JPS648793B2 - - Google Patents
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- JPS648793B2 JPS648793B2 JP56057589A JP5758981A JPS648793B2 JP S648793 B2 JPS648793 B2 JP S648793B2 JP 56057589 A JP56057589 A JP 56057589A JP 5758981 A JP5758981 A JP 5758981A JP S648793 B2 JPS648793 B2 JP S648793B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/54—Testing for continuity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、接触子を用いて導通状態を検査する
スルホールプリント配線板の検査方法および検査
装置に関するもので、汎用性の高い独得のアダプ
ターを使用して、個々に設計されたスルホールプ
リント配線板を検査できるようにしたものであ
る。
スルホールプリント配線板の検査方法および検査
装置に関するもので、汎用性の高い独得のアダプ
ターを使用して、個々に設計されたスルホールプ
リント配線板を検査できるようにしたものであ
る。
近時プリント配線板の発達はめざましく、コン
ピユータをはじめとする計算機器類は勿論のこ
と、工作機械や各種生産機械類の制御機器等に塔
載され、これらの電気回路の中枢として使用され
ている。プリント配線板は、一方ではICやLSIの
発達に呼応したところがあり、ICやLSIが高度化
するにつれ、複雑化、高密度化してきている。こ
のように複雑化、高密度化したプリント配線板
は、写真技術あるいは印刷技術さらにはメツキ技
術の進歩発展により逐次製造可能となつている。
ところが、製作されたプリント配線板の検査技術
が、上記技術の進展ほど迅速でないため、信頼性
の高いプリント配線板を安定的に供給する際の溢
路となつている。検査として古くは目視に頼つて
いたが、プリント配線板が複雑化し高密度化する
につれ、目視検査には限界があり、この分野の機
械化、自動化が強く望まれている。
ピユータをはじめとする計算機器類は勿論のこ
と、工作機械や各種生産機械類の制御機器等に塔
載され、これらの電気回路の中枢として使用され
ている。プリント配線板は、一方ではICやLSIの
発達に呼応したところがあり、ICやLSIが高度化
するにつれ、複雑化、高密度化してきている。こ
のように複雑化、高密度化したプリント配線板
は、写真技術あるいは印刷技術さらにはメツキ技
術の進歩発展により逐次製造可能となつている。
ところが、製作されたプリント配線板の検査技術
が、上記技術の進展ほど迅速でないため、信頼性
の高いプリント配線板を安定的に供給する際の溢
路となつている。検査として古くは目視に頼つて
いたが、プリント配線板が複雑化し高密度化する
につれ、目視検査には限界があり、この分野の機
械化、自動化が強く望まれている。
プリント配線板を自動的に検査する手段として
は、IC、LSIあるいは抵抗器、コンデンサ等プリ
ント配線板に塔載する部品類がほとんど規格化さ
れていることから、この部品単位を集合して検査
することが考えられ、本出願人はさきに特願昭49
−79960号(特開昭51−9260号)として提案して
いる。また、プリント配線板上の導体部分すなわ
ちランドは、一定間隔の格子点をベースとして設
計されているので、これらを組合せて多数の接触
子群を備えた汎用性のあるアダプターを製作しこ
れを使用して導通状態を検査することが相当の確
度をもつて可能となる。ところが、プリント配線
板は個々の目的に応じて設計するために、前述の
格子点以外にランドが位置する場合があり、この
ような場合には前述の方法では検査ができないこ
ととなる。
は、IC、LSIあるいは抵抗器、コンデンサ等プリ
ント配線板に塔載する部品類がほとんど規格化さ
れていることから、この部品単位を集合して検査
することが考えられ、本出願人はさきに特願昭49
−79960号(特開昭51−9260号)として提案して
いる。また、プリント配線板上の導体部分すなわ
ちランドは、一定間隔の格子点をベースとして設
計されているので、これらを組合せて多数の接触
子群を備えた汎用性のあるアダプターを製作しこ
れを使用して導通状態を検査することが相当の確
度をもつて可能となる。ところが、プリント配線
板は個々の目的に応じて設計するために、前述の
格子点以外にランドが位置する場合があり、この
ような場合には前述の方法では検査ができないこ
ととなる。
接触子を用いて導通状態を検査する方法の上記
