JPS63226092A - 電子部品用セラミツク基板 - Google Patents
電子部品用セラミツク基板Info
- Publication number
- JPS63226092A JPS63226092A JP62059360A JP5936087A JPS63226092A JP S63226092 A JPS63226092 A JP S63226092A JP 62059360 A JP62059360 A JP 62059360A JP 5936087 A JP5936087 A JP 5936087A JP S63226092 A JPS63226092 A JP S63226092A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ceramic substrate
- dividing
- electrode
- electronic components
- sectional
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Devices For Post-Treatments, Processing, Supply, Discharge, And Other Processes (AREA)
- Structure Of Printed Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、電子機器に使用されるチップ部品などの電子
部品用のセラミック基板に関するものである。
部品用のセラミック基板に関するものである。
従来の技術
従来、この種のセラミック基板は第6図に示すような形
状であった。第6図はチップ部品を作るためのセラミ、
ツク基板1の概略図を示しており、2は縦方向の分割溝
、3は横方向の分割溝であシ、表面の分割溝のみで形成
されていた。また分割溝形状はV溝であった。
状であった。第6図はチップ部品を作るためのセラミ、
ツク基板1の概略図を示しており、2は縦方向の分割溝
、3は横方向の分割溝であシ、表面の分割溝のみで形成
されていた。また分割溝形状はV溝であった。
このような従来のセラミック基板では分割性の面におい
て、第7図に示すように分割した時、その分割断面が異
形断面4となりやすく分割寸法バラツキが大きくなり、
チップ部品の実装マウント時におけるトラブルが生じる
欠点があった。
て、第7図に示すように分割した時、その分割断面が異
形断面4となりやすく分割寸法バラツキが大きくなり、
チップ部品の実装マウント時におけるトラブルが生じる
欠点があった。
一方、このような基板を使用するテンプ抵抗器において
は一般的に第8図に示すような構造である。第8図にお
いて、5は抵抗体を保護するガラス部、6は電極部、7
は基板の分割したセラミ・ツク基板である。
は一般的に第8図に示すような構造である。第8図にお
いて、5は抵抗体を保護するガラス部、6は電極部、7
は基板の分割したセラミ・ツク基板である。
このような従来の分割基板形状では電極コーナ一部の角
度が鋭く実装半田付は後電極コーナ一部にストレスが集
中しやすく電極密着強度を低下させるという欠点があっ
た。
度が鋭く実装半田付は後電極コーナ一部にストレスが集
中しやすく電極密着強度を低下させるという欠点があっ
た。
発明が解決しようとする問題点
このような従来の基板で分割性を良くするためには、1
つ目として、分割溝を深くしなければならず、また深く
するとセラミック基板の反シ・うねりを生じ製品特性に
悪影響を及ぼすという問題点を有している。
つ目として、分割溝を深くしなければならず、また深く
するとセラミック基板の反シ・うねりを生じ製品特性に
悪影響を及ぼすという問題点を有している。
また2つ目として、第9図のように両面に分割溝を設け
れば分割性は良くなるが、電極コーナ一部ea、abへ
のストレス集中をぬぐい切れないという問題点を有して
いる。
れば分割性は良くなるが、電極コーナ一部ea、abへ
のストレス集中をぬぐい切れないという問題点を有して
いる。
本発明は上述したようなセラミック基板の分割性、及び
電極コーナ一部ストレス集中の問題点を解決することを
目的とする。
電極コーナ一部ストレス集中の問題点を解決することを
目的とする。
問題点を解決するための手段
以上のような問題点を解決するために本発明は、表裏両
面の同一線上に分割用溝を設置し、更に分割溝断面形状
を多角形としたものである。
面の同一線上に分割用溝を設置し、更に分割溝断面形状
を多角形としたものである。
作用
この構成によれば、表面の分割溝先端から裏面分割溝先
端の方向に分割され、異形断面が生じなくなる。
端の方向に分割され、異形断面が生じなくなる。
更に、分割溝断面形状に多角性をもたせることにより電
極コーナ一部のストレスが多点へ分散され一点へのスト
