JPS6286734A - チツプマウント方法 - Google Patents

チツプマウント方法

Info

Publication number
JPS6286734A
JPS6286734A JP60226259A JP22625985A JPS6286734A JP S6286734 A JPS6286734 A JP S6286734A JP 60226259 A JP60226259 A JP 60226259A JP 22625985 A JP22625985 A JP 22625985A JP S6286734 A JPS6286734 A JP S6286734A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pedestal
bonded
silicon
diaphragm
thermal expansion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60226259A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshisuke Hishii
菱井 利祐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60226259A priority Critical patent/JPS6286734A/ja
Publication of JPS6286734A publication Critical patent/JPS6286734A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01LMEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/0041Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
    • G01L9/0042Constructional details associated with semiconductive diaphragm sensors, e.g. etching, or constructional details of non-semiconductive diaphragms

Landscapes

  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はシリコンダイアフラム型圧力センサのチップマ
ウント方法に関し、特に絶対圧を測定対象とするシリコ
ンダイアフラム型圧力センサのチップマウント方法に関
する。
〔従来の技術〕
近年半導体技術を背景にしてシリコンダイアフラム型圧
力センナが脚光を浴びるようになってきた。このセンサ
はシリコンを単に電気要素の母材としてのみならず、剛
性の高い機械要素としても用いている点に特徴がある。
シリコンダイアフラム型圧力センサはシリコンウェーハ
内に多数配列された単位セルの第一の主面の一部に異方
性エツチング、機械加工等によシ凹みをつけて第二の主
面には感圧素子となるr−ジ抵抗1等の電子回路を集積
化し、しかる後に単位セル毎に分割して、この単位セル
をグイとすることによって製造される。このダイは前記
圧力センサのパッケージとなる構造体に接着され、所望
の電気配線を施こすことにより前記圧力センサが実現さ
れる。ダイの接着に際しては、前記構造体とダイの材料
であるシリコンとの熱膨張係数の差に起因する熱歪効果
を防ぐために、前記構造体とグイとの中間に台座を介在
させることが知られている。台座としては例えばシリコ
ンウェーノ・と熱膨張係数が近似したパイレックスガラ
スが利用される。
絶対圧用のシリコンダイアフラム型圧力センサの場合、
このガラスとグイとの接着は真空中において静電接着す
ることによってなされ、シリコンダイアスラム部に真窒
圧が封入される。
静電接着は、ガラスとシリコンと全密着させ高温高電界
の雰囲気で結合させる技術で、メイ分離以前の工程中で
、ウェーハ単位で接着できるためコスト低減に特に有効
である。
前記構造体と前記ガラスとの接着は前記ガラスの全面に
スクリーン印刷法等によジェポキシ系接着剤を塗布する
ことによシなされていた。
以下図面を用いて従来技術全説明する。
第2図は、従来法によシチップマウントされたシリコン
ダイアフラム型圧力センサの構造を示す断面図でおる。
第2図においてシリコンチップ11は第一の主面(台座
と対峙する面)の一部を凹ませダイアフラム12ヲ形成
し第2の主面に電子回路が集積化されている。台座13
はシリコンと熱膨張係数がほぼ等しい・母イレックスガ
ラスからなシ、台座13とシリコンチップ11は静電接
着によって接着されている。この台座13の全面にスク
リーン印刷法によジェポキシ系銀ペースト15全印刷し
構造体17に接着し、さらに、シリコンチップ11とス
テム18との間にワイアボ/7′イング20t−施し、
構造一 体17キヤツプ19にて封止することによシ完成される
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながらこのようにして得られたシリコンダイアフ
ラム型圧力センサにおいては、台座13の全面が構造体
17と、接着しているため、構造体17の熱膨張が直接
的に台座13に伝わシ、シリコンチップ11に対する構
造体17の熱膨張の影響を完全に遮断できず温度の変化
によってシリコンチップ11のダイアフラム12に歪を
生じ、オフセットが温度によって変化する原因となって
いた。
本発明の目的はオフセットの温度依存性の少ないシリコ
ンダイアフラム型圧力センサを提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は半導体素子を構造体にマウントする方法におい
て、構造体を半導体素子に点接触的に接着することを特
徴とするチップマウント方法である。
〔作用〕
本発明によれば、半導体素子は台座に接着して構造体内
にセットされるが台座と構造体との接着部分の面積が小
さくなシ、構造体の熱膨張の影響が台座に伝わシにくく
なシ、従って、温度の変化によるオフセットの変化が低
減する。
〔実施例〕
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の方法によシチップマウントされたシ
リコンダイアフラムを圧力センサの構造を示す断面図で
ある。第1図において、シリコンチップ1は第1の主面
(台座と対峙する面)の一部を凹ませてダイアフラム2
を形成し、第2の主面に電子回路が集積化されている。
台座3はシリコンと熱膨張係数がほぼ等しいパイレック
スガラスからなシ、台座3とシリコンチップ1とは真空
中において静電接着法によって接着されている。
以上は従来法によるものと全く同じである。本発明は、
台座3と構造体7との接着は、スフ1フーン印刷法等に
より、微小面積のエポキシ系鋼ペース)1台座3に塗布
し−、構造体7に点接触的に接着することによシ装着し
たものである。
さらに従来同様にシリコンテップ1とステム8との間に
ワイアざ/ディング10ヲ施し、構造体7をキャップ9
にて封止することによシ完成する。
本発明の方法によれば台座3と構造体7との接着部分が
点接触的のため、接触面積が小さくなシ、構造体7の熱
膨張の影響が台座3に伝りにくくなシ従ってシリコンチ
ップ1に形成されたダイアフラム2に及ぼす、構造体7
の熱膨張の影響が低減する。
〔発明の効果〕 以上説明したように本発明の方法によればオフセットの
温度依存性の少ないシリコンダイアフラム型圧力センサ
を提供できる効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施例を示すシリコンダイアフラム
型圧力センサの断面図、第2図は従来の方法によシチッ
プマウントされたシリコンダイアフラム型圧力センサの
断面図である。 1・・・シリコンチップ、2・・・ダイアフラム、3・
・・台座、5・・・エポキシ系銀ペースト、7・・・構
造体。 8・・・ステム、9・・・キャン7’、  10・・・
ボンディングワイア。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体素子を構造体にマウントする方法において
    、構造体に半導体素子を点接触的に接着することを特徴
    とするチップマウント方法。
JP60226259A 1985-10-11 1985-10-11 チツプマウント方法 Pending JPS6286734A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60226259A JPS6286734A (ja) 1985-10-11 1985-10-11 チツプマウント方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60226259A JPS6286734A (ja) 1985-10-11 1985-10-11 チツプマウント方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6286734A true JPS6286734A (ja) 1987-04-21

