JPS6344285A - パタ−ン認識装置 - Google Patents

パタ−ン認識装置

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JPS6344285A
JPS6344285A JP18810986A JP18810986A JPS6344285A JP S6344285 A JPS6344285 A JP S6344285A JP 18810986 A JP18810986 A JP 18810986A JP 18810986 A JP18810986 A JP 18810986A JP S6344285 A JPS6344285 A JP S6344285A
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JP18810986A
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Shigeru Abe
茂 阿部
Yasuaki Nakamura
泰明 中村
Katsuyuki Kamei
克之 亀井
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、画像データから特定のパターンを認識する
パターン認識装置に関するものである。
〔従来の技術〕
従来この種の装置として第10図に示すものがあった。
第10図は従来のパターン認識装置の具体例として、参
考文献、手塚慶−1北橋忠宏、小川秀夫著、“ディジタ
ル画像処理工学”、日刊工業新聞社、1985.pp1
0?−111に示されたテンプレートマツチング手法の
説明図である。
第11図において、1はテンプレートデータを記憶する
テンプレートメモリ、2は図面の画像データを記憶する
記憶装置、3は前記テンブレートメモリ1と記憶装置2
に記憶されたデータの一致度を計測する演算装置である 次に動作について説明する。まず、第10図(a)に示
すパターンを認識する場合にはテンプレートメモリ1に
第10図(1))に示すテンプレートデータを用意し、
記憶装置2に記憶さた図面の画像データと演算装置3で
照合する。演算装置3では画像データ中のテンプレート
データのサイズ内の画素(第11図(C)の破線内の部
分)について、テンプレートデータの画素の値との一致
度を調べ、パターンの同一性を判定する。この操作を画
像データ中の照合範囲を一画素ずつ移動しく第10図(
C)の矢印)、画像データ全面について行い、結果を記
憶装置2に格納する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来のパターン認識装置は以上のように構成されている
ので、テンプレートデータの画素数の演算を画像データ
の画素数回だけ行うことになる。
例えば、テンプレートデータが32X32画素、画像デ
ータが100OX100O画素とすると演算回数は約1
,000,000,000回となる。よって演算装置3
が1秒に1,000,000回演算可能としても100
0秒かかることになり処理に多大の時間がかかるという
問題点があった。また、これを短時間に行おうとすれば
、石川、星野:2値画像マツチング用LSIの開発、昭
和61年度電子通信学会総合全国大会1295に示され
るような専門のハードウェアを必要とする等の問題点が
あった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、既存のハードウェアを用いて短時間で画像デ
ータから特定パターンを認識するパターン認識装置を得
ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係るパターン認識装置は、認識しようとする
パターンに特徴的な値をもつ画素を指定し、その指定さ
れた画素のみに注目するとともに、画像データに対し高
速のラスター演算を実行するようにしたものである。
〔作 用〕
この発明におけるパターン認識装置は認識しようとする
パターンに特徴的な値を持つ特定画素を指定し、演算回
数を凍らすようにし、ラスター演算の実行は画素の演算
を高速で行うようにする。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、4は図面の2値画像データを認識しようと
するパターンのデータと演算結果とを記憶する記憶装置
、5はラスター演算を行うラスター演算装置、6は中央
処理装置である。なお、ラスター演算とは、ビット単位
に指定した記憶領域を他の領域に転送し、転送先の領域
と論理演算を行う機能で、ワークステーションに装備さ
れている(「ワークステーションのマルチウィンドウ表
示方法を比較する」日経エレクトロニクス、1985年
7月29日号、N11374参照)、ラスター演算は、
本来デイスプレィ装置のマルチウィンドウ表示等を行う
ための機能である。
このラスター演算においては、転送元のビットをS、転
送先のビットをD、論理演算をFとすると D−F(’S、D)       ・・−・−・・・−