レス集中が生じなくなる7、実施例 以下、本発明について、チップ抵抗器用セラミック基板
の実施例について図面を参照しながら説明する。
極コーナ一部のストレスが多点へ分散され一点へのスト
レス集中が生じなくなる7、実施例 以下、本発明について、チップ抵抗器用セラミック基板
の実施例について図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明の一実施例におけるセラミック基板であ
り、第2図は第1図の横方向からの断面拡大図で分割溝
の形状は2角を有している。第3図は第1図の縦方向か
らの断面拡大図であシ従来と同様表面のみの分割溝11
であり、形状ばV溝である。また、第4図は第1図を分
割し製品化したチップ抵抗器の電極部を示す図である。
り、第2図は第1図の横方向からの断面拡大図で分割溝
の形状は2角を有している。第3図は第1図の縦方向か
らの断面拡大図であシ従来と同様表面のみの分割溝11
であり、形状ばV溝である。また、第4図は第1図を分
割し製品化したチップ抵抗器の電極部を示す図である。
本発明は、セラミック基板10に、第2図に示すように
横方向の分割溝12を表裏両面に設け、分割溝の形状を
V溝から2角をもたせた多角形分割溝にした。その角度
は、例えば、第2図のAは132°。
横方向の分割溝12を表裏両面に設け、分割溝の形状を
V溝から2角をもたせた多角形分割溝にした。その角度
は、例えば、第2図のAは132°。
Bは150.Cは79°、Dは20°の横方向の表裏の
分割溝形状にした。尚、第2図のセラミック基板横方向
の分割溝12の断面図は第4図の電極部に対応し、第2
図の傾斜13は第4図の傾斜20に、傾斜14は傾斜2
1に、傾斜16は傾斜22に、傾斜16は傾斜23に、
傾斜17は傾斜24に対応する。
分割溝形状にした。尚、第2図のセラミック基板横方向
の分割溝12の断面図は第4図の電極部に対応し、第2
図の傾斜13は第4図の傾斜20に、傾斜14は傾斜2
1に、傾斜16は傾斜22に、傾斜16は傾斜23に、
傾斜17は傾斜24に対応する。
なお、第4図において、5,6.7f″i第8図の5.
6.7と同一部分である。
6.7と同一部分である。
このように表裏両面に分割溝を設け、分割溝を2角のよ
うに多角形としたものである。
うに多角形としたものである。
以下、本発明のセラミック基板を利用した具体的実施例
を述べる。
を述べる。
本発明のセラミワク基板を200枚作成しテップ抵抗器
製造ラインに投入し、製品寸法、及びバラツキの確認、
更にチップ抵抗器完成品における電極強度を測定し従来
品との比較を行なった。
製造ラインに投入し、製品寸法、及びバラツキの確認、
更にチップ抵抗器完成品における電極強度を測定し従来
品との比較を行なった。
その結果を表−1に示す。
表−1
試験試料N=200
製品寸法は規格2.0±0.1W&に対し、本発明品は
! = 2.04鵡となり、従来品はi=2.08鵡と
なシ、本発明品は規格値中央に近づけることが出来た。
! = 2.04鵡となり、従来品はi=2.08鵡と
なシ、本発明品は規格値中央に近づけることが出来た。
また、製品寸法バラツキはδ=0.00911)となり
、従来品δ=0.016鵡より大幅に減少した。
、従来品δ=0.016鵡より大幅に減少した。
更に電極強度についてはチップ抵抗器半田付は後の電極
タワミ強度を測定した結果、本発明品はMin=8mで
、従来品のsmより大幅にア、ツブした。
タワミ強度を測定した結果、本発明品はMin=8mで
、従来品のsmより大幅にア、ツブした。
尚、電極タワミ強度については第5図に示す通シ厚さ1
纂のプリント基板29の中央にチップ抵抗器3oを半田
付けし、チップ抵抗器中央部32を力点とし支点33間
距離を901EBとしプリント基板29を強制的に撓ま
せ、チップ抵抗器電極の剥れが発生した時のプリント基
板29の撓み距離34を測定するものである。
纂のプリント基板29の中央にチップ抵抗器3oを半田
付けし、チップ抵抗器中央部32を力点とし支点33間
距離を901EBとしプリント基板29を強制的に撓ま
せ、チップ抵抗器電極の剥れが発生した時のプリント基
板29の撓み距離34を測定するものである。
発明の効果
以上のように本発明におけるセラミック基板は、表裏両
面に分割溝を設けることにより表面の分割溝方向から裏
面の分割溝方向にそって分割され異形を伴わない分割形
状を保つことが出来、まだ表裏画面の分割溝の断面形状
を多角形にすることにより、そのセラミック基板を使用
したチップ抵抗器の実装半田付は後の電極コーナ一部へ
のストレスを分散させることが出来、電極強度レベルが
向上出来る。
面に分割溝を設けることにより表面の分割溝方向から裏
面の分割溝方向にそって分割され異形を伴わない分割形
状を保つことが出来、まだ表裏画面の分割溝の断面形状
