JPS63143258A - スパツタリング用タ−ゲツト - Google Patents
スパツタリング用タ−ゲツトInfo
- Publication number
- JPS63143258A JPS63143258A JP28990986A JP28990986A JPS63143258A JP S63143258 A JPS63143258 A JP S63143258A JP 28990986 A JP28990986 A JP 28990986A JP 28990986 A JP28990986 A JP 28990986A JP S63143258 A JPS63143258 A JP S63143258A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- target
- cooling plate
- alloy
- sputtering
- plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
- C23C14/3414—Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
〔産業上の利用分野〕
この発明は1例えば光ディスクの記録媒体薄膜をスパッ
タリングにより形成するに際して用いられる。Te、T
e合金、またはSe合金からなり、かつ冷却板にろう付
けされている薄い板状のターゲットに関するものである
。 〔従来の技術〕 上記のような光ディスクの記録媒体薄膜の形成に用いら
れるスパッタリング用ターゲットを1532するTe
、 Te合金、およびSe合金は、脆くて展延性がない
ため、これらに塑性加工を施すことができず、したがっ
て、このターゲットの製造には、溶解鋳造法および粉末
冶金法が用いられ、それによって製造された薄い板状の
ターゲットは、スパッタリング中過闇に加熱されるのを
防ぐため、InnIn合金、Sn + Sn合金等のろ
う材によって冷却板にろう付けされた状態で使用されて
いる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 ところが近年においては、光ディスクの急激な需要増に
基づく量産化に対応する必要があるところから、ターゲ
ットの大型化が要望されているけれども−Te * T
e合金、およびSe合金は元来非常に脆い結晶からでき
ているうえに、このようなターゲットは通常3〜6mの
ような薄い板状に形成される2め割れ易く、シたがって
上記の溶解鋳造法では、製置されたターゲットが非常に
脆い鋳造組織で構成されているので、直径:125mの
寸法を越すターゲットを製造することは困難であl]。 またホットプレスのような粉末冶金法によっても。 500 yes X 500−の寸法を越える焼結ター
ゲットを製造することは困難であり、さらにターゲット
が大型Cヒするほど、tJrI工中のクラック発生等に
よる個数歩留りの低下も顕著になるので、現在では、上
記の要望に応えるに足る大型ターゲットはまだ得ら飢で
いない状況にある。 〔研究に基づく知見事項〕 そこで1本発明者等は、このような状況に鑑みて種々研
究を重ねた結果。 製作が容易な比較的小型のターゲット、すなわち薄い板
状のターゲット要素複数枚を、互にそれらの対向する側
部端面で当接または嵌合させるこ七によ
タリングにより形成するに際して用いられる。Te、T
e合金、またはSe合金からなり、かつ冷却板にろう付
けされている薄い板状のターゲットに関するものである
。 〔従来の技術〕 上記のような光ディスクの記録媒体薄膜の形成に用いら
れるスパッタリング用ターゲットを1532するTe
、 Te合金、およびSe合金は、脆くて展延性がない
ため、これらに塑性加工を施すことができず、したがっ
て、このターゲットの製造には、溶解鋳造法および粉末
冶金法が用いられ、それによって製造された薄い板状の
ターゲットは、スパッタリング中過闇に加熱されるのを
防ぐため、InnIn合金、Sn + Sn合金等のろ
う材によって冷却板にろう付けされた状態で使用されて
いる。 〔発明が解決しようとする問題点〕 ところが近年においては、光ディスクの急激な需要増に
基づく量産化に対応する必要があるところから、ターゲ
ットの大型化が要望されているけれども−Te * T
e合金、およびSe合金は元来非常に脆い結晶からでき
ているうえに、このようなターゲットは通常3〜6mの
ような薄い板状に形成される2め割れ易く、シたがって
上記の溶解鋳造法では、製置されたターゲットが非常に
脆い鋳造組織で構成されているので、直径:125mの
寸法を越すターゲットを製造することは困難であl]。 またホットプレスのような粉末冶金法によっても。 500 yes X 500−の寸法を越える焼結ター
ゲットを製造することは困難であり、さらにターゲット
が大型Cヒするほど、tJrI工中のクラック発生等に
よる個数歩留りの低下も顕著になるので、現在では、上
記の要望に応えるに足る大型ターゲットはまだ得ら飢で
いない状況にある。 〔研究に基づく知見事項〕 そこで1本発明者等は、このような状況に鑑みて種々研
