JPS6332311A - 物体認識装置 - Google Patents

物体認識装置

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JPS6332311A
JPS6332311A JP61176230A JP17623086A JPS6332311A JP S6332311 A JPS6332311 A JP S6332311A JP 61176230 A JP61176230 A JP 61176230A JP 17623086 A JP17623086 A JP 17623086A JP S6332311 A JPS6332311 A JP S6332311A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は物体認識装置に関し、特にテレビジョンカメラ
を用いて認識すべき物体を撮像して得られるビデオ信号
に基づいて、物体の有無、物体の欠陥の有無などの物体
の状態を観測するようにしたものである。
〔発明の概要〕
本発明は、被観測物体をテレビジョンカメラによって撮
像して得られるビデオ信号に基づいて当該被観測物体の
状態を認識する物体認識装置において、1つの被観測物
体について複数の監視領域を設定して物体の認識をする
ようにしたことにより、被観測物体の有無と共に向きを
認識することができる。
〔従来の技術〕
この種の物体認識装置として、被観測物体をテレビジョ
ンカメラによって撮像して得られるビデオ信号のうち、
所定の監視領域に相当する信号部分の信号レベルに基づ
いて、当該信号レベルが所定の範囲内に入るか否かを判
定することによって、物体の有無又は物体の各部におけ
る欠陥の有無などを認識するようにしたものが提案され
ている(特願昭58−148243号)。
かかる構成の物体認識装置を用いて物体の有無、欠陥の
有無などを判定しようとする場合、一般に、テレビジョ
ンカメラが被観測物体を服像したときに得られるビデオ
信号に基づいて撮像画面上の所定の位置に設定された監
視領域の輝度を、正常な外観をもった標準物体(これを
マスタと呼ぶ)をテレビジョンカメラが撮像したときの
撮像画面上の対応する監視領域の輝度と比較することに
よって、両者間に差異があれば被観測物体に異常がある
と判定するような方法が採用されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
このような判定をしようとする場合、テレビジョンカメ
ラが被観測物体を撮像したとき、当該被観測物体の位置
がマスタにおける対応する物体の位置に対して相対的に
同じ位置にあることを確認できると同時に、当該被観測
物体の向きをも確認し得るようにできれば、高い精度の
物体認識結果を得ることができると考えられる。
例えば実装部品を実装したプリント基板などにおいては
、配線パターンに対して所定の極性の電極を接続する必
要がある部品(例えばダイオード、電解コンデンサなど
)が含まれており、これらの部品がマスタを構成するプ
リント基板の対応するダイオード、電解コンデンサなど
の部品と同じ位置にあることを確認すると同時に、その
接続端子の極性に誤りがないことを確認できれば、物体
の認識精度を高めることができる。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、位置のみ
ならず、向きが規定されている被観測物体に対して、こ
れを確実に認識し得るようにした物体認識装置を提案し
ようとするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
かかる問題点を解決するため本発明においては、被観測
物体14をテレビジョンカメラ15によって撮像して得
られるビデオ信号VDに基づいて規定される撮像画面の
うち、任意に設定された監視領域A1〜A16に対応す
るビデオ信号部分を、マスタの対応するビデオ信号部分
と比較することによって、当該監視領域A1〜A16に
ある被観測物体14の状態の正常又は異常を認識するよ
うになされた物体認識装置において、1つの被観測物体
14について複数の監視領域M1、M2を設定し、当該
複数の監視領域M1、M2から得られるビデオ信号部分
の相対的関係が、マスタについて得られる当該相対的関
