JPS6285323A - デイスプレイインタ−フエ−ス自動検査方法 - Google Patents
デイスプレイインタ−フエ−ス自動検査方法Info
- Publication number
- JPS6285323A JPS6285323A JP22614485A JP22614485A JPS6285323A JP S6285323 A JPS6285323 A JP S6285323A JP 22614485 A JP22614485 A JP 22614485A JP 22614485 A JP22614485 A JP 22614485A JP S6285323 A JPS6285323 A JP S6285323A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- personal computer
- image data
- checking circuit
- display interface
- level
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 10
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Digital Computer Display Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
不発明はディスグレイインターフェース自動検査方法に
関する。
関する。
〔従来の技術J
従来のディスプレイインターフェース回路検査方法は、
画像データ等をディスプレイに表示させ、検査員が目視
にて検査全実施する方法でおつ′ft−0〔発明が解決
しようとする問題点J 示され次文字およびカラーの濃淡等ディスプレイ装置に
関する機能、性能全検査員が見て判別する沈め、これを
見誤る恐れがあるという欠点かめるとともに省人化が不
可能であジ、検査員が目視で判別するためチェックの几
めの時間欠必要とするという欠点もある。
画像データ等をディスプレイに表示させ、検査員が目視
にて検査全実施する方法でおつ′ft−0〔発明が解決
しようとする問題点J 示され次文字およびカラーの濃淡等ディスプレイ装置に
関する機能、性能全検査員が見て判別する沈め、これを
見誤る恐れがあるという欠点かめるとともに省人化が不
可能であジ、検査員が目視で判別するためチェックの几
めの時間欠必要とするという欠点もある。
本発明のディスプレイインターフェース自動検査方法は
レベルチェック回路、タイミングチェック回路等で基準
となるレベル、クロックと比較すル機能および結果をパ
ーンナルコンビエータで判別する機能を有して構成され
る0 〔実施例〕 次に、本発明の実施例について、図面全参照して説明す
る。
レベルチェック回路、タイミングチェック回路等で基準
となるレベル、クロックと比較すル機能および結果をパ
ーンナルコンビエータで判別する機能を有して構成され
る0 〔実施例〕 次に、本発明の実施例について、図面全参照して説明す
る。
第1図は本発明の一実施例を示すシステム断面図である
。
。
第1図に示すディスプレイインターフェース自動検査方
法において、被検査装置1と試験装f13およびパーソ
ナルコンビエータ5との検査項目の同期(ンターフェー
スとしてプリンターインターフェース部6、パーソナル
コンピュータインターフェース部4を利用し検査項目で
おるディスプレイコントロール部の機能・性能について
はディスプレイインターフェース部2を経由し試験装[
3の内部に構成された各種制御回路にて比較する構造に
なっている。
法において、被検査装置1と試験装f13およびパーソ
ナルコンビエータ5との検査項目の同期(ンターフェー
スとしてプリンターインターフェース部6、パーソナル
コンピュータインターフェース部4を利用し検査項目で
おるディスプレイコントロール部の機能・性能について
はディスプレイインターフェース部2を経由し試験装[
3の内部に構成された各種制御回路にて比較する構造に
なっている。
次に、第1図に示す実施例のブロック図でめる纂2図を
参照しながら比較方法についてその動作を説明する。
参照しながら比較方法についてその動作を説明する。
に基づき次にどの項目の検査を実施するか決定する必要
がおる。
がおる。
その同期インターフェース制御をプリンターインターフ
ェース部6にて行う。
ェース部6にて行う。
スプレィコントロール部2’ffl!レベルをレベルチ
ェック回路7にて比較し結果を拡張バスBに流す。
ェック回路7にて比較し結果を拡張バスBに流す。
この信号をパーソナルコンビエータ5で判定し良否の判
別を自動的に実行する。
別を自動的に実行する。
同様に、タイミングチェック方法について説明する。
タイミングチェック回路8にて基本クロックを作成し、
そのクロックでタイミング信号をサンプリングしその数
を比較し、結果を拡張バスBに流す。
そのクロックでタイミング信号をサンプリングしその数
を比較し、結果を拡張バスBに流す。
また、画像データの比較方法はめらかじめ決定したテス
トパターンをテストグログラムにてコントロールしその
データを画像データチェック回路9でメモリーに展開す
る。そのメモリーデータをパーソナルコンビエータ5で
照合し良否判別を自動的に実施する。
