JPS6339936B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6339936B2
JPS6339936B2 JP58237266A JP23726683A JPS6339936B2 JP S6339936 B2 JPS6339936 B2 JP S6339936B2 JP 58237266 A JP58237266 A JP 58237266A JP 23726683 A JP23726683 A JP 23726683A JP S6339936 B2 JPS6339936 B2 JP S6339936B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scan
flip
flops
shift
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP58237266A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS60128539A (ja
Inventor
Toshuki Odakawa
Kyoshi Sato
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP58237266A priority Critical patent/JPS60128539A/ja
Publication of JPS60128539A publication Critical patent/JPS60128539A/ja
Publication of JPS6339936B2 publication Critical patent/JPS6339936B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2236Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test CPU or processors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 発明の技術分野 本発明は、スキヤン・イン・アウト制御回路に
関し、特に、スキヤンチエーン内のフリツプフロ
ツプFFの数が変化しても同一のスキヤン・イ
ン・アウト動作が行なえるようにしたスキヤン・
イン・アウト制御回路に関する。
(ロ) 従来技術と問題点 スキヤン・イン・アウトシステムにおいて、1
つのスキヤンチエーンを構成するFFの数が変化
する場合、従来はスキヤン・イン・アウト動作を
制御する回路においてFFの数と接続順を認識す
ると共にシフトするクロツク数を変える必要があ
つた。このため前記制御回路ではスキヤンチエー
ンのFFの数が変化する毎にテーブル等を持つと
いう複雑さがあつた。また一部改良案としてシフ
トクロツクを制御したり、スキヤンチエーンの接
続形態を制御することにより、前記スキヤン制御
を行う回路は常に単一の動作にできる方法もある
が、この場合、(1)スキヤン・イン・アウトだけに
使用するダミーのFFが必要となること、又は(2)
スキヤンチエーンを構成するFFを全く同じ数に
分けた小さなスキヤンチエーンを構成し、独立に
制御しなければならないこと等の問題があり、回
路の増大,複雑さを招くという欠点があつた。
(ハ) 発明の目的 本発明は、上記の点を解決し、スキヤンチエー
ンを構成するFFの数が変化しても、簡単な構成
によりスキヤン・イン・アウト制御動作を同一に
することを可能にすることを目的としている。
(ニ) 発明の構成 上記目的を達成するために本発明は、スキヤ
ン・イン・アウト制御の対象となるn個のフリツ
プフロツプを含む論理回路の保守、診断等のため
に、該フリツプフロツプを直列に接続したスキヤ
ンチエーンに対し、m個のフリツプフロツプから
なるシフトレジスタを接続してスキヤンループを
構成し、シフトクロツクを必要数印加することに
より、上記シフトレジスタを介してのこのデータ
の入出力制御を行なうスキヤン・イン・アウトシ
ステムにおいて、上記シフトクロツクを計数する
計数手段と、該計数手段の計数値にもとづく制御
信号により上記論理回路内のフリツプフロツプへ
のシフトクロツクを抑止する手段と、該制御信号
により上記n個のフリツプフロツプからなるスキ
ヤンチエーンとm個のフリツプフロツプからなる
シフトレジスタとの接続を切り離す手段と、該制
御信号により上記シフトレジスタだけのスキヤン
ループを構成する手段とをもうけ、上記論理回路
におけるn個のフリツプフロツプのうちm×k個
のフリツプフロツプが存在しない場合において
も、n個のフリツプフロツプが存在する場合と同
一数のシフトクロツクを生成し、同一の入出力制
御動作態様でスキヤン・イン・アウト制御を行な
うよう構成したことを特徴とする。
(ホ) 発明の実施例 第1図は従来の一般的なスキヤン・イン・アウ
トシステムの回路例である。図中、1―1〜1―
6は診断対象のフリツプフロツプ、2―1〜2―
2はスキヤン・イン・アウト制御用のシフトレジ
スタ、3はシフトクロツク作成回路である。この
ように、n個のFFからなるスキヤンチエーンと
m個のFFからなるシフトレジスタとをループ状
に接続し、シフトクロツクを必要数印加する事に
より、nビツト中の任意のFFのスキヤン・イ
ン・アウト動作が行われる。
次に、第2図に本発明による実施例の回路を示