究を重ねた結果。 製作が容易な比較的小型のターゲット、すなわち薄い板
状のターゲット要素複数枚を、互にそれらの対向する側
部端面で当接または嵌合させるこ七によ
この発明は、上記知見に基づいて発明されたもので、従
来のターゲットと同様に、ターゲットに付随しているろ
う材ぢよび冷却板にスパッタリングを起すことなく、専
らターゲットのみがスパッタリングされる大型のターゲ
ットを提供することを目的とし。 Te 、 Te合金、またはSe合金からなl)、かつ
冷却板にろう付けされている薄い板状のスパッタリング
用タフゲットであって、前記ターゲットが、互に対向す
る側部端面で当接または嵌合し合うことによりつなぎ合
わされて、冷却板上に配置され。 かつその冷却板にろう付けされた複数枚の薄い板状のタ
ーゲット要素から構成され、そしてこのターゲット要素
の前記側部端面には、冷却板に対して傾斜した平面、屈
曲した平面、まtは曲面が形成されていることを特徴と
するものである。 〔発明の詳細な説明〕 1 ターゲットの材質 この発明のターゲットはTe 、 Te合金、またはS
e合金からな0.このうちTe合金およびSe合金は。 合金成分として1例えば、 Te + Se 、 Cu
+ Ag * Au +Zn r Cd * Ga
t In + I7 + Ct Ge r Sn *
Pb + As + Sb +B++およびSのうちの
l踵または2種以上を8宵するものであり、特にTeg
O8e10やT’e80se20のようなTe−Se合
金から構成される。 2 ターゲット要素 ターゲット要素とは、これらを互につなぎ合わせること
によってこの発明のターゲットを形成させるための、薄
板状ターゲットであって、これは従来の溶解鋳造法や粉
末冶金法などのどのような方法によって製置してもよく
、それが大きすぎると、材料が脆いため、前述のように
個数歩留(Jが低下し、一方それが小さ過ぎると、大型
のターゲットを作るのに多くの個数を必要として手数と
手間がかかり、生産性が低下するので、このターゲット
要素の寸法は1例えば、それが正方形の溶解鋳造品であ
る場合には、−辺を50〜1Oo−とし、また焼結材料
である場合には、−辺を100〜300■とするのがよ
く、その形状は特に制約されないが、ターゲットは通常
長方形または円形の形で使用されるので、一般に長方形
、ま2は分割された円形とするのカー好ましい。 2、 ターゲット要素のつなぎ合わされる側部端面の形
状 この発明のターゲットにおいては、第2図〜第4図に示
されるように、互につなぎ合わされるターゲット要素l
の側部端面1a+ laに1例えばシート状のろう2お
よび冷却板3に対して傾斜した平面(第2図)、屈曲し
た平面(第3図の(イ)およびICF) ) 11およ
び曲面(84図)が形成され、それらの端面1aとla
とが互に当接または嵌合し合っているので、スパッタリ
ング中に、これらのターゲット要素のつなぎ目から、ろ
う材や冷却板構成材がスパッタリングされて、成膜中に
目的元素以外の元素が混入してくるというトラブルを防
止することができる。 一般に、第3図に示した屈曲した平面および第4図に示
した曲面をターゲツト材要素の側部端面に形成させて、
これらを互に嵌合させるよりは。 第2図に示したような、冷却板に対して傾斜した平面を
前記端面に形成させて、これらを互に当接させる方が、
その端面の加工が容易である点で好ましいけれども、こ
の傾斜した角度θが小さすぎると、ろう材および冷却板
構成材(一般に銅または銅合金)がそのつなぎ目から放
散するおそれが生じ、一方その角度が大きすぎると、タ
ーゲツト材の材質が脆いtめ、そのような加工が困難と
なることから、この角度θは一般にlθ〜6(lj’で
あるのが好ましい。 〔実迩例〕 ついで、この発明を実施例によI】比較例と対比しなが
ら説明する。 通常の粉末冶金法によって焼結されf: −T”eQO
seiO(数字は原子%、以下同様)の組成および20
0rm X 200■X厚さ=6mの寸法を有するター
ゲラ)W素lを5枚つなぎ合わせることによって第【図
の平面図(イ)に示されるような大型ターゲットを製造
するために、前記ターゲット要素lのつなぎ目の側部端
面を、第1図のto)に部分拡大断面図で示されるよう
に、ろう2および冷却板3に対して30°の角度で傾斜
した平面1a、laに加工し。 ついでこれらのターゲット要素lを、前記傾斜した平面
を互に当接させた状態で、ただしこの傾斜面の加工誤差
に基づく隙間が1部分的にO,1〜0、2 mの間隔で
形成されている状態で、220n+mX1020+mX
厚さ:10閣の寸法を有する銅製冷却板(バッキングプ
レート)3上に、 In70Sn30からなる組成を有
する厚さ30μのろう2を用い一真空中、温度140℃
でろう付けすることによって1本発明ターゲットを製造
した。 さらに比較のため、前記ターゲット要素lの側部端面を
傾斜面とする加工を施さずに、すなわちこの側部端面1
a+laが冷却板3の表面に対して垂直となっている点
だけを除いて、前記と全く同様な方法により、前記本発
明ターゲットと同一の寸法を有する比較ターゲットを製
