JPS6290809A - 酸化物透明導電性薄膜の製法 - Google Patents

酸化物透明導電性薄膜の製法

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JPS6290809A
JPS6290809A JP13637185A JP13637185A JPS6290809A JP S6290809 A JPS6290809 A JP S6290809A JP 13637185 A JP13637185 A JP 13637185A JP 13637185 A JP13637185 A JP 13637185A JP S6290809 A JPS6290809 A JP S6290809A
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tin
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cto
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勉 七尾
江口 民行
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Kanegafuchi Chemical Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野) 本発明はω−5n(カドミウム−スズ)系酸化物透明導
電性薄膜およびその製法に関する。
〔従来の技術・発明が解決しようとする問題点〕透明導
電性薄膜は液晶用ディスプレイ、エレクト0ルミネッセ
ンス、エレクトロクロミック素子などの表示デバイス、
太itmなどの光電変換デバイスの電極材料、あるいは
赤外線反射膜としてますます需要が増加してきている。
これら透明導電性薄膜の組成としては、酸化スズにアン
チモンまたはフッ素をドーピングした組成(たとえばN
FSAllI)や酸化インジウムにスズをドーピングし
た組成(以下、ITOという)などが知られており、そ
れぞれっぎのごとき特徴を有している。
すなわち、酸化スズ系透明導電性膜はスパッタリング法
でも製造可能であるが、コストおよび性能上の理由から
スプレー法や常圧CVD法などの方法により製造されて
おり、安価にえられるが、導電性が1〜6X10−3Ω
−1,(1−1とITO躾よりもやや劣ること、膜中の
ピンホールが多く表面平滑性に劣ること、また耐酸性が
あるため逆に酸によるエツチングが困難で精密なパター
ン加工が困難となるなどの欠点がある。
一方、ITO躾は導電性が2〜5X10−4Ω−!・c
+e−tと良好で、酸によるパターンエツチングが容易
であるが、真空蒸着法あるいはスパッタリング法などの
真空系を用いたプロセスにより製造されているため、製
造装置が高価である、生産にはバッチ方式が適するため
生産性がわるい、大面積の成膜が困難である、原料であ
るターゲットの歩留りがわるく、インジウム資源の枯渇
も予想され、原料費が高くなるなどの欠点があり、製品
が高価になる。
上記のように、[TO膜は高価ではあるが性能が良好で
あるため、電子機器関連用の透明導電性薄膜の用途の大
半にはITO[!が使用されているのが現状である。そ
れゆえ、安価で高性能を有する透明導電性薄膜の開発が
望まれている。
前記真空系プロセス以外のITOllの製法として、加
熱されたガラス基板上に金属塩溶液を噴霧して熱分解さ
せるスプレー法、基板上に金属塩溶液を塗布したのち加
熱し、熱分解させる塗布法などが提案され、検討されて
きている。しかしながら、スプレー法には表面が平滑な
薄膜を形成させにクク、薄膜が白濁しやすい、熱分解し
たハロゲンなどのガスの後処理が必要で、設備費用がか
さむなどの問題がある。一方、塗布法では真空プロセス
で作ったITOIIに比べて、導電性が同レベルのIT