を多角形にすることにより、そのセラミック基板を使用
したチップ抵抗器の実装半田付は後の電極コーナ一部へ
のストレスを分散させることが出来、電極強度レベルが
向上出来る。
第1図は本発明の一実施例による電子部品用セラミック
基板の斜視図、第2図は第1図の横方向からの断面拡大
図、第3図は第1図の縦方向からの断面拡大図、第4図
は第1図を分割して製品化したチップ抵抗器の電極部を
示す斜視図、第6図は電極撓み強度試験についての概略
図、第6図a〜Cは従来のセラミック基板の斜視図及び
断面図、第7図は第6図のセラミック基板を分割した際
の断面図、第8図は一般的なチ・ツブ抵抗器の断面図、
第9図は多角をもたないセラミック基板を使用したチッ
プ抵抗器の断面図である。 10・・・・・・セラミック基板、11.12・・・・
・・分割溝。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名!I
)句 第4図 第6図
基板の斜視図、第2図は第1図の横方向からの断面拡大
図、第3図は第1図の縦方向からの断面拡大図、第4図
は第1図を分割して製品化したチップ抵抗器の電極部を
示す斜視図、第6図は電極撓み強度試験についての概略
図、第6図a〜Cは従来のセラミック基板の斜視図及び
断面図、第7図は第6図のセラミック基板を分割した際
の断面図、第8図は一般的なチ・ツブ抵抗器の断面図、
第9図は多角をもたないセラミック基板を使用したチッ
プ抵抗器の断面図である。 10・・・・・・セラミック基板、11.12・・・・
・・分割溝。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名!I
)句 第4図 第6図
Claims (1)
- 多数個の小基板に分割されるべく分割溝が設けられ、
かつ分割溝の断面の形状を多角形としたことを特徴とす
る電子部品用セラミック基板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62059360A JPS63226092A (ja) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | 電子部品用セラミツク基板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62059360A JPS63226092A (ja) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | 電子部品用セラミツク基板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63226092A true JPS63226092A (ja) | 1988-09-20 |
Family
ID=13111021
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62059360A Pending JPS63226092A (ja) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | 電子部品用セラミツク基板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63226092A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016072393A (ja) * | 2014-09-29 | 2016-05-09 | 日亜化学工業株式会社 | セラミックスパッケージの製造方法及び発光装置の製造方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5830118A (ja) * | 1981-08-14 | 1983-02-22 | ティーディーケイ株式会社 | 電子部品、その製造方法及び製造装置 |
-
1987
- 1987-03-13 JP JP62059360A patent/JPS63226092A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5830118A (ja) * | 1981-08-14 | 1983-02-22 | ティーディーケイ株式会社 | 電子部品、その製造方法及び製造装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2016072393A (ja) * | 2014-09-29 | 2016-05-09 | 日亜化学工業株式会社 | セラミックスパッケージの製造方法及び発光装置の製造方法 |
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