JPS63201734A - デ−タ処理装置試験方式 - Google Patents
デ−タ処理装置試験方式Info
- Publication number
- JPS63201734A JPS63201734A JP62034811A JP3481187A JPS63201734A JP S63201734 A JPS63201734 A JP S63201734A JP 62034811 A JP62034811 A JP 62034811A JP 3481187 A JP3481187 A JP 3481187A JP S63201734 A JPS63201734 A JP S63201734A
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- Japan
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 30
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はメモリに格納された命令を逐次実行していくデ
ータ処理装置の試験方式に関する。
ータ処理装置の試験方式に関する。
従来、この種のデータ処理装置試験方式では、試験対象
命令の実行結果エラーが検出された時試験対象命令実行
後のチェック対象データ結果値等の表示は行なうが、試
験対象命令を表示していなかった。
命令の実行結果エラーが検出された時試験対象命令実行
後のチェック対象データ結果値等の表示は行なうが、試
験対象命令を表示していなかった。
上述した従来の方式は、試験対象命令実行の結果エラー
が検出された時に試験対象命令を表示していないため、
エラー解析のために試験プログラムのアセンブルリスト
や仕様書を見る必要があり、障害箇所検出までに多大の
時間を要するという欠点かある。
が検出された時に試験対象命令を表示していないため、
エラー解析のために試験プログラムのアセンブルリスト
や仕様書を見る必要があり、障害箇所検出までに多大の
時間を要するという欠点かある。
本発明のデータ処理装置試験方式は、試験対象命令の格
納アドレスを登録する登録手段と、前記試験対象命令実
行前の動作環境を設定する環境設定手段と、前記試験対
象命令を実行する実行手段と、前記実行手段で実行され
た試験対象命令の実行結果を期待値と比較してエラーの
有無をチェツりするチェック手段と、前記チェック手段
でエラーが検出された時にエラーメツセージの一部とし
て前記登録手段で登録されたアドレスを基に試験対象命
令を表示する表示手段を含む。
納アドレスを登録する登録手段と、前記試験対象命令実
行前の動作環境を設定する環境設定手段と、前記試験対
象命令を実行する実行手段と、前記実行手段で実行され
た試験対象命令の実行結果を期待値と比較してエラーの
有無をチェツりするチェック手段と、前記チェック手段
でエラーが検出された時にエラーメツセージの一部とし
て前記登録手段で登録されたアドレスを基に試験対象命
令を表示する表示手段を含む。
このように、データ処理装置の命令試験でエラーが検出
された時にエラーメツセージの一部として試験対象命令
を表示することにより、試験プログラムのアセンブルリ
ストや仕様書がなくてもエラー解析が可能になる。
された時にエラーメツセージの一部として試験対象命令
を表示することにより、試験プログラムのアセンブルリ
ストや仕様書がなくてもエラー解析が可能になる。
次に、本発明の実施例について図面を参照しで説明する
。
。
第１図を参照すると、本実施例は、登録手段１、環境設
定手段２、実行手段３、チェック手段４、表示手段５、
テストデータブロック６、コンソール７から構成される
。
定手段２、実行手段３、チェック手段４、表示手段５、
テストデータブロック６、コンソール７から構成される
。
第２図を参照すると、登録手段１はクリア１ａ、チェッ
ク番号登録１ｂ、チェック項目登録１Ｃ１命令アドレス
登録１ｄから構成される。第３・へ 図を参照すると、環境設定手段２はレジスタチェック情
報登録２ａ、データチェック情報登録２ｂから構成され
る。第４図を参照すると、実行手段３は命令実行３ａか
ら構成される。第５図を参照すると、チェック手段４は
、レジスタ結果値登録４ａ、レジスタチェック４ｂ、レ
ジスタエラーフラグ設定４ｃ、データチェック４ｄ、デ
ータエラーフラグ設定４ｅがら構成される。第６図を参
照すると、表示手段５は、エラーチェック５ａ、エラー
メツセージヘッダ出力５ｂ、レジスタエラーチェック５
Ｃ、レジスタエラー情報出力５ｄ、データエラーチェッ
ク５ｅ、データエラー情報出力５ｆから構成される。第