以外の難点には、接触子の価格が高価であつて、
かつ被検査プリント配線板のランドの数が益々増
大する傾向にあることである。個々の設計のプリ
ント配線板に合致した数と位置に接触子を有する
アダプターを用いれば、検査は可能ではあるもの
の、アダプターが相当高額になり、しかも設計が
変わる毎に専用のアダプターを用意しなければな
らず、概して少量多品種である高密度プリント配
線板の検査に実用しえない憾みがある。
以外の難点には、接触子の価格が高価であつて、
かつ被検査プリント配線板のランドの数が益々増
大する傾向にあることである。個々の設計のプリ
ント配線板に合致した数と位置に接触子を有する
アダプターを用いれば、検査は可能ではあるもの
の、アダプターが相当高額になり、しかも設計が
変わる毎に専用のアダプターを用意しなければな
らず、概して少量多品種である高密度プリント配
線板の検査に実用しえない憾みがある。
本発明はこのような状況に鑑みてなされたもの
で、その要旨とするところは、接触子を用いて導
通状態を検査するスルホールプリント配線板の検
査方法において、一定領域内のすべての格子点に
接触子を配置した主アダプターと、該領域内で格
子点以外の位置および/または領域外の位置に接
触子を配置した副アダプターとを、被検査スルホ
ールプリント配線板の表裏より同時的に近接さ
せ、夫々の接触子を接触させることにより検査す
るようにしたことを特徴とするスルホールプリン
ト配線板の検査方法を第1の発明とし、接触子を
用いて導通状態を検査するスルホールプリント配
線板の検査装置において、一定領域内のすべて格
子点に接触子を配置した主アダプターを、被検査
配線板支持台の上方に昇降可能に配備すると共
に、前記領域内で格子点以外の位置および/また
は領域外の位置に接触子を配置した副アダプター
を、被検査配線板支持台上であつてスルホールプ
リント配線板の下方に固定的に配備し、かつ被検
査配線板支持台を水平移動可能に設置したことを
特徴とするスルホールプリント配線板の検査装置
を第2の発明にするところにある。
で、その要旨とするところは、接触子を用いて導
通状態を検査するスルホールプリント配線板の検
査方法において、一定領域内のすべての格子点に
接触子を配置した主アダプターと、該領域内で格
子点以外の位置および/または領域外の位置に接
触子を配置した副アダプターとを、被検査スルホ
ールプリント配線板の表裏より同時的に近接さ
せ、夫々の接触子を接触させることにより検査す
るようにしたことを特徴とするスルホールプリン
ト配線板の検査方法を第1の発明とし、接触子を
用いて導通状態を検査するスルホールプリント配
線板の検査装置において、一定領域内のすべて格
子点に接触子を配置した主アダプターを、被検査
配線板支持台の上方に昇降可能に配備すると共
に、前記領域内で格子点以外の位置および/また
は領域外の位置に接触子を配置した副アダプター
を、被検査配線板支持台上であつてスルホールプ
リント配線板の下方に固定的に配備し、かつ被検
査配線板支持台を水平移動可能に設置したことを
特徴とするスルホールプリント配線板の検査装置
を第2の発明にするところにある。
以下、図面に基づいて詳細に説明する。
本発明は、多数の接触子を用いてスルホールプ
リント配線板の導通状態を検査する方法および装
置に関するものであり、これらの方法には主とし
て接触子を備えたアダプター、被検査配線板支持
台および走査部、比較部、表示部等からなる制御
装置とが用いられる。
リント配線板の導通状態を検査する方法および装
置に関するものであり、これらの方法には主とし
て接触子を備えたアダプター、被検査配線板支持
台および走査部、比較部、表示部等からなる制御
装置とが用いられる。
第1図は本発明において検査する被検査スルホ
ールプリント配線板1をモデル的に示しており、
2〜8および13はランドでスルホールにより表
裏が接続されている。10〜12はランド間を接
続する配線で、実線は表面の、また点線は裏面の
配線状態を示している。このようなスルホールプ
リント配線板1上のランドのほとんどが例えば縦
横2.54mm間隔の格子点に位置しているが、例外と
して13のランドは、この格子点上にはない。そ
してこの被検査スルホールプリント配線板1を対
象とする検査方法について説明するにまず従来方
法を第6図および第7図に従つて説明する。前述
したように、個々の被検査スルホールプリント配
線板に合致したアダプターを都度製作すること
は、実用上困難であるため、少なくとも被検査ス
ルホールプリント配線板の一辺をカバーする一定
領域(図面上、ヘまたはト或いはチまたはリ)を
定め、この領域内のすべての格子点に接触子ホを
配置したアダプターを2種類用意する。このうち
一方のアダプターを示したのがニであり、これは
第7図AまたはBの領域をカバーしている。ま
