JPS63284834A - アルミニウム配線の形成方法 - Google Patents

アルミニウム配線の形成方法

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JPS63284834A
JPS63284834A JP11953987A JP11953987A JPS63284834A JP S63284834 A JPS63284834 A JP S63284834A JP 11953987 A JP11953987 A JP 11953987A JP 11953987 A JP11953987 A JP 11953987A JP S63284834 A JPS63284834 A JP S63284834A
Authority
JP
Japan
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aluminum
wafer
amorphous silicon
etching
film
Prior art date
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Pending
Application number
JP11953987A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Hosaka
俊 保坂
Masahisa Uramoto
正久 浦本
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Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments and Electronics Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は半導体装置において断面が台形状であるアル
ミニウム配線の形成方法である。
〔発明の概要〕
この発明はアルミニウム配線の形成において、アルミニ
ウム膜上にアモルファスシリコン膜を積層し、積層した
アモルファスシリコン膜上に、所望の形状にフォトレジ
ストを形成したウェハーを、シリコンエツチングにより
断面が台形状であるアモルファスシリコン膜を形成した
後に、断面が台形状であるアルミニウム配線を形成する
ようにアルミニウムエツチングを行ったものである。
〔従来の技術〕
従来は、シリコン基@3上に順次、シリコン酸化11!
 2 、アルミニウムJlllを形成したウェハー(第
2図(a))上に、所望の形状にフォトレジストを形成
しく第2図(bl)、これをアルミニウムエツチングし
く第2図TC) ) 、最後に、レジストを剥離するこ
とによって、アルミニウム配線(第2図(d))を形成
していた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし、上記の様な従来のアルミニウム配線の形成方法
では、フォトレジストの断面が台形状になりにくいため
断面が台形状のアルミニウム配線を形成することができ
ず、断面が長方形になるという問題点を有していた。ま
た、従来の方法により、アルミニウム配線の断面が台形
状になるように加工するには、複雑な形成方法を用いね
ばならなかった。
〔問題点を解決するための手段〕
上記問題点を解決するために、この発明においてはアル
ミニウム膜上にアモルファスシリコン膜を形成し、その
上にフォトレジストを所望の形状に形成する。このウェ
ハーをまず断面が台形状になるようにシリコンエツチン
グを行い、その後、断面が台形状であるアルミニウム配
線を形成するようにアルミニウムエツチングを行ったも
のである。
〔作用〕
上記のような方法によれば、断面が台形状であるアルミ
ニウム配線が容易に形成できる。
〔実施例〕
以下に、この発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明
する。第1図(alは、シリコン酸化膜とアルミニウム
膜を積層したウェハーであり、第1回(b)は、第1図
(atのウェハー上にアモルファスシリコン層を積層し
たものである。第1図(C)は、第1図(1))のウェ
ハー上に所望の形状のフォトレジストを形成したもので
ある。第1図(dlは、第1図(11,1のウェハーに
シリコンエツチングを行ったものであり、この時アモル
ファスシリコン膜の断面が台形状になるようにエツチン
グを行う。第1図(e)は、   −第1図(diのウ
ェハーをフォトレジスト及びアモルファスシリコン膜を
マスクとして、マスクの端部がエツチングにより後退す
ることを利用して、アルミニウムエツチングを行ったも
のである。第1図(flは、第1図(81のウェハー上
のフォトレジスト及びアモルファスシリコン膜を剥離し
たものである。これらの方法により、断面が台形状のア
ルミニウム配線が形成できる。
〔発明の効果〕
この発明は、断面が台形状のアルミニウム配線が形成さ
れることによって、上層膜の段差被覆性が著しく改善さ
れるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図fa)〜(flは、この発明の実施例を示す工程
順断面図、第2図ial〜(dlは、従来の技術を示す
工程順断面図である。 1・・・アルミニウム膜 2・・・シリコン酸化膜 3・・・シリコン基板 4・・・アモルファスシリコン膜 5・・・フォトレジスト 以上 出願人 セイコー電子工業株式会社 ノリコノ (α)(d) (b)                      
        (eン本光明のフルミニ仏G乙麩形八
方六の工mP頃り示1尉匣圓$ 1 図 (α) (b) 9L来のフルミニウス配諜形成 第 (C) (d) 方忌氏の】二1嘔り用勇Iと力(T痙乍σbじ12図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ウェハー上に積層されたアルミニウム膜上に、アモルフ
    ァスシリコン膜を積層する工程と、前記アモルファスシ
    リコン膜上に、フォトリソグラフィーによって所望の形
    状が得られるようにフォトレジストを形成する工程と、
    前記工程で得られたウェハーを断面が台形状になるよう
    にシリコンエッチングを行う工程と、前記シリコンエッ
    チングを行ったウェハーを前記フォトレジスト及び前記
    アモルファスシリコン膜をマスクとしてアルミニウムエ
    ッチングを行い断面が台形状であるアルミニウム配線を
    形成する工程とから成るアルミニウム配線の形成方法。
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