JPH0371500U - - Google Patents
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- JPH0371500U JPH0371500U JP13027489U JP13027489U JPH0371500U JP H0371500 U JPH0371500 U JP H0371500U JP 13027489 U JP13027489 U JP 13027489U JP 13027489 U JP13027489 U JP 13027489U JP H0371500 U JPH0371500 U JP H0371500U
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Dram (AREA)
Description
第１図はこの考案の実施例を示すブロツク図、
第２図は従来の半導体メモリ試験用データ発生器
を示すブロツク図である。
第２図は従来の半導体メモリ試験用データ発生器
を示すブロツク図である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 データ演算部で演算によりデータを発生させ、
そのデータを被試験メモリに対する書き込みデー
タとし、またはその被試験メモリの読み出し時の
期待値データとする半導体メモリ試験用データ発
生器において、 上記データ演算部より発生したデータのパリデ
イビツトを発生するパリテイ発生部が設けられ、 パリテイ発生機能を有する被試験メモリに対す
る期待値データとして、上記データ演算部の出力
データと、その出力データに対する上記パリテイ
発生部の出力パリテイビツトとが使用されること
を特徴とする半導体メモリ試験用データ発生器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13027489U JPH0371500U (ja) | 1989-11-08 | 1989-11-08 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13027489U JPH0371500U (ja) | 1989-11-08 | 1989-11-08 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0371500U true JPH0371500U (ja) | 1991-07-19 |
Family
ID=31677859
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13027489U Pending JPH0371500U (ja) | 1989-11-08 | 1989-11-08 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0371500U (ja) |
-
1989
- 1989-11-08 JP JP13027489U patent/JPH0371500U/ja active Pending
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