た、図示は省略しているが、第7図C,Dをカバ
ーする他のアダプターも用意される。なお、図中
ヌは不要な格子点箇所を絶縁するマスキングシー
トであり、必要に応じ使用される。このような方
法において、まずスルホールプリント配線板イの
左半分ヘを第6図のように検査すると、ランドの
導通状態がこれと接触している接触子ホを通じて
制御装置(図中略)に信号として送られる。制御
装置内では送られた信号と、予め記憶されている
正規の導通状態と比較し、被検査スルホールプリ
ント配線板イの導通を判定し、結果を表示する。
同様に右半分トも上記の如くして検査される。ま
た別に用意された横長のアダプター(図示略)に
よつて、第7図Cおよび第7図Dが同様にして検
査され、これらの4工程により第1図の被検査ス
ルホールプリント配線板は検査される。しかしこ
こで問題となるのは第1図のランド13および3
に相当するランドロ,ハである。第1の工程で検
査したときに、ランドロは格子点上にないので接
触子ホはこれを検知しない。またこの工程のとき
にランドハは非接触であるので、第1図における
ランド2とランド3を結ぶ配線9の導通を検査す
ることができないし、たとえこれはアダプターニ
が右半分トへ移動しても同様であるし、同様のこ
とは別のアダプターが第7図CおよびDの如く検
査しても検知しえない。以上のように従来の方法
では、ランドが格子点以外の位置に位置すると
き、あるいは一定領域を定めたときにこの領域外
の場所にあるランドとの導通を検査する必要があ
るときには、これが検査しえないという本質的な
欠陥を有している。
ールプリント配線板1をモデル的に示しており、
2〜8および13はランドでスルホールにより表
裏が接続されている。10〜12はランド間を接
続する配線で、実線は表面の、また点線は裏面の
配線状態を示している。このようなスルホールプ
リント配線板1上のランドのほとんどが例えば縦
横2.54mm間隔の格子点に位置しているが、例外と
して13のランドは、この格子点上にはない。そ
してこの被検査スルホールプリント配線板1を対
象とする検査方法について説明するにまず従来方
法を第6図および第7図に従つて説明する。前述
したように、個々の被検査スルホールプリント配
線板に合致したアダプターを都度製作すること
は、実用上困難であるため、少なくとも被検査ス
ルホールプリント配線板の一辺をカバーする一定
領域(図面上、ヘまたはト或いはチまたはリ)を
定め、この領域内のすべての格子点に接触子ホを
配置したアダプターを2種類用意する。このうち
一方のアダプターを示したのがニであり、これは
第7図AまたはBの領域をカバーしている。ま
た、図示は省略しているが、第7図C,Dをカバ
ーする他のアダプターも用意される。なお、図中
ヌは不要な格子点箇所を絶縁するマスキングシー
トであり、必要に応じ使用される。このような方
法において、まずスルホールプリント配線板イの
左半分ヘを第6図のように検査すると、ランドの
導通状態がこれと接触している接触子ホを通じて
制御装置(図中略)に信号として送られる。制御
装置内では送られた信号と、予め記憶されている
正規の導通状態と比較し、被検査スルホールプリ
ント配線板イの導通を判定し、結果を表示する。
同様に右半分トも上記の如くして検査される。ま
た別に用意された横長のアダプター(図示略)に
よつて、第7図Cおよび第7図Dが同様にして検
査され、これらの4工程により第1図の被検査ス
ルホールプリント配線板は検査される。しかしこ
こで問題となるのは第1図のランド13および3
に相当するランドロ,ハである。第1の工程で検
査したときに、ランドロは格子点上にないので接
触子ホはこれを検知しない。またこの工程のとき
にランドハは非接触であるので、第1図における
ランド2とランド3を結ぶ配線9の導通を検査す
ることができないし、たとえこれはアダプターニ
が右半分トへ移動しても同様であるし、同様のこ
とは別のアダプターが第7図CおよびDの如く検
査しても検知しえない。以上のように従来の方法
では、ランドが格子点以外の位置に位置すると
き、あるいは一定領域を定めたときにこの領域外
の場所にあるランドとの導通を検査する必要があ
るときには、これが検査しえないという本質的な
欠陥を有している。
これに対し本願の方法は、第2図に示すように
主アダプター15と副アダプター17とを用い、
被検査スルホールプリント配線板1を表裏両面か
ら同時的に検査することを特徴としたものであ
る。すなわち、本発明に用いる主アダプターは、
例えば第3図に示すように2種類用意されていて
被検査スルホールプリント配線板1の夫々半分の
領域をカバーする大きさとし、これの所定間隔の
すべて格子点には接触子14,14′が位置する
ように構成されている。第1の主アダプター15
は、被検査スルホールプリント配線板1を縦方向