係と一致するか否かを判定することにより、被観測物体
14の有無及び向きを認識するようにする。
〔作用〕
1つの被観測物体14について複数の監視領域M1、M
2を設定して、各監視領域M1、M2から得られるビデ
オ信号部分の相対的関係を求める。
また同様にしてマスタについて対応する位置に複数の監
視領域M1、M2を設定して、各監視領域M1、M2か
ら得られるビデオ信号の相対的関係を求める。
かくして被観測物体について求めることができたMI 
M2の相対的関係と、マスタについて得られる当該相対
的関係とが一致すれば被観測物体が存在し、かつその向
きがマスタと同一であることを認識することができ、こ
れに対して不一致になれば被観測物体の状態が異常であ
ると判定することができる。
このようにして被観測物体の有無のみならず、その向き
をも確実に認識することができる。
〔実施例〕
以下図面について本発明を、実装部品をマウントしたプ
リント基板の欠品検査装置に通用した場合の実施例につ
いて詳述する。
(1)全体の構成 第1図において、11は全体として物体認識装置を示し
、XY子テーブル2上にRWされたプリント基板13上
のマウント部品14をテレビジョンカメラ15によって
上方から撮像する。
XY子テーブル2は、プリント基板13をX方向及びY
方向に移動することにより、プリント基板13の表面を
例えば4X4=16個の撮像領域に分割し、各分割撮像
領域をテレビジョンカメラ15の視野に順次設定するこ
とにより、16個の分割撮像領域についてのビデオ信号
VDを、ビデオデータ入力部16及びタイミング制御部
17に入力すると共に、モニタ部18に供給し得るよう
になされている。
XY子テーブル2を駆動制御するXY子テーブルントロ
ーラ19は、実装部品14をマウントしたプリント基板
13の各分割撮像領域が、テレビジョンカメラ15の撮
像位置に位置決めされるごとに、検査開始信号5IGI
Nをタイミング制御部17に与えるようになされている
タイミング制御部17は、ビデオ信号VDのうち、水平
及び垂直同期信号に同期するクロック信号を発生し、当
該クロック信号をカウントしてビデオ信号VDの各ライ
ンについて所定の間隔の位置データを形成する。 そし
て検査開始信号5IGl)lが発生したとき、タイミン
グ制御部17は、バス21を介して中央処理ユニツI−
(CPU)’22から、マスタの対応するマウント部品
についてのデータを読み出し、当該マウント部品の位置
を表すタイミングでサンプリングパルスSMPを発生し
てビデオデータ入力部16のサンプルホールド回路23
に送出する。
この実施例の場合、タイミング制御部17は、サンプリ
ングパルスSMPを送出するタイミングで、対応する監
視領域を表すマーカをカーソルと共にモニタ部18のモ
ニタの表示画面上に表示させることによって、オペレー
タに知らせるようになされている。
CPU22は、16個の分割撮像領域についてそれぞれ
、16個の監視領域Ai A2・・・・・・A16のデ
ータを取り込み得るように構成されており、これに対応
してサンプルホールド回路23は、第2図に示すように
、16個のサンプルホールド回路本体SHI、SH2・
・・・・・5H16を有する。
第2図において、サンプルホールド回路23は、入力ビ
デオ信号VDを、サンプリングパルスSMPによって順
次閉じる入力端スイッチ回路S W、、、S W +□
・・・・・・5WIl&  (例えばアナログスイッチ
でなる)のオン動作によってサンプリングした後、出力
側スイッチ回路S W oい5Woz・・・・・・5W
O1&(同様にアナログスイッチでなる)によってサン
プリングホールドしたサンプルホールドビデオ信号VD
、、を、ゲイン調整回路C,CONを介してアナログ/
ディジタル変換回路24(第1図)に順次送出し、かく
して各監視領域A1、A2・・・・・・A16の輝度デ
ータをバス21を介してCPU22に送出するようにな
されている。
CPU22は、16個の分割撮像領域に含まれる監視領
域A1〜A16についてのデータを1ページのデータと
してRAM33のビデオデータレジスタ33C(第70
)に順次格納して行き、1ペ一ジ分のデータが格納し終
わると、制御信号出力部35を介してXY子テーブルン
トローラ1つに検査終了信号5IGOLITを送出する
ことによって、テレビジョンカメラ15の撮像位置に次
