JPS6367981U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6367981U JPS6367981U JP16219786U JP16219786U JPS6367981U JP S6367981 U JPS6367981 U JP S6367981U JP 16219786 U JP16219786 U JP 16219786U JP 16219786 U JP16219786 U JP 16219786U JP S6367981 U JPS6367981 U JP S6367981U
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- JP
- Japan
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- under test
- expected value
- pattern generator
- semiconductor
- delay element
- Prior art date
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- Pending
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第１図は本考案の実施例のブロツク図、第２図
は従来の半導体試験装置のブロツク図。 １：被測定半導体、２：メモリパターン発生器
、３：タイミング発生器、１６，１７：比較判定
部、１０〜１５，２８，２９：遅延素子、４〜９
，２４〜２７：遅延量格納素子、１８，１９，３
０：ウインドストローブ作成部、２０：判定結果
格納部、２１：セレクタコントロール、２２，２
３：セレクタ、３７：ストローブセレクタ。
は従来の半導体試験装置のブロツク図。 １：被測定半導体、２：メモリパターン発生器
、３：タイミング発生器、１６，１７：比較判定
部、１０〜１５，２８，２９：遅延素子、４〜９
，２４〜２７：遅延量格納素子、１８，１９，３
０：ウインドストローブ作成部、２０：判定結果
格納部、２１：セレクタコントロール、２２，２
３：セレクタ、３７：ストローブセレクタ。
Claims (1)
- 被測定半導体の論理出力を試験する装置の、該
被測定半導体の出力と、パターン発生器等が発生
する期待値とが一致していることを判定する比較
判定部において、その判定タイミングを指定する
複数のストローブタイミング間に発生するスキユ
ーを補正する遅延素子の遅延量を前記パターン発
生器等が発生する期待値パターンに従い、同一の
遅延素子に論理値１又は０のときの遅延量を選択
して与えることを特徴とする半導体試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16219786U JPS6367981U (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16219786U JPS6367981U (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6367981U true JPS6367981U (ja) | 1988-05-07 |
Family
ID=31089232
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16219786U Pending JPS6367981U (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6367981U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03210486A (ja) * | 1990-01-12 | 1991-09-13 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体試験装置 |
-
1986
- 1986-10-24 JP JP16219786U patent/JPS6367981U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03210486A (ja) * | 1990-01-12 | 1991-09-13 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体試験装置 |