トパターンをテストグログラムにてコントロールしその
データを画像データチェック回路9でメモリーに展開す
る。そのメモリーデータをパーソナルコンビエータ5で
照合し良否判別を自動的に実施する。
本発明のディスプレイインターフェース自動検査方法は
、被検査装置のディスプレイコントロール部の目視検査
項目を試験装置およびバーンナルコンピータでコントロ
ールすることによシ自動的にしかも誤りなく無人で検査
することができるという効果がある。
、被検査装置のディスプレイコントロール部の目視検査
項目を試験装置およびバーンナルコンピータでコントロ
ールすることによシ自動的にしかも誤りなく無人で検査
することができるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示すシステム断面図、第2
図は第1図に示す実施例のブロック図である。 1・・・被検査装置、2・・・ディスズレイインターフ
ェース部、2′・・・ディスプレイコントロール部、3
・・・試験装置、4・・・パーソナルコンピュータイン
ターフェース部、5・・・バーンナルコンピュータ、6
・・・プリンターインターフェース部、7・・・レベル
チェック回路、8・・・タイミングチェック回路、9・
・・画像データチェック回路、B・・・拡張バス代理人
弁理士 内 原 二 ′第 1 区 !、繍候f籏章 2、f21プレイインだニス壱F、 2′テ叙フ’L
、IJン)IJ−ル部J、六駿佼實 47v−ンナルJンヒ゛ニーγAンy−フェースきV5
.7V−ソナル〕シヒ?り z、7′リンタインダブr−ズ令昏 、9 〕ン 2 匹り
図は第1図に示す実施例のブロック図である。 1・・・被検査装置、2・・・ディスズレイインターフ
ェース部、2′・・・ディスプレイコントロール部、3
・・・試験装置、4・・・パーソナルコンピュータイン
ターフェース部、5・・・バーンナルコンピュータ、6
・・・プリンターインターフェース部、7・・・レベル
チェック回路、8・・・タイミングチェック回路、9・
・・画像データチェック回路、B・・・拡張バス代理人
弁理士 内 原 二 ′第 1 区 !、繍候f籏章 2、f21プレイインだニス壱F、 2′テ叙フ’L
、IJン)IJ−ル部J、六駿佼實 47v−ンナルJンヒ゛ニーγAンy−フェースきV5
.7V−ソナル〕シヒ?り z、7′リンタインダブr−ズ令昏 、9 〕ン 2 匹り
Claims (1)
- パーソナルコンピュータ等のディスプレイインターフェ
ースを有する機器の機能検査において、ディスプレイコ
ントロール回路等の機能についてレベルチェック回路、
タイミングチェック回路、画像データチェック回路等か
らなる試験装置及びパーソナルコンピュータにより良否
判別をプログラムにて自動的に行なうことを特徴とする
ディスプレイインターフェース自動検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22614485A JPS6285323A (ja) | 1985-10-09 | 1985-10-09 | デイスプレイインタ−フエ−ス自動検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22614485A JPS6285323A (ja) | 1985-10-09 | 1985-10-09 | デイスプレイインタ−フエ−ス自動検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6285323A true JPS6285323A (ja) | 1987-04-18 |
Family
ID=16840544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22614485A Pending JPS6285323A (ja) | 1985-10-09 | 1985-10-09 | デイスプレイインタ−フエ−ス自動検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6285323A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6522936B1 (en) | 1999-05-21 | 2003-02-18 | Fujitsu Limited | Control apparatus, control method, and interface device for information processing device |
-
1985
- 1985-10-09 JP JP22614485A patent/JPS6285323A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6522936B1 (en) | 1999-05-21 | 2003-02-18 | Fujitsu Limited | Control apparatus, control method, and interface device for information processing device |
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