の分割撮像領域を位置決めするように、XY子テーブル
2を駆動制御する。
サンプルホールド回路本体SHI、SH2・・・・・・
S H16は、第3図に示すように、抵抗R及びコンデ
ンサCでなるCR積分回路を有し、入力側スイッチ回路
S W r +、SWI□・・・・・・S W + I
bが、対応する監視領域A1、A2・・・・・・A16
の面積に相当するタイミングでオン動作することによっ
て、入力ビデオ信号VDを抵抗Rを通じてコンデンサC
に積分する。かくしてコンデンサCには対応する監視領
域内の輝度を全面積について積分した値に相当する電圧
がホールドされることになる。
このコンデンサCのホールド電圧は、出力側スイッチ回
路S Woe、 S Woz−−S WashがCPU
22の制御の下に順次閉じたとき、サンプルホールドビ
デオ信号VD、イとしてゲイン調整回路GCONに送出
された後、リセットスイッチR3Tが閉じることにより
放電され、これにより次のサンプリングホールド動作を
待ち受ける状態になる。
CPU22は、ビデオデータ入力部16、タイミング制
御部17、モニタ部18を、操作スイッチ部31の操作
入力に応動して、ROM32のプログラムメモリに格納
されているプログラムに従って、必要に応じてRAM3
3のレジスタを利用しながら監視領域設定モード及び検
査モードにおけるデータの処理を実行し、当該処理結果
を必要に応じてプリンタ34に出力する。
(2)ペア検査モード 以上の構成において、CPU22は、観測すべきマウン
ト部品14のうち、位置及び向きが規定されているマウ
ント部品(例えば電解コンデンサ、ダイオードなど)に
ついては、1つのマウント部品について一対の監視領域
M1及びM2を設定してこれら一対の監視領域M1及び
M2から取り込んだ輝度データに基づいて、物品の有無
及び向きを検査する(これをペア検査モードと呼ぶ)よ
うになされている。
例えば第4図に示すように、配線パターンPTN1及び
PTN2間に、電解コンデンサCCNがマウントされて
いる場合には、一対の監視領域M1及びM2を、電解コ
ンデンサCCHの映像上に、互いに対向するように設定
する。
ここで電解コンデンサCCNの容器(例えばアルミニウ
ムでなる)の上面には、負極側電極が設けられている位
置を表す、例えば黒色の負電極標識部D1が、他部D2
と区別できるように、例えば着色剤によって塗り分けら
れている。そしてこの負電極標識部DI上に一方の監視
領域M1が設定されると共に、その境界D3を挾んで他
部D2上に、監視領域M2が形成される。ここで他部D
2は、アルミニウムの地色を呈し、かくしてビデオカメ
ラ15は、負電極標識部Dl内に設定された監視領域M
lとして輝度が低いビデオ信号VDを発生するのに対し
て、他部D2に設定された監視領域M2として輝度が高
いビデオ信号VDを発生ずることになる。
これに対して第5図に示すように、マウント部品14が
ダイオードCDIのときには、負電極標識部D1には、
銀色の着色剤が塗られている。これによりテレビジョン
カメラ15は、負電極標識部DIの監視領域M1から高
い輝度のビデオ信号VDを発生するのに対して、容器の
地色を表してなる他部D2に対応する監視領域M2から
低い輝度のビデオ信号VDを得るようになされている。
かくしてCPU22は、マスタ上に、第4図又は第5図
に示すような位置及び向きをもつ電解コンデンサCCN
又はダイオードCDIがマウントされているとき、当該
マスタ上のマウント部品の監視領域M1及びM2から輝
度データB1及びE3szを得ると共に、被観測対象物
についても同様の輝度をもつ輝度データBTI及びBア
2が監視領域Ml及びM2から得られたときには、電解
コンデンサCCN又はダイオードCDIのマウント位置
のみならず、その向きが誤っていないことを第6図に示
す処理手順によって判断する。
すなわちCPU22は、まず監視領域設定モードMOD
EIのステップSPIにおいて、マスタでなるプリント
基板をXY子テーブル2上に載置して、マウントされて
いるマウント部品14のうち電解コンデンサCCN (
第4図)又はダイオードCDI(第5図)について、監
視領域Ml及びM2を設定した後、ステップSP2に移
って電解コンデンサCCN又はダイオードCDI上の監
視領域Ml及びM2における輝度を表すビデオ信号VD