(1)を数Mバイト/秒程度で行う(板材、「高機能ワ
ークステーションのアーキテクチャ」、情報処理、vo
125、隘2、pp93−102.1984年2月)。
この機能を用いてパターン認識を高速に行う。
次に動作について説明する。まず第2図のフローチャー
トにおいて、ステップ7では初期設定を行う(ステップ
7)。そして図面等の2値画像データ、認識しようとす
るパターンの基準画素及びそのパターンに特徴的な画素
の値と基準画素に対する座標を記憶装置4に入力する(
ステップ8)。
さらに、記憶装置4に画像データのサイズに合わせて、
演算結果データの領域を確保して “1”に初期化する
(ステップ9)。以下、第3図(alのパターンを認識
するものとして説明する。この場合、ステップ7では第
8図(b)に示すように、基準画素Aと特徴的な画素B
、C,Hの情報を入力する。
ここでは、A、B、C,Eをパターンの特定画素とする
。ステップ8では特定画素の基準画素に対する座標(X
、Y)とその値Pを基準画素Aの値に設定する。すなわ
ち、X=Y=O,P=1である。
ステップ9では座標X、 Yによりラスター演算の演算
対象領域を設定する。画像データが(x。
y)、0≦X≦xm、O≦y≦ymのとき、領域は次の
ようになる。XについてはX≧0のとき0≦X≦xm−
X、X<Oのとき−XSX≦xm。
yについてもY≧0のとき0≦y≦ym−Y。
y<oのとき−Y≦y:57mである。ステップ10で
はpの値を判定し、p≠0すなわちり−1ならばステッ
プ11へ、p=0ならばステップ12へ移る。
ステップ11では画像データに対し次のラスター演算を
行う。
D (x、y)−3(x+X、y+Y)−D (x。
y)−−−−・−(2) ここで、S (x、y)は画像データの画素、D(x、
y)は記憶装置4の演算結果データを格納する領域の画
素である。x、yは画像データ、演算結果データの座標
、・は論理積を表す。この演算について第4図で説明す
る。第4図(alは画像データを示す図で、第3図(a
lのパターンを含む。第4図(blはS (X+X、y
−t−Y)を第3図中)の已について説明する図、第4
図(C1は演算結果を示す図である。
第4図(a)に示す画像データS (x、  y)を第
3図Cb>のBについての演算とすると、Bの基準画素
Aに対する座標は(Xs 、 Ys )で値は“1”で
あるから、S (x + Xg 、  y + YB 
)とS (x。
y)を重ねると第4図(b)のようになる。ここで41
はS (x、  y)すなわち画像データ、42はs 
(x+xa 、  )’+Ym )を示す。画像データ
上でパターンの基準画素となる画素(xo、yo)では
、S (x、+X、、Ya+Y++)が“1”となる。
従って、パターン上の特定画素(X、 Y)が“1″な
ら、S (x + X 、 y + Y )が1″とな
る画素にパターンの基準画素が存在する可能性がある。
それ以前の演算結果データD (x、y)に(2)式の
演算を行うことにより、D (x、y)には基準画素の
ある可能性のある画素が“1”となって残る。、′1”
に初期化したD (x、y)に対し、Aについて(2)
式を行うと、D (x、y)はS(x、y)と等しくな
る。このD (x、y)に対し、Bについて(2)式を
行った結果が第4図(C)である。ステップ9で設定す
る領域はAについての演算では画像データ全域、Bにつ
いての演算では、第4図To)の41と42が重なって
いる領域である。
ステップ12では次のラスター演算を行う。
D(x、y) =S (x+X、y+Y)  HD(x
、y) −−−<3)S (X ” X + y +’
Y )はS (x +X、y+Y)の否定を表す。この
演算について第5図で説明する。第5図(a)は画像デ
ータを示す図、第5図(blはS (x+X、y+Y)
について第3図(blの已について説明する図、第5図
tc)は演算結果を示す図である。EのAに対する座標
は(x、、y、)で値は“0”であるから、S (x+
)(t、)’+Yt )とS (x、y)を重ねると第
5図ft)lのようになる。
51はS (x、 y) 、52はS (X+XE、)
++Yz)を示す。
画像データ上でパターンの基準画素となる画素(xo、
yo)ではS (xo +Xi 、Yo +Yt )は
“0”になる。従って、パターン上の特定画素(X、 
Y)が“0”なら、S (x+X、y+Y)が“0″と
なる画像データ上の画素(X、  )l)にパターンの
基準画素が存在する可能性がある。それ以前の演算結果
データD (x、y)に(3)式の演算を行うことによ
り、D (x、y)には基準画素のある可能性のある画
素が“1”となって残る。S(x、y)に等しいD (
x、y)に対し、已について(3)式を行った結果が第
5図(C1である。
ステップ13では、パターンの特定画素すべてについて
演算を終了したかを判断し、終了していれば、ステップ
15に進み、中央処理装置6で演算結果の画像データか
ら値が“1”の画素の座標を読みとり、認識したパター
