JPS63200176U - - Google Patents

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JPS63200176U
JPS63200176U JP1987088696U JP8869687U JPS63200176U JP S63200176 U JPS63200176 U JP S63200176U JP 1987088696 U JP1987088696 U JP 1987088696U JP 8869687 U JP8869687 U JP 8869687U JP S63200176 U JPS63200176 U JP S63200176U
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の原理ブロツク図である。第２
図は本考案の一実施例を示す図である。第３図は
従来の配線障害検出装置の構成を示す図である。 図において、１……ＥＣＬ集積回路、２……他
のＥＣＬ集積回路、３……出力側ロジツク部、４
……第１の回路、５……入力側ロジツク部、６…
…第２の回路、２３―１……出力側デコーダ、２
３―２……入力側デコーダ、２４―１〜８……出
力側ノアゲート、２５―１〜４……インバータ、
２６―１〜５……入力側ノアゲート、３１……プ
ローブ、３２……プローブカード、３５……テス
タ、３６……基板。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 基板に実装されたＥＣＬ集積回路１と他のＥＣ
    Ｌ集積回路２間の配線障害を論理的に検出する配
    線障害検出回路において、 前記ＥＣＬ集積回路１の出力側ロジツク部３と
    出力端子間に、テストモード信号によつて該出力
    側ロジツク部３の出力を禁止し、選択信号によつ
    ていずれか１つの出力端子にテスト信号を出力す
    るように構成された第１の回路４を設け、 前記他のＥＣＬ集積回路２の入力側ロジツク部
    ５と入力端子間に、選択信号によつていずれか一
    つの入力端子への入力信号をセレクトしてモニタ
    端子を出力するように構成された第２の回路６を
    設置したことを特徴とする配線障害検出回路。
JP1987088696U 1987-06-09 1987-06-09 Expired - Lifetime JPH0517667Y2 (ja)

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JP1987088696U JPH0517667Y2 (ja) 1987-06-09 1987-06-09

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JPS63200176U true JPS63200176U (ja) 1988-12-23
JPH0517667Y2 JPH0517667Y2 (ja) 1993-05-12

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ID=30947021

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JP (1) JPH0517667Y2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08285924A (ja) * 1995-04-12 1996-11-01 Nec Corp 半導体集積回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH08285924A (ja) * 1995-04-12 1996-11-01 Nec Corp 半導体集積回路

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JPH0517667Y2 (ja) 1993-05-12

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