７図を参照すると、テストデータブロック６は、エラー
フラグ６ａ、チェック番号６ｂ、チェック項目アドレス
６Ｃ２命令アドレス６ｄ、レジスタ初期値アドレス６ｅ
、レジスタ結果値アドレス６ｆ、レジスタ期待値アドレ
ス６９、レジスタマスク値アドレス６ｈ、データ長６１
、データ結果値アドレス６ｊ、データ期待値アドレス６
ｋ、データマスク値アドレス６１から構成される。
ク番号登録１ｂ、チェック項目登録１Ｃ１命令アドレス
登録１ｄから構成される。第３・へ 図を参照すると、環境設定手段２はレジスタチェック情
報登録２ａ、データチェック情報登録２ｂから構成され
る。第４図を参照すると、実行手段３は命令実行３ａか
ら構成される。第５図を参照すると、チェック手段４は
、レジスタ結果値登録４ａ、レジスタチェック４ｂ、レ
ジスタエラーフラグ設定４ｃ、データチェック４ｄ、デ
ータエラーフラグ設定４ｅがら構成される。第６図を参
照すると、表示手段５は、エラーチェック５ａ、エラー
メツセージヘッダ出力５ｂ、レジスタエラーチェック５
Ｃ、レジスタエラー情報出力５ｄ、データエラーチェッ
ク５ｅ、データエラー情報出力５ｆから構成される。第
７図を参照すると、テストデータブロック６は、エラー
フラグ６ａ、チェック番号６ｂ、チェック項目アドレス
６Ｃ２命令アドレス６ｄ、レジスタ初期値アドレス６ｅ
、レジスタ結果値アドレス６ｆ、レジスタ期待値アドレ
ス６９、レジスタマスク値アドレス６ｈ、データ長６１
、データ結果値アドレス６ｊ、データ期待値アドレス６
ｋ、データマスク値アドレス６１から構成される。
次に、本実施例の動作について図面を参照して説明する
。
。
まず、登録手段］のクリア１ａでテストデータブロック
６内のエラーフラグ６ａｕゼロクリアし、チェック番号
登録１ｂで試験項目識別のための１０進２桁のチェツク
番号６ｂ％登録し、チェック項目アドレス６Ｃに登録し
、命令アドレス登録１ｄで命令実行３ａの示す試験対象
命令のアドレスを命令アドレス６ｄに登録する。
６内のエラーフラグ６ａｕゼロクリアし、チェック番号
登録１ｂで試験項目識別のための１０進２桁のチェツク
番号６ｂ％登録し、チェック項目アドレス６Ｃに登録し
、命令アドレス登録１ｄで命令実行３ａの示す試験対象
命令のアドレスを命令アドレス６ｄに登録する。
次に、環境設定手段２のレジスタチェック情報登録２ａ
てレジスタチェック４ｂにおいてチェックするためにあ
らかじめ用意されたレジスタ期待値格納エリアのアドレ
スをレジスタ期待値アドレス６９に、レジスタチェック
４ｂにおいてチェックするためにあらかじめ用意された
レジスタマスク値のアドレスをレジスタマスク値アドレ
ス６ｈに登録し、レジスタ初期値アドレス６ｅの領域に
命令実行３ａ直前のレジスタ値を登録し、データチェッ
ク情報登録２ｂでデータチェック４ｄにおいて比較する
データのバイト数をデータ長６１に、命令実行３ａの示
す試験対象命令によって更新されるデータのアドレスを
データ結果値アドレス６ｊに、データチェック４ａでチ
ェックするためにあらかじめ用意されたデータ期待値の
アドレスをデータ期待値アドレス６ｋに、データチェッ
ク４ａでチェックするためにあらかじめ用意されたデー
タマスク値のアドレスをデータマスク値アドレス６１に
登録する。
てレジスタチェック４ｂにおいてチェックするためにあ
らかじめ用意されたレジスタ期待値格納エリアのアドレ
スをレジスタ期待値アドレス６９に、レジスタチェック
４ｂにおいてチェックするためにあらかじめ用意された
レジスタマスク値のアドレスをレジスタマスク値アドレ
ス６ｈに登録し、レジスタ初期値アドレス６ｅの領域に
命令実行３ａ直前のレジスタ値を登録し、データチェッ
ク情報登録２ｂでデータチェック４ｄにおいて比較する
データのバイト数をデータ長６１に、命令実行３ａの示
す試験対象命令によって更新されるデータのアドレスを
データ結果値アドレス６ｊに、データチェック４ａでチ
ェックするためにあらかじめ用意されたデータ期待値の
アドレスをデータ期待値アドレス６ｋに、データチェッ
ク４ａでチェックするためにあらかじめ用意されたデー
タマスク値のアドレスをデータマスク値アドレス６１に
登録する。
次に実行手段３の命令実行３ａで試験対象命令を実行す
る。
る。
次にチェック手段４のレジスタ結果値登録４ａでレジス
タ結果値アドレス６ｆが示す領域に命令実行３ａ直後の
レジスタ値を登録し、レジスタ結果値とレジスタ期待値
アドレス６９が示す領域のレジスタ期待値とをそれぞれ
レジスタマスク値アドレス６ｈが示す領域のレジスタマ
スク値との間で論理積を取った後に比較して、等しけれ