をビデオデータ入力部16のサンプルホールド回路23
によってサンプルホールドした後、これをアナログ/デ
ィジタル変換回路24において輝度データBSI及びB
SZに変換してバス21を介してCPU22に取り込む
このときCPU22はこの輝度データB3.及びBSt
をRAM33(第7図)の評定データレジスタ33Dに
格納する。ここでRA M 33に格納された輝度デー
タBS+及びBSZは、一対の監視領域M1及びM2の
データを一組として読み出し得るように格納されている
かくして16個の分割撮像領域に含まれる向きをもつマ
ウント部品14についての16ペ一ジ分の評定データが
RA M 33に格納され、かくして監視領域設定モー
ドMODEIが終了する。
次にCPU22は、検査モードのステップSP3に移る
。このステップSP3においてCPU22は、XY子テ
ーブル2上に検査対象となる被観測プリント基板が1枚
ずつ載置されたとき、その16個の分割撮像領域につい
て監視領域M1及びM2における輝度データBT!及び
BTZを、テレビジョンカメラ15、サンプルホールド
回路23、アナログ/ディジタル変換回路24を介し、
さらにバス21を介して取り込んだ後、RAM33のビ
デオデータレジスタ33C(第7図)に格納する。
続いてCPU22は、ステップSP4に移って、上述の
ステップSP2においてRAM33の評定データレジス
タ33D(第7図)に取り込んだ一対の輝度データBs
l及びE3szの関係が、 B、1〉BStであるか否
かの判断をする。このステップSP4において肯定結果
が得られれば、このことは、マスタにおける当該マウン
ト部品14として、第1に電解コンデンサCCNが第4
図とは逆開きにマウントされているか、又は第2にダイ
オードCDIが第5図と同じ向きにマウントされている
ことを意味している。
このときCPU22は次のステップSP5に移る。この
ステップSP5は、上述のステップSP3においてRA
M33のビデオデータレジスタ33C(第7図)に取り
込まれたデータBア、及びBア2の関係が、BTI>B
T□であるか否かの判断をするステップで、肯定結果が
得られれば、被観測対象プリント基板13の当該マウン
ト部品14の状態がマスタのマウント部品と同じである
ことを意味している。従ってCPU22は、被観測対象
の当該マウント部品は合格であると判断し、ステップS
P6において合格と判断した場合の処理を実行する。
その後CPU22は、続くステップSP7において評定
データレジスタ33Dに格納されている輝度データBS
I及びB。の値を新たな評定データに更新する。このス
テップSP7の処理は、輝度データB□及びBS□とし
て、被観測対象プリント基板13から得られた輝度デー
タB□及びBoについて、過去複数回の検査の結果得ら
れたデータの例えば単純平均を演算により求めて新たな
評定輝度データE3s+及び13szとして評定データ
レジスタ33Dに格納し直すようにすることにより、次
の被観測対象プリント基板13を検査する際に、その都
度マスタからデータを取り込まずに、検査条件を経時変
化に応じて変更して行くことができるようになされてい
る。
かかる処理が終了した後CPU22は、上述のステップ
SP3に戻って、次の被観測対象プリント基板13につ
いての輝度データB□及びB10の取込み処理を実行す
ることにより、再度上述の動作を繰り返す。
これに対して上述のステップSP5において否定結果が
得られると、このことは、被観測対象プリント基板13
から得た輝度データB□及びB7□の関係は、BTI<
BY□、又はBt+=Bア2であることをCPU22が
判定したことを意味する。かかる判定がされたことは、
第1に被観測対象プリント基板13上にマウントされて
いるマウント部品14がマスタにおける対応するマウン
ト部品の向きとは逆の向きにマウントされている(すな
わちE3t+<Elv□)ことを表し、又は第2に欠品
である(すなわち背景に応じてBTI<BTZ、又はB
7.=B yz)ことを表し、又は第3に極性をもたな
い部品が過ってマウントされていることを表している。
このときCPU22はステップSP8に移って、当該被
観測対象プリント基板13が不合格であるとしてその処
理をした後、上述のステップSP3に戻る。
以上は上述のステップSP4において肯定結果が得られ
