JPS6367251B2 - - Google Patents
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- JPS6367251B2 JPS6367251B2 JP10894780A JP10894780A JPS6367251B2 JP S6367251 B2 JPS6367251 B2 JP S6367251B2 JP 10894780 A JP10894780 A JP 10894780A JP 10894780 A JP10894780 A JP 10894780A JP S6367251 B2 JPS6367251 B2 JP S6367251B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/455—Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
Landscapes
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明の磁気ヘツドの電磁変換特性の測定方法
に関する。
に関する。
近年、家庭用VTRの記録密度は急激に増加し
て小型化の傾向にある。VHS型VTRにおいて
は、テープ速度3.33〔cm／Ｓ〕、ヘツド−テープ相
対速度5.5〔ｍ／Ｓ〕になし、しかも磁気テープ上
でのビデオトラツク間のガードバンドをアジマス
記録によつて省いて記録密度を向上している。こ
のアジマス記録を行なうにはビデオ磁気ヘツド
（以後磁気ヘツドと略す）のギヤツプの傾きが異
なつた２個のヘツドを１対として使用している。
この場合最良のVTR再生画像を得ようとすると、
この２個の磁気ヘツドの電磁変換特性がそろつて
いる必要があり、最適な磁気ヘツド対を選び出す
作業が必要となつてくる。この電磁変換特性とし
ては最適記録電流特性、及び周波数特性などがあ
り、数ＭHz帯域の電磁変換特性をオシロスコープ
などを用いた目視測定を行なつていたが、目視誤
差が大きく、又測定個数を上げることができなか
つた。このことから効率良く磁気ヘツドの電磁変
換特性を測定することが必要になつて来た。磁気
ヘツドの電磁変換特性測定は、従来、オシロスコ
ープを用いて磁気ヘツド再生信号のピーク・ピー
ク値（Ｐ−Ｐ値）を測定する方法がとられてい
る。そこで、従来の測定方式との互換性をとると
いう意味から、本発明の磁気ヘツド電磁変換特性
検査装置においても、再生信号のピーク・ピーク
値を測定する方法を採用する。このＰ−Ｐ値測定
を行なうには、この信号の平均値又は実効値から
演算を行なつて表示する方法と、直接信号のエン
ベロープ検波を行なつて表示する方法がある。こ
の演算を行なつてＰ−Ｐ値を表示する前者の方法
は入力波形が第１図ロに示す様な単一周波数の信
号に対しては有効であるが、第１図イに示す様に
入力信号が高調波成分を含み、この高調波レベル
が入力信号によつて異なる場合、磁気ヘツドの電
磁変換特性の良好度によつて信号に含まれる高調
波成分が異なり、演算定数が定まらないので有効
でない。このため磁気ヘツドの電磁変換特性の測
定は後者の磁気ヘツド再生信号をエンベロープ検
波してＰ−Ｐ値を表示する方法が有効である。し
かしながら、ここで問題となるのはエンベロープ
検波回路の特性である。試験用磁気ヘツドは数百
ＫHzまでの広帯域信号を記録再生して検査を行な
うのでエンベロープ検波は数百ＫHz〜数ＭHzの範
囲で特性が一定である必要がある。検波の方法と
してオペレーシヨンアンプとダイオードを組み合
せた方式が考えられるが、数ＭHzにわたつて高利
得を得るオペレーシヨンアンプがなく、この様な
オペレーシヨンアンプでエンベロープ検波回路を
構成すると検波特性が入力信号周波数によつて異
なるので有効でない。
て小型化の傾向にある。VHS型VTRにおいて
は、テープ速度3.33〔cm／Ｓ〕、ヘツド−テープ相
対速度5.5〔ｍ／Ｓ〕になし、しかも磁気テープ上
でのビデオトラツク間のガードバンドをアジマス
記録によつて省いて記録密度を向上している。こ
のアジマス記録を行なうにはビデオ磁気ヘツド
（以後磁気ヘツドと略す）のギヤツプの傾きが異
なつた２個のヘツドを１対として使用している。
