JPS6280936A - フイ−ルドエミツタ−の製造方法 - Google Patents

フイ−ルドエミツタ−の製造方法

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JPS6280936A
JPS6280936A JP60219833A JP21983385A JPS6280936A JP S6280936 A JPS6280936 A JP S6280936A JP 60219833 A JP60219833 A JP 60219833A JP 21983385 A JP21983385 A JP 21983385A JP S6280936 A JPS6280936 A JP S6280936A
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JP
Japan
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field emitters
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JP60219833A
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Yoshio Ishizawa
石沢 芳夫
Chuhei Oshima
忠平 大島
Shigeki Otani
茂樹 大谷
Susumu Aoki
進 青木
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National Institute for Materials Science
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National Institute for Research in Inorganic Material
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はフィールドエミッターの製造方法に関する。
フィールドエミッターからの放射電流は、輝度が太き(
、放射電子のエネルギー幅が小さく、しかも点光源に近
いなどの優れた性質を持っているので、これは高分解能
電子顕微鏡、電子線ホログラフィ−電顕、ナノメートル
リソグラフィー等の分野において不可欠のものである。
従来技術 従来、フィールドエミッターとしては、Wが実用化され
てきたが、このフィールドエミッターは電流の安定性に
問題があり、広い応用を疎外している。
また炭化チタン単結晶からなるフィールドエミッターも
知られている。しかし、このフィールドエミッターから
の放射電子は、チップ先端近傍から放射状に放出され、
い(つかの電子ビーム塊に分れる問題点がある。
本発明者らはこの問題点を解決すべく研究の結果、遷移
金属化合物からなるフィールドエミッターの軸方位を<
110>方位に選ぶことにより、放射電子ビームの方向
をエミッター軸方位にすることを開発し得た(特願昭5
8−199605号参照)。
発明の目的 本発明の目的は高輝度でさらに優れた電子放射特性を示
すフィールドエミッターの製造方法を提供するにある。
発明の構成 本発明者らはフィールドエミッターについて研究ヲ続け
た結果、炭窒化チタン(TiCxNy 、  0.5≦
x + y <: 1 )単結晶エミッター(以下、 
T1CNエミッターと略記する)を酸素ガス中で900
〜1400℃で熱処理して、その表面を酸化した後、超
高真空下で107V/cm以上の強電界を印加スると、
エミッションパターンが変化し、安定な特性を示すフィ
ールドエミッターが得られることを究明し得た。この知
見に基いて本発明を完成した。
本発明の要旨は、炭窒化チタン単結晶エミッターを酸素
ガス中で900〜1400℃で熱処理して、該エミッタ
ーの表面を酸化した後、超高真空下で107V/cm以
上の強電界を印加することを特徴とするフィールドエミ
ッターの製造方法にある。
本発明において使用する炭窒化チタン単結晶エミッター
は、単結晶ロンドから切り出した、例えば、0.2 X
 O,23mmの直方体の先端を電解研磨法により約0
,1μmの先端径とし、このエミッターを超高真空下で
1500℃でフラツノユ加熱する。これにより清浄表面
とすると共にチツブ先端を4100夫(211)−面で
覆われた形状のものにする。例えば、T1CN < 1
10 >エミッターの場合は第1図に示すような形状の
ものとなる。このT1CN < 110 >エミッター
からのエミッションパターンは第2図に示すようになる
。(なお、斜線部分は電子ビームのあたった部分を示す
。)これはチップ先端の(100)、  (111)の
各結晶面から作られる尖った部分からのエミッションに
対応する。このT1CNのエミッションパターンは電界
強度の大きい個所からの電子のエミッションで説明でき
る。
このような清浄表面を持ったT1CNチップを、酸素ガ
ス中で例えば10− Torrの下で900〜1400
℃で加熱する。
これにより、表面に酸化物ができる。加熱時間は5L(
ラングミz 7− )、(L = 1O−6Torr 
X 1 sec )以上になるように選ぶ。加熱温度が
900℃未満および1400℃以上では、エミッション
パターンは清浄表面からのエミッションパターンと本質
的に同じであり、又電子放射特性も改善されない。した
がって加熱温度は900〜1400℃であることが好ま
しい。チップ表面を酸化した後、超高真空下で全電流を
lOμA〜20μAにより、30分以上電子ビームを放
射しく強電界を印加)つづけると、エミッションパター
ンが第2図から第3図に変化する。なお、斜線部分が電
子ビームのあたった個所で1点線部分は清浄表面からの
エミッションパターンヲ示ス。
このようにして得られたフィールドエミッターは、電流
雑音が±0.29V)以下、ドリフトは±0.296/
hr以下の優れた特性を示す。その電子放射特性は第4
図に示す通りであり、一定の電流値を示し極めて安定で
ある。この実験条件は真空度5.0 X 10−”To
rr、 印加電圧1400■で行ったものである。
なお、このような特性は炭窒化チタン単結晶の方位に関
係なく得られる。
実施例 先端径0.1z1mのT1Co、9s No、o+ <
 110>フィールドエミッターを10−10〜10−
”Torrの超高真空下にセットし、1500℃にフラ
ッシュ加熱した。この系に酸素ガスを導入し、1 x 
l O−6To rrの真空度にした後、1100℃で
10秒間加熱してチップ表面を酸化した。この後、5X
10−11Torrの真空下で全電流10μAを30分
間以上放射しく 107V、/cm 以上の強電界の印
加)でエミッションパターンを変化させた。
上記製法によって得たフィールドエミッターの電流雑音
は±0.2%以下、ドリフトは±0,2%/ h r以
下で、その電流特性は第4図に示す通りであった。
【図面の簡単な説明】
第1図はT1CN < 110 >エミッターの150
0℃フラッシュシュ加熱後の先端形状、第2図は第1図
のエミッターからのエミッションパターン、第3図は第
1図のエミッターチップの表面を酸化処理した後のエミ
ッションパターン、第4図は本発明の方法で製造したエ
ミッターの全電流と時間との関係図であり、この時の実
験条件は真空度5、OX 10〜”Torr、印加電圧
1400Vである。 特許出願人 科学技術庁無機材質研究所長後藤  優

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 炭窒化チタン単結晶エミッターを酸素ガス中で900〜
    1400℃で熱処理して、該エミッターの表面を酸化し
    た後、超高真空下で10^7V/cm以上の強電界を印
    加することを特徴とするフィールドエミッターの製造方
    法。
JP60219833A 1985-10-02 1985-10-02 フイ−ルドエミツタ−の製造方法 Granted JPS6280936A (ja)

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JP60219833A JPS6280936A (ja) 1985-10-02 1985-10-02 フイ−ルドエミツタ−の製造方法

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JPS6280936A true JPS6280936A (ja) 1987-04-14
JPH0577132B2 JPH0577132B2 (ja) 1993-10-26

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63279535A (ja) * 1987-05-08 1988-11-16 Natl Inst For Res In Inorg Mater 炭窒化ニオブフイ−ルドエミツタ−の製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63279535A (ja) * 1987-05-08 1988-11-16 Natl Inst For Res In Inorg Mater 炭窒化ニオブフイ−ルドエミツタ−の製造方法

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JPH0577132B2 (ja) 1993-10-26

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