JPS6320797A - スタテイツク・ランダムアクセスメモリ− - Google Patents
スタテイツク・ランダムアクセスメモリ−Info
- Publication number
- JPS6320797A JPS6320797A JP61163041A JP16304186A JPS6320797A JP S6320797 A JPS6320797 A JP S6320797A JP 61163041 A JP61163041 A JP 61163041A JP 16304186 A JP16304186 A JP 16304186A JP S6320797 A JPS6320797 A JP S6320797A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inverter
- output
- circuit
- input
- random access
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003068 static effect Effects 0.000 title claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は0MO8構成のスタティックランダムアクセス
メモリーに関し、特にその読み出し回路に関する。
メモリーに関し、特にその読み出し回路に関する。
従来、この種の0MO8構成スタティックランダムアク
セスメモリ(以下SRAM という)は第3図のより
にNORゲート15.17とインバータ18で形成され
る読み出し回路の入力、つまり、第3図におけるインバ
ータゲート19及び20の入力に接続逼れたビット線が
PチャンネルMC)8トランジスタ11及び12によシ
ミ源端子13の電源電圧にプルアップさn1インバ一タ
人力19あるいは20に加えられるメモリセル8の11
”レベルの出力がNチャンネルトランジスタ8−1゜9
又は8−2.10によって低下するのを防止する構成と
なっていた。
セスメモリ(以下SRAM という)は第3図のより
にNORゲート15.17とインバータ18で形成され
る読み出し回路の入力、つまり、第3図におけるインバ
ータゲート19及び20の入力に接続逼れたビット線が
PチャンネルMC)8トランジスタ11及び12によシ
ミ源端子13の電源電圧にプルアップさn1インバ一タ
人力19あるいは20に加えられるメモリセル8の11
”レベルの出力がNチャンネルトランジスタ8−1゜9
又は8−2.10によって低下するのを防止する構成と
なっていた。
上述した従来の0MO8構成5−RAMの読み出し回路
は、第3図のようにメモリセル8の出力を出力端子7よ
り取り出す場合、メモリセル8の1”レベル側の出力が
NチャンネルM(JS)ランジスタ8−1.9おるいは
8−2.10を介してインバータゲート19あるいは2
0の入カヘ力ロえられる。従ってインバータゲート19
ちるいは2oへの入力へ刀口見られる”1″レベルの電
圧は電源電圧からNチャンネルトランジスタ8−1(又
は8−2)と9(又UIO)のスレッシュホールド電圧
の和の分低下する。この電圧降下を防ぐためPチャンネ
ルM OS )ランジスタ11.12に用いて電源電圧
レベルまでプルアップしている。又このプルアップトラ
ンジスタはワード線4がo”レベルつまりPチャンネル
M OS )ランジスタ9゜10がオフ状態の場合にイ
ンバータ19.20の入力が共に70−ティング状態と
なるのを防止する役割も持つ。
は、第3図のようにメモリセル8の出力を出力端子7よ
り取り出す場合、メモリセル8の1”レベル側の出力が
NチャンネルM(JS)ランジスタ8−1.9おるいは
8−2.10を介してインバータゲート19あるいは2
0の入カヘ力ロえられる。従ってインバータゲート19
ちるいは2oへの入力へ刀口見られる”1″レベルの電
圧は電源電圧からNチャンネルトランジスタ8−1(又
は8−2)と9(又UIO)のスレッシュホールド電圧
の和の分低下する。この電圧降下を防ぐためPチャンネ
ルM OS )ランジスタ11.12に用いて電源電圧
レベルまでプルアップしている。又このプルアップトラ
ンジスタはワード線4がo”レベルつまりPチャンネル
M OS )ランジスタ9゜10がオフ状態の場合にイ
ンバータ19.20の入力が共に70−ティング状態と
なるのを防止する役割も持つ。
Iν
しかしながら、このプルアップトランジスタ11゜12
は常に導通状態に、わるためメモリセルに書かれたデー
タを読み出す場合″′O”レベル側のデジット線もプル
アップしようとするために電源端子からプルアップトラ
ンジスタ?介して″0″レベル側のデジット線からメモ
リセルに電流が流n込む。つまシ、リード状態において
は必ず一方のデジット線は“0″レベルとなっているた
め定常的に電流が流れ消費電力が大きいという欠点があ
る。
は常に導通状態に、わるためメモリセルに書かれたデー
タを読み出す場合″′O”レベル側のデジット線もプル
アップしようとするために電源端子からプルアップトラ
ンジスタ?介して″0″レベル側のデジット線からメモ