造した。 ついで、この結果得られた各ターゲットの特性を調査す
るため、これらのターゲットから、マグネトロンスパッ
タリングにより、最大出力=2.0W/、および薄膜形
成速度:200人/順において、直径:、3’00mm
の寸法を有するポリカーボネート製基体上に厚さ: 0
.1 fiの’re90selo薄膜を形成させ、その
薄膜中に混入したろう材および冷却板材(銅)の量を測
定したところ1本発明ターゲットでは、検知できるほど
の汚染物が見当らなかったのに対し、比較ターゲットで
は、汚染物が不均一:二分布し、全体として、ろうおよ
び冷却板に由来する汚染元素をO,1%含んでいた。 〔発明の効果〕 実施例の結果から1本発明ターゲットでは、ターゲット
のつなぎ目の側部端面を、冷却板に対してa6 M斜し
t平面に形成したために、スパッタリング中、ろうおよ
び冷却板に由来する汚染元素がスパッタリング膜中に混
入することがないのに対し、前記側部端面を単なる垂直
面とじt比較ターゲットでは、ターゲットのつなぎ目を
介して前記汚染元素が成膜中にスパッタリングされるこ
とがわかる。 以上述べた説明から明らかなように、この発明によると
、ろうおよび冷却板を構成する成分で汚染されないスパ
ッタリング嘆を形成できるTe、Te合金、またはSe
合金製の大型ターゲットを容易に。 かつ歩留りよく提供できるという、産業上互用な効果が
得られる。
来のターゲットと同様に、ターゲットに付随しているろ
う材ぢよび冷却板にスパッタリングを起すことなく、専
らターゲットのみがスパッタリングされる大型のターゲ
ットを提供することを目的とし。 Te 、 Te合金、またはSe合金からなl)、かつ
冷却板にろう付けされている薄い板状のスパッタリング
用タフゲットであって、前記ターゲットが、互に対向す
る側部端面で当接または嵌合し合うことによりつなぎ合
わされて、冷却板上に配置され。 かつその冷却板にろう付けされた複数枚の薄い板状のタ
ーゲット要素から構成され、そしてこのターゲット要素
の前記側部端面には、冷却板に対して傾斜した平面、屈
曲した平面、まtは曲面が形成されていることを特徴と
するものである。 〔発明の詳細な説明〕 1 ターゲットの材質 この発明のターゲットはTe 、 Te合金、またはS
e合金からな0.このうちTe合金およびSe合金は。 合金成分として1例えば、 Te + Se 、 Cu
+ Ag * Au +Zn r Cd * Ga
t In + I7 + Ct Ge r Sn *
Pb + As + Sb +B++およびSのうちの
l踵または2種以上を8宵するものであり、特にTeg
O8e10やT’e80se20のようなTe−Se合
金から構成される。 2 ターゲット要素 ターゲット要素とは、これらを互につなぎ合わせること
によってこの発明のターゲットを形成させるための、薄
板状ターゲットであって、これは従来の溶解鋳造法や粉
末冶金法などのどのような方法によって製置してもよく
、それが大きすぎると、材料が脆いため、前述のように
個数歩留(Jが低下し、一方それが小さ過ぎると、大型
のターゲットを作るのに多くの個数を必要として手数と
手間がかかり、生産性が低下するので、このターゲット
要素の寸法は1例えば、それが正方形の溶解鋳造品であ
る場合には、−辺を50〜1Oo−とし、また焼結材料
である場合には、−辺を100〜300■とするのがよ
く、その形状は特に制約されないが、ターゲットは通常
長方形または円形の形で使用されるので、一般に長方形
、ま2は分割された円形とするのカー好ましい。 2、 ターゲット要素のつなぎ合わされる側部端面の形
状 この発明のターゲットにおいては、第2図〜第4図に示
されるように、互につなぎ合わされるターゲット要素l
の側部端面1a+ laに1例えばシート状のろう2お
よび冷却板3に対して傾斜した平面(第2図)、屈曲し
た平面(第3図の(イ)およびICF) ) 11およ
び曲面(84図)が形成され、それらの端面1aとla
とが互に当接または嵌合し合っているので、スパッタリ
ング中に、これらのターゲット要素のつなぎ目から、ろ
う材や冷却板構成材がスパッタリングされて、成膜中に
目的元素以外の元素が混入してくるというトラブルを防
止することができる。 一般に、第3図に示した屈曲した平面および第4図に示
した曲面をターゲツト材要素の側部端面に形成させて、
これらを互に嵌合させるよりは。 第2図に示したような、冷却板に対して傾斜した平面を
前記端面に形成させて、これらを互に当接させる方が、
その端面の加工が容易である点で好ましいけれども、こ
の傾斜した角度θが小さすぎると、ろう材および冷却板
構成材(一般に銅または銅合金)がそのつなぎ目から放
散するおそれが生じ、一方その角度が大きすぎると、タ
ーゲツト材の材質が脆いtめ、そのような加工が困難と
なることから、この角度θは一般にlθ〜6(lj’で
あるのが好ましい。 〔実迩例〕 ついで、この発明を実施例によI】比較例と対比しなが
ら説明する。 通常の粉末冶金法によって焼結されf: −T”eQO
seiO(数字は原子%、以下同様)の組成および20
0rm X 200■X厚さ=6mの寸法を有するター
