JPS6333676A - 電子回路基板の検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、マイクロプロセッサを有する電子回路基板の
構成要素の機能の検査装置に関するものである。

従来の技術 近年、電子回路基板は、高機能・省スペース化による小
型化からマイクロプロセッサを有するものが広く使用さ
れている。このような電子回路基板は、マイクロプロセ
ッサ、メモリ、外部データ回路などを有し、組み立てた
電子回路基板の機能検査は、手動デジタル・プローブや
直流電圧計などの計測装置を使用して機能の動作確認を
行なっている。

以下図面を参照しながら、上述した従来の電子回路基板
の検査装置の一例について説明する。

第６図は従来の電子回路基板の検査装置を示すブロック
図である。第６図において、１′は検査対象となる電子
回路基板、２はマイクロプロセッサ、３′は製品用プロ
グラムが格納された不揮発性メモリ（以下ＲＯＭとする
）、４は製品用プログラムの作業用エリアとして使用さ
れる揮発性メモリ（以下ＲＡＭとする）、５は外部との
データのやりとりをする外部データ回路（Ｒ３２３２Ｃ
。

ＤＩ／Ｄｏなど）で、２〜６の構成要素は電子回路基板
に含まれている。６は基板の出力信号レベルヤ論理しヘ
ル（○／１）を計測する為に、手動デジタル・プローブ
や直流電圧計などを含む計測装置である。

以上のように構成された電子回路基板の検査装置につい
て、以下その動作の流れを説明する。

基板に電源が投入されると、ＲＯＭ内の製品用プログラ
ムが規定の手順によシ実行される。実行の過程において
、外部データ回路と接続された計測装置において出力信
号レベルや論理レベルを目読あるいはコンピュータと接
続して自動的に読取り、基準値と比較して電子回路基板
の機能の判定を行なう。つまシ、データが基準値内に収
まっていれば機能を良とし、越えていれば不良とする。

この検査の過程は、あくまでＲＯＭ内の製品用プログラ
ムに依存している。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような電子回路基板の検査装置では
、製品用プログラムに依存しているので、検査項目に洩
れが生じ易く、電子回路基板の異常箇所をデータから判
断するのが難しく原因解明に多大な時間を要するという
問題点を有していた。

問題点を解決するための手段 本発明は上記問題点に鑑み、前記のような計測装置を必
要とせずに電子回路基板の構成要素の機能を自動的に検
査し、異常箇所を検出する装置を提供するものである。

上記問題点を解決するために本発明の電子回路基板の検
査装置は、コンピュータ内部にテストパターン表を蓄積
し、コンピュータからのテスト指示、テストパターンの
送信手段とを備え、電子回路基板のＲＯＭに製品用プロ
グラムと検査用プログラムを格納した構成を備えたもの
である。

作　　用 本発明は上記した構成によって、コンピュータからの送
信手段を介して、電子回路基板の構成要素の機能単位に
テスト指示を行ないＲＯＭの検査用フログラムを実行す
る。そして、コンピュータに蓄積しているテストパター
ン表からデータパターンを選択し送信手段を介して電子
回路基板に送り、電子回路基板の検査用プログラムは構
成要素の機能をこのデータパターンに基づいて確認する
。

（データパターンは、コンピュータからの指示によシ容
易に変更でき、電子回路基板の構成要素の機能を洩れな
く確認できる。）確認したテスト結果またはデータパタ
ーンは受信手段を介してコンピュータに送り返される。

テスト結果、データパターンには、電子回路基板の構成
要素に異常があればその異常箇所の情報を含んでいる。

この情報から基板の異常箇所を検出することとなる。

実施例 以下本発明の一実施例の電子回路基板の検査方法につい
て、図面を参照しながら説明する。第１図は、本発明の
一実施例における電子回路基板の検査装置のブロック図
、第２図〜第４図は本発明の検査方法の手順を示す図で
ある。第１図において、１は検査対象となる電子回路基
板、２はマイクロプロセッサ、３は製品用プログラムと
検査用プログラムが格納されたＲＯＭ、４はＲＡＭ、５
は外部とのデータのやりとシをする外部データ回路（Ｒ
３２３２Ｃ，ＤＩ／Ｄｏなど）、７は電子回路基板とコ
ンピュータとのインタフェース装置、８ａは送信手段、
８ｂは受信手段、９はテスト指示、テストパターン表の
蓄積やデータパターンの照合を行なうコンピュータであ
る。

以上のように構成された電子回路基板の検査装置につい
て、第２図〜第４図を用いてその動作を説明する。

まず第２図は電子回路基板のＲＯＭ内の検査用プログラ
ムの処理フローを示すものである。ステップ２１で電子
回路基板１のマイクロプロセッサ２の動作チエツクを行
なう。ここでエラーが発生した場合、以後の検査に支障
が生じる為、マイクロプロセッサ２を停止状態にして検
査用プログラムの実行を停止する。ステップ２２〜２５
は、電子回路基板１の構成要素の機能検査をコンピュー
タ９からのテスト指示にて実行して細部の機能チエツク
を行なう。