この場合最良のVTR再生画像を得ようとすると、
この２個の磁気ヘツドの電磁変換特性がそろつて
いる必要があり、最適な磁気ヘツド対を選び出す
作業が必要となつてくる。この電磁変換特性とし
ては最適記録電流特性、及び周波数特性などがあ
り、数ＭHz帯域の電磁変換特性をオシロスコープ
などを用いた目視測定を行なつていたが、目視誤
差が大きく、又測定個数を上げることができなか
つた。このことから効率良く磁気ヘツドの電磁変
換特性を測定することが必要になつて来た。磁気
ヘツドの電磁変換特性測定は、従来、オシロスコ
ープを用いて磁気ヘツド再生信号のピーク・ピー
ク値（Ｐ−Ｐ値）を測定する方法がとられてい
る。そこで、従来の測定方式との互換性をとると
いう意味から、本発明の磁気ヘツド電磁変換特性
検査装置においても、再生信号のピーク・ピーク
値を測定する方法を採用する。このＰ−Ｐ値測定
を行なうには、この信号の平均値又は実効値から
演算を行なつて表示する方法と、直接信号のエン
ベロープ検波を行なつて表示する方法がある。こ
の演算を行なつてＰ−Ｐ値を表示する前者の方法
は入力波形が第１図ロに示す様な単一周波数の信
号に対しては有効であるが、第１図イに示す様に
入力信号が高調波成分を含み、この高調波レベル
が入力信号によつて異なる場合、磁気ヘツドの電
磁変換特性の良好度によつて信号に含まれる高調
波成分が異なり、演算定数が定まらないので有効
でない。このため磁気ヘツドの電磁変換特性の測
定は後者の磁気ヘツド再生信号をエンベロープ検
波してＰ−Ｐ値を表示する方法が有効である。し
かしながら、ここで問題となるのはエンベロープ
検波回路の特性である。試験用磁気ヘツドは数百
ＫHzまでの広帯域信号を記録再生して検査を行な
うのでエンベロープ検波は数百ＫHz〜数ＭHzの範
囲で特性が一定である必要がある。検波の方法と
してオペレーシヨンアンプとダイオードを組み合
せた方式が考えられるが、数ＭHzにわたつて高利
得を得るオペレーシヨンアンプがなく、この様な
オペレーシヨンアンプでエンベロープ検波回路を
構成すると検波特性が入力信号周波数によつて異
なるので有効でない。
そこで第２図に示す様なダイオード式エンベロ
ープ検波回路によつてDC電圧に変換する。ここ
でD1，D2はシヨツトキーバリヤダイオードであ
る。このダイオード式エンベロープ検波による
AC−DC変換特性は第３図に示す様に低レベル信
号においては順方向の非直線期間Vfで検波され
るので真値が指示されない。入力レベルを少なく
ともVfより大きくなる様に増幅する必要がある。
又、Vfの小さなシヨツトキーバリアダイオード
を用いても百数＋〔ｍｖ）以下にならない。通常
VHS−VTR用磁気ヘツド出力は100〔μVp-p〕程
度であるため再生増幅器の利得は70〔dB〕以上必
要となる。この様な広帯域高利得の増幅器を作る
には発振などの問題があり、測定器が不安定とな
る。又温度などの環境変化も一定に保つ必要があ
る。
ープ検波回路によつてDC電圧に変換する。ここ
でD1，D2はシヨツトキーバリヤダイオードであ
る。このダイオード式エンベロープ検波による
AC−DC変換特性は第３図に示す様に低レベル信
号においては順方向の非直線期間Vfで検波され
るので真値が指示されない。入力レベルを少なく
ともVfより大きくなる様に増幅する必要がある。
又、Vfの小さなシヨツトキーバリアダイオード
を用いても百数＋〔ｍｖ）以下にならない。通常
VHS−VTR用磁気ヘツド出力は100〔μVp-p〕程
度であるため再生増幅器の利得は70〔dB〕以上必
要となる。この様な広帯域高利得の増幅器を作る
には発振などの問題があり、測定器が不安定とな
る。又温度などの環境変化も一定に保つ必要があ
る。
本発明はこの不安定要素を取り除き、低レベル
でのAC−DC変換をリニヤに行なえる方法を提供
するものである。
でのAC−DC変換をリニヤに行なえる方法を提供
するものである。
本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第４図において、試験ヘツド１をVHS型VTRの
様に回転シリンダに取り付けて高速回転させる
か、もしくは、試験ヘツド１を固定して磁気テー
プ２を高速走行させるかして、この試験ヘツド１
を使用するVTRの相対速度になる様に設定する。