O[9が製造できないなどの問題がある。
一方、ITOlllと同レベルの導電性、可視光透過性
、エツチング加工性を有する透明導電性薄膜として、ノ
ジック(Nozik)はスパッタリング法によってでは
あるが、組成がCd2sno 4であるカドミウム−ス
ズ酸化物膜(以下、CTO[mという)を見出している
(米国特許第3811953@明細書)。また該Cdz
 sno 4躾よりも導電性はやや劣るが、cdSno
、19も透明導電性i1膜として用いうろことが知られ
着目されつつある。
しかし、これらCTO[9の欠点として、■スパッタリ
ング法により製造する必要があるため、成膜速度が遅く
、生産性が低いこと、およびコストもITOllに比べ
てさほど安価にならないこと ■可視光平均の透光性は良好であるが、熱波長域の吸収
が大きいため黄色に着色しており美感を損うことがあり
、さらに太陽電池に用いるばあいには、高エネルギーの
短波長光をセル中に通しにくいので効率を低下させるこ
と などがあげられる。
本発明者らは、すてに■の欠点については、カドミウム
化合物を含有する複合金属溶液を基板上で熱分解させる
ことにより、cro gをa造する方法を確立し、 ■の欠点については、第3金属成分として、アルカリ土
類金属、硼素、亜鉛から選ばれた金属を加えることによ
り、短波長透過性を改善しろることを見出している。
さらに本発明者らはこれらCTO[9の実用性の評価検
討を進めたところ、CTOIIIは結晶水をとりこみ、
水和結晶をつくるため、長期間水中に浸漬しておくと、
著しく導電性が低下してしまうという新たな欠点を見出
し、この特性が実用上問題を生じうるという結論に達し
ている。
本発明はこの新たな欠点を解消するためになされたもの
である。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、カドミウム、スズ、リンを含む複合酸化物か
らなり、Cd/Snの原子比が08〜1.8でP/Sn
の原子比が0.01〜1.Orあることを特徴とする酸
化物透明導電性薄膜、およびカドミウム、スズ、リンを
含む複合酸化物からなり、Cd/Snの原子比が0.8
〜L8でP/Snの原子比が001〜10である酸化物
透明導電性薄膜を製造するに際し、水または有機溶媒中
に溶解した加水分解性または可燃性基を有する金属化合
物を基板上に塗布したのち、加熱処理を施すことを特徴
とする酸化物透明導電性Illの製法に関する。
〔実施例〕
本発明のCTO系11111は、Cd/ Snが原子比
で0.8〜1,8の範囲で、これにリン成分が加わり形
成される。
Cd/ Snが原子比で0.8未満になると、CTO系
薄膜薄膜電性が100−1(1−1程度未満となり、酸
化物透明導電性薄膜として用いることができなくなり、
また酸によるエツチングが困難になる。
一方、Cd/Snが原子比で1.8をこえると、スズと
未反応のCdOの析出が生じて単−相の薄膜とならず、
また膜が褐色に着色するようになり、透光性が損なわれ
る。
本発明におけるリンは、スズに対して原子比で0.01
〜1.01好ましくは0.03〜0.5である。前記原
子比が0.01未満になると、添加による耐水性の向上
効果がほとんど生じなくなる。
一方、前記原子比が10をこえると、長期耐水性は改良
されるが、導電性が低下し、実用的でなくなる。
ざらに導電性および短波長透過性改善のため、さらに金
属成分として、アルカリ土類金属、亜鉛、チタン、イン
ジウム、硼素、ニッケル、銅から選ばれた金属成分(以
下、第4の金属成分という)を1種以上加えてもよく、
たとえばアルカリ土類金属であるH(]、Ca、 Sr
、 BaヤB 、Inなどを添加すると、添加しないば
あいと比較して形成されるCTO系amの密度が増加し
て硬度が増すとともに、短波長可視光および近紫外線の
透光性が向上し、無添加系の黄色っぽい透明膜に対して