ゲラ)W素lを5枚つなぎ合わせることによって第【図
の平面図(イ)に示されるような大型ターゲットを製造
するために、前記ターゲット要素lのつなぎ目の側部端
面を、第1図のto)に部分拡大断面図で示されるよう
に、ろう2および冷却板3に対して30°の角度で傾斜
した平面1a、laに加工し。 ついでこれらのターゲット要素lを、前記傾斜した平面
を互に当接させた状態で、ただしこの傾斜面の加工誤差
に基づく隙間が1部分的にO,1〜0、2 mの間隔で
形成されている状態で、220n+mX1020+mX
厚さ:10閣の寸法を有する銅製冷却板(バッキングプ
レート)3上に、 In70Sn30からなる組成を有
する厚さ30μのろう2を用い一真空中、温度140℃
でろう付けすることによって1本発明ターゲットを製造
した。 さらに比較のため、前記ターゲット要素lの側部端面を
傾斜面とする加工を施さずに、すなわちこの側部端面1
a+laが冷却板3の表面に対して垂直となっている点
だけを除いて、前記と全く同様な方法により、前記本発
明ターゲットと同一の寸法を有する比較ターゲットを製
造した。 ついで、この結果得られた各ターゲットの特性を調査す
るため、これらのターゲットから、マグネトロンスパッ
タリングにより、最大出力=2.0W/、および薄膜形
成速度:200人/順において、直径:、3’00mm
の寸法を有するポリカーボネート製基体上に厚さ: 0
.1 fiの’re90selo薄膜を形成させ、その
薄膜中に混入したろう材および冷却板材(銅)の量を測
定したところ1本発明ターゲットでは、検知できるほど
の汚染物が見当らなかったのに対し、比較ターゲットで
は、汚染物が不均一:二分布し、全体として、ろうおよ
び冷却板に由来する汚染元素をO,1%含んでいた。 〔発明の効果〕 実施例の結果から1本発明ターゲットでは、ターゲット
のつなぎ目の側部端面を、冷却板に対してa6 M斜し
t平面に形成したために、スパッタリング中、ろうおよ
び冷却板に由来する汚染元素がスパッタリング膜中に混
入することがないのに対し、前記側部端面を単なる垂直
面とじt比較ターゲットでは、ターゲットのつなぎ目を
介して前記汚染元素が成膜中にスパッタリングされるこ
とがわかる。 以上述べた説明から明らかなように、この発明によると
、ろうおよび冷却板を構成する成分で汚染されないスパ
ッタリング嘆を形成できるTe、Te合金、またはSe
合金製の大型ターゲットを容易に。 かつ歩留りよく提供できるという、産業上互用な効果が
得られる。
第1図はこの発明のターゲットの一例を示す図であって
、その(イ)は平面図、そしてその10)は(イ)に示
されたターゲットのつなぎ目を拡大して示す部分断面図
、第2図、第3図の(イ)および(ロ)、並びに第4図
はこの発明のターゲットのつなぎ目部分の別々の態様を
それぞれ拡大して示す部分断面図である。 図において l ・ターゲットi素、 2・・・ろう。 3・・・冷却板。
、その(イ)は平面図、そしてその10)は(イ)に示
されたターゲットのつなぎ目を拡大して示す部分断面図
、第2図、第3図の(イ)および(ロ)、並びに第4図
はこの発明のターゲットのつなぎ目部分の別々の態様を
それぞれ拡大して示す部分断面図である。 図において l ・ターゲットi素、 2・・・ろう。 3・・・冷却板。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 Te、Te合金、またはSe合金からなり、かつ冷却板
にろう付けされている薄い板状のスパッタリング用ター
ゲットであつて、前記ターゲットが、互に対向する側部
端面で当接または嵌合し合うことによりつなぎ合わされ
て、冷却板上に配置され、 かつその冷却板にろう付けされた複数枚の薄い板状のタ
ーゲット要素から構成され、そしてこのターゲット要素
の前記側部端面には、冷却板に対して傾斜した平面、屈
曲した平面、または曲面が形成されていることを特徴と
する、前記ターゲット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28990986A JPS63143258A (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | スパツタリング用タ−ゲツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28990986A JPS63143258A (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | スパツタリング用タ−ゲツト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63143258A true JPS63143258A (ja) | 1988-06-15 |
Family
ID=17749336