記録状態では、基準発振器３の発振周波数がfS1
に設定され、該出力はアツテネータ４に入力さ
れ、発振器出力は調整されてスイツチング回路５
に入力される。該出力は記録増幅器６で電力増幅
され、スイツチSW−１を通して試験ヘツド１に
記録電流I1〔mAp-p〕を供給し、磁気テープ２に
記録される。ここでアツテネータ４は試験ヘツド
１に供給する記録電流が設定値になる様に、基準
発振器３出力のレベルを自動的に調整する。
第４図において、試験ヘツド１をVHS型VTRの
様に回転シリンダに取り付けて高速回転させる
か、もしくは、試験ヘツド１を固定して磁気テー
プ２を高速走行させるかして、この試験ヘツド１
を使用するVTRの相対速度になる様に設定する。
記録状態では、基準発振器３の発振周波数がfS1
に設定され、該出力はアツテネータ４に入力さ
れ、発振器出力は調整されてスイツチング回路５
に入力される。該出力は記録増幅器６で電力増幅
され、スイツチSW−１を通して試験ヘツド１に
記録電流I1〔mAp-p〕を供給し、磁気テープ２に
記録される。ここでアツテネータ４は試験ヘツド
１に供給する記録電流が設定値になる様に、基準
発振器３出力のレベルを自動的に調整する。
スイツチング回路５はアツテネータ４を通つて
レベル調整された信号fS1をサンプリング発振器
７の発振周波数fQ1の信号によつてスイツチング
し、試験ヘツド１に与える記録電流を第５図イに
示す様なものにしている。ここでこのサンプリン
グ発振器７の発振周波数fQ1は基準発振器３の発
振周波数fS1と次式に示す様な関係を保つて発振
せしめられる。
レベル調整された信号fS1をサンプリング発振器
７の発振周波数fQ1の信号によつてスイツチング
し、試験ヘツド１に与える記録電流を第５図イに
示す様なものにしている。ここでこのサンプリン
グ発振器７の発振周波数fQ1は基準発振器３の発
振周波数fS1と次式に示す様な関係を保つて発振
せしめられる。
fS1−nfQ1＝fC（一定）
ｎはfS1をfQ1で除算した結果の整数値である。
fS1＞fQ1の関係にあるとき、fS1をfQ1で分割してい
き余つた周波数信号が、fS1をfQ1でサンプリング
した出力の周波数fCとなつてあらわれる。この様
な条件で発振させたサンプリング発振器７の出力
fQ1は基準発振器３出力fS1に対して一定速度で位
相がずれていき、周期性を持つその位相ずれの周
波数がfCとなるので、第５図イの電流波形の時間
軸を拡大してみると、第５図ロに示す様に信号
fS1のスイツチングタイミングが１／fCの周期で順
次変化する様になる。この様な信号を試験ヘツド
１に供給し記録する。なおサンプリング発振器７
の発振周波数fQ1は前述したfS1との関係式を満足
する周波数であればどの値でも良いが、後の処理
が簡単にでき、又オペレーシヨンアンプなどの使
用ができる様に考えると、100KHz以下のオーデ
イオ帯域信号にすることが、より良い結果を得る
ことになる。この様に周波数fS1、記録電流I1なる
信号の記録を完了すると、次にアツテネータ４の
電流設定値をI2に変化させ、スイツチング回路
４、記録増幅器６、スイツチSW−１を介して第
５図イに示す様なfS1，I2なる信号を試験ヘツド１
に供給し磁気テープ２に記録する。以後電流設定
値をI3，I3……Ioと順次変化させて試験ヘツド１
に供給していく。次に基準発振器３の発振周波数
をfS2に変化させ、アツテネータ４の電流設定をI1
にもどして試験ヘツド１に供給して磁気テープ２
に記録し、次に電流設定値をI2，I3……Ioと順次
変化させて記録していく。この時サンプリング発
振器７の発振周波数もfQ2に変化させる。この様
に次々に記録して発振周波数fSo、記録電流Ioまで
記録していく。
fS1＞fQ1の関係にあるとき、fS1をfQ1で分割してい
き余つた周波数信号が、fS1をfQ1でサンプリング
した出力の周波数fCとなつてあらわれる。この様
な条件で発振させたサンプリング発振器７の出力
fQ1は基準発振器３出力fS1に対して一定速度で位
相がずれていき、周期性を持つその位相ずれの周
波数がfCとなるので、第５図イの電流波形の時間
軸を拡大してみると、第５図ロに示す様に信号
fS1のスイツチングタイミングが１／fCの周期で順