ンの座標として処理を終了し、残っていれば、ステップ
14でx、 y。
Pを次の特定画素の情報に変更してステップ3に移る。
この装置によるパターン認識を第6図に示す。第6図(
a)の画像データから、第3図(a)のパターンを認識
する。画像データに第3図(blのAについての演算を
行うと演算結果D (x、  y)は第6図(a)に等
しくなる。これに已についての演算を行うと第6図(b
l、さらにCについて行うと第6図(C)、さらに已に
ついて演算を行うと第6図(d)に示す演算結果が得ら
れ、第3図(a)のパターンの基準画素が存在する画素
が“1“のまま残り、この“1”の座標を読みとってパ
ターンが認識される。この値が“1”である画素の座標
を認識したパターンの座標として出力する。パターン上
の特定画素の指定は画像データとの関連で、そのパター
ンに特徴的な画素を選ぶ。(2)、(3)式の演算、ス
テップ11及び12はラスター演算装置で高速に行う。
例えば、1000xlOOO画素の画像データの場合、
ラスター演算装置の能力をIMバイト/秒としてもパタ
ーン上の特定画素1画素分について、演算時間は約0.
1秒、パターン上、指定する画素を10画素とすると演
算時間は約1秒となる。
また、仮に32X32画素のパターンについて32X3
2画素すべてを特定画素としたとしても演算時間は約1
00秒である。パターンの特定画素の指定と、ラスター
演算の実行により処理時間を短縮することができる。
なお、上記実施例では、D (x、  y)を“1”に
初期化したが、パターンの基準画素の値により、“1”
なら画像データ、“0”なら画像データを反転したもの
に初期化してもよい。また、最初のラスター演算で、P
が1なら D (x、y)”S (x+X、y+Y)  ・・・(
41PがOなら D (x、y)=S  x+X、y十Y)  −(5)
を実行するようにすれば、D (x、y)の初期化は必
要ない。また、D (x、y)においてパターンの存在
する画素を“1”としたが、“1”と“0”を反転させ
て考え、存在する画素を“0”として行うこともできる
。また、パターンの基準点は、パターンごとに設定して
も、全パターンで同一の画素にしてもよい。また、S 
(x、y)とD (x、y)はラスター演算装置による
ラスター演算が可能であれば、異なる記憶装置に格納し
てもよい。とくに、D (x、  y)をデイスプレィ
装置上のデイスプレィ用の記憶装置に格納すれば、演算
結果が即座にデイスプレィ装置に表示される。
また、複数の2値画像データからなるカラーの画像デー
タにも適用できる。また、パターンの基準画素について
は、設定だけを行って、その画素の値によるラスター演
算は行わない動作にしてもよい。また、パターンの特定
画素は、初期設定の段階ですべて入力するようにしたが
、第2図のステップ13の手前で1画素ずつ逐次的に入
力してもよい。また、すべての特定画素についての演算
を行った後に処理を終了するようにしたが、演算結果デ
ータD (x、y)がすべて“0”になるか、“1″と
なる画素の数が一定値以下になったときに処理を終了す
るようにしてもよい。
また、他の実施例として第7図はラスター演算の機能を
中央処理装置(CPU)で行うようにしたものである。
第7図において、6はラスター演算機能をも果たす中央
処理装置(CPU) 、16は前記中央処理装置6のラ
スター演算機能部を示す。中央処理装置6で行うラスタ
ー演算のフローチャートを第8図に示す。第8図は第2
図のフローチャートのステップ11およびステップ12
の内容に相当する。ステップ81はラスター演算の初期
設定で、画像データの転送元のアドレス、転送先のアド
レスを設定する。ステップ82で転送元のデータと転送
先のデータを取り出し、ステップ83で論理演算を行い
、転送先のアドレスにステップ84で格納する。ステッ
プ85では、第2図ステップ9で設定された領域につい
て演算が実行されたかどうか判定する。領域内すべての
画素について演算を終了していれば、ラスター演算を終
了し、そうでなければ、ステップ86で転送元、転送先
のアドレスを変更して、ステップ82に戻る。以上を中
央処理装置6で行う。ステップ83で行う論理演算は、
特定画素が“1”のときは、(2)式に示す転送元と転
送先の画素の論理積であり、特定画素が“0”のときは
、(3)式に示す転送元の画素の否定と転送先の画素と
の論理積である。
また、ラスター演算装置内に第2の記憶装置を組み込む
ようにしてもよい、この実施例を第9図に示す。第9図
において、17はラスター演算装置5内に組み込んだ第
2の記憶装置を示す。次に動作について説明する。
まず、画像データをラスター演算装置5内の第2の記憶
装置17に記憶し、特徴画素のデータを記憶装置4に記
憶する。記憶装置(第1の)4に記憶した特徴画素のデ
ータにより、中央処理装置6で、ラスター演算装置5が
行う演算の種類、記憶領域を制御する。ラスター演算装
置5は、ラスター演算装置5′内の第2の記憶装置17
に記憶された画像データに対しラスター演算を行い、結