第３図、第４図は電子回路基板１′の構成要素の具体的
な検査フローを示すものである。

第３図は外部データ回路５の検査７０−で、ステップ３
１でコンピュータ９から送信手段８ａを介して検査項目
を指示するテスト指示が与えられ、電子回路基板１では
対応した検査用プログラムが実行される。ステップ３２
では内部に蓄積しているテストパターン表から、外部デ
ータ回路６０機能チエツクを行なうデータパターンを選
択し、ステップ３３で送信手段８ａを介してデータパタ
ーンを指示する。ステップ３４で、電子回路基板１の検
査用プログラムは外部データ回路５からデータパターン
ヲ読み込み、ステップ３５では読み込んだデータパター
ンと同じデータを外部データ回路５から書き出すように
検査用プログラムは実行する。ステップ３６で、受信手
段８ｂを介して電子回路基板１から書き出されたデータ
パターンを読み込み、ステップ３７で書き出したデータ
パターンと読み込んだデータパターンをビット単位で照
合し、不一致のビット情報をステップ３９にて処理する
。このビット情報にて外部データ回路５の異常箇所（ビ
ット位置）を知ることができる０ステツプ３８では、各
種のデータパターンをテストパターン表から選択してビ
ット単位、ピット相互の異常箇所を検出する。

第４図はＲＡＭ４の検査フローで、ステップ４１で送信
手段８ａを介して検査項目を指示するテスト指示が与え
られ、電子回路基板１では対応した検査用プログラムが
実行される。ステップ４２で、内部に蓄積しているテス
トパターン表から、ＲＡＭ４の機能チエツクを行なうデ
ータパターンを選択し、ステップ４３で送信手段８ａを
介してデータパターンを指示する。電子回路基板１の検
査用プログラムは、データパターンを読み込み、ＲＡ　
Ｍ　４のアドレス単位にこのデータパターンを使用して
機能チエツクを行なう。ステップ４４ａでＲＡＭ４の現
在のデータをレジスタに退避し、ステップ４５＆でデー
タパターンをＲＡ　Ｍ　４に書き込み、ステップ４５ｂ
でデータをＲＡ　Ｍ　４から読み出す。

ステップ４６で書き込んだデータパターンと読み込んだ
データパターンをビット単位に照合し、不一致のビット
情報及びアドレス情報をステップ４７にて処理する。こ
のビット情報及びアドレス情報にてＲＡＭ４の異常箇所
（アドレス位置、データバス、アドレスバスのチエツク
）を知ることができる０ステツプ４４ｂで、ＲＡ　Ｍ　
４の退避データを復元する。ＲＡＭ４全体を同一のデー
タパターンで機能チエツクする。ステップ４８で、コン
ピュータ９は受信手段８ｂを介して電子回路基板１から
書き出されたビット情報及びアドレス情報を読み込み処
理する。前記の外部データ回路６の検査と同様にテスト
パターン表からデータパターンを選択して、全パターン
について検査し異常箇所を検出する。

以上のように本実施例によれば、コンピュータとの間に
送信手段、受信手段を設けて、検査対象の電子回路基板
に製品用プログラムと検査用プログラムを設けることに
より、電子回路基板１の構成要素の異常箇所をコンピュ
ータ９からのテスト指示等により自動的に検出すること
ができる。

発明の効果 以上のように本発明は、コンピュータと、コンピュータ
内部に蓄積したテストパターン表ト、送信手段と、受信
手段とを有し、検査対象の電子回路基板のメモリに製品
用プログラムと検査用プログラムとを設けることにより
、手動デジタル・プローブや直流電圧計などの計測装置
を必要としない為に、検査装置の構成が簡単になる。ま
た、基板専用の検査用プログラムを搭載することにより
、検査を行う準備に手間を必要とせず、コンピュータか
らのコマンドによる指示のみで電子回路基板の構成要素
の異常箇所を自動的に検出することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例における検査装置のブロック
図、第２図は電子回路基板の検査用プログラムの処理フ
ロー図、第３図は電子回路基板の構成要素の外部データ
回路の具体的な検査の流れ図、第４図は電子回路基板の
構成要素のＲＡＭの具体的な検査の流れ図、第５図は従
来の電子回路基板の検査装置のブロック図である。 １・・・・・・検査対象となる電子回路基板、２・・・
・・・マイクロプロセノサ、３・・・・・・ＲＯＭ、４
・・・山ＲＡ　Ｍ　。 ５・・・・・・外部データ回路、６・・・・・計測装置
、７・・・出インタフェース装置、８ａ・・・・・・送
信手段、８ｂ・・・・・・受信手段、９・・・・・・コ
ンピュータ。 代理人の氏名　弁理士　中　尾　敏　男　ほか１名第１
図 第２図 第　３　図 第４図 第５図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. マイクロプロセッサ、メモリ及び外部データ回路を有す
   る検査対象の電子回路基板と、前記外部データ回路を介
   して接続されるコンピュータと、このコンピュータの内
   部に蓄積したテストパターン表と、コンピュータからの
   テスト指示、テストパターンを送り出す送信手段と、前
   記電子回路基板からのコンピュータへのテスト結果、テ
   ストパターンを受け取る受信手段とを備え、検査対象の
   前記電子回路基板のメモリ内に製品用プログラムと検査
   用プログラムとを備えたことを特徴とする電子回路基板
   の検査装置。