次変化する様になる。この様な信号を試験ヘツド
１に供給し記録する。なおサンプリング発振器７
の発振周波数fQ1は前述したfS1との関係式を満足
する周波数であればどの値でも良いが、後の処理
が簡単にでき、又オペレーシヨンアンプなどの使
用ができる様に考えると、100KHz以下のオーデ
イオ帯域信号にすることが、より良い結果を得る
ことになる。この様に周波数fS1、記録電流I1なる
信号の記録を完了すると、次にアツテネータ４の
電流設定値をI2に変化させ、スイツチング回路
４、記録増幅器６、スイツチSW−１を介して第
５図イに示す様なfS1，I2なる信号を試験ヘツド１
に供給し磁気テープ２に記録する。以後電流設定
値をI3，I3……Ioと順次変化させて試験ヘツド１
に供給していく。次に基準発振器３の発振周波数
をfS2に変化させ、アツテネータ４の電流設定をI1
にもどして試験ヘツド１に供給して磁気テープ２
に記録し、次に電流設定値をI2，I3……Ioと順次
変化させて記録していく。この時サンプリング発
振器７の発振周波数もfQ2に変化させる。この様
に次々に記録して発振周波数fSo、記録電流Ioまで
記録していく。
全て記録できると、自動的に再生状態になり、
スイツチSW−１はＰ・Ｂ側に切換わり、磁気テ
ープ２は高速巻戻しをされ、最初に記録した周波
数fS1、記録電流I1の記録開始位置で停止し、通常
走行で再生動作に入り、磁気テープ２に周波数
fS1、記録電流I1で記録された信号から周波数fSo、
記録電流Ioで記録された信号まで順次再生してい
く。ここで試験ヘツド１で再生される信号はスイ
ツチSW−１を介して再生増幅器８に入力され
る。ここでは試験ヘツド１の再生出力は数＋
〔μVp-p）から数百〔μVp-p〕と微少信号であるの
で、後段の処理が可能であるレベルの数
〔mVp-p〕以上になる様に増幅を行なう。ここで
再生増幅器８出力を観測すると、第６図イに示す
様な間欠したバースト状信号となつている。この
バースト状再生信号の時間軸を拡大したものを第
６図ロに示す。この再生信号fS1は試験ヘツド１
と磁気テープ２の相対速度の変化によつて△fS1
〔Hz〕の時間軸変動成分（ジツター）を含むので
再生信号全体が時間方向に振動するが、第６図ロ
に示す様に再生基準信号は記録時と同様に波形の
スイツチング位置が順次移動した波形となる。こ
の信号をサンプルホールド回路１２に入力すると
ともに、エンベロープ検波回路９に入力する。こ
のエンベロープ検波回路９は第６図ロの信号レベ
ルのエンベロープを検出し、波形整形し、第６図
ハに示す様な矩形波信号を作るためのもので、再
生信号のレベルを直接読取ることをしないので、
このエンベロープ検波回路９の検波特性の直線
性、温度湿度特性などを管理する必要はなく、簡
単な回路で十分である。
スイツチSW−１はＰ・Ｂ側に切換わり、磁気テ
ープ２は高速巻戻しをされ、最初に記録した周波
数fS1、記録電流I1の記録開始位置で停止し、通常
走行で再生動作に入り、磁気テープ２に周波数
fS1、記録電流I1で記録された信号から周波数fSo、
記録電流Ioで記録された信号まで順次再生してい
く。ここで試験ヘツド１で再生される信号はスイ
ツチSW−１を介して再生増幅器８に入力され
る。ここでは試験ヘツド１の再生出力は数＋
〔μVp-p）から数百〔μVp-p〕と微少信号であるの
で、後段の処理が可能であるレベルの数
〔mVp-p〕以上になる様に増幅を行なう。ここで
再生増幅器８出力を観測すると、第６図イに示す
様な間欠したバースト状信号となつている。この
バースト状再生信号の時間軸を拡大したものを第
６図ロに示す。この再生信号fS1は試験ヘツド１
と磁気テープ２の相対速度の変化によつて△fS1
〔Hz〕の時間軸変動成分（ジツター）を含むので
再生信号全体が時間方向に振動するが、第６図ロ
に示す様に再生基準信号は記録時と同様に波形の
スイツチング位置が順次移動した波形となる。こ
の信号をサンプルホールド回路１２に入力すると
ともに、エンベロープ検波回路９に入力する。こ
のエンベロープ検波回路９は第６図ロの信号レベ
ルのエンベロープを検出し、波形整形し、第６図
ハに示す様な矩形波信号を作るためのもので、再
生信号のレベルを直接読取ることをしないので、
このエンベロープ検波回路９の検波特性の直線
