JPS628492B2 - - Google Patents
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- JPS628492B2 JPS628492B2 JP57167144A JP16714482A JPS628492B2 JP S628492 B2 JPS628492 B2 JP S628492B2 JP 57167144 A JP57167144 A JP 57167144A JP 16714482 A JP16714482 A JP 16714482A JP S628492 B2 JPS628492 B2 JP S628492B2
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- ppm
- boron
- capacitance
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Description
この発明は、電解コンデンサ電極用アルミニウ
ム合金箔に関する。 なお、この明細書において「%」はいずれも
「重量%」を示すものとする。 電解コンデンサ用の電極として使用されるアル
ミニウム箔は、その実効表面積を拡大して単位体
積当りの静電気容量を増大するため、一般に塩酸
溶液、食塩溶液等の溶液中でエツチング処理が施
される。そこで、電解コンデンサの性能の向上を
はかるためには、上記箔材料として、エツチング
処理により可及的大なる拡面率が得られるもので
あることが要請される。この拡面率はもちろんエ
ツチング条件にも左右されるが、材料箔の組成に
も大きく左右され、その組成如何によつては箔の
溶解量が過多になり、所謂表面溶解を起こして著
しい静電容量の低下を招くことがある。 この発明の目的は、このような表面溶解を防止
して、常に安定した優れたエツチング特性を示
し、機械的強度を低下せしめることなく静電容量
の一層の増大をはかりうる電解コンデンサ電極用
アルミニウム合金箔を提供することにある。 而してこの発明は、ホウ素の微量含有によつて
アルミニウム合金箔のエツチング特性の安定化を
はかりうることを見出すことにより、この知見に
基づいて完成されたものである。 即ち、この発明にかかる電解コンデンサ電極用
アルミニウム合金箔は、アルミニウムの純度が
99.9%以上であり、かつホウ素を50ppmを超え
300ppm以下の範囲で含有し、不純物としのチタ
ンの含有量が2ppm未満に規制されてなることを
特徴とするものである。 箔中のホウ素の含有量が50ppm以下では、そ
の単独添加によつて所期するエツチング特性の向
上効果、ひいては静電容量の増大効果を充分に実
現することができない。一方逆にその含有量が
300ppmを超えるときは、箔の表面が深くかつ粗
くエツチングされ、かえつて静電容量の低下傾向
を示すと共に、腐食減量の増大により強度低下を
招く。従つて、ホウ素の箔中含有量は50ppmを
超え300ppm以下の範囲に限定され、特に好まし
い範囲は60〜100ppm程度である。 一方、電解コンデンサ電極用アルミニウム合金
箔材料として、一般にアルミニウム純度が99.9%
以上要求されることは、周知のとおりであり、可
及的高純度のものの方が好ましいことはいうまで
もない。従つて、この発明に係るアルミニウム合
金箔は、ホウ素の含有のほかに、不可避不純物と
して例えば銅、鉄、ケイ素等他の諸元素を0.01%
未満の範囲で含むことは当然許容される。また、
従来この種のコンデンサ電極用アルミニウム合金
箔として、単位面積当りのエツチング孔の数を増
大せしめるために、積極的に他の微量元素を添加
含有せしめることも行われているが、この発明
は、ホウ素の含有のほかに、斯る強制添加元素を
付加的に含む場合もその範囲に包含される。斯る
元素としては、例えばストロンチウム、バナジウ
ム、マンガン、マグネシウム、亜鉛、インジウ
ム、錫、鉛、ビスマス、銀、ガリウム、カドミウ
ム、ジルコニウム、トリウム等が挙げられ、その
含有量は一般的に0.1〜5000wt−ppmの範囲内で
ある。ホウ素のほかにこれらの元素を含有する場
合には、効果として、ホウ素と他の元素とのそれ
ぞれのもつ効果が単に総和的にあらわれる場合の
ほか、それ以上の相乗的効果が期待される場合も
予測されるが、この発明はそのいずれの場合も、
ホウ素含有による効果が実現されている以上、そ
の範囲に包含されるものである。 従来、アルミニウム電極箔において、その材料
金中に不可避的に不純物として含まれるチタンの
含有が、静電容量を低下する支配的な要因となる
ことに鑑み、該チタンの多くの含有を許容しつ
つ、静電容量を良好に保つべく、チタンとの共存
下にホウ素を強制添加するという技術が提案され
ている(例えば特開昭53−107657号、特開昭53−
113212号)。これに対して、本発明は、むしろチ
タンを実質的に含有せしめないものとしながら、
ホウ素を含有せしめることによつて、それ単独に
よる効果として一段と優れた静電容量の増大効果
をあげているものである。従つて、この発明の合