リセルに電流が流n込む。つまシ、リード状態において
は必ず一方のデジット線は“0″レベルとなっているた
め定常的に電流が流れ消費電力が大きいという欠点があ
る。
上述した従来のCMO8構成5−RAMの読み出し回路
に対し、本発明はビット謙に接続され几読み出し回路の
入力ゲートを2個のインバータゲートよシ構成されるラ
ッチ回路とし、ピット線をPシ チャンネルトラメジスタによシブルアツブせずにルベル
側のピット線に接続された読み出し回路の入力を電源電
圧レベルに保持することにより読み出し時に定常電流が
流牡ないようにしている。
に対し、本発明はビット謙に接続され几読み出し回路の
入力ゲートを2個のインバータゲートよシ構成されるラ
ッチ回路とし、ピット線をPシ チャンネルトラメジスタによシブルアツブせずにルベル
側のピット線に接続された読み出し回路の入力を電源電
圧レベルに保持することにより読み出し時に定常電流が
流牡ないようにしている。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の回路必である。1゜2はビ
ット線であ”)、アドレス信号によシ選択され几メモリ
セルのデータを読み出し回路へ伝える。
ット線であ”)、アドレス信号によシ選択され几メモリ
セルのデータを読み出し回路へ伝える。
3.4はそれぞれXY方向のワード線であシ読み出すべ
きメモリーセルを選択する。6はリードイネーブル信号
入力端子、7は出力端子である。8は1ビット分のメモ
リセルであ!り、8−1 、8−2のNチャンネルMO
8)ランジスタ及び8−3゜8−4のインバータよシ構
成され8−1.8−2のゲートがワード線3にドレイン
がそれぞれビット線1及び2に接続式れている。9.1
0はNチャンネルトランジスタでありワード線4にその
ゲートが接続されワード線4の信号によりビット線1.
2の信号を読み出し回路の入力へ印加するか否かを制御
する。14−1.14−2はインバータ回路で1514
−1の入力が14−2の出力へま7’c14−1の出力
が14−2の入カヘ接続嘔れラッチ回路14を構成して
いる。同様にインバータ16−1.16−2もラッチ回
路16を構成している。これらのラッチ回路はピット線
の信号をラッチしNORゲート15,17t−ラッチ接
続して構成された波形整形回路の入力へ伝える。18は
3ステ一ト出力バツフア回路でありNORゲート17の
出力を出力端子7よ勺取り出す。
きメモリーセルを選択する。6はリードイネーブル信号
入力端子、7は出力端子である。8は1ビット分のメモ
リセルであ!り、8−1 、8−2のNチャンネルMO
8)ランジスタ及び8−3゜8−4のインバータよシ構
成され8−1.8−2のゲートがワード線3にドレイン
がそれぞれビット線1及び2に接続式れている。9.1
0はNチャンネルトランジスタでありワード線4にその
ゲートが接続されワード線4の信号によりビット線1.
2の信号を読み出し回路の入力へ印加するか否かを制御
する。14−1.14−2はインバータ回路で1514
−1の入力が14−2の出力へま7’c14−1の出力
が14−2の入カヘ接続嘔れラッチ回路14を構成して
いる。同様にインバータ16−1.16−2もラッチ回
路16を構成している。これらのラッチ回路はピット線
の信号をラッチしNORゲート15,17t−ラッチ接
続して構成された波形整形回路の入力へ伝える。18は
3ステ一ト出力バツフア回路でありNORゲート17の
出力を出力端子7よ勺取り出す。
この実施例の回路動作は以下のようである。
まずワード線3及び9がイネーブル(′″1″1″レベ
ルりメモリーセル8が読み出される場合について考えて
みる。この時、メモリーセル8にはインバータ8−3の
出力が”1′、8−4の出力がO″となるように、あら
かじめデータが書き込まれているものとする。又インバ
ータ14−2の出力は10”、14−1の出力は11″
、16−2の出力は′″2″、16−1の出力はo″の
ように14.16にはデータがラッチされているとする
。
ルりメモリーセル8が読み出される場合について考えて
みる。この時、メモリーセル8にはインバータ8−3の
出力が”1′、8−4の出力がO″となるように、あら
かじめデータが書き込まれているものとする。又インバ
ータ14−2の出力は10”、14−1の出力は11″
、16−2の出力は′″2″、16−1の出力はo″の
ように14.16にはデータがラッチされているとする
。
ワード線3及び4が@1”レベルとなシメモリーセル8
が選択されるとメモリーセル内のインバータ8−3の出
力は8−1.9を通じてインバータ14−2の出力へ接
続されているため(′0”レベル)接地電位であったイ
ンバータ14−2の出力は上昇する。ここでインバータ
14−2の出力カインバータ14−1のスレッシュホー
ルド電圧をこえるとインバータ14−1の出力は″1″
レヘルよす下降しそのためインバータ14−2の出力は
さらに上昇する。このようなループをくり返シ、インバ
ータ14−2の出力は1”レベルつまり電源電圧まで上
昇し、インバータ14−1の出力は”0”レベルつまり