青色がかった無色に近いCTO系薄膜薄膜られる。なお
えられるCTO系t系膜1膜電性は、第4の金属成分を
用いないばあいと同程度から50%近い導電性の向上が
見られる。
第4の金属成分としてzlやTiを用いると、CTO系
薄膜薄膜波長可視光および近紫外線の透光性が著しく改
良され、aooo入における透光性が未添加系に比べて
30〜50%向上しており、かつ導電性も向上する。
一方、第4の金属成分としてNiまたは−を用いると、
えられるCTO系lll1Mの透光性はほとんど改良さ
れないが、導電性が向上する。
これら第4の金属成分の添加量はスズに対して原子比で
0.01〜0,5、好ましくは0.03〜0.5用いる
ことにより上記効果が達成されうる。
Cd −S n酸化物にリンを加えることで透明導電性
薄膜の耐水性が著しく向上する理由は充分に解明されて
いないが、X線回折の結果、リンを加えることでアモル
ファス化が促進されており、ガラス化していることが予
想され、このため、水和結晶をつくりにくくなり耐水性
が向上しているものと考えられる。
つぎに本発明のCTO系薄膜薄膜法について説明する。
CTO系薄膜薄膜パッタリング法により製造してもよい
が、本発明者らが開発した特願昭58−248342号
明@自記載の製法と同様の製法、すなわち有機溶媒中に
カドミウム化合物、スズ化合物、リン化合物および必要
により用いられる第4の金属成分となる金属化合物を含
有させた複合金属溶液を基板上で熱分解させることによ
り製造してもよく、この方法によると高い生産性および
低い製造コスl〜で目的物をうることができる。
吋θ系薄膜の形成に用いるカドミウム化合物としては、
一般に市販のカドミウム化合物が使用可能であるが、炭
素数1〜30程度の有機物とカドミウムとから製造され
るカドミウム化合物が、製造しやすく、かつ取扱いやす
いため好適である。このようなカドミウム化合物の典型
的なものとしては、カドミウムカルボン酸塩類、カドミ
ウムアルコキシド類、カドミウムβ−ジケトン錯体類、
カドミウムα−ケト酸錯体類、カドミウムβ−ケト酸鉗
休類、カドミウムα−ケト酸エステル錯体類、カドミウ
ムβ−ケト酸エステル錯体類などがあげられる。前記カ
ドミウムカルボン酸塩類の具体例としては、ギ酸カドミ
ウム、酢酸カドミウム、酪酸カドミウム、乳酸カドミウ
ム、マレイン酸カドミウム、シュウ酸カドミウム、オク
チル酸カドミウム、オレイン酸カドミウム、ステアリン
酸カドミウム、リノール酸カドミウム、ナフテン酸カド
ミウムなどの炭素数1〜30の1価または多価カルボン
酸カドミウムとの塩が好ましい。カドミウムアルコキシ
ド類の具体例としては、カドミウムと炭素数1〜20の
1i[iまたは多価のアルコールとの反応によりえられ
たカドミウムアルコキシドが用いられる。カドミウムβ
−ジケトン錯体類の具体例としては、アセチルアセトン
カドミウム、ベンゾイルアセトンカドミウムなど、カド
ミウムα−またはβ−ケト酸錯体類の具体例としては、
アセチルギ酸、アセト酢酸、プロピオニル−1so−酪
酸、ベンゾイル酢酸などとカドミウムとの錯体、カドミ
ウムα−またはβ−ケト酸エステル類の具体例としては
、上記α−またはβ−ヶ1〜醗とメチルアルコール、エ
チルアルコール、プロピルアルコール、ブチルアルコー
ルなどとのエステルとカドミウムとの錯体などがあげら
れ、これら以外にもグリコール酸、乳酸、α−オキシ酪
酸、ヒドロアクリル酸、サリチル酸などのα−またはβ
−オキシ酸とメチルアルコール、エチルアルコール、プ
ロピルアルコール、ブチルアルコールなどとのエステル
とカドミウムとの錯体などやこれらの縮合体、多量体、
混合物なども使用しうる。なかんづく、有機溶媒に可溶
で、400℃以下の加熱で、無機カドミウム化合物に分
解するものがとくに好ましい。
CTO系薄膜薄膜成に用いるスズ化合物としては、一般
式(I): sn (OR+ )2         (1)(式中