に2分する領域をカバーするもので、第4図A,
Bの如く検査し、第2の主アダプター15′は横
方向に2分する領域をカバーするもので、第4図
C,Dの如く検査するようになつている。また、
この実施例における副アダプター17は形状的に
はほゞ被検スルホールプリント配線板1と同じ大
きさであるが、上記格子点以外のランド13に相
当する位置および所定領域外のランド3に相当す
る位置に夫々接触子19および18を備えた構成
となつている。なお、第2図中16は不要な格子
点箇所を絶縁するマスキングシートである。
主アダプター15と副アダプター17とを用い、
被検査スルホールプリント配線板1を表裏両面か
ら同時的に検査することを特徴としたものであ
る。すなわち、本発明に用いる主アダプターは、
例えば第3図に示すように2種類用意されていて
被検査スルホールプリント配線板1の夫々半分の
領域をカバーする大きさとし、これの所定間隔の
すべて格子点には接触子14,14′が位置する
ように構成されている。第1の主アダプター15
は、被検査スルホールプリント配線板1を縦方向
に2分する領域をカバーするもので、第4図A,
Bの如く検査し、第2の主アダプター15′は横
方向に2分する領域をカバーするもので、第4図
C,Dの如く検査するようになつている。また、
この実施例における副アダプター17は形状的に
はほゞ被検スルホールプリント配線板1と同じ大
きさであるが、上記格子点以外のランド13に相
当する位置および所定領域外のランド3に相当す
る位置に夫々接触子19および18を備えた構成
となつている。なお、第2図中16は不要な格子
点箇所を絶縁するマスキングシートである。
この実施例では、第4図Aを第1工程、Bを第
2工程、Cを第3工程、Dを第4工程として、検
査するわけであるが、まず第1の工程Aで第2図
の如く第1の主アダプター15が上方より下降し
て近接し、被検査スルホールプリント配線板1表
面の所要ランドの導通状態を検査する。一方これ
と同時に被検査スルホールプリント配線板1の裏
面より、副アダプター17の接触子19,18に
よりランド13,3を検知する。次に第4図Bの
如く主アダプター15が右半分に位置するように
被検査スルホールプリント配線板1を移動させて
同様に検査する。同様にして第3図Bに示す第2
の主アダプター15′を用い、第4図Cの如き上
半分および第4図Dの如き下半分を夫々に検査す
る。以上の方法により、第1図の被検査スルホー
ルプリント配線板1は検査されるが、本発明の方
法では、一定領域内の格子点上にあるランドは第
1または第2の主アダプター15,15′により、
また領域内にあつて格子点以外の位置および/ま
たは上記領域外の位置にあるランドは副アダプタ
ー17により接触されることとなるので、従来方
法ではなしえなかつたランド6とランド13との
接続あるいはランド2とランド3間の接続9の状
態も同時に検査することができるようになり、ス
ルホールプリント配線板のすべてのランドを同時
的に検査しうることとなる。上記の例では2種類
の主アダプター15,15′を用いているが、こ
れらの主アダプターは所定間隔のすべて格子点に
接触子を配置してなるものであるから、種々の被
検査スルホールプリント配線板に使用しうる汎用
性がある。なお、副アダプター17は個々の被検
査スルホールプリント配線板に応じて用意しなく
てはならないことが多いが、接触子はきわめて少
なく実用化に影響を及ぼすものではない。
2工程、Cを第3工程、Dを第4工程として、検
査するわけであるが、まず第1の工程Aで第2図
の如く第1の主アダプター15が上方より下降し
て近接し、被検査スルホールプリント配線板1表
面の所要ランドの導通状態を検査する。一方これ
と同時に被検査スルホールプリント配線板1の裏
面より、副アダプター17の接触子19,18に
よりランド13,3を検知する。次に第4図Bの
如く主アダプター15が右半分に位置するように
被検査スルホールプリント配線板1を移動させて
同様に検査する。同様にして第3図Bに示す第2
の主アダプター15′を用い、第4図Cの如き上
半分および第4図Dの如き下半分を夫々に検査す
る。以上の方法により、第1図の被検査スルホー
ルプリント配線板1は検査されるが、本発明の方
法では、一定領域内の格子点上にあるランドは第
1または第2の主アダプター15,15′により、
また領域内にあつて格子点以外の位置および/ま
たは上記領域外の位置にあるランドは副アダプタ
ー17により接触されることとなるので、従来方
法ではなしえなかつたランド6とランド13との
接続あるいはランド2とランド3間の接続9の状
態も同時に検査することができるようになり、ス
ルホールプリント配線板のすべてのランドを同時
的に検査しうることとなる。上記の例では2種類
の主アダプター15,15′を用いているが、こ
