JPH02201546A - 論理カード拡張機構 - Google Patents

論理カード拡張機構

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Publication number
JPH02201546A
JPH02201546A JP1019579A JP1957989A JPH02201546A JP H02201546 A JPH02201546 A JP H02201546A JP 1019579 A JP1019579 A JP 1019579A JP 1957989 A JP1957989 A JP 1957989A JP H02201546 A JPH02201546 A JP H02201546A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
logic
bus
card
output signal
cards
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1019579A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Miyajima
宮嶋 一雄
Satoru Morino
森野 悟
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Corp
NEC Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, NEC Engineering Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP1019579A priority Critical patent/JPH02201546A/ja
Publication of JPH02201546A publication Critical patent/JPH02201546A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、論理カード拡張機構に関する。
特に、論理カードの不良検出を簡易に行なうことのでき
る論理カード拡張機構に関するものである。
[従来の技術] 一般に、情報処理装置を構成する論理カードの不良箇所
を調べるにあたっては、正常な論理カードの動作と、不
良な論理カードの動作との違いを明確にすることが重要
である。
特に、論理カードか情報処理装置の共通バス(以下、バ
スと略す)に出力する信号に着目して調べる場合、従来
、まず、正常な論理カードをバスに接続して波形を観測
、記録し、次に不良の論理カードをバスに接続して同様
に波形を[測し、両者の波形を比較することによって不
良箇所を調べていた。
あるいは、汎用のテスタに正常な論理カードと不良な論
理カードとを同時に接続し、同一の入力信号を加えたと
きの出力信号を比較することによって不良箇所を調べて
いた。
[解決すべき課題] 上述した従来の方法のうち、正常な論理カードと不良な
論理カードとをバスに接続して波形を波形を比較する方
法では、2枚の同機能の論理カードを同時にバスに接続
すると、出力信号かぶつかって正常な動作を保証するこ
とかできないので、2枚同時に接続することかできず、
したがって、出力信号の波形を記録して、両者の比較を
行わなければならない。
このため、2枚の論理カードを接続および取り外す時間
や記録の時間など、動作上の相違点を検出するのに時間
かかかるという問題があった。
また、汎用テスタを用いる方法では、入力信号のパター
ンをあらかじめ、テスタに入力しておかなければならな
いため、不良解析時間の増大を招くという問題があった
。さらに、不良カードをテスタの設置場所へ運ぶか、あ
るいはテスタを不良が発生した情報処理装置の設置場所
へ運ぶ必要があるため、緊急を要する不良解析には対応
することかできないという問題かあった。
本発明は上述した閂題点にかんがみてなされたもので、
論理カードの不良検出を簡易に行なうことのできる論理
カード拡張機構の提供を目的とする。
[課題の解決手段] 上記目的を達成するために本発明の論理カード拡張機構
は、2枚の論理カードな接続する論理カード接続手段と
、前記2枚の論理カードの入力信号線を情報処理装置の
バスに接続する入力信号接続手段と、前記2枚の論理カ
ードのうち〜・方のみの論理カードの出力信号線を前記
バスに接続する出力信号接続手段と、前記2枚の論理カ
ードの出力信号を比較する比較手段と、この比較手段に
よる比較結果を表示する表示手段とを備えた構成としで
ある。
[実施例] 以下、本発明に係る論理カード拡張機構の一実施例につ
いて図面を参照して説明する。
第1図は、ケージを有する情報処理装置に実装される論
理カードの物理的長さを拡張するエキスパンションカー
ドにおいて、このエキスパンションカードに論理カード
拡張機構を持たせ、表示手段として、ランプを使用した
実施例の回路図である。
同図において、lは情報処理装置のバスである。
2は論理カード拡張機構、3は比較器、4はランプであ
る。
PWBl、PWB2は試験対象である論理カードを示す
論理カード拡張機構2は、入力信号コネクタ5および出
力信号コネクタ6を有しており、これらコネクタ5,6
によって情報処理装置のバス1に接続されるようになっ
ている。また、論理カード拡張機構2は2人力信号コネ
クタ7および出力信号コネクタ8によって論理カードP
WB 1と接続され、さらに、入力信号コネクタ9およ
び出力信号コネクタlOによって同時に論理カードPW
B2と接続することかできるようになっている。
そして、前記入力信号コネクタ5は、論理カードPWB
 l側の入力信号コネクタ7および論理カードPWB2
側の入力信号コネクタ9に接続されており、バス1から
の入力信号S inか2枚の論理カードPWBI、PW
B2に同時に入力されるようになっている。
また、論理カードPWB l側の出力信号コネクタ8は
、前記入力信号コネクタ5と比較器3に接続され、論理
カードPWB2側の出力信号コネクタlOは、比較!1
3にのみ接続されている。この出力信号コネクタ10は
、比較器3にのみ接続されていて、バス1には接続され
ていないので、論理カードPWB2を論理カード拡張機
構2に接続しても、情報処理装置の動作には影響をかえ
ない。
したかって、以上のような論理カード拡張機構2によれ
ば、論理カードPWBl側の出力信号S 0IJL+は
、情報処理装置のバスlに出力され、論理カー1< P
 W B 2側の出力信号S。ut2は、比較器3によ
り、論理カードPWB l側の出力信号S ++uLl
と比較されることとなる。
そして、論理−1−の相違かあった場合、ランプ4か点
灯するので、一方に正常な論理カードを、他方には不良
の論理カードを接続すれば、不良箇所か簡単にわかるこ
ととなる。
なお、このようにして不良箇所が分かった後は、その不
良な信号線に着目して他の測定器等を使って不良原因の
調査を行なう。
第2図に論理カード拡張機構2の実装図を示す、この図
では、情報処理装置のケージlaに論理カード拡張機構
2を接続し、2枚の論理カードPWBI、PWB2を同
時に接続しである。
[発明の効果] 以I−説明したように未発す1は、2枚の論理カードの
入力信号を情報処理装置のバスに接続するとともに、2
枚の論理カードのうち1枚の出力信号を情報処理装置の
バスに接続して、両者の出力信号を比較表示することに
より、出力信号の波形を記録し、比較する必要がなく、
しかも2枚の論理カードの接続、取外しを行なうことな
く、簡単に論理]二の相違点を発見することかできると
いう効果がある。
また1本発明の論理カード拡張機構を使用すれば、実際
に論理カードが使用される環境下で不良論理カードの不
良解明か実施でき、不良論理カードを駆動させるための
特別な試験装置も不要で、その論理カードを使用する情
報処理装置を使用することかできるので、安価な試験環
境を構築することかできるという効果かある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る論理カード拡張機構−の実施例を
示す回路図、第2図は論理カード拡張機構の実装図であ
る。 I・情報処理装置のバス 2:論理カード拡張機構 3:比較器   4:ランプ 5:入力信号コネクタ 6:出力信号コネクタ 7、入力信号コネクタ 8:出力信号コネクタ 9:入力信号コネクタ lO:出力信号コネクタ PWBI:論理カード  PWB2:論理カードS i
 n :入力信号     5oul:出力信号代理人
 弁理士 渡 辺 喜 平