、R1は炭素数1〜20の炭化水素基である)で表わさ
れる2iのスズのアルコシキト類、一般式(■): Sn (OR+ )4         (1)(式中
、R1は前記と同じ)で表わされる4価のスズのアルコ
キシド類、一般式(I):Sn (OR+ )44 Y
 t      [)(式中、R1は前記と同じ、Yは
キレート能を有する官能基またはハロゲン原子、Xは1
〜3の整数である)で表わされる41i1[iのスズの
部分アルコキシド類または一般式(1)、一般式([)
、一般式fl)で表わされる化合物の縮合多量体などが
あげられる。また一般式N: Sn (0COR2)2        (Vl(式中
、R2は水素または炭素数1〜30の炭化水素基である
)で表わされる2 +tiのスズのカルボン酸塩類、一
般式(Vl: Sn (0CORz )a        M(式中、
R2は前記と同じ)で表わされる4価のスズのカルボン
酸塩類があげられ、さらに2価または411iのスズと
7セチルアセトン、ベンゾイルアセトンなどとの反応物
であるβ−ジケトン錯体類、スズオキシβ−ジケトン錯
体類、テトラメチルスズ、テトラエチルスズなどのアル
キルスズ類、テトラフェニルスズなどの有機スズ類、さ
らに一般式(vI): J SnX 4−x        ■(式中、Rは水
素原子または炭素@1〜20の炭化水素基、Xは塩素原
子、フッ素原子などのハロゲン原子、アルコキシ基、カ
ルボン酸残基、Xは前記と同じ)で表わされる化合物な
どがあげられるが、これらに限定されるものではない。
前記一般式(+1で示される化合物の具体例としては、
ジェトキシスズ、ジプロポキシスズ、ジー2−エチルヘ
キソキシスズ、ジプロポキシスズなど、一般式1ll)
で示される化合物の具体例としては、テトラエトキシス
ズ、テ]−ラブ口ボキシスズ、テトラブトキシスズ、テ
トラキス(2−エチルヘキソキシ)スズ、テトラステア
ロキシスズなど、一般式[111で示される化合物の具
体例としては、スズブトキシジクロライド、トリステア
ロキシスズモノクロライトなど、一般式Nで示される化
合物の具体例としては、酢酸第1スズ、シュウ酸第1ス
ズ、酒石酸第1スズ、オクチル酸第1スズ、オレイン酸
第1スズ、リノール酸第1スズ、ステアリン酸第1スズ
など、一般式Mで示される化合物の具体例としては、酢
酸第2スズ、乳酸第2スズ、酪酸第2スズ、オクチル酸
第2スズ、リノール酸第2スズなど、一般式■で示され
る化合物の具体例としては、ジオクチルスズジアセテー
ト、ジエチルスズオキサイド、ジブチルスズマレエート
、ジフェニルスズジクロライド、ジベンジルスズジヒド
ロキシド、トリブチルスズラウレート、ジブチルスズジ
ラウレート、ジブチルスズプロポキシド、ジビニルスズ
ジクロライドなどがあげられる。
これらの化合物は単独で用いてもよく、2種以上混合し
て用いてもよいが、有機溶媒に可溶で400℃以下の加
熱で、無機スズ化合物に分解するものがとくに好ましい
CTO系MRの形成に用いるリン化合物としては、前述
のカドミウム、スズを含む溶液中に相溶し、熱分解後膜
中にリン成分が残存することが重要であり、具体例とし
ては、たとえばリン酸トリメチル、リン酸トリエチル、
リン酸トリフェニル、リン酸トリブチルなどのリン酸エ
ステル、たとえば亜リン酸トリエチル、亜リン酸トリブ
チル、亜リン酸トリフェニルなどの亜リン酸エステル、
五酸化リン、リン酸などがあげられ、とくに亜リン酸エ
ステル、リン酸エステルを使用するのが好ましい。
さらに導電性および短波長透過性向上のために加えられ
る第4の金属成分となる金属化合物(以下、第4の金属
化合物という)としては、溶液中に相溶し、熱分解後膜
中に金属成分が残存することが重要であり、具体例とし
てCa、 Hg、Ba、 Srなどのアルカリ土類金属
、B 、In、 2n、Ti、 Ni、 Cuとギ酸、