ばデータチェック４ｄの処理へ移り、等しくなければレ
ジスタエラー７フラグ設定４Ｃでエラーフラグ６ａのレ
ジスタエラーフラグビットに１をセットした後データチ
ェック４ｄの処理へ移る。データチェック４ｄではデー
タ結果値アドレス６ｊが示す領域のデータ結果値とデー
タ期待値アドレス６ｋが示す領域のデータ期待値とをそ
れぞれデータマスク値アドレス６１が示す領域のデータ
マスク値との間で論理積を取った後に比較して、等しけ
れば表示手段５の処理へ移り、等しくなければデータエ
ラーフラグ設定４ｅでエラーフラグ６ａのデータエラー
フラグビットに１をセットした後表示手段５の処理へ移
る。
タ結果値アドレス６ｆが示す領域に命令実行３ａ直後の
レジスタ値を登録し、レジスタ結果値とレジスタ期待値
アドレス６９が示す領域のレジスタ期待値とをそれぞれ
レジスタマスク値アドレス６ｈが示す領域のレジスタマ
スク値との間で論理積を取った後に比較して、等しけれ
ばデータチェック４ｄの処理へ移り、等しくなければレ
ジスタエラー７フラグ設定４Ｃでエラーフラグ６ａのレ
ジスタエラーフラグビットに１をセットした後データチ
ェック４ｄの処理へ移る。データチェック４ｄではデー
タ結果値アドレス６ｊが示す領域のデータ結果値とデー
タ期待値アドレス６ｋが示す領域のデータ期待値とをそ
れぞれデータマスク値アドレス６１が示す領域のデータ
マスク値との間で論理積を取った後に比較して、等しけ
れば表示手段５の処理へ移り、等しくなければデータエ
ラーフラグ設定４ｅでエラーフラグ６ａのデータエラー
フラグビットに１をセットした後表示手段５の処理へ移
る。
次に、表示手段５のエラーチェック５ａでエラーフラグ
６ａ’ｌｒチエツクして全てゼロなら処理を終了し、い
ずれかのビットがゼロでなかったならエラーメツセージ
ヘッダ出力５ｂでチェック番号６ｂが示すチェック番号
と、チェック項目アドレス６Ｃが示す試験概要を表すメ
ツセージと、命令アドレス６ｄが示す試験対象命令とを
コンソール７に表示し、レジスタエラーチェック５Ｃで
レジスタ初期値アドレス６ｅが示す領域のレジスタ初期
値と、レジスタ結果値アドレス６ｆが示す領域のレジス
タ結果値と、レジスタ期待値アドレス６ｆが示す領域の
レジスタ期待値と、レジスタマスク値アドレス６ｈが示
す領域のレジスタマスク偵とをコンソール７に表示し、
データエラーチェック５ｅでエラーフラグ６ａのデータ
エラーフラグビットをチェックしてゼロなら処理を終了
し、ゼロでなかったならデータエラー情報出力５ｆでデ
ータ結果値アドレス６ｊが示すデータ結果値と、データ
期待値アドレス６ｋが示すデータ期待値と、データマス
ク値アドレス６１が示すデータマスク値とをデータ長６
１で示すバイト数だけコンソール７に表示する。
６ａ’ｌｒチエツクして全てゼロなら処理を終了し、い
ずれかのビットがゼロでなかったならエラーメツセージ
ヘッダ出力５ｂでチェック番号６ｂが示すチェック番号
と、チェック項目アドレス６Ｃが示す試験概要を表すメ
ツセージと、命令アドレス６ｄが示す試験対象命令とを
コンソール７に表示し、レジスタエラーチェック５Ｃで
レジスタ初期値アドレス６ｅが示す領域のレジスタ初期
値と、レジスタ結果値アドレス６ｆが示す領域のレジス
タ結果値と、レジスタ期待値アドレス６ｆが示す領域の
レジスタ期待値と、レジスタマスク値アドレス６ｈが示
す領域のレジスタマスク偵とをコンソール７に表示し、
データエラーチェック５ｅでエラーフラグ６ａのデータ
エラーフラグビットをチェックしてゼロなら処理を終了
し、ゼロでなかったならデータエラー情報出力５ｆでデ
ータ結果値アドレス６ｊが示すデータ結果値と、データ
期待値アドレス６ｋが示すデータ期待値と、データマス
ク値アドレス６１が示すデータマスク値とをデータ長６
１で示すバイト数だけコンソール７に表示する。
以上の処理により、エラーが検出された時にエラーメツ
セージの一部として自動的に試験対象命令が表示されて
いる。
セージの一部として自動的に試験対象命令が表示されて
いる。
以上説明したように本発明は、データ処理装置の命令試
験でエラーが検出された時にエラーメ・ンセージの一部
として試験対象命令を表示することにより、試験プログ
ラムのアセンブルリストや仕様書がなくてもエラー解析
が可能になるという効果がある。
験でエラーが検出された時にエラーメ・ンセージの一部
として試験対象命令を表示することにより、試験プログ
ラムのアセンブルリストや仕様書がなくてもエラー解析
が可能になるという効果がある。
第１図は本発明のデータ処理袋Ｍ試験方式の一実施例の
ブロック図、第２図は登録手段１のフローチャート、第
３図は環境設定手段２のフローチャート、第４図は実行