れらの主アダプターは所定間隔のすべて格子点に
接触子を配置してなるものであるから、種々の被
検査スルホールプリント配線板に使用しうる汎用
性がある。なお、副アダプター17は個々の被検
査スルホールプリント配線板に応じて用意しなく
てはならないことが多いが、接触子はきわめて少
なく実用化に影響を及ぼすものではない。
本発明に使用する主アダプター15の構成は、
検査するスルホールプリント配線板1の形状、格
子点間隔等によつて決定される。この場合極力統
一を図り汎用性をもたせることが望ましい。ま
た、一定領域の設定も検査工程等を判断して決定
されるが、少なくとも一辺の長さの配線領域をカ
バーすることが要求される。上記例では2種類の
主アダプター15,15′を用意しているが、検
査するスルホールプリント配線板1の少なくとも
1辺をカバーする領域を備えかつすべての格子点
に接触子を配置したものであれば、1つの主アダ
プター15で左右方向あるいは上下方向を検査し
てもよい。また主アダプターのカバーする領域の
大きさはスルホールプリント配線板1の大きさ、
形状によつて決められる。一般にスルホールプリ
ント配線板1の回路は、縦横に回路が延びる状態
となつているため、主アダプターによる検査は左
右および上下方向すなわちX方向、Y方向に移動
させて行なうが、回路の構成が一方向だけのとき
は勿論一方向だけ検査すればよい。なお、本発明
に使用する接触子14あるいは19,18は、良
導体金属の例えば銅または真ちゆうで作られ、一
般にスプリングを内蔵し伸縮できるようになつて
いる。また、主アダプター15あるいは副アダプ
ター17は、上記接触子を絶縁材料で支持するよ
うに構成されている。
検査するスルホールプリント配線板1の形状、格
子点間隔等によつて決定される。この場合極力統
一を図り汎用性をもたせることが望ましい。ま
た、一定領域の設定も検査工程等を判断して決定
されるが、少なくとも一辺の長さの配線領域をカ
バーすることが要求される。上記例では2種類の
主アダプター15,15′を用意しているが、検
査するスルホールプリント配線板1の少なくとも
1辺をカバーする領域を備えかつすべての格子点
に接触子を配置したものであれば、1つの主アダ
プター15で左右方向あるいは上下方向を検査し
てもよい。また主アダプターのカバーする領域の
大きさはスルホールプリント配線板1の大きさ、
形状によつて決められる。一般にスルホールプリ
ント配線板1の回路は、縦横に回路が延びる状態
となつているため、主アダプターによる検査は左
右および上下方向すなわちX方向、Y方向に移動
させて行なうが、回路の構成が一方向だけのとき
は勿論一方向だけ検査すればよい。なお、本発明
に使用する接触子14あるいは19,18は、良
導体金属の例えば銅または真ちゆうで作られ、一
般にスプリングを内蔵し伸縮できるようになつて
いる。また、主アダプター15あるいは副アダプ
ター17は、上記接触子を絶縁材料で支持するよ
うに構成されている。
次に本発明の検査装置について第5図に基いて
説明すると、同図は第2図の方法を適用した装置
の例を示す説明図である。この検査装置は、主と
して主アダプター15、副アダプター17、被検
査配線板支持台20および制御装置21からなつ
ている。主アダプター15は前述した如く一定領
域内のすべての格子点に接触子14を配置してな
つており、副アダプター17は、前記領域内で格
子点以外の位置および/または領域外の位置に接
触子を配置してなつている。被検査配線板支持台
20は水平方向に移動動可能となつており、この
支持台20上に載置した被検査スルホールプリン
ト配線板1の主アダプター15に対する相対位置
を移動できるようになつている。そして、主アダ
プター15は昇降可能になつていて、接触子14
を接触させるときは下降し、被検査配線板支持台
20を移動するときは上昇するようになつてい
る。副アダプター17は図示する如く被検査スル
ホール配線板1を支持する恰好で被検査配線板支
持台20に固定(ただし、この被検査配線板支持
台20の移動につれて移動する)されている。な
お、21は走査部、比較部および表示部等を備え
た制御装置であり、23,22は主アダプター1
5または副アダプター17と制御装置21とを結
ぶ結線である。
説明すると、同図は第2図の方法を適用した装置
の例を示す説明図である。この検査装置は、主と
して主アダプター15、副アダプター17、被検
査配線板支持台20および制御装置21からなつ
ている。主アダプター15は前述した如く一定領
域内のすべての格子点に接触子14を配置してな
つており、副アダプター17は、前記領域内で格
子点以外の位置および/または領域外の位置に接
触子を配置してなつている。被検査配線板支持台
20は水平方向に移動動可能となつており、この