Family

ID=16842394

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60226259A Pending JPS6286734A (ja) 1985-10-11 1985-10-11 チツプマウント方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6286734A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5137762A (en) * 1989-09-18 1992-08-11 Toyo Seikan Kaisha, Ltd. Laminated metal plate for drawn can, and drawn can prepared therefrom

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5137762A (en) * 1989-09-18 1992-08-11 Toyo Seikan Kaisha, Ltd. Laminated metal plate for drawn can, and drawn can prepared therefrom

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5604363A (en) Semiconductor pressure sensor with package
US20050156241A1 (en) Pressure sensor
JPS6171649A (ja) Icパツケ−ジ
US5828116A (en) Semiconductor device with bonded wires
KR980006153A (ko) 반도체 장치 및 그 제조방법
JPS6286734A (ja) チツプマウント方法
JP4396009B2 (ja) 集積化センサ
JPS6286735A (ja) チツプマウント方法
JPS63175482A (ja) 圧力センサ
JPH06216194A (ja) 半導体チップの実装構造
JPH02241040A (ja) 半導体装置の製造方法
US20250140626A1 (en) Sensor electronic device
JPH0566979B2 (ja)
JPH1168120A (ja) 半導体圧力センサ及びその製造方法
JPS6221276A (ja) 静電接着の方法
JPS6221277A (ja) 静電接着の方法
JPS6315447A (ja) 混成集積回路装置
JPH0287654A (ja) 表面実装型半導体装置
JPS63248155A (ja) 半導体装置
JPS63240055A (ja) 半導体装置
JPS6284538A (ja) 半導体素子用ステム
JPS60130149A (ja) Icパツケ−ジ
JPS61214443A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS5931534A (ja) 半導体圧力センサ
JPS63209133A (ja) 半導体チツプ