JPS637376A - Ecr−cvd装置 - Google Patents

Ecr−cvd装置

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JPS637376A
JPS637376A JP15023786A JP15023786A JPS637376A JP S637376 A JPS637376 A JP S637376A JP 15023786 A JP15023786 A JP 15023786A JP 15023786 A JP15023786 A JP 15023786A JP S637376 A JPS637376 A JP S637376A
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JP
Japan
Prior art keywords
plasma
sample chamber
microwave
microwaves
gas
Prior art date
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Pending
Application number
JP15023786A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigenobu Okada
繁信 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP15023786A priority Critical patent/JPS637376A/ja
Publication of JPS637376A publication Critical patent/JPS637376A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、光学、電子装冒、機器等の分野で利用される
薄膜を作成するための成膜装置の一つであるECR−C
VD装置に関するものである。
[従来の技術] 近年、シリ・]ンLSIや各種化合物半導体の製造プロ
セスにおいて、また5102.51304などの層間絶
縁物や保護膜の作成にお(1)で、ECR−CVD(電
子サイクロトロン共鳴−化学気相成膜:E−1ectr
on Cyclotron Re5onance −C
hemical VaperDeposition )
の技術が用いられるようになって来ている。
このECRおよびECR−CVDの具体的な技術内容に
ついては、特開昭55−141729号公報や特開昭5
’7−133636号公報などに開示されるところであ
る。そして、既存のECR−CVDKiにあっては、概
ね第2図に示されるような構成を具備してなる。すなわ
ち、試料室1に付設したプラズマ発生装置4のプラズマ
室6において、マグネトロン(マイクロ波発生源)12
からアイソレータ15、方向性結合器16、「−ト(ヂ
]−す17簀および導波管7を経由して送られるマイク
ロ波を石英窓8を介しその中に通し、このプラズマ室6
でプラズマを発生するとともに、該プラズマ室6の周囲
に配設したコイル11による発散磁界の作用でイオンを
試料室1に引出されるようにし、このプラズマ流と付設
の反応ガス尋人経路5から試料室1内に市川導入された
反応ガスとを相互反応させて、試料室1内の基板2」ニ
に反応生成物の薄膜を生成するようにしている。
[発明が解決しようとする問題点] 上記のECR−CVD装置によると、そのプラズマ室6
に原料ガス導入経路9からプラズマ原料として秤々の反
応ガスを導入できこれを高い活性化効率でプラズマ化す
ることができ、そこからプラズマ流(イオンビーム)を
試料室1の基板2上に直接引出して反応ガスとの反応生
成物を基板面に形成するものであるから、純度の高い化
合物薄膜を効率よく、しかも基板2を低温に保持したま
まで成膜することができる等の特徴が得られることにな
る。
本発明は、この秤成膜装首の長所、利点を保持しつつそ
の試料室内での基板に対する成膜速度をより一層高める
ことができるようしたECR−CVD装置を実現する目
的でなされたものである。
[問題点を解決ザるための手段1 本発明は、このような所期の目的を実現するための手段
として、基板をMnする試料室に、電子サイクロトロン
共鳴によるマイクロ波tll電によって生成したプラズ
マを発散磁界の作用で該試y1¥に引出すようにしたプ
ラズマ発生装置と、反応ガスを導く反応ガス導入経路を
付設してなるECR−CVD装置において、マイクロ波
発生源から前記プラズマ発生装置に導入されるマイクロ
波を分波させるとともに、前記反応ガス尋人経路にキャ
ビティを介設し、このキャビティで試料室に導入される
反応ガスに分波した前記マイクロ波を照射するようにし
たことを特徴としている。
[作用] かように構成してなるECR−CVD装置であると、試
料室1に導入される反応ガスも、その導入経路に介設し
たキャビティでマイクロ波の照射を受はエネルギを吸収
して励起した状態とされるから、今までのプラズマ流に
対し反′応ガスをそのまま接触させる条件によるときに
比較して、両者の反応が更に促進され、これにより成膜
速度を一層大きなものに改善することができる。そして
、この装置の場合、一つのマイクロ波発生源から得られ
るマイクロ波を分波し、その−方でECRにより必要な
プラズマを発生し、他方で試料室に尋人される反応ガス
を直接励起するようにしているから、この秒既設の装置
に分波経路を付加するだけでよく、マイクロ波を活用し
た高速度成摸装冒が筒中かつ合理的に実現されるものと
なる。
[実施例1 以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。
第1図は、本発明に係るEVR−CVD装置を図示する
