JPS6283463A - 多成分薄膜の製造方法 - Google Patents

多成分薄膜の製造方法

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JPS6283463A
JPS6283463A JP60225110A JP22511085A JPS6283463A JP S6283463 A JPS6283463 A JP S6283463A JP 60225110 A JP60225110 A JP 60225110A JP 22511085 A JP22511085 A JP 22511085A JP S6283463 A JPS6283463 A JP S6283463A
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JP
Japan
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thin film
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evaporation
producing
multicomponent
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JP60225110A
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Hideaki Adachi
秀明 足立
Hidetaka Tono
秀隆 東野
Tsuneo Mitsuyu
常男 三露
Osamu Yamazaki
山崎 攻
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、複数成分で構成される薄膜の製造方法に関し
、特にオプトエレクトロニクス材料とし3 \ 。
て有望な、鉛、ランタニウム、ジルコニウム、チタニウ
ムの組み合わせの複合酸化物であるPLZT化合物の薄
膜の製造方法に関するものである。
従来の技術 多成分で構成される合金あるいは化合物の薄膜は、エレ
クトロニクスを始めとする各種先端産業を支える基本材
料とl〜て、大いに期待されている。
しかしこのような多成分薄膜の作製は、真空蒸着法ある
いはスパッタ法等を用いても組成のコントロールが容易
ではない。〔例えば金原榮「薄膜−1゜(昭64,6月
)、裳華房、P、24)このような組成の精密なコント
ロールを行うだめには、蒸発源を個別に分離した多元蒸
発法が用いられる。
〔例えば金原榮「薄膜」、(昭54.6月)、裳華房、
P、131]この方法により任意基板上に所望の組成の
薄膜を得ることが出来る。
発明が解決しようとする問題点 以上の従来の方法を用いれば組成に関しては所望の薄膜
が得られるが、薄膜の結晶構造に関しては所望のものに
なるとは限らない。任意の特性を持つ薄膜となるために
は、組成とともに結晶構造が大きな影響を与える。一般
に任意基板に対して薄膜が成長を行う場合、薄膜の結晶
構造が組成により少なからず影響を受ける。従って所望
の組成の薄膜か所望の結晶構造で成長し難い場合には、
所望の特性を有する薄膜は得られない。例えば電気光学
材料であるPLZT (鉛、ランタニウム。
ジルコニウム、チタニウムの複合酸化物)の薄膜をスパ
ッタリング法で作製する場合、鉛元素がスパッタリング
ターゲットに過剰にないと、電気光学特性を示すペロブ
スカイト型構造の薄膜が得られず、パイロクロア型の結
晶構造の薄膜が成長し、電気光学特性は出ない〔石田等
ジュイ アプライフィジックス(M 、 l5hida
 et aム : J、Appl  。
Phys、)48(1977)961 )。すなわち、
所望の組成で所望の結晶構造を有する薄膜を得るのは、
場合によっては非常に難しいものとなる。
問題点を解決するだめの手段 本発明の多成分薄膜の製造方法は、個別に制御可能な複
数個の蒸発源を設置し、蒸発源の蒸発量5ベーン を制御して、薄膜成長初期に成長促進層となる組成の薄
膜層を形成し、促進層から連続的捷たは段階的に組成を
変化させた後、所望の組成の主薄膜層形成するというも
のである。
作  用 作製が困難な組成と構造を有する薄膜の形成において、
その結晶構造ができやすい組成が存在する場合、複数個
の蒸発源を個別に制御することにより、捷ず前記のでき
やすい組成の薄膜を成長促進層として形成し、その後組
成を連続的にまだは段階的に変化させて得にくい組成に
変えた後、前記得にくい組成の主薄膜層を形成させると
いう方法により、所望の組成と構造を有する特性に優れ
た薄膜が好結果に得られる。この場合なぜ成長しやすい
組成が存在するのかは明らかで々いが、化合物半導体の
エピタキシャル成長等で見られるような、格子の不整合
を組成を変えていくことにより緩和させるという主旨と
は、明らかに異なった原理である。
また本発明の製造方法において、蒸発源の蒸発6/、−
1゜ 方法として、スパッタに代表されるイオン衝撃による方
法あるいは蒸発物をセル等に入れて加熱蒸発させる方法
をとれば構成が簡単である。特に蒸発源の面積を実効的
に小さくして複数個の蒸発源の相互のプラズマの干渉を
防ぐにはターゲット部に磁石を設置してプラズマを集中
させ、平均自由工程の長い低ガス圧でも働くマグネトロ
ンスパッタがより一層適していることを本発明者等は確
認した。なお薄膜形成中の雰囲気ガス組成を変化させて
作製条件を最適にすることも可能であった。
また本発明を、電気光学(:A月として知られるPLZ
T系化合物に応用し、主薄膜層の組成として大きな電気
光学特性を示す領域である0、6〈Z r /Z r 
+ T i <0.7かつ0.07<La/Pb+La
 <0.1に設定1〜、成長促進層の組成としてZr/
Zr+Ti<0.05かつ0.1<La/Pb+La<
0.4に設定することにより、良好な特性を有するPL
ZT系薄膜が作製できることを本発明者等は確認した。
実施例 本発明の内容のより深い理解のために、以下貝体重な実
施例により本発明を説明する。PLZT化合物のうち、
PbO,92”’0.08<Zr0.65TI0.35
)   ○ で表わされる組成のものは、非常に0.9
8  3 大きな電気光学特性を有する。この組成の薄膜は良好な
光テバイスの材料として期待されるが、通常のスパッタ
リング法ではこの組成の薄膜を得るのd難しい。
第1図のようにP b 11. L a 12 、 Z
 r 13. T 114の4個の金属ターゲットをそ
れぞれ設け、個別に制御してマグネトロンスパッターを
行い、酸素とアルゴンの混合ガスの元でサファイアC面