果をラスター演算装置5内の第2の記憶装置17に格納
する。
〔発明の効果〕
以上のように、この発明によれば、認識しようとするパ
ターンに特徴的な値を持つ特定画素を指定し、その指定
された画素のみに注目すると共に画素データに対し高速
のラスター演算を実行すると共にラスター演算機能を装
備したワークステーションによって実行できるので、専
用のハードウェアを用いることもなく短時間で特定のパ
ターンの認識ができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例によるパターン認識装置を
示すブロック図、第2図はこの発明の一実施例によるパ
ターン認識装置の動作を示すフローチャート、第3図、
第4図、第5図及び第6図はこの発明の一実施例による
パターン認識装置の動作を示す説明図、第7図はこの発
明の他の実施例によるパターン認識装置を示すブロック
図、第8図はこの発明の他の実施例によるパターン認識
装置の動作を示すフローチャート、第9図はこの発明の
他の実施例によるパターン認識装置を示すブロック図、
第10図は従来のパターン認識装置の動作を示す説明図
、第11図は従来のパターン認識装置を示すブロック図
である。 4は記憶装置、5はラスター演算装置、6は中央処理装
置、16はラスター演算機能部、17はラスター演算装
置内の第2の記憶装置である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 (外2名) 第2図 第4図 y 第5図    第6図 ■ 第7図   第8図 第9図 17:”)ス9−:*’l*!l肉/l、f2Qi己十
)J 置第10図    第11図 手続補正書(自発)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)図面の2値画像データを格納し、認識しようとす
    るパターンの特定画素のデータと後述のラスター演算結
    果とを格納する記憶装置と、前記記憶装置のビット単位
    の領域のデータを他の領域に転送し転送先の領域のデー
    タと論理演算を行うラスター演算装置と、前記記憶装置
    に格納された認識しようとするパターンの特定画素の位
    置情報と画素の値とにより前記ラスター演算装置の夫々
    の転送先及び転送元の領域と論理演算の種類とを制御す
    ると共に、該ラスター演算結果を転送先領域より読みと
    る中央処理装置とを備えたパターン認識装置。
  2. (2)前記記憶装置を備えた中央処理装置にラスター演
    算機能部を持たせるようにしたことを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載のパターン認識装置。
  3. (3)図面の2値画像データを格納し、認識しようとす
    るパターンの特定画素のデータを格納する第1の記憶装
    置以外にラスター演算結果を格納する第2の記憶装置を
    ラスター演算装置内に組込むようにしたことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載のパターン認識装置。
JP61188109A 1986-05-23 1986-08-11 パタ−ン認識装置 Expired - Lifetime JPH0614362B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61188109A JPH0614362B2 (ja) 1986-08-11 1986-08-11 パタ−ン認識装置
US07/052,851 US4852183A (en) 1986-05-23 1987-05-20 Pattern recognition system

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JP61188109A JPH0614362B2 (ja) 1986-08-11 1986-08-11 パタ−ン認識装置

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JPS6344285A true JPS6344285A (ja) 1988-02-25
JPH0614362B2 JPH0614362B2 (ja) 1994-02-23

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58134372A (ja) * 1982-02-05 1983-08-10 Fuji Electric Co Ltd パタ−ン検査装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58134372A (ja) * 1982-02-05 1983-08-10 Fuji Electric Co Ltd パタ−ン検査装置

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