す。
第2図において10―1〜10―4は診断対象
のフリツプフロツプ、11―1〜11―2はスキ
ヤン・イン・アウト制御用のシフトレジスタ、1
2はシフトクロツク作成回路、13はシフトクロ
ツク計数回路、14〜16はアンドゲート、17
はオアゲート、18,19はインバータである。
第2図において、n個の診断対象FFのうち、m
×k個のFFが抜けている場合を示してある。第
3図は第2図の回路のタイムチヤートである。
スキヤン・イン・アウト動作開始前は、シフト
クロツク計数回路13はクリアされている。この
状態でn2個のシフトクロツクが印加されるまで従
来と同じように、スキヤンチエーンに接続された
FFの内容はシフトされる。n2個目に計数回路1
3からの信号Aがオンになる。その後m×k個の
シフトクロツクが印加されるまで信号Aがオンと
なつており、スキヤンチエーンにおけるFFのう
ち、n1,n2個のFFの状態はシフトクロツクが抑
止される為、変化しない。一方m個のFF11―
1〜11―2はm個だけの閉じたスキヤンチエー
ンとなり、m×k個のシフトクロツクが印加され
た後、元と同じ状態になつている。
更に、この状態でn1+m個のシフトクロツクが
印加されるとすべてのFFは全く元と同じ状態に
戻る。以上により、シフトクロツク作成回路12
では、スキヤンチエーンにおいてm×k個のFF
が存在しないことを認識する必要がない。又、ス
キヤン動作を行う為だけのダミーのFFが不要で
あると同時に付加回路も簡単である。
(ヘ) 発明の効果 本発明によれば、簡単な構成でスキヤンチエー
ン内の診断対象FF数の変化に対処することがで
き、経済上の利点は大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の一般的なスキヤン・イン・アウ
トシステムの回路例を示す図、第2図は本発明に
よる実施例の回路を示す図、第3図は実施例のタ
イムチヤートである。 第2図において、10―1〜10―4は診断対
象のフリツプフロツプ、11〜12はスキヤン・
イン・アウト制御用のシフトレジスタ、12はシ
フトクロツク作成回路、13はシフトクロツク計
数回路である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 スキヤン・イン・アウト制御の対象となるn
    個のフリツプフロツプを含む論理回路の保守、診
    断等のために、該フリツプフロツプを直列に接続
    したスキヤンチエーンに対し、m個のフリツプフ
    ロツプからなるシフトレジスタを接続してスキヤ
    ンループを構成し、シフトクロツクを必要数印加
    することにより、上記シフトレジスタを介しての
    データの入出力制御を行なうスキヤン・イン・ア
    ウトシステムにおいて、上記論理回路内に上記シ
    フトクロツクを計数する計数手段と、該計数手段
    の計数値にもとづく制御信号により上記論理回路
    内のn個のフリツプフロツプへのシフトクロツク
    を抑止する手段と、該制御信号により上記n個の
    フリツプフロツブからなるスキヤンチエーンとm
    個のフリツプフロツプからなるシフトレジスタと
    の接続を切り離す手段と、該制御信号により上記
    シフトレジスタだけのスキヤンループを構成する
    手段とをもうけ、上記論理回路におけるn個のフ
    リツプフロツプのうちm×k個のフリツプフロツ
    プが存在しない場合においても、n個のフリツプ
    フロツプが存在する場合と同一数のシフトクロツ
    クを生成し、同一の入出力制御動作態様でスキヤ
    ン・イン・アウト制御を行なうよう構成したこと
    を特徴とするスキヤン・イン・アウト制御回路。
JP58237266A 1983-12-16 1983-12-16 スキヤン・イン・アウト制御回路 Granted JPS60128539A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58237266A JPS60128539A (ja) 1983-12-16 1983-12-16 スキヤン・イン・アウト制御回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58237266A JPS60128539A (ja) 1983-12-16 1983-12-16 スキヤン・イン・アウト制御回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60128539A JPS60128539A (ja) 1985-07-09
JPS6339936B2 true JPS6339936B2 (ja) 1988-08-09

Family

ID=17012849

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JP58237266A Granted JPS60128539A (ja) 1983-12-16 1983-12-16 スキヤン・イン・アウト制御回路

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JPS60128539A (ja) 1985-07-09

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