たときの処理であるが、このステップSP4においてC
PU22が否定結果を得たときには、マスタにおけるマ
ウント部品として、第1に電解コンデンサCCNが第4
図と同じ向きにマウントされているか(すなわちBSt
<、B52) 、又は第2にダイオードCDIが第5図
とは逆向きにマウントされているか(すなわちE3st
<13s□)、または第3に極性のないマウント部品が
マウントされているか(すなわちBsI=Bsz)のい
ずれかの状態にあることを表している。
このときCPU22は、ステップSP9に移って被観測
対象プリント基板13の輝度データB0及びBTtの関
係がBTI<BT□であるか否かの判断をする。
ここで肯定結果が得られれば、被観測対象プリント基板
13上の当該マウント部品の種類及び向きがマスタのマ
ウント部品と同一であることを表しており、従ってCP
U22は上述のステップSP6に移って被観測対象プリ
ント基板13の当該マウント部品が合格であるときの処
理を実行するような処理手順に入る。
これに対してステップSP9において否定結果が得られ
ると、このことは、マスタについてのステップSP4の
判断とは相違する判断結果が被観測対象プリント基板1
3について得られたことを意味する。すなわち、第1に
マスタには第4図と同じ向きの電解コンデンサCCNが
マウントされていたのに対して被観測対象プリント基板
13には電解コンデンサCCNが逆向きにマンウドされ
ているか、又は第2にマスタには第5図とは逆向きのダ
イオードCDIがマウントされていたのに対して被観測
対象プリント基板13には第5図と同じ向きのダイオー
ドCDIがマウントされているか、 又は第3に被観測
対象プリント基板13に極性をもたないマウント部品(
すなわちE3T、=Byz)がマウントされているか、
又は第4に被観測対象プリント基板13から当該マウン
ト部品が脱落して欠品になっている(すなわちI3t+
>13t□又はB t r ”” B y□)のいずれ
か1つの不合格条件があることを表している。
従ってCPU22はこのとき、上述のステップSP8に
移って、当該被観測対象プリント基板13を不合格処理
をする工程に入る。
第6図に示すように、CPU22は、マスタ上のマウン
ト部品についての輝度データBS+及びBstと、これ
に対応する被観測対象プリント基板13上のマウント部
品の輝度データBTI及びByzを比較判定することに
よって、被観測対象プリント基板13上のマウント部品
の有無のみならず、その向きがマスタのマウント部品と
一致するか否かの判定をペア検査モードにおいて確実に
実行し得る。
(3)サンプルホールドビデオ信号のゲイン調整第6図
のステップSP2において、マスタのマウント部品のう
ち、ペア検査モードで検査をすべきマウント部品14の
輝度データSSt、Bsz及び871% B7□を取り
込む際に、サンプルホールド回路23(第2図)のゲイ
ン調整回路GCONは、サンプルホールド回路SHI、
SH2・・・・・・5HI6からそれぞれ取り込まれる
サンプルホールドビデオ信号VD、、の信号レベルを、
ゲイン調整回路GCOHにおいてCPU22からバス2
1を介して供給される係数データPARAによってゲイ
ン調整することにより、監視領域M1及びM2から取り
込まれる輝度データB、1及びE3sz間の大小関係と
、Bア、及びBT’1間の大小関係とを実際のマスタ及
び被観測対象プリント基板13の状態に一致させるよう
にする。
因に、サンプルホールド回路本体SH1〜5816とし
て、第3図に示すような単純な構成のCR積分回路を使
用したとき、コンデンサCの値及び抵抗Rの値のバラツ
キ、経時変化や、ピーク電流に関連するインピーダンス
、又はアナログスイッチ回路構成のスイッチ回路SW、
、〜S W lr h及びS W、、〜SW0..のス
イッチング特性、又はその抵抗値にバラツキがあるため
、監視領域A1〜A16から同じ輝度の被写体に基づく
入力ビデオ信号VDをサンプルホールド回路本体SHI
〜5H16にサンプルホールドしたとしても、各サンプ
ルホールド回路本体SHI〜5H16から送出されるサ
ンプルホールドビデオ信号V D S Hの信号レベル
が互いに異なる値になるおそれがある。
そこで第2図の構成の場合には、監視領域A1〜A16
から同じ輝度の被写体に基づく入力ビデオ信号VDをそ