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 2枚の論理カードを接続する論理カード接続手段と、前
    記2枚の論理カードの入力信号線を情報処理装置のバス
    に接続する入力信号接続手段と、前記2枚の論理カード
    のうち一方のみの論理カードの出力信号線を前記バスに
    接続する出力信号接続手段と、前記2枚の論理カードの
    出力信号を比較する比較手段と、この比較手段による比
    較結果を表示する表示手段とを備えたことを特徴とする
    論理カード拡張機構。
JP1019579A 1989-01-31 1989-01-31 論理カード拡張機構 Pending JPH02201546A (ja)

Priority Applications (1)

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JP1019579A JPH02201546A (ja) 1989-01-31 1989-01-31 論理カード拡張機構

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JP1019579A JPH02201546A (ja) 1989-01-31 1989-01-31 論理カード拡張機構

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Publication Number Publication Date
JPH02201546A true JPH02201546A (ja) 1990-08-09

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ID=12003186

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1019579A Pending JPH02201546A (ja) 1989-01-31 1989-01-31 論理カード拡張機構

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JP (1) JPH02201546A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009211371A (ja) * 2008-03-04 2009-09-17 Nec Corp 検査システム、検査用バックプレーン、検査方法及び製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009211371A (ja) * 2008-03-04 2009-09-17 Nec Corp 検査システム、検査用バックプレーン、検査方法及び製造方法

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