もので、その基本的な構成は第2図に示した従来例のも
のと共通する。すなわち、成膜装量として、試料室1に
、その中にプラズマ流(イオンジャワ)として引出され
るプラズマを発生するプラズマ発生装置4と、該試料室
1に所望の反応ガスを導く反応ガス導入経路5とを付設
してなる。
前記試料室1は、図示しない真空排気手段を備えるとと
もに、内部に後述するプラズマ室6のプラズマ引出し窓
10と対向する位置に開開自在のシャッタ3を介し基板
2を配置している。
この試料室1の上に連接される前記プラズマ発生装置4
は、上方に石英窓8を介しマイクロ波を導入・する導波
管7とプラズマ原料ガスを導入する原料ガス導入経路9
とを接続し、下方に前記試料室1へのプラズマ引出し窓
10を有し、その内部で電子サイクロトロン共鳴による
マイクロ波11i電によってプラズマを発生するプラズ
マ室6と、このプラズマ室6の周囲に耐重され前記電子
サイクロトロン共鳴を引起こすとともに、前記プラズマ
引出し窓10の側に発散磁界を形成し該発散磁界の作用
でプラズマ室6で発生したプラズマを試料室1に引出す
コイル11、およびその他必要な適宜の付帯要素(図示
省略)とを具備してなる。
そして、このプラズマ発生装置4のプラズマ室6には、
プラズマ発生源をなすマグネトロン12からマイクロ波
輸送経路13、即ち、パワーモニタ14、アイソレータ
15、E、−Hチューナ17および前記導波管7を経由
してマイクロ波が導入される。
しかして、かかる構成のECR−CVD装置において、
前記マイクロ波輸送経路13におけるパワーモニタ14
の後段側にT分岐18を介設し、マグネトロン12から
送られるマイクロ波の一部を分波できるようにしている
。−方、前記試料室1に反応ガスを導く反応ガス導入経
路5の試料室1近傍にキャビティ20を介設し、このキ
ャビティ20を通った反応ガスが直ちに試料室1内にそ
の基板2上で前記プラズマ流と直交する方向から導入さ
れるようにしている。そして、この反応ガス導入経路5
に介設したキャビティ20に、分波マイクロ波輸送経路
19の導波管21から石英窓22を介し前記T分岐18
で一部分波したマイクロ波が導入され、ここにおいて試
料室1に導入される反応ガスにマイクロ波が照射される
ことになる。なお、■中筒略示しているが、この分波マ
イクしI波輸送杆路19についてし、プラズマ室6のh
への輸送経路13と同じくアイソレータ15、[−H’
7’ニーす17苦を!8続して構成される。
次いて・、このECR−CVD装置の作動を説明する。
マグネトロン12で発生したマイクロ波は、パワーモニ
タ14のあとのT分岐18で分波され、その−方は従来
通りマイクロ波輸送経路13を通ってプラズマ発生装置
4のプラズマ室6に導入される。このプラズマ室6に導
入されたマイクロ波は、例えば2.45 G11z、8
75 Gauss (空芯コイルを利用)のときECR
条件を満たされ、電界1ネルギが効率よく荷電粒子に吸
収される。そして、プラズマ室6でプラズマ化された荷
電粒子(原料ガス)は周囲のコイル11の発散磁界の作
用により下方の引出し窓10よりプラズマ流として試料
室1に引出される。また前記T分岐18で分波したもう
一方のマイクロ波は、前記マイクロ波輸送経路19゛を
通って試料室1に対する反応ガスの反応ガス導入杆路5
に介設したキャビティ201.:6入され、ここにおい
て反応ガスに照射される。すると、反応ガスはマイクロ
波照射によりエネルギを吸収して励起され、この励起後
tちに試料室1に前記基板2上でプラズマ流とクロスす
る方向から導入されることになる。
今、−例としてプラズマ室6に尋人するプラズマ原料ガ
スとしN2を、また反応ガスとしてSiH4を用い、基
板2にS I 3 Naの薄膜を成膜する場合について
説明すると、試料室1での反応は次のようになる。
N2+ SiH4★ → 513N4 (1)N;+s
r+4  → S!31’Ja  (2)すなわら、試
料室1における成膜には、従来の(2)の反応に加え、
活性化された5iF−+4★が直接N;と結合する(1
)の反応が得られることになる。このため目的化合物S
i3N4の生成が一層効率よく行われることになり、基
板面での成膜速度が有効に増大される。
なお、この成膜反応にはプラズマ室6から試料室1に入
射される光エネルギも寄与することになる。
そして、上記の説明では813N4を成膜する場合を例
示したが、勿論これに限らずプラズマ原料ガスと反応ガ
スとを選ぶことにより、その他所望とする秤々の化合物
を成膜することができ、いずれの場合にあってもマイク
ロ波励起による反応ガスの活性化の寄与により、その基
板に対する成膜速度を高めることができる効果が得られ
る。
[fl明の効果] 本発明は、以上に説明した通り、ECR−CVD装置に
おいてその発生源から送られるマイクロ波を分波し、こ
れを試料室への反応ガスに照射し励起して導入するよう
にしたものであるから、分波マイクロ波輸送経路等を増
設するだけで、試料室での基板に対する成膜速度をより
一層高めることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すECR□CVD装首の
概略正面図であり、第2図はその従来例を示す同正面図
である。 1・・−試料室      2・・・草根3・・・シャ
ッタ     4・・・プラズマ発生装置5・・・反応
ガス導入経路 6・・・プラズマ室7・・・導波管  
    8・・・石英窓9・・−原料ガス導入経路 1
0・・・プラズマ引出し窓11・・・コイル     
12・・・マグネトロン13・・・マイクロ波輸送経路
 14・・・パワーモニタ15・・・アイソレータ  
17・・・E−Tチューナ18・・・T分岐    1
9・・・マイクロ波輸送経路20・・・キャビティ  
21・・・導波管22・・・石英窓