酢酸、プロピオン酸、乳酸、酪酸、ナフテン酸、オクチ
ル酸、アクリル酸、メタクリル酸などのカルボン酸との
塩類またはアセチルアセトンなどのβ−ジケトン銘体、
あるいはαまたはβ−オキシ酸、β−ケトン酸との錯体
などの有機金属化合物、炭素数1〜20のアルコキシ基
をもつ金属アルコキシドあるいは上記金属の塩化物、硝
酸化合物があげられ、好ましい。
CTO系薄膜の形成に用いる有機溶媒としては、たとえ
ばメチルアルコール、エチルアルコール、イソプロピル
アルコール、ブチルアルコール、ペンタノールなどの1
1i1[iアルコール類、エチレングリコール、グリセ
リン、1.4−ブタンジオールなどの多価アルコール類
、酢酸エチル、酢酸プロピル、酢酸イソアミル、蟻酸プ
ロピルなどのカル−ボン酸エステル項、アセトン、アセ
チルアセトン、ジエチルケトン、メチルエチルヶ1〜ン
などのケトン類、ベンゼン、1〜ルエン、キシレンなど
の芳香族溶媒類、ジオキサン、テトラヒドロフランなど
のエーテル類、メチルセロソルブ、エチルセロソルブな
どのグリコールエーテル類、N−メチル−2−ピロリド
ン、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミドなど
のチッ素含有有機溶媒類などがあげられるが、これらに
限定されるものではない。これらの有機溶媒は単独で用
いてもよく、2種以上混合して用いてもよい。また水を
単独であるいは前記有機溶媒と併用して用いてもよい。
前記有機溶媒が1(ilIiまたは多価の低級アルコー
ル類、カルボン酸エステル類、ジオキサン、テトラヒド
ロフランなどのエーテル類のばあいには、カドミウム化
合物、スズ化合物、リン化合物および必要により用いら
れる第4の金属化合物の種々の組合わせに広く用いるこ
とができるが、カドミウム化合物、スズ化合物、リン化
合物および第4の金属化合物の組合わせに応じて適宜選
択することが好ましい。
CTO系薄膜の形成に用いる複合金属溶液は、カドミウ
ム化合物、スズ化合物、リン化合物および必要により用
いられる第4の金属化合物を有機溶媒に溶解することに
より調製される。
前記複合金l1il溶液におけるカドミウム化合物、ス
ズ化合物、リン化合物および必要により用いられる第4
の金属化合物く以下、金属成分という)の濃度は、金属
分として通常0.01〜40%(重量%、以下同様)程
度で使用されるが、作業性などの点から3〜20%にす
るのか好ましい。
CTO系薄膜の形成に用いる複合金属溶液には必要に応
じて、たとえば有機金属化合物の加水分解を防止するた
めのオルトギ酸エステル系の有機系脱水剤などを加えて
もよい。
本発明において、複合金属溶液が石英ガラス、透明アル
ミナ、ソーダガラスあるいはアルカリ拡散防止のためソ
ーダガラス表面上に500〜2000人の膜厚で5i0
21.TiO2、zno2などからなる膜を被着したソ
ーダガラスM根上で熱分解されることにより、CTO系
JIIが形成される。
形成されるCTO系簿躾の性質は、前記カドミウム化合
物、スズ化合物、リン化合物そして必要により用いられ
る第4の金属化合物の組合わせにより大きく変わってく
る。
該CTO系薄膜には、単なる金属成分の混合組成となっ
たばあいと、加えた金属化合物が共反応をおこして配位
化合物あるいは複合金属錯体になったばあいとがあり、
後者の方が優れた性能を示しており目的のCTO系薄膜
を作るのに好ましく、この様な配(ff化合物あるいは
複合金属錯体を作るには加える金属化合物として反応性
の強い金属アルコキシドや金属β−ジケトン錯体などを
用い、溶液を共沸、環流させるのが目的のCTO系簿躾
を作るために好ましい。
また、これらの化合物同士の共反応を促進させるため、
かかる複合金属溶液を基板上に浸漬塗布などしたのも7
0〜150℃にて5〜60分間程分間−ブンにて乾燥さ
せ、ついで空気中または酸素分圧を調整した酸化雰囲気