れぞれサンプルホールド回路本体SHI〜5H16に順
次サンプリングホールドした後、これをゲイン調整回路
GCONを介してアナログ/ディジタル変換回路24に
おいて輝度データに変換した後、CPU22に取り込み
、そのデータの値が、所定の値になるような係数データ
PARAをCPU22において演算して第6図の処理を
するに先立って、予めRAM33の係数データレジスタ
33Eに格納しておく。
そして第6図の処理をする際に、監視領域A1〜A16
について、サンプルホールドビデオ信号VDSHに基づ
(輝度データBsrs Bst又はB y l %By
□をCPU22に取り込むとき、CPU22が対応する
係数データPARAを係数データレジスタ33Eから読
み出してバス21を介してゲイン調整回路GCONにフ
ィードバックするようにする。
このようにすれば、RAM33の係数データレジスタ3
3Eには、サンプルホールド回路本体SH1、SH2・
・・・・・5H16周りの回路構成の差異に基づいてサ
ンプルホールドビデオ信号VDs++に生ずるバラツキ
が、係数データPARAとして予じめ取り込まれる。
そしてCPU22は、サンプルホールド回路本体SH1
、SH2・・・・・・5H16から輝度データを取り込
む際に、対応する係数データPARAをRAM33の係
数データレジスタ33Eから読み出してゲイン調整回路
GCONに与えることにより、その出力端のビデオ信号
VDINの信号レベルを揃えることができる。
かくして第4図及び第5図のマウント部品上に設定した
一対の監視領域M1及びM2からそれぞれ取り込んだ輝
度データに基づいてその大小関係を比較する際に、サン
プルホールド回路本体SH1、SH2・・・・・・5H
16周りの回路構成の差異に基づいて誤った判定をする
おそれを有効に回避することができる。
因に、監視領域M1及びM2について、マスタから得ら
れる輝度データSS+及びBStの大小関係が、Bs+
<Bsz(又はB sl> B sz)のとき、被観測
対象プリント基板13から得られる輝度データ8丁、及
び13yzの大小関係がB□くBtz(又はBr3>B
、□)のとき合格、逆のとき不合格の判定をする必要が
ある。しかし輝度データB、いBSt又は81% Bt
zの信号レベルがサンプルホールド回路本体5HISS
H2・旧・・5H16周りの構成に基づいて変動すると
、判定結果が不安定になるおそれがある。
上述の構成によれば、この問題を有効に解決し得る。
(4)他の実施例 (a)  なお上述の実施例においては、係数データP
ARAによって、アナログ値でなるサンプルホールドビ
デオ信号VDsMの信号レベル(従ってゲイン)をアナ
ログ的にi!IJ御するように構成した実施例を述べた
が、これに代え、アナログ/ディジタル変換回路24に
おいてディジタル変換した後バス21を介してCPU2
2に取り込んだ輝度データについて、係数データPAR
Aを用いて乗算演算することによってディジタルデータ
の値を制御するようにしても、上述の場合と同様の効果
を得ることができる。
偽) 上述の実施例においては、評定データレジスタ3
3Dのデータを更新する(第6図のステップ5P7)に
つき、輝度データB□及びB7□の過去複数回の単純平
均値を演算したが、これに限らず、重み付き平均値を演
算したり、総塚度を演算するようにしても、上述の場合
と同様の効果を得ることができる。
(C)  上述の実施例においては、1つの被観測物体
に対して一対の監視領域M1及びM2を設定することに
より、当該被観測物体の有無及び向きを判定するように
したが、1つの被観測物体に設定する監視領域の数は一
対に限らず、必要に応じて3つ以上複数にしても上述の
場合と同様の効果を得ることができる。
(d)  上述の実施例において、輝度データBs+、
E3sz及びB、いBr2の比較をする際に、許容範囲
を設けないようにした場合について述べたが、これに代
え、許容範囲を設けるようにしても良い。
すなわち、第6図の例えばステップSP9においてマス
タの輝度データBTI及びBTZの比較をする際に、B
Tl〈BT□の判断をすることに代えて、BTI+Δく
Bo(Δは許容範囲)であるか否かの判断をするように
しても良い。このようにすれば、マウント部品14の取
付は状態が実用上許容できる程度に変化しているために
ビデオ信号VDにおける輝度が僅かに変化したような場