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板を配置する試料室に、電子サイクロトロン共鳴によ
    るマイクロ波放電によって生成したプラズマを発散磁界
    の作用で該試料室に引出すようにしたプラズマ発生装置
    と、反応ガスを導びく反応ガス導入経路を付設してなる
    成膜装置において、マイクロ波発生源から前記プラズマ
    発生装置に導入されるマイクロ波を分波させるとともに
    、前記反応ガス導入経路にキャビティを介設し、このキ
    ャビティで試料室に導入される反応ガスに分波した前記
    マイクロ波を照射するようにしたことを特徴とするEC
    R−CVD装置。
JP15023786A 1986-06-25 1986-06-25 Ecr−cvd装置 Pending JPS637376A (ja)

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JP15023786A JPS637376A (ja) 1986-06-25 1986-06-25 Ecr−cvd装置

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JP15023786A Pending JPS637376A (ja) 1986-06-25 1986-06-25 Ecr−cvd装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01132236U (ja) * 1988-03-02 1989-09-07
JPH088238A (ja) * 1995-05-10 1996-01-12 Hitachi Ltd 加工方法及び加工装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01132236U (ja) * 1988-03-02 1989-09-07
JPH088238A (ja) * 1995-05-10 1996-01-12 Hitachi Ltd 加工方法及び加工装置

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