JPH0475976U - - Google Patents

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JPH0475976U
JPH0475976U JP11949490U JP11949490U JPH0475976U JP H0475976 U JPH0475976 U JP H0475976U JP 11949490 U JP11949490 U JP 11949490U JP 11949490 U JP11949490 U JP 11949490U JP H0475976 U JPH0475976 U JP H0475976U
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JP
Japan
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memory
dut
response signal
pattern
lsi tester
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JP11949490U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案のＬＳＩテスタの第１の実施例
を示した構成ブロツク図、第２図は本考案のＬＳ
Ｉテスタのストローブ信号エラーの回路図、第３
図はストローブ信号エラーの動作を説明するタイ
ムチヤート、第４図は本考案のＬＳＩテスタの第
２の実施例を示した構成ブロツク図である。 １……タイミングジエネレタ、２……プログラ
ムカウンタ、７……コンパレータ、８……ストロ
ーブ信号エラー検出回路、９……第１のフエイル
・メモリ、１０……第２のフエイルメモリ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 試験パターンが格納されたパターンメモリ
    と、このパターンメモリから読出された試験パタ
    ーンが与えられて応答信号を出力するＤＵＴ（被
    検査対象デバイス）と、このＤＵＴから出力され
    る応答信号と比較される期待値が格納されたエク
    スペクトメモリと、このエクスペクトメモリから
    読出された期待値と前記ＤＵＴから出力される応
    答信号を比較するコンパレータと、このコンパレ
    ータの比較結果を記憶するフエイルメモリとを有
    するＬＳＩテスタであつて、 前記コンパレータと前記フエイルメモリに出力
    されるストローブ信号の発生の有無を、前記試験
    パターンが出力される毎に検査するエラー検出回
    路を有することを特徴としたＬＳＩテスタ。 (2) 試験パターンが格納されたパターンメモリ
    と、このパターンメモリから読出された試験パタ
    ーンが与えられて応答信号を出力するＤＵＴと、
    このＤＵＴから出力される応答信号と比較される
    期待値が格納されたエクスペクトメモリと、この
    エクスペクトメモリから読出された期待値と前記
    ＤＵＴから出力される応答信号を比較するコンパ
    レータと、このコンパレータの比較結果を記憶す
    るフエイルメモリとを有するＬＳＩテスタであつ
    て、 前記アドレス毎にストローブ信号によつて、前
    記フエイルメモリにフエイルデータを書き込むと
    とともに、前記ストローブ信号が入力されたこと
    の有無を書き込むことができるようにしたことを
    特徴としたＬＳＩテスタ。
JP11949490U 1990-11-15 1990-11-15 Pending JPH0475976U (ja)

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JP11949490U JPH0475976U (ja) 1990-11-15 1990-11-15

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JPH0475976U true JPH0475976U (ja) 1992-07-02

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ID=31867450

Family Applications (1)

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JP11949490U Pending JPH0475976U (ja) 1990-11-15 1990-11-15

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JP (1) JPH0475976U (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6037560A (ja) * 1983-08-10 1985-02-26 Ricoh Co Ltd 電子写真用感光体
JPS6279377A (ja) * 1985-10-01 1987-04-11 Yokogawa Electric Corp タイミング発生回路自己診断装置
JPS63131082A (ja) * 1986-11-19 1988-06-03 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Ｉｃ試験装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JPS63131082A (ja) * 1986-11-19 1988-06-03 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Ｉｃ試験装置

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