にて400〜700℃程度で15分間〜2時間程度熱処
理することにより、−次焼成が行なわれる。もちろん該
温度を700℃をこえる高1にしてもよいが、100°
Cをこえる高温にしても特別な利点がえられるわけでは
ない。なお該−次焼成を600℃程度以下で行なうと、
一般に非結晶質となることが薄膜のX線回折の結果から
判明しており、500℃程度以下で行なうと、薄膜全体
がほとんどアモルファスとなり、600℃程度以上では
結晶化することが判明している。
とくに安価なガラス基板材料であるソーダガラスを用い
るときには、ガラスの軟化温度の点から550℃以下の
温度で熱処理することが重要である。
かかるCTO系簿膳のIll厚は、塗布する複合金属溶
液の濃度や、たとえば浸漬塗布を行なうばあいには浸漬
塗布時の引上げ速度などによって制御しうる。複合金属
溶液の濃度についてはすでに記載したとおりであるが、
引上げ速度については任意に調節可能であり、とくに限
定されるものではないが、たとえばカルボン酸金属化合
物を使用する際には5〜30cm、分Pi!度を目安に
すればよい。複合金属溶液の濃度や浸漬塗布時の引上げ
速度などはカドミウム化合物、スズ化合物、リン酸化合
物、必要により用いられる第4の金属化合物、有機溶媒
の組合わせや熱分解法、所望する膜厚などに応じて適宜
決定すればよい。このようにして形成される膜1り(よ
、用途などに応じて適宜選択すればよいが、通常200
〜20.000人程度であることが好ましく、500〜
10,000人程度であることがさらに好ましい。
一次焼成工程によりえられたCTO系薄膜は、通常導電
率が10−1〜102Ω−1(1−1とかなり低いが、
該簿膜に紫外線を照射したり、つぎのごときアニーリン
グを施すことにより、導電率が約1〜2桁向上する。
アニーリングとは複合金属溶液の分解を目的とする一次
焼成をおえだ薄膜を還元雰囲気下、不活性ガス雰囲気下
または通常50aa+Hg以下程度の減圧下で、再び熱
処理を行なうことである。
還元雰囲気下での熱処理とは、たとえば水素や一酸化炭
素などの還元性ガス中にて50〜400℃程度の条件で
1〜90分間程度、不活性ガス雰囲気下での熱処理とは
、たとえばアルゴン、チッ素、ヘリウムなどの不活性ガ
ス中で200〜700℃程度で5〜180分程度、また
減圧下での熱処理とは、前記のような減圧下、200〜
700℃程度で5分(l!1〜3時間程度行なう方法で
ある。またこれらアニーリングは一次焼成工程と連続し
て実施してもかまわない。これらのアニーリングにより
、CTO系薄膜の導電率が向上する以外に、透光性の#
4域が紫外域側にシフトする。
−次焼成をおえた薄膜に紫外線を照射しても、アニーリ
ングと同様の効果がえられる。照射する紫外線としては
、波長が2000〜4000人程度の紫外線を、M根土
の照度が50〜100万ルツクスになるような条件で1
分間〜10時間照射することにより、導電性および可視
光透過性が向上するという効果がえられる。
本発明のCTO系薄膜の製法を浸WA塗布法にもとづい
て説明したが、浸漬塗布法以外の塗布法、たとえばスピ
ンコーティング法、ロールコータ−法、ドクターブレー
ド法なども採用することができる。また加熱された基板
に、CTO系薄膜の形成に用いる複合金属溶液を吹きつ
けて熱分解させてCTO系薄膜を製造することもできる
このようにして製造されたCTO系vJmは、液晶用デ
ィスプレイ、エレクトロルミネッセンス、太陽電池など
の電極材料として好適に使用されうる。
つぎに本発明のCTO系薄膜およびその製法を実施例に
もとづき説明するが、本発明はこれらに限定されるもの
ではない。
実施例1および比較例1 無水酢酸カドミウム10.OQとスズテトラブトキシド
9.9gをエチルアルコール80gに溶かし。
さらに亜リン酸トリエチルを0.8g加え、約4時間環
流処理を行ない、CTO系薄膜を形成する際のIll!
