JPS6384507U - - Google Patents

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JPS6384507U
JPS6384507U JP17919086U JP17919086U JPS6384507U JP S6384507 U JPS6384507 U JP S6384507U JP 17919086 U JP17919086 U JP 17919086U JP 17919086 U JP17919086 U JP 17919086U JP S6384507 U JPS6384507 U JP S6384507U
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JP
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reference axis
measured
axis
light emitting
emitting source
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JP17919086U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図、第２図及び第３図はこの考案のそれぞ
れ第１、第２及び第３の実施例の要部の構成を示
す原理図、第４図は従来提案されている表面三次
元形状測定装置の側面図、第５図は第４図の測定
装置の測定原理の説明に供するための原理図、第
６図は第４図の測定装置で使用される電子回路部
のブロツク図、第７図は第６図の要部の動作波形
図、第８図は第４図の測定装置において検出器の
光軸上の所要な被写界深度の説明に供するための
原理図、第９図は第４図の測定装置で測定したと
き、被測定点からの反射光が被測定体の一部で遮
られて検出できない場合の説明に供するための原
理図である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 基準軸を軸心として位置する被測定体に対して
    、前記基準軸上の複数位置に向けて光波を照射す
    る発光源が前記基準軸を軸心とする回転面上に配
    設され、 前記被測定体と前記発光源とは前記基準軸の廻
    りに相対的に回動可能に取り付けられ、 前記発光源は前記複数位置への光波の照射に対
    応して前記回転面上において前記基準軸に対して
    ほぼ平行な線上に位置し、 前記被測定体の照射位置からの反射光が検出器
    で受光検出され、 この検出器の検出出力に基づいて前記基準軸か
    ら前記被測定体表面の照射位置までの距離が測定
    され、 前記発光源の光軸は前記基準軸に対し斜めとな
    つている表面三次元形状測定装置。
JP17919086U 1986-11-21 1986-11-21 Pending JPS6384507U (ja)

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JP17919086U JPS6384507U (ja) 1986-11-21 1986-11-21

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JPS6384507U true JPS6384507U (ja) 1988-06-02

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008518219A (ja) * 2004-11-02 2008-05-29 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 照明装置および対象物を検出するための光測定システム
JP2008224631A (ja) * 2007-03-15 2008-09-25 Kawasaki Heavy Ind Ltd 鉄道レール締結ボルト緩み検査装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59180413A (ja) * 1983-03-31 1984-10-13 Nok Corp 表面欠陥検査方法
JPS6058650A (ja) * 1983-09-12 1985-04-04 Nec Kansai Ltd 電子部品

Patent Citations (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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