合に、実状に適合するように、合格又は不合格の判定を
することができる。
(Q)  上述の実施例においては、マスタに対して一
対の監視領域Ml及びM2を設定する際に、当該設定が
適切であるか否かの判断をしないようにしたが、これに
代え、例えば第6図のステップSP4において、BsI
+Δ〉B、2であるか、又はBSI−Δ〉B、2である
かの判断をすることにより、所定の許容範囲Δを考慮す
るようにすると共に、−Δ<E3sz  BSI<Δの
条件が成り立つ場合には、設定が不適切であることを判
断するようにしても良い。
因に、この条件が成り立つ場合には、一対の監視領域M
1及びM2における輝度BSI及びB。の差が不十分で
あることを表している。従ってこのような場合には、別
途ブザー、表示器などの警報素子を用いてオペレータに
知らせて、監視領域Ml及び又はM2を設定し直したり
、カメラの位置や照明の仕方などを調整し直したりさせ
るようにしても良い。
(fl  上述においては、本発明をプリント基板上に
実装された実装部品の有無などを検査する場合に適用し
た実施例を述べたが、本発明はこれに限らず、物品の状
態を検査する場合に広く適用し得る。
〔発明の効果〕
上述のように本発明によれば、1つの被観測物体に対し
て複数の監視領域M1及びM2を設定してそれぞれ輝度
データを得るようにしたことにより、当該一対の輝度デ
ータの大小関係に基づいて当該被観測物体の有無のみな
らず、その向きまで高い精度でかつ容易に判定すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による物体認識装置の一実施例を示すブ
ロック図、第2図はそのサンプルホールド回路の詳細構
成を示す接続図、第3図は第2図のサンプルホールド回
路本体のさらに詳細構成を示す接続図、第4図及び第5
図は検査すべきマウント部品を示す平面図、第6図は第
1図のCPU22によるペア検出モードにおける処理手
順を示すフローチャート、第7図は第1図のRAM33
の構成を示す路線図である。 11・・・・・・物体認識装置、12・・・・・・XY
子テーブル13・・・・・・プリント基板、14・・・
・・・マウント部品、15・・・・・・テレビジョンカ
メラ、16・・・・・・ビデオデータ入力部、22・・
・・・・CPU、33・・・・・・RAM。 23・・・・・・サンプルホールド回路、24・・・・
・・アナログ/ディジタル変換回路、CCN・・・・・
・電解コンデンサ、CDI・・・・・・ダイオード、A
1へA16、Ml、M2・・・・・・監視領域、Dl・
・・・・・負電極標識部、D2・・・・・・他部、PT
NI、PTN2・・・・・・配線パターン、SHI〜5
H16・・・・・・サンプルホールド回路本体、GCN
・・・・・・ゲイン調整回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  被観測物体をテレビジヨンカメラによつて撮像して得
    られるビデオ信号に基づいて規定される撮像画面のうち
    、任意に設定された監視領域に対応するビデオ信号部分
    を、マスタの対応するビデオ信号部分と比較することに
    よつて、当該監視領域にある上記被観測物体の状態の正
    常又は異常を認識するようになされた物体認識装置にお
    いて、上記1つの被観測物体について複数の監視領域を
    設定し、当該複数の監視領域から得られる上記ビデオ信
    号部分の相対的関係が、上記マスタについて得られる当
    該相対的関係と一致するか否かを判定することにより、
    上記被観測物体の有無及び向きを認識する ことを特徴とする物体認識装置。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS601505A (ja) * 1983-06-20 1985-01-07 Hitachi Ltd パタ−ン検査装置
JPS60256004A (ja) * 1984-06-01 1985-12-17 Matsushita Electric Works Ltd チツプ部品のはんだ付検査方法

Patent Citations (2)

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