性、温度湿度特性などを管理する必要はなく、簡
単な回路で十分である。
このエンベロープ検波回路９で得られた信号
は、サンプリング発振器７の出力信号fQ1〔Hz〕に
時間軸変動分△fQ1を含んだ（fQ1±fQ1）〔Hz〕なる
周波数信号となる。この矩形波信号は第６図ロか
ら取り出したものであるので、時間軸変動の比率
△fQ1／fQ1は再生基準信号の時間軸変動の比率△
fS1／fS1と同様の値となる。
は、サンプリング発振器７の出力信号fQ1〔Hz〕に
時間軸変動分△fQ1を含んだ（fQ1±fQ1）〔Hz〕なる
周波数信号となる。この矩形波信号は第６図ロか
ら取り出したものであるので、時間軸変動の比率
△fQ1／fQ1は再生基準信号の時間軸変動の比率△
fS1／fS1と同様の値となる。
次に検波回路９の矩形波出力（第６図ハ）は遅
延回路１０に入力される。この遅延回路１０は第
６図ニに示す様に検波回路９出力の立ち上がりよ
り若干遅延させたパルスを作り、第６図ロの再生
信号のサンプリング位置を決定する。さらに遅延
回路１０出力はパルス発生回路１１に入力され
る。このパルス発生回路１１は第６図ホに示す様
に、遅延回路１０出力の立ち下がり部分よりパル
スを作り、サンプリングパルスとする。この第６
図ホのサンプリングパルスのサンプリングパルス
周波数は（fQ1＋ΔfQ1）であり、このサンプリン
グパルスにより、第６図ハに示す周波数（fS1＋
ΔfS1）の再生信号をサンプルホールド回路１２で
サンプリングする。このサンプリングでは、サン
プリングパルスに対して再生基準信号の位相が一
定速度でずれていることからサンプリングパルス
で再生信号を周波数変換することになり、この周
波数変換された信号周波数は次で示される。
延回路１０に入力される。この遅延回路１０は第
６図ニに示す様に検波回路９出力の立ち上がりよ
り若干遅延させたパルスを作り、第６図ロの再生
信号のサンプリング位置を決定する。さらに遅延
回路１０出力はパルス発生回路１１に入力され
る。このパルス発生回路１１は第６図ホに示す様
に、遅延回路１０出力の立ち下がり部分よりパル
スを作り、サンプリングパルスとする。この第６
図ホのサンプリングパルスのサンプリングパルス
周波数は（fQ1＋ΔfQ1）であり、このサンプリン
グパルスにより、第６図ハに示す周波数（fS1＋
ΔfS1）の再生信号をサンプルホールド回路１２で
サンプリングする。このサンプリングでは、サン
プリングパルスに対して再生基準信号の位相が一
定速度でずれていることからサンプリングパルス
で再生信号を周波数変換することになり、この周
波数変換された信号周波数は次で示される。
（fS1＋△fS1）−ｎ（fQ1±fQ1）＝（fS1−nfQ1）
±（△fS1−ｎ△fQ1）＝fC±△fC この結果サンプルホールド回路１２出力は第６
図ヘに示す様なオーデイオ帯域のfC±△fCなる信
号に変換されることになる。この周波数変換され
た信号の時間軸変動は±（△fS1−ｎ△fQ1）／（fS1
−nfQ1）＝±△fC／fCとなり±△fS1／fS1＝±△
fQ1／fQ1であるので、±△fS1／fS1＝±△fC／fCとな
り、周波数変換以前の時間軸変動比率とほぼ同じ
値になる。通常VTRのジツター量は数〔％p-p〕
以下であるので、周波数変換されたfCに対して△
fCは数〔％p-p〕の値となるが、この程度ならば
後の処理は安定に動作する。この様に周波数変換
された信号は絶対値回路１３に入力され、Ｐ−Ｐ
値の信号を第６図トに示す様な０−Ｐ値（ゼロ−
ピーク値）の信号に変換し、ピークホールド回路
１４に入力されて第６図チに示す様にDC電圧に
変換される。このピークホールド回路１４は変換
信号がオーデイオ帯域の低周波信号であるため、
特別な回路は必要なく、オペアンプとダイオード
を組み合せた一般的な回路で十分に応答する。こ
のピークホールド回路出力はＡ／Ｄコンバータ１
５に入力され、デイジタル量に変換され演算され
て表示回路１６においてヘツド出力がデイジタル
表示される。この様にして、基準信号周波数fS1、
記録電流値I1からfS1，I2；……fS1，Io；fS2，I1；
……fSo，Ioまでヘツド出力を表示し、試験ヘツド
１の検査を行なう。
±（△fS1−ｎ△fQ1）＝fC±△fC この結果サンプルホールド回路１２出力は第６