支持台20上に載置した被検査スルホールプリン
ト配線板1の主アダプター15に対する相対位置
を移動できるようになつている。そして、主アダ
プター15は昇降可能になつていて、接触子14
を接触させるときは下降し、被検査配線板支持台
20を移動するときは上昇するようになつてい
る。副アダプター17は図示する如く被検査スル
ホール配線板1を支持する恰好で被検査配線板支
持台20に固定(ただし、この被検査配線板支持
台20の移動につれて移動する)されている。な
お、21は走査部、比較部および表示部等を備え
た制御装置であり、23,22は主アダプター1
5または副アダプター17と制御装置21とを結
ぶ結線である。
以上の如き検査装置を用いて検査する場合、ま
ず被検査スルホールプリンント配線板1の表面を
上にし、副アダプター17上に載せた状態で、被
検査配線板支持台20上に固定する。次に被検査
配線板支持台20を水平に移動し、第1の被査工
程となる位置にセツトし、主アダプター15を下
降し、接触子14を接触させる。このようにする
と第2図の如き状態となり、まず第4図Aの領域
が検査される。引続き、主アダプター15を上昇
させ被検査配線板支持台20を左方に移動し、再
び主アダプター15を下降させて、第4図Bの領
域を検査するが、この副アダプター17は移動す
ることなく、その接触子は常に接触状態にある。
次に第3図Bの如き第2の主アダプター15′を
セツトし、被検査配線板支持台20を前後方向に
移動して、同様な方法により第4図CおよびDの
領域を検査する。そして、夫々の接触子により検
知された信号は、制御装置21に送られ、予め記
憶されている回路信号と比較され、判断された結
果が表示されることとなる。本発明の検査装置
は、副アダプター17を被検査配線板支持台20
上に配備してこの上に被検査スルホールプリント
配線板1を載置した状態とし、上方より適宜主ア
ダプター15を昇降させて検査するようになつて
いるので、主アダプター15の昇降、副アダプタ
ー17の設置および被検査配線板支持台20の移
動が合理的に行なえ、しかも機構が何等複雑化す
ることがない。
ず被検査スルホールプリンント配線板1の表面を
上にし、副アダプター17上に載せた状態で、被
検査配線板支持台20上に固定する。次に被検査
配線板支持台20を水平に移動し、第1の被査工
程となる位置にセツトし、主アダプター15を下
降し、接触子14を接触させる。このようにする
と第2図の如き状態となり、まず第4図Aの領域
が検査される。引続き、主アダプター15を上昇
させ被検査配線板支持台20を左方に移動し、再
び主アダプター15を下降させて、第4図Bの領
域を検査するが、この副アダプター17は移動す
ることなく、その接触子は常に接触状態にある。
次に第3図Bの如き第2の主アダプター15′を
セツトし、被検査配線板支持台20を前後方向に
移動して、同様な方法により第4図CおよびDの
領域を検査する。そして、夫々の接触子により検
知された信号は、制御装置21に送られ、予め記
憶されている回路信号と比較され、判断された結
果が表示されることとなる。本発明の検査装置
は、副アダプター17を被検査配線板支持台20
上に配備してこの上に被検査スルホールプリント
配線板1を載置した状態とし、上方より適宜主ア
ダプター15を昇降させて検査するようになつて
いるので、主アダプター15の昇降、副アダプタ
ー17の設置および被検査配線板支持台20の移
動が合理的に行なえ、しかも機構が何等複雑化す
ることがない。
本発明は以上詳述した如き構成からなるもので
あるから、独得の構成からなる主アダプターと副
アダプターとを併用することにより、スルホール
プリント配線板の導通状態を同時的に検査するこ
とができ、しかも主アダプターはきわめて汎用性
が高く、多くの検査に使用できて製作コストの低
減が図れると共に、副アダプターも比較的低価格
で入手しうるため、検査に要する費用を大巾に節
減することができ、さらには効率が良く費用節減
型の検査装置を提供しうる利点がある。
あるから、独得の構成からなる主アダプターと副
アダプターとを併用することにより、スルホール
プリント配線板の導通状態を同時的に検査するこ
とができ、しかも主アダプターはきわめて汎用性
が高く、多くの検査に使用できて製作コストの低
減が図れると共に、副アダプターも比較的低価格
で入手しうるため、検査に要する費用を大巾に節
減することができ、さらには効率が良く費用節減
型の検査装置を提供しうる利点がある。
第1図は本発明において検査する被検査スルホ
ールプリント配線板の平面図、第2図は検査方法
の概略説明図、第3図A,Bは主アダプターの底
面図、第4図A,B,C,Dは検査工程の説明
図、第5図は本発明の検査装置の説明図、第6図
は従来の検査方法の概略説明図、第7図A,B,
