一定回転速度で回転させる必要が
ある。
又、第2図に於いては、放電電極206は、ワ
イヤーが支持体205の回転軸に平行となる様に
配列されてあるが、この他、例えば一本以上のワ
イヤーを使用して、ドラム状の支持体206の外
周囲に一定距離を隔てて、スバイラル状に配設し
て構成しても良いし、又、支持体205と同心円
状に円形状ワイヤーを支持体205の回転軸方向
に所定のピツチで多数配列させても良い。
又、第2図の装置は、支持体205の取付軸が
一本であるが、多数本設ける事によつて、大量生
産用に改良する事も極めて容易に行う事が出来
る。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は、各々本発明の膜形成法を
具現化し得る装置の好適な実施態様例を示す模式
的一部破断斜視図である。 100……堆積装置、101……ベースプレー
ト、102……ベルジヤ、103……堆積室、1
04……メインバルブ、105……リークバル
ブ、106……真空口、107……支持体、10
8……巻取ローラ、109……電極、110……
ガス供給手段、111……電極、112……ガス
流量調節バルブ、113……輸送パイプ、200
……堆積装置、201……ベルジヤ、202……
レール、203……ベルジヤ蓋、204……回転
軸棒、205……支持体、206……電極、20
7……リークバルブ、208……メインバルブ、
209……ガス流量調節バルブ、210……輸送
パイプ、211……電気絶縁端子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 減圧にし得る堆積室内に膜形成用の支持体を
    可動な状態に設置し、所定内圧迄前記堆積室内を
    減圧にした後、外部より膜形成用の反応ガスを前
    記堆積室内に導入して前記支持体の膜形成面に実
    質的に平行になる様に配設されたワイヤー状の放
    電電極に電気エネルギーを投入して放電を生起さ
    せ、前記支持体の膜形成面と前記ワイヤー状の放
    電電極とを相対的に移動させ乍ら膜形成を行う事
    を特徴とする膜形成法。
JP8209179A 1979-06-27 1979-06-27 Film forming method Granted JPS565972A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8209179A JPS565972A (en) 1979-06-27 1979-06-27 Film forming method

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JP8209179A JPS565972A (en) 1979-06-27 1979-06-27 Film forming method

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JP2667665B2 (ja) * 1987-07-23 1997-10-27 三井東圧化学株式会社 成膜装置
JPH04107826U (ja) * 1991-02-28 1992-09-17 三洋電機株式会社 光起電力素子の製造装置

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