接地電位となる。従って、N ORゲー)Is、17の
読み出し回路の人力がフローティングになることはなく
、またラッチ回路14.16での電力消費も少い。
が選択されるとメモリーセル内のインバータ8−3の出
力は8−1.9を通じてインバータ14−2の出力へ接
続されているため(′0”レベル)接地電位であったイ
ンバータ14−2の出力は上昇する。ここでインバータ
14−2の出力カインバータ14−1のスレッシュホー
ルド電圧をこえるとインバータ14−1の出力は″1″
レヘルよす下降しそのためインバータ14−2の出力は
さらに上昇する。このようなループをくり返シ、インバ
ータ14−2の出力は1”レベルつまり電源電圧まで上
昇し、インバータ14−1の出力は”0”レベルつまり
接地電位となる。従って、N ORゲー)Is、17の
読み出し回路の人力がフローティングになることはなく
、またラッチ回路14.16での電力消費も少い。
同様にしてインバータ16−2の出方は接地電位、16
−1の出力は電源電圧へと変化し、NoRゲート17の
出力は10″レベルとなシ出力端子7には”0”レベル
が読み出される。また、ワード線4が10″レベルとな
り、NチャンネルMOSトランジスタ9,1oがオフ状
態となってもラッチ回路14.16はそれ以前の状態を
保持する九めインバータ14−1.16−1及び2人力
NOR。
−1の出力は電源電圧へと変化し、NoRゲート17の
出力は10″レベルとなシ出力端子7には”0”レベル
が読み出される。また、ワード線4が10″レベルとな
り、NチャンネルMOSトランジスタ9,1oがオフ状
態となってもラッチ回路14.16はそれ以前の状態を
保持する九めインバータ14−1.16−1及び2人力
NOR。
15.17の入力は電源電位あるいは接地電位のいずれ
かに固定さ扛入力がフローティングとなることもなく、
ラッチ回j11r14,16の電力消費も少い。
かに固定さ扛入力がフローティングとなることもなく、
ラッチ回j11r14,16の電力消費も少い。
〔実施例2〕
第2図は本発明の他の実施例の回路図である。
第1図の実施例と異なるところはY方向のワード線4に
そのゲートが接続されytNチャンネルMO8トランジ
スタ9,10をPチャンネルトランジスタ9’、10’
としたことである。
そのゲートが接続されytNチャンネルMO8トランジ
スタ9,10をPチャンネルトランジスタ9’、10’
としたことである。
この実施例ではメモリセル8のインバータ8−3及び8
−4の出力がNチャンネルトランジスタ8−1.8−2
とPチャンネルトランジスタ9′。
−4の出力がNチャンネルトランジスタ8−1.8−2
とPチャンネルトランジスタ9′。
10′を介してラッチ回路14あるいは16の入カヘ印
加嘔nるためビット線がwl”レベルの場合と”O″レ
ベル場合とのバランスがと汎るためより罹災な動作が保
証さ詐る。
加嘔nるためビット線がwl”レベルの場合と”O″レ
ベル場合とのバランスがと汎るためより罹災な動作が保
証さ詐る。
以上説明し友ように本発明はスタティックランダムアク
セスメモリーの読み出し回路においてビット線に接続さ
れた入力ゲートをラッチ回路講成としビット線プルアッ
プ用T、ヲ削除することにより読み出し時に定常電流が
流れない回路を群成できる。
セスメモリーの読み出し回路においてビット線に接続さ
れた入力ゲートをラッチ回路講成としビット線プルアッ
プ用T、ヲ削除することにより読み出し時に定常電流が
流れない回路を群成できる。
第1図は本発明の6MO8構成スタティックランダムア
クセスメモリの読み出し回路の回路;凶、第2図は本発
明の他の実施例の回路図、第3図は従来のCMUS構成
スタティックランダムアクセスメモリの読み出し回路の
回路図である。 1.2・・・・・・ビット線、3,4・・・・・・ワー
ド線、6・・・・・・リードイネーブル信号線、7・・
・・・・出力端子、8・・・・・・メモリセル、8−1
.8−2・・・・・・NチャンネルM(JS)ランジス
タ、8−3.8−4・・・・・・インバータゲート、9
.10・・・・・・NチャンネルへIOSトランジスタ
、11.12・・・・・プルアップ用Pチャンネルf’
v108 )ランジスタ、13・・・・・・1源端子、
14−1 、14−2.16−1 、16−2・・・・
・・インバータゲート、15.17・・・・・・NOR
ゲート、18・・・・・・出力パフ77回路、19,2
0・・・・・・インバータゲート。 皿 −1ξ2“7・\ 代理人 弁理士 内 原 “(−1〜二゛)ゝ−
〕゛′ ネ Q)x
クセスメモリの読み出し回路の回路;凶、第2図は本発
明の他の実施例の回路図、第3図は従来のCMUS構成
スタティックランダムアクセスメモリの読み出し回路の
回路図である。 1.2・・・・・・ビット線、3,4・・・・・・ワー
ド線、6・・・・・・リードイネーブル信号線、7・・
・・・・出力端子、8・・・・・・メモリセル、8−1
.8−2・・・・・・NチャンネルM(JS)ランジス
タ、8−3.8−4・・・・・・インバータゲート、9
.10・・・・・・NチャンネルへIOSトランジスタ
、11.12・・・・・プルアップ用Pチャンネルf’