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28990986A Pending JPS63143258A (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | スパツタリング用タ−ゲツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63143258A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003027227A (ja) * | 2001-07-23 | 2003-01-29 | Dainippon Printing Co Ltd | スパッタリング用ターゲット |
| EP1332512A2 (en) * | 2000-11-09 | 2003-08-06 | Williams Advanced Materials Inc. | Ion beam deposition targets having an interlocking interface and a replaceable insert |
| WO2006127221A3 (en) * | 2005-05-24 | 2007-02-01 | Applied Materials Inc | Sputtering target tiles having structured edges separated by a gap |
| US7316763B2 (en) * | 2005-05-24 | 2008-01-08 | Applied Materials, Inc. | Multiple target tiles with complementary beveled edges forming a slanted gap therebetween |
| WO2012036079A1 (ja) * | 2010-09-15 | 2012-03-22 | シャープ株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| GB2485603A (en) * | 2010-11-22 | 2012-05-23 | Plastic Logic Ltd | Segmented target for vapour deposition process |
| WO2013003065A3 (en) * | 2011-06-30 | 2013-04-18 | View, Inc. | Sputter target and sputtering methods |
| JP2014114498A (ja) * | 2012-12-12 | 2014-06-26 | Ulvac Japan Ltd | スパッタ装置 |
| JP2017108142A (ja) * | 2011-11-29 | 2017-06-15 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| US9771646B2 (en) | 2011-04-21 | 2017-09-26 | View, Inc. | Lithium sputter targets |
| US20240392428A1 (en) * | 2021-10-14 | 2024-11-28 | Safran Electronics & Defense | Method of manufacturing a pump element comprising the production of a getter material deposit by ion beam sputtering |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57203771A (en) * | 1981-06-10 | 1982-12-14 | Mitsubishi Metal Corp | Manufacture of target for vapor-deposition |
| JPS59133369A (ja) * | 1983-01-21 | 1984-07-31 | Hitachi Ltd | スパツタリング用のタ−ゲツト構造体 |
| JPS60131963A (ja) * | 1983-12-21 | 1985-07-13 | Nippon Mining Co Ltd | スパツタリング用タ−ゲツト板 |
| JPS60251272A (ja) * | 1984-05-29 | 1985-12-11 | Hitachi Metals Ltd | スパツタ用タ−ゲツト |
| JPS6155811A (ja) * | 1984-08-27 | 1986-03-20 | 株式会社日立製作所 | 透明導電膜形成用スパツタリングタ−ゲツト |
| JPS61166964A (ja) * | 1985-01-18 | 1986-07-28 | Tokuda Seisakusho Ltd | スパツタリング用タ−ゲツト |
| JPS61227167A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-09 | Mitsubishi Metal Corp | 焼結合金タ−ゲツト材 |