金箔において、チタンの含有は、不純物としての
それも極微量の範囲に規制されるものであり、具
体的には2ppm未満に規定されるものであつて、
これを超えるときは、本発明の所期する静電容量
の増大効果が低減される。 次に、この発明の実施例を示す。
ム合金箔に関する。 なお、この明細書において「%」はいずれも
「重量%」を示すものとする。 電解コンデンサ用の電極として使用されるアル
ミニウム箔は、その実効表面積を拡大して単位体
積当りの静電気容量を増大するため、一般に塩酸
溶液、食塩溶液等の溶液中でエツチング処理が施
される。そこで、電解コンデンサの性能の向上を
はかるためには、上記箔材料として、エツチング
処理により可及的大なる拡面率が得られるもので
あることが要請される。この拡面率はもちろんエ
ツチング条件にも左右されるが、材料箔の組成に
も大きく左右され、その組成如何によつては箔の
溶解量が過多になり、所謂表面溶解を起こして著
しい静電容量の低下を招くことがある。 この発明の目的は、このような表面溶解を防止
して、常に安定した優れたエツチング特性を示
し、機械的強度を低下せしめることなく静電容量
の一層の増大をはかりうる電解コンデンサ電極用
アルミニウム合金箔を提供することにある。 而してこの発明は、ホウ素の微量含有によつて
アルミニウム合金箔のエツチング特性の安定化を
はかりうることを見出すことにより、この知見に
基づいて完成されたものである。 即ち、この発明にかかる電解コンデンサ電極用
アルミニウム合金箔は、アルミニウムの純度が
99.9%以上であり、かつホウ素を50ppmを超え
300ppm以下の範囲で含有し、不純物としのチタ
ンの含有量が2ppm未満に規制されてなることを
特徴とするものである。 箔中のホウ素の含有量が50ppm以下では、そ
の単独添加によつて所期するエツチング特性の向
上効果、ひいては静電容量の増大効果を充分に実
現することができない。一方逆にその含有量が
300ppmを超えるときは、箔の表面が深くかつ粗
くエツチングされ、かえつて静電容量の低下傾向
を示すと共に、腐食減量の増大により強度低下を
招く。従つて、ホウ素の箔中含有量は50ppmを
超え300ppm以下の範囲に限定され、特に好まし
い範囲は60〜100ppm程度である。 一方、電解コンデンサ電極用アルミニウム合金
箔材料として、一般にアルミニウム純度が99.9%
以上要求されることは、周知のとおりであり、可
及的高純度のものの方が好ましいことはいうまで
もない。従つて、この発明に係るアルミニウム合
金箔は、ホウ素の含有のほかに、不可避不純物と
して例えば銅、鉄、ケイ素等他の諸元素を0.01%
未満の範囲で含むことは当然許容される。また、
従来この種のコンデンサ電極用アルミニウム合金
箔として、単位面積当りのエツチング孔の数を増
大せしめるために、積極的に他の微量元素を添加
含有せしめることも行われているが、この発明
は、ホウ素の含有のほかに、斯る強制添加元素を
付加的に含む場合もその範囲に包含される。斯る
元素としては、例えばストロンチウム、バナジウ
ム、マンガン、マグネシウム、亜鉛、インジウ
ム、錫、鉛、ビスマス、銀、ガリウム、カドミウ
ム、ジルコニウム、トリウム等が挙げられ、その
含有量は一般的に0.1〜5000wt−ppmの範囲内で
ある。ホウ素のほかにこれらの元素を含有する場
合には、効果として、ホウ素と他の元素とのそれ
ぞれのもつ効果が単に総和的にあらわれる場合の
ほか、それ以上の相乗的効果が期待される場合も
予測されるが、この発明はそのいずれの場合も、
ホウ素含有による効果が実現されている以上、そ
の範囲に包含されるものである。 従来、アルミニウム電極箔において、その材料
金中に不可避的に不純物として含まれるチタンの
含有が、静電容量を低下する支配的な要因となる
ことに鑑み、該チタンの多くの含有を許容しつ
つ、静電容量を良好に保つべく、チタンとの共存
下にホウ素を強制添加するという技術が提案され
ている(例えば特開昭53−107657号、特開昭53−
113212号)。これに対して、本発明は、むしろチ
タンを実質的に含有せしめないものとしながら、
ホウ素を含有せしめることによつて、それ単独に
よる効果として一段と優れた静電容量の増大効果
をあげているものである。従つて、この発明の合
金箔において、チタンの含有は、不純物としての
それも極微量の範囲に規制されるものであり、具
体的には2ppm未満に規定されるものであつて、
これを超えるときは、本発明の所期する静電容量
の増大効果が低減される。 次に、この発明の実施例を示す。
【表】
表1に示す各種組成のアルミニウム合金スラブ
を600℃で均質化処理し、500℃で厚さ5mmに熱間
圧延後、90μmに冷間圧延し、次いで300℃で焼
鈍した各種アルミニウム合金箔を試料とした。 そしてこれらの各試料箔を、浴温50℃の5%塩
酸+0.1%硝酸水溶液中で、0.8A/cmPAの電流を
通じて5分30秒間エツチングを行い、次いで液温
85℃の5%ホウ酸水溶液中で化成電圧20V、印加
時間10分の化成処理を行い、それぞれの試料のも
つ静電容量及び引張り強度を測定した。なお、静