v108 )ランジスタ、13・・・・・・1源端子、
14−1 、14−2.16−1 、16−2・・・・
・・インバータゲート、15.17・・・・・・NOR
ゲート、18・・・・・・出力パフ77回路、19,2
0・・・・・・インバータゲート。 皿 −1ξ2“7・\ 代理人 弁理士 内 原 “(−1〜二゛)ゝ−
〕゛′ ネ Q)x
Claims (1)
- 複数のメモリセルが一本のビット線又は複数のビット線
間に並列接続され、ビット線の信号がトランスファーゲ
ートを介して読み出し回路に接続されたスタティックラ
ンダムアクセスメモリーに於いて、前記読み出し回路と
前記トランスファーゲートとの間にはラッチ回路が接続
されていることを特徴とするスタティック・ランダムア
クセスメモリー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61163041A JPS6320797A (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | スタテイツク・ランダムアクセスメモリ− |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61163041A JPS6320797A (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | スタテイツク・ランダムアクセスメモリ− |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6320797A true JPS6320797A (ja) | 1988-01-28 |
Family
ID=15766058
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61163041A Pending JPS6320797A (ja) | 1986-07-11 | 1986-07-11 | スタテイツク・ランダムアクセスメモリ− |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6320797A (ja) |
-
1986
- 1986-07-11 JP JP61163041A patent/JPS6320797A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4342101A (en) | Nonvolatile semiconductor memory circuits | |
| JPH0253879B2 (ja) | ||
| JPH02201797A (ja) | 半導体メモリ装置 | |
| JP3810807B2 (ja) | Sram用センス増幅器およびラッチング回路 | |
| JP2862744B2 (ja) | 半導体メモリ装置のデータ出力バッファ | |
| US5459689A (en) | Memory device with current path cut-off circuit for sense amplifier | |
| US20110205787A1 (en) | Dual-rail sram with independent read and write ports | |
| JPH06162784A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JPH0679440B2 (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
| JPH01158693A (ja) | 高インピーダンスを用いたスタティックramのデータ出力バッファ | |
| JPS63197088A (ja) | マルチポ−トメモリセル | |
| JPS6320797A (ja) | スタテイツク・ランダムアクセスメモリ− | |
| JPH0574162A (ja) | スタテイツク型半導体記憶装置 | |
| JPH0334191A (ja) | スタティック型半導体メモリ | |
| JPS5916356B2 (ja) | Cmos・スタチツク・ランダム・アクセス・メモリ | |
| JP2820159B2 (ja) | 半導体メモリ装置 | |
| JPH0196893A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JP2539593B2 (ja) | 半導体メモリ回路 | |
| JPH0325878B2 (ja) | ||
| KR100206133B1 (ko) | 정적반도체 메모리장치 | |
| JPH0273598A (ja) | 電流検出装置 | |
| JPS6410108B2 (ja) | ||
| JPS6358698A (ja) | スタテイツク型半導体記憶装置 | |
| JPS5841487A (ja) | 半導体メモリ装置 | |
| JPS5846795B2 (ja) | 半導体記憶回路 |