-
1986
- 1986-12-05 JP JP28990986A patent/JPS63143258A/ja active Pending
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57203771A (en) * | 1981-06-10 | 1982-12-14 | Mitsubishi Metal Corp | Manufacture of target for vapor-deposition |
| JPS59133369A (ja) * | 1983-01-21 | 1984-07-31 | Hitachi Ltd | スパツタリング用のタ−ゲツト構造体 |
| JPS60131963A (ja) * | 1983-12-21 | 1985-07-13 | Nippon Mining Co Ltd | スパツタリング用タ−ゲツト板 |
| JPS60251272A (ja) * | 1984-05-29 | 1985-12-11 | Hitachi Metals Ltd | スパツタ用タ−ゲツト |
| JPS6155811A (ja) * | 1984-08-27 | 1986-03-20 | 株式会社日立製作所 | 透明導電膜形成用スパツタリングタ−ゲツト |
| JPS61166964A (ja) * | 1985-01-18 | 1986-07-28 | Tokuda Seisakusho Ltd | スパツタリング用タ−ゲツト |
| JPS61227167A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-09 | Mitsubishi Metal Corp | 焼結合金タ−ゲツト材 |
Cited By (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1332512A2 (en) * | 2000-11-09 | 2003-08-06 | Williams Advanced Materials Inc. | Ion beam deposition targets having an interlocking interface and a replaceable insert |
| US6755944B2 (en) | 2000-11-09 | 2004-06-29 | Williams Advanced Materials, Inc. | Ion beam deposition targets having an interlocking interface and a replaceable insert |
| JP2003027227A (ja) * | 2001-07-23 | 2003-01-29 | Dainippon Printing Co Ltd | スパッタリング用ターゲット |
| WO2006127221A3 (en) * | 2005-05-24 | 2007-02-01 | Applied Materials Inc | Sputtering target tiles having structured edges separated by a gap |
| US7316763B2 (en) * | 2005-05-24 | 2008-01-08 | Applied Materials, Inc. | Multiple target tiles with complementary beveled edges forming a slanted gap therebetween |
| WO2012036079A1 (ja) * | 2010-09-15 | 2012-03-22 | シャープ株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
| US8753921B2 (en) | 2010-09-15 | 2014-06-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Manufacturing method for semiconductor device |
| US9556509B2 (en) | 2010-11-22 | 2017-01-31 | Flexenable Limited | Vapour deposition |
| GB2485603A (en) * | 2010-11-22 | 2012-05-23 | Plastic Logic Ltd | Segmented target for vapour deposition process |
| GB2485603B (en) * | 2010-11-22 | 2017-06-14 | Flexenable Ltd | Segmented target for vapour deposition process |
| US9771646B2 (en) | 2011-04-21 | 2017-09-26 | View, Inc. | Lithium sputter targets |