C,Dはその検査工程の説明図である。 1……被検査スルホールプリント配線板、1
4,18,19……接触子、15,15′……主
アダプター、17……副アダプター、20……被
検査配線板支持台、21……制御装置。
ールプリント配線板の平面図、第2図は検査方法
の概略説明図、第3図A,Bは主アダプターの底
面図、第4図A,B,C,Dは検査工程の説明
図、第5図は本発明の検査装置の説明図、第6図
は従来の検査方法の概略説明図、第7図A,B,
C,Dはその検査工程の説明図である。 1……被検査スルホールプリント配線板、1
4,18,19……接触子、15,15′……主
アダプター、17……副アダプター、20……被
検査配線板支持台、21……制御装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 接触子を用いて導通状態を検査するスルホー
ルプリント配線板の検査方法において、一定領域
内のすべての格子点に接触子を配置した主アダプ
ターと、該領域内で格子点以外の位置および/ま
たは領域外の位置に接触子を配置した副アダプタ
ーとを、被検査スルホールプリント配線板の表裏
より同時的に近接させ、夫々の接触子を接触させ
ることにより検査するようにしたことを特徴とす
るスルホールプリント配線板の検査方法。 2 接触子を用いて導通状態を検査するスルホー
ルプリント配線板の検査装置において、一定領域
内のすべての格子点に接触子を配置した主アダプ
ターを、被検査配線板支持台の上方に昇降可能に
配備すると共に、前記領域内で格子点以外の位置
および/または領域外の位置に接触子を配置した
副アダプターを、被検査配線板支持台上であつて
スルホールプリント配線板の下方に固定的に配備
し、かつ被検査配線板支持台を水平移動可能に設
置したことを特徴とするスルホールプリント配線
板の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56057589A JPS57172261A (en) | 1981-04-16 | 1981-04-16 | Method and device for inspecting through-hole printed circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56057589A JPS57172261A (en) | 1981-04-16 | 1981-04-16 | Method and device for inspecting through-hole printed circuit board |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57172261A JPS57172261A (en) | 1982-10-23 |
| JPS648793B2 true JPS648793B2 (ja) | 1989-02-15 |
Family
ID=13060026
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56057589A Granted JPS57172261A (en) | 1981-04-16 | 1981-04-16 | Method and device for inspecting through-hole printed circuit board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57172261A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0185774U (ja) * | 1987-11-24 | 1989-06-07 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2557701B1 (fr) * | 1983-12-28 | 1986-04-11 | Crouzet Sa | Dispositif de controle de continuite des circuits imprimes |
-
1981
- 1981-04-16 JP JP56057589A patent/JPS57172261A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0185774U (ja) * | 1987-11-24 | 1989-06-07 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57172261A (en) | 1982-10-23 |
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