ll波布調製した( Cd/ Sn −1,8、P/5
n−0,2)  。
同様にして亜リン酸トリエチルを含まない塗布液を調製
した。
これらの溶液をそれぞれ、アルカリ拡散防止処理として
約1500人の3i0.illをコーティングしたソー
ダガラス基板(厚さ 1.1mm)上に、引上げ速度1
0CI/Winの浸漬塗布法で塗布したのち、150″
CX 30分間乾燥し、さらにマツフル炉中、大気雰囲
気下にて540℃X30分間焼成して、透明なCTO系
薄膜をえた。
えられた薄膜は両者とも膜厚1200人で表面抵抗値は
、Pを添加したもので5.5にΩ/口、Pを添加しない
もので4,5にΩ/口であった。
ざらにえられた2種の基板を12:  H2−1:1(
モル比)の混合ガス中で300℃×30分間アニール処
理を施し、表面抵抗値を測定したところ、Pを添加した
ものは76Ω/口、Pを添加しないものは120Ω/口
であり、双方とも良好な導電性を示し、しかもX線回折
の結果、いずれもアモルファスであることが判明した。
前記2種の基板を、耐水性促進試験として70℃に保っ
た蒸留水中に浸漬し、表面抵抗値の経時変化を測定した
ところ、Pを添加しないものでは6時間後には表面抵抗
値が1.2倍になり導電性がわるくなり始めており、2
4時間後には完全に無限大の表面抵抗となり、導電性が
消失してしまうことが判明した。これに対してPを添加
したものでは120時間浸漬後でも表面抵抗値は殆んど
変化せず、耐水性が極めて浸れていることが判明した。
また耐水性試験後の2種のCTO系薄膜の表面を走査電
子顕微鏡により観察したところ、リンを添加しないもの
では水和結晶と考えられる0、5μm程度のサイコロ状
の粒子が無数に析出しており、均一な膜になっておらず
、一方、リンを添加したものでは試験前と変わらない平
滑な均一な膜になっており、耐水性の差が歴然としてい
ることが判明した。
実施例2および比較例2 実施例1と同様にして、酢酸カドミウム、スズテトラブ
トキシド、さらに亜リン酸トリエチルを加えた溶液およ
び亜リン酸トリエチルを加えない溶液の2種の溶液を作
り、これらにそれぞれ第1表の金属成分を加え約4時間
環流処理を施して塗布溶液を調製した。これらの溶液を
実施例1と同様にシリカコートしたソーダガラス基板上
に塗布焼成およびアニール処理を施して導電性および耐
水性の評価および走査電子顕微鏡による表面観察を実施
じたところ、リン成分の添加により耐水性が向上してい
ることが判明した。
〔以下余白〕
[発明の効果] 本発明の薄膜は透明な導電性の膜で耐水性のきわめて優
れたものであり、このような特徴を有する薄膜を本発明
の製法によると高速かつ低コストで成膜することができ
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 カドミウム、スズ、リンを含む複合酸化物からなり
    、Cd/Snの原子比が0.8〜1.8でP/Snの原
    子比が0.01〜1.0であることを特徴とする酸化物
    透明導電性薄膜。 2 カドミウム、スズ、リン以外に、スズに対して原子
    比で0.01〜0.5のアルカリ土類金属、亜鉛、チタ
    ン、インジウム、硼素、ニッケル、銅から選ばれた1種
    以上の金属が、さらに含まれていることを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の薄膜。 3 カドミウム、スズ、リンを含む複合酸化物からなり
    、Cd/Snの原子比が0.8〜1.8でP/Snの原
    子比が0.01〜1.0である酸化物透明導電性薄膜を
    製造するに際し、水または有機溶媒中に溶解した加水分
    解性または可燃性基を有する金属化合物を基板上に塗布
    したのち、加熱処理を施すことを特徴とする酸化物透明
    導電性薄膜の製法。
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JPS61273807A (ja) * 1985-05-28 1986-12-04 鐘淵化学工業株式会社 酸化物透明導電性薄膜

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