電容量の測定は、液温30℃の10%ホウ酸アンモニ
ウム水溶液中において、測定周波数を120Hzに設
定して行つた。測定結果を表2に示す。
を600℃で均質化処理し、500℃で厚さ5mmに熱間
圧延後、90μmに冷間圧延し、次いで300℃で焼
鈍した各種アルミニウム合金箔を試料とした。 そしてこれらの各試料箔を、浴温50℃の5%塩
酸+0.1%硝酸水溶液中で、0.8A/cmPAの電流を
通じて5分30秒間エツチングを行い、次いで液温
85℃の5%ホウ酸水溶液中で化成電圧20V、印加
時間10分の化成処理を行い、それぞれの試料のも
つ静電容量及び引張り強度を測定した。なお、静
電容量の測定は、液温30℃の10%ホウ酸アンモニ
ウム水溶液中において、測定周波数を120Hzに設
定して行つた。測定結果を表2に示す。
【表】
上表の結果に見られるように、この発明による
アルミニウム合金箔はホウ素の含有量50ppmを
境として、該50ppmを越え、300ppm以下の範囲
で含有する場合、機械的強度の低下を招くことな
く静電容量の増大効果を得ることができるもので
あり、電解コンデンサ電極用として優れた性能を
有するものである。
アルミニウム合金箔はホウ素の含有量50ppmを
境として、該50ppmを越え、300ppm以下の範囲
で含有する場合、機械的強度の低下を招くことな
く静電容量の増大効果を得ることができるもので
あり、電解コンデンサ電極用として優れた性能を
有するものである。
Claims (1)
- 1 アルミニウムの純度が99.9%以上であり、か
つホウ素を50ppmを超え300ppm以下の範囲で含
有し、不純物としてのチタンの含有量が2ppm未
満に規制されてなることを特徴とする電解コンデ
ンサ電極用アルミニウム合金箔。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16714482A JPS5956560A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 電解コンデンサ電極用アルミニウム合金箔 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16714482A JPS5956560A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 電解コンデンサ電極用アルミニウム合金箔 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5956560A JPS5956560A (ja) | 1984-04-02 |
| JPS628492B2 true JPS628492B2 (ja) | 1987-02-23 |
Family
ID=15844232
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16714482A Granted JPS5956560A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 電解コンデンサ電極用アルミニウム合金箔 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5956560A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5573861A (en) * | 1993-07-06 | 1996-11-12 | Sumitomo Chemical Co., Ltd. | High purity aluminum conductor used at ultra low temperature |
| FR2707420B1 (fr) * | 1993-07-07 | 1996-05-15 | Sumitomo Chemical Co | Conducteur en aluminium de grande pureté utilisé à très basse température. |
| JP2907718B2 (ja) * | 1993-12-29 | 1999-06-21 | 昭和アルミニウム株式会社 | 電解コンデンサ電極用アルミニウム箔のエッチング方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53125920A (en) * | 1977-04-11 | 1978-11-02 | Mitsubishi Keikinzoku Kogyo | Aluminum anode foil for electrolytic capacitor |
-
1982
- 1982-09-24 JP JP16714482A patent/JPS5956560A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5956560A (ja) | 1984-04-02 |
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