JPS6355477A - 動作試験回路 - Google Patents

動作試験回路

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Publication number
JPS6355477A
JPS6355477A JP61199309A JP19930986A JPS6355477A JP S6355477 A JPS6355477 A JP S6355477A JP 61199309 A JP61199309 A JP 61199309A JP 19930986 A JP19930986 A JP 19930986A JP S6355477 A JPS6355477 A JP S6355477A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
error
circuit
signal
pseudo
processing circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61199309A
Other languages
English (en)
Inventor
Shingo Koyama
小山 晋護
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS6355477A publication Critical patent/JPS6355477A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は回路中にエラーが発生した時、所定の処理を
行うエラー処理回路の動作を試験する動作試験回路に関
するものである。
〔従来の技術〕
第3図は従来の動作試験回路の構成図で、図において1
は回路中に発生するエラーを検出するエラー検出回路、
2はエラー検出回路がエラーを検出した時所定の処理を
行うエラー処理回路、3は一連のシフトバスを構成する
シフトフリップフロップ、4はエラー検出回路1からエ
ラー処理回路2に伝達されるエラー発生信号である。
ここにおいて、エラー検出回路l、エラー処理回路2、
シフトフリップフロップ3は半導体集積回路5の中に含
まれている。
次に動作について説明する。
半導体集積回路5の中にエラーが発生するとパリティチ
モッカなどのエラー検出回路1は、エラーを検出し、エ
ラー発生信号4をエラー処理回路2に出力する。これを
受けたエラー処理回路2は、ここでエラー処理を開始す
る。
またエラー処理回路2の動作試験を行う場合、エラー検
出回路1にエラーが発生する状態を設定し、エラー検出
回路1からエラー発生信号4を出力させる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来の動作試験回路は以上のように構成されていたので
、エラー検出回路1にエラーが発生ずる状態を設定する
のに手間がかかる問題点があった。
またエラー検出回路1にエラーが発生する状態を設定で
きない時は、エラー処理回路の動作試験を行えない問題
点があった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、半導体集積回路のピン数を増加させること
なく、疑似のエラー発生信号を出力出来るようにして、
エラー処理回路の動作を容易に試験できるようにするこ
、とを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
このためこの発明は、シフトフリップフロップ3に設け
られた疑似エラー発生信号を発生する疑似エラー発生部
IAと、エラー検出回路1から発生するエラー発生信号
と上記疑似エラー発生部IAから発生する疑似エラー発
生信号との論理をとってエラー処理回路2にその論理の
結果を出力する論理回路IBとを備えたことを特徴とす
るものである。
〔作用〕
エラー処理回路1の動作を試験する場合、シフトバスを
用いて外部から疑似エラー発生部IAを作用させ、疑似
エラー発生部IAから疑似エラー発生信号を出力させる
この時論理回路IBは、エラー検出回路1から出力され
るエラー発生信号4と疑似エラー発生部IAから発生す
る疑似エラー発生信号との論理をとってその結果をエラ
ー処理回路2に出力するので、エラー処理回路2には疑
似エラー発生信号が出力され、エラー処理回路2.はこ
の疑似エラー発生信号に従ってエラー発生信号4を入力
した時と同じ動作を行う。
〔実施例〕
以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説明する。な
お、従来と同一の構成要素については同一番号を付して
その説明を省略する。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図で、図においで
IAはシフトフリップフロップ3内に設けられた疑似エ
ラー発生信号6を出力する疑似エラー発生部、IBはエ
ラー検出回路1から出力されるエラー発生信号4と疑似
エラー発生部IAから出力される疑似エラー発生信号6
との論理和をとってその結果をエラー処理回路2に出力
するOR回路からなる論理回路で□ある。
次に動作について説明する。
エラー処理回路2の動作試験を行う場合、シフトバスを
用いて外部から疑似エラー発生部IAを動作させ、疑似
エラー発生部IAから疑似エラー発生信号6すなわち“
1”のレベルの信号を出力する。この疑似エラー発生信
号6が出力されると、OR回路からなる論理回路IBは
エラー検出回路1から出力されるエラー発生信号4とは
関係なく、その論理和であるところの“1”レベルの信
号をエラー処理回路2に出力する。
ここにエラー処理回路2は疑似エラー発生信号6である
“1”のレベルの信号に基づいて所定の処理を行う。こ
の結果エラー処理回路2の動作試験を行うことができる
次に本発明の第2の実施例を説明する。
第2図は本発明の第2の実施例を示す構成図である。第
2図に示すように、この第2の実施例では論理回路IB
をAND回路で構成しである。
この第2゛の実施例では、エラー検出回路lから出力さ
れるエラー検出信号4及び疑似エラー発生部IAから出
力される疑似エラー発生信号6を“0″レベルの信号と
し、′0”レベルの信号がエラー処理回路2に入力され
た時、このエラー処理回路2が所定の処理を行うように
なっている。
この場合でも上記第1の実施例と同様にエラー処理回路
2の動作試験を行うことができる。
〔発明の効果〕
以上説明したようにこの発明によれば、シフトフリップ
フロップに設けられた疑似エラー発生信号を発生する疑
似エラー発生部と、エラー検出回路から出力されるエラ
ー発生信号と上記疑似エラー発生部から出力される疑似
エラー発生信号との論理をとってその結果をエラー処理
回路に出力する論理回路とを備えたので、半導体集積回
路のピン数を増すことなく、エラー処理回路の動作試験
を容易に行うことが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す構成図、第2図はこ
の発明の他の実施例を示す構成図、第3図は従来の動作
試験回路の構成図である。 図において1はエラー検出回路、2はエラー処理回路、
3はシフトフリップフロップ、4はエラー先住信号、5
は半導体集積回路、6は疑似エラー発生信号、IAは疑
似エラー発生部、1Bは論理回路である。 なお各図中、同一符号は1.同一または相当部分を示す
ものとする。 代理人  大  岩  増  雄(ほか2名)手続補正
書伯如 1.事件の表示   特願昭61−199309号2、
発明の名称 wAwMglI 3、補正をする者 5、補正の対象 図面の欄。 6、補正の内容 (1)図面、第1図、第2図を別紙のとおり補正する。 以上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. シフトバスを構成するシフトフリップフロップと、エラ
    ーが発生した時エラー検出回路から発生するエラー発生
    信号を検出し、所定の処理を行うエラー処理回路とを備
    えた動作試験回路において、上記シフトフリップフロッ
    プに設けられた疑似エラー発生信号を発生する疑似エラ
    ー発生部と、上記エラー検出回路から発生するエラー発
    生信号と上記疑似エラー発生部から発生する疑似エラー
    発生信号との論理をとってその論理の結果を上記エラー
    処理回路に出力する論理回路とを備えたことを特徴とす
    る動作試験回路。
JP61199309A 1986-08-26 1986-08-26 動作試験回路 Pending JPS6355477A (ja)

Priority Applications (1)

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JP61199309A JPS6355477A (ja) 1986-08-26 1986-08-26 動作試験回路

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JP61199309A JPS6355477A (ja) 1986-08-26 1986-08-26 動作試験回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6355477A true JPS6355477A (ja) 1988-03-09

Family

ID=16405657

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61199309A Pending JPS6355477A (ja) 1986-08-26 1986-08-26 動作試験回路

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JP (1) JPS6355477A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5600661A (en) * 1989-05-16 1997-02-04 Canon Kabushiki Kaisha Device for processing transmitted digital video signal

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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