| US10125419B2 (en) | 2011-04-21 | 2018-11-13 | View, Inc. | Lithium sputter targets |
| EP2726642A4 (en) * | 2011-06-30 | 2014-11-05 | View Inc | SPUTTERTARGET AND SPUTTERING PROCESS |
| CN103717782A (zh) * | 2011-06-30 | 2014-04-09 | 唯景公司 | 溅射靶和溅射方法 |
| WO2013003065A3 (en) * | 2011-06-30 | 2013-04-18 | View, Inc. | Sputter target and sputtering methods |
| US9831072B2 (en) | 2011-06-30 | 2017-11-28 | View, Inc. | Sputter target and sputtering methods |
| CN109097746A (zh) * | 2011-06-30 | 2018-12-28 | 唯景公司 | 溅射靶和溅射方法 |
| US10615011B2 (en) | 2011-06-30 | 2020-04-07 | View, Inc. | Sputter target and sputtering methods |
| JP2017108142A (ja) * | 2011-11-29 | 2017-06-15 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
| JP2014114498A (ja) * | 2012-12-12 | 2014-06-26 | Ulvac Japan Ltd | スパッタ装置 |
| US20240392428A1 (en) * | 2021-10-14 | 2024-11-28 | Safran Electronics & Defense | Method of manufacturing a pump element comprising the production of a getter material deposit by ion beam sputtering |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0342894B1 (en) | Sputtering target | |
| US7431195B2 (en) | Method for centering a sputter target onto a backing plate and the assembly thereof | |
| JPS63143258A (ja) | スパツタリング用タ−ゲツト | |
| JPH07504945A (ja) | スパッタ・ターゲット受け板組立体を結合する方法とそれにより製造される組立体 | |
| JPH10509479A (ja) | バッキングプレート部材へのターゲットの接着 | |
| KR100348437B1 (ko) | 스퍼터링타겟어셈블리의제조방법및새로운타겟어셈블리 | |
| JP4017198B2 (ja) | スパッタリングターゲットとバッキングプレートの接合方法 | |
| JP2898515B2 (ja) | モザイクターゲット | |
| JP4427831B2 (ja) | スパッタリングターゲットおよびその製造方法 | |
| JPH08218166A (ja) | スパッタリング用ターゲットの接合方法 | |
| JPH04333565A (ja) | スパッタリングターゲットおよびその製造方法 | |
| JP6854306B2 (ja) | スパッタリングターゲット−バッキングプレート接合体 | |
| JPH0243362A (ja) | スパッターターゲットとバッキングプレートの接合体 | |
| JPH0459075B2 (ja) | ||
| JPH04168267A (ja) | スパッタリング用接合体 | |
| JPH02254164A (ja) | 分割スパッタリングターゲット | |
| JPS63227774A (ja) | スパツタリング用タ−ゲツト | |
| JPS61269998A (ja) | Sn合金はんだ箔材の製造法 | |
| JPH0372153B2 (ja) | ||
| JPH07316802A (ja) | モザイクターゲット及びその製造方法 | |
| JPS60251272A (ja) | スパツタ用タ−ゲツト | |
| JPH07316801A (ja) | モザイクターゲット及びその製造方法 | |
| JPS6213569A (ja) | TeまたはTe合金製スパツタリング用焼結タ−ゲツト | |
| JPH06293963A (ja) | Itoスパッタリングターゲット用バッキングプレート | |
| JPH049466A (ja) | 耐食皮膜用アルミニウム製スパッタリング・ターゲット |