図ヘに示す様なオーデイオ帯域のfC±△fCなる信
号に変換されることになる。この周波数変換され
た信号の時間軸変動は±（△fS1−ｎ△fQ1）／（fS1
−nfQ1）＝±△fC／fCとなり±△fS1／fS1＝±△
fQ1／fQ1であるので、±△fS1／fS1＝±△fC／fCとな
り、周波数変換以前の時間軸変動比率とほぼ同じ
値になる。通常VTRのジツター量は数〔％p-p〕
以下であるので、周波数変換されたfCに対して△
fCは数〔％p-p〕の値となるが、この程度ならば
後の処理は安定に動作する。この様に周波数変換
された信号は絶対値回路１３に入力され、Ｐ−Ｐ
値の信号を第６図トに示す様な０−Ｐ値（ゼロ−
ピーク値）の信号に変換し、ピークホールド回路
１４に入力されて第６図チに示す様にDC電圧に
変換される。このピークホールド回路１４は変換
信号がオーデイオ帯域の低周波信号であるため、
特別な回路は必要なく、オペアンプとダイオード
を組み合せた一般的な回路で十分に応答する。こ
のピークホールド回路出力はＡ／Ｄコンバータ１
５に入力され、デイジタル量に変換され演算され
て表示回路１６においてヘツド出力がデイジタル
表示される。この様にして、基準信号周波数fS1、
記録電流値I1からfS1，I2；……fS1，Io；fS2，I1；
……fSo，Ioまでヘツド出力を表示し、試験ヘツド
１の検査を行なう。
ここで９〜１４の回路系は従来例のエンベロー
プ検波回路系にあたり、これら回路系のAD−
DC変換特性を第７図に示すが、100〔mVp-p〕以
下の微少信号でもリニヤに変換することができ
る。しかも500KHz〜5MHzと云う広帯域にわたつ
て変換特性は変化しない。このため再生増幅器５
の利得も上げる必要がなく、30〜40〔dB〕程度も
あれば十分である。このため発振などの不安定要
素に対して強くなり、温度湿度などの環境の変化
に強い安定な磁気ヘツド電磁変換特性測定回路を
実現することができる。
プ検波回路系にあたり、これら回路系のAD−
DC変換特性を第７図に示すが、100〔mVp-p〕以
下の微少信号でもリニヤに変換することができ
る。しかも500KHz〜5MHzと云う広帯域にわたつ
て変換特性は変化しない。このため再生増幅器５
の利得も上げる必要がなく、30〜40〔dB〕程度も
あれば十分である。このため発振などの不安定要
素に対して強くなり、温度湿度などの環境の変化
に強い安定な磁気ヘツド電磁変換特性測定回路を
実現することができる。
以上本発明によれば、次のような利点を得るこ
とができる。
とができる。
(1) AC−DC変換において数ＭHzの広帯域にわた
つて一定の変換利得を得ることができ、しかも
ｏ〔mVp-p〕からリニヤに行なうことができる。
つて一定の変換利得を得ることができ、しかも
ｏ〔mVp-p〕からリニヤに行なうことができる。
(2) AC−DC変換がｏ〔mVp-p〕からリニヤに行
なうことができるので、再生増幅器の利得を従
来の様に上げる必要がなく、発振などの測定回
路系の安定性を増すことができる。
なうことができるので、再生増幅器の利得を従
来の様に上げる必要がなく、発振などの測定回
路系の安定性を増すことができる。
(3) 温度などの環境変化に対して安定な測定回路
系を実現できる。
系を実現できる。
(4) 簡単な回路で高周波微少信号をAC−DC変換
できるので、測定器の製造を容易にすることが
できる。
できるので、測定器の製造を容易にすることが
できる。
第１図は磁気ヘツドによる記録再生信号波形
図、第２図はAC−DC変換器の従来例の回路図、
第３図は従来例のAC−DC変換特性図、第４図は
本発明の一実施例を示すブロツク図、第５図は本
発明の記録信号波形図、第６図は本発明の各ブロ
ツクのタイムチヤート、第７図は本発明のAC−
DC変換特性図である。 １……試験ヘツド、２……磁気テープ、３……
基準発振器、４……アツテネータ、５……スイツ
チング回路、７……サンプリング発振器、８……
再生信号、９……エンベロープ検波回路、１１…
…パルス発生回路、１２……サンプルホールド回
路、１４……ピークホールド回路、１５……Ａ／
Ｄコンバータ。
図、第２図はAC−DC変換器の従来例の回路図、
第３図は従来例のAC−DC変換特性図、第４図は