手段３のフローチャート、第５図はチェック手段４のフ
ローチャート、第６図は表示手段５のフローチャート、
第７図はテストデータブロック６の形式を示す図である
。 １・・・・・・登録手段、２・・・・・・環境設定手段
、３・・・・・・実行手段、４・・・・・・チェック手
段、５・・・・・・表示手段、６・・・・・・テストデ
ータブロック７・・・・・・コンソール。 Ｉ′ｔＩＤ Ｏｌ） ？＋
Ｎ第 ００ 第７図
ブロック図、第２図は登録手段１のフローチャート、第
３図は環境設定手段２のフローチャート、第４図は実行
手段３のフローチャート、第５図はチェック手段４のフ
ローチャート、第６図は表示手段５のフローチャート、
第７図はテストデータブロック６の形式を示す図である
。 １・・・・・・登録手段、２・・・・・・環境設定手段
、３・・・・・・実行手段、４・・・・・・チェック手
段、５・・・・・・表示手段、６・・・・・・テストデ
ータブロック７・・・・・・コンソール。 Ｉ′ｔＩＤ Ｏｌ） ？＋
Ｎ第 ００ 第７図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 メモリに格納された命令を逐次実行して行くデータ処理
装置において、 試験対象命令の格納アドレスを登録する登録手段と、前
記試験対象命令実行前の動作環境を設定する環境設定手
段と、前記試験対象命令を実行する実行手段と、前記実
行手段で実行された試験対象命令の実行結果を期待値と
比較してエラーの有無をチェックするチェック手段と、
前記チェック手段でエラーが検出された時にエラーメッ
セージの一部として前記登録手段で登録されたアドレス
を基に試験対象命令を表示する表示手段を含むデータ処
理装置試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62034811A JPH0648464B2 (ja) | 1987-02-17 | 1987-02-17 | デ−タ処理装置試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62034811A JPH0648464B2 (ja) | 1987-02-17 | 1987-02-17 | デ−タ処理装置試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63201734A true JPS63201734A (ja) | 1988-08-19 |
| JPH0648464B2 JPH0648464B2 (ja) | 1994-06-22 |
Family
ID=12424596
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62034811A Expired - Lifetime JPH0648464B2 (ja) | 1987-02-17 | 1987-02-17 | デ−タ処理装置試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0648464B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115344488A (zh) * | 2022-08-12 | 2022-11-15 | 唯品会(广州)软件有限公司 | 自动化测试异常处理方法、装置、存储介质及计算机设备 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5738245U (ja) * | 1980-08-15 | 1982-03-01 |
-
1987
- 1987-02-17 JP JP62034811A patent/JPH0648464B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5738245U (ja) * | 1980-08-15 | 1982-03-01 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115344488A (zh) * | 2022-08-12 | 2022-11-15 | 唯品会(广州)软件有限公司 | 自动化测试异常处理方法、装置、存储介质及计算机设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0648464B2 (ja) | 1994-06-22 |
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