基板15」−にPLZT薄膜作製を行った。基板温度7
o○℃のもとて蒸発量を制御し、薄膜組成を上記組成に
初めから設定したものと、成長促進層として初めはPb
O,720,280,9303に組成を設La    
  Ti 定り徐々に上記組成に変えて成長させたものと2神を作
製した。前者のX線(CuKa)回折パターンを第2図
aに、後者のを第2図すに示す。初めから組成を設定し
たものではサファイアC面基板のピーク2またけで薄膜
は非晶質的になっているが、初期に成長促進層を設けた
ものは促進層のピーり22とともに主薄膜層のピーり2
3も観測され、所望の結晶構造の薄膜が製造できたとと
が確認された。
この薄膜の構成を第3図に示す。サファイアC面基板1
5十に30OAの成長促進層31があり、2ooA程度
相成を連続的に変化させた部分32を経て、電気光学効
果の大きい組成の主薄膜層33が3000Aつけられて
いる。薄膜の電気光学特性は、2次電気光学定数R−1
0×10 (rlvv)が確認され、従来のものより一
桁大きい値を持つ電気光学薄膜イ′A別が実現出来だ。
発明の効果 以上のように本発明の多成分薄膜の製造方法に4、従来
作製が困難であった任意の組成及び構造を有する薄膜の
作製方法を提供するものであり、本発明の工業的価値は
高い。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における薄膜作製の模式図、
第2図は本発明の一実施例に訃ける薄膜9、− のX線回折パターン特性図、第3図は本発明の一実施例
の方法により作製された多成分薄膜の構成を示す模式断
面図である。 11・・・・・・pb ターゲット、12・・・・La
ターゲット、13−・・・Zr  ターゲット、14・
・・・・T1 ターゲット、15・・・・サファイアC
面基板、21・・・・・サファイアC面の回折ピーク、
22・・・・・・成長促進層の回折ピーク、23・・・
・・主薄膜層の回折ピーク、31・・・・・成長促進層
(300A)、32・・・組成変化部(20OA)、3
3・・・・・主薄膜11(3000A)。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)個別に制御可能な複数個の蒸発源を設置し、前記
    蒸発源の蒸発量を制御して、薄膜成長初期に成長促進層
    となる組成の薄膜層を形成し、上記促進層から連続的に
    または段階的に組成を変化させ成長させた後、所望の組
    成の主薄膜層を形成することを特徴とする多成分薄膜の
    製造方法。
  2. (2)イオン衝撃により蒸発を行う蒸発源を含むことを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の多成分薄膜の製
    造方法。
  3. (3)加熱により蒸発を行う蒸発源を含むことを特徴と
    する特許請求の範囲第1項記載の多成分薄膜の製造方法
    。
  4. (4)マグネトロンスパッターにより蒸発を行う蒸発源
    を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の多
    成分薄膜の製造方法。
  5. (5)薄膜形成中における雰囲気ガスの組成を変化させ
    て薄膜の組成を変化させることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の多成分薄膜の製造方法。
  6. (6)薄膜の成分が少なくとも、鉛Pb、ランタニウム
    La、ジルコニウムZr、チタニウムTiの組み合わせ
    で構成される複合酸化物からなることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の多成分薄膜の製造方法。
  7. (7)主薄膜層の組成が、0.6<Zr/Zr+Ti<
    0.7かつ0.07<La/Pb+La<0.1の元素
    比率を持つ複合酸化物からなることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の多成分薄膜の製造方法。
  8. (8)成長促進層の組成が、Zr/Zr+Ti<0.0
    5かつ0.1<La/Pb+La<0.4の元素比率を
    持つ複合酸化物からなることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の多成分薄膜の製造方法。
JP60225110A 1985-04-18 1985-10-09 多成分薄膜の製造方法 Expired - Lifetime JPH0765161B2 (ja)

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JP60225110A JPH0765161B2 (ja) 1985-10-09 1985-10-09 多成分薄膜の製造方法
US06/856,783 US4731172A (en) 1985-04-18 1986-04-17 Method for sputtering multi-component thin-film

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JP60225110A JPH0765161B2 (ja) 1985-10-09 1985-10-09 多成分薄膜の製造方法

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JPS6283463A true JPS6283463A (ja) 1987-04-16
JPH0765161B2 JPH0765161B2 (ja) 1995-07-12

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6447084A (en) * 1987-08-18 1989-02-21 Sumitomo Electric Industries Manufacture of superconducting thin film

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4881782A (ja) * 1972-02-04 1973-11-01
JPS5191881A (ja) * 1975-01-29 1976-08-12 Jochakuhoho

Patent Citations (2)

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