本発明の一実施例を示すブロツク図、第５図は本
発明の記録信号波形図、第６図は本発明の各ブロ
ツクのタイムチヤート、第７図は本発明のAC−
DC変換特性図である。 １……試験ヘツド、２……磁気テープ、３……
基準発振器、４……アツテネータ、５……スイツ
チング回路、７……サンプリング発振器、８……
再生信号、９……エンベロープ検波回路、１１…
…パルス発生回路、１２……サンプルホールド回
路、１４……ピークホールド回路、１５……Ａ／
Ｄコンバータ。
Claims (1)
- １ 検査用磁気ヘツド又は磁気記録媒体のいずれ
か一方をある一定の速度で摺動させ、記録時にお
いて検査ヘツドに加える基準信号の周波数及びレ
ベルを順次段階的に変化させて磁気記録媒体に記
録し、再生時において再生信号のレベルによつて
検査ヘツドの電磁変換特性を測定する方法であつ
て、基準信号（発振周波数fS）に対してサンプリ
ング信号（発振周波数fQ）をそれらの周波数がfS
−nfQ＝fC（fC：一定周波数）となる条件に設定し、
前記サンプリング信号により基準信号のスイツチ
ングを行ない検査用磁気ヘツドを介して磁気記録
媒体に記録し、再生時において、検査用ヘツドよ
り得られるスイツチング状再生基準信号をエンベ
ロープ検波し、該検波信号より作成したサンプリ
ングパルスにより、前記スイツチング状再生基準
信号の基準信号部をサンプルホールドし、該サン
プルホールド信号のピークをホールドして該信号
レベルをデイジタル量に変換することを特徴とす
る磁気ヘツド電磁変換特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10894780A JPS5733424A (en) | 1980-08-07 | 1980-08-07 | Measuring method of electromagnetic conversion characteristic of magnetic head |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10894780A JPS5733424A (en) | 1980-08-07 | 1980-08-07 | Measuring method of electromagnetic conversion characteristic of magnetic head |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5733424A JPS5733424A (en) | 1982-02-23 |
| JPS6367251B2 true JPS6367251B2 (ja) | 1988-12-23 |
Family
ID=14497672
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10894780A Granted JPS5733424A (en) | 1980-08-07 | 1980-08-07 | Measuring method of electromagnetic conversion characteristic of magnetic head |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5733424A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6090353U (ja) * | 1983-11-28 | 1985-06-20 | 倉橋 明廣 | 立体駐車装置 |
| JP2652883B2 (ja) * | 1989-03-20 | 1997-09-10 | 日立電子エンジニアリング株式会社 | 磁気ディスクの電流飽和特性測定方法 |
-
1980
- 1980-08-07 JP JP10894780A patent/JPS5733424A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5733424A (en) | 1982-02-23 |
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