JPS648960B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS648960B2 JPS648960B2 JP9407082A JP9407082A JPS648960B2 JP S648960 B2 JPS648960 B2 JP S648960B2 JP 9407082 A JP9407082 A JP 9407082A JP 9407082 A JP9407082 A JP 9407082A JP S648960 B2 JPS648960 B2 JP S648960B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- storage means
- display
- contents
- state
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G08—SIGNALLING
- G08B—SIGNALLING SYSTEMS, e.g. PERSONAL CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B5/00—Visible signalling systems, e.g. visible personal calling systems or remote indication of seats occupied
- G08B5/22—Visible signalling systems, e.g. visible personal calling systems or remote indication of seats occupied using electric transmission; using electromagnetic transmission
- G08B5/36—Visible signalling systems, e.g. visible personal calling systems or remote indication of seats occupied using electric transmission; using electromagnetic transmission using visible light sources
- G08B5/38—Visible signalling systems, e.g. visible personal calling systems or remote indication of seats occupied using electric transmission; using electromagnetic transmission using visible light sources using flashing light
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Selective Calling Equipment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は遠方監視制御装置、特にその監視・
表示装置に関する。
表示装置に関する。
遠方監視制御装置の試験機能として、制御所側
装置における反転試験「入」操作により、被制御
所からの表示信号を全て反転させて試験する、い
わゆる反転試験がある。この反転試験は主として
ランプ切れやフリツカ演算回路の動作を確認する
ために行なわれるが、このような試験の実施中に
監視機器に状態変化（以下、状変ともいう。）が
生じることがある。この場合には直ちに試験を中
止し、その旨を制御所側に伝達することが必要で
ある。しかるに制御所側には状態表示用メモリは
１個だけしか用意していないので、実入力信号を
受信したときに、反転操作によつて反転された信
号の状態と、実際の状態変化によつて反転した信
号の状態とが一致するため、被制御所で実際に状
態変化を検出した項目については状態変化「ナ
シ」と判断し、逆に状態変化していない項目につ
いては状態変化「アリ」と判断することになり、
その結果状態変化が発生した項目を除く全ての表
示ランプがフリツカすることとなる。このため、
従来は状態変化が発生した項目または機器を探す
ために、フリツカ停止釦を押下してフリツカを停
止させるとともに、予め反転試験実施前の表示ラ
ンプの状態を記録しておき、その状態とフリツカ
を停止したときの状態とを一点ずつ見比べて探し
出すという、煩雑で時間のかかる作業が必要にな
るという欠点があつた。
装置における反転試験「入」操作により、被制御
所からの表示信号を全て反転させて試験する、い
わゆる反転試験がある。この反転試験は主として
ランプ切れやフリツカ演算回路の動作を確認する
ために行なわれるが、このような試験の実施中に
監視機器に状態変化（以下、状変ともいう。）が
生じることがある。この場合には直ちに試験を中
止し、その旨を制御所側に伝達することが必要で
ある。しかるに制御所側には状態表示用メモリは
１個だけしか用意していないので、実入力信号を
受信したときに、反転操作によつて反転された信
号の状態と、実際の状態変化によつて反転した信
号の状態とが一致するため、被制御所で実際に状
態変化を検出した項目については状態変化「ナ
シ」と判断し、逆に状態変化していない項目につ
いては状態変化「アリ」と判断することになり、
その結果状態変化が発生した項目を除く全ての表
示ランプがフリツカすることとなる。このため、
従来は状態変化が発生した項目または機器を探す
ために、フリツカ停止釦を押下してフリツカを停
止させるとともに、予め反転試験実施前の表示ラ
ンプの状態を記録しておき、その状態とフリツカ
を停止したときの状態とを一点ずつ見比べて探し
出すという、煩雑で時間のかかる作業が必要にな
るという欠点があつた。
この発明は、かかる事情のもとになされたもの
で、上述の如き煩雑で時間のかかる作業を必要と
することなく監視項目の状態変化を簡単かつ迅速
に検出しうる監視・表示装置を提供することを目
的とする。
で、上述の如き煩雑で時間のかかる作業を必要と
することなく監視項目の状態変化を簡単かつ迅速
に検出しうる監視・表示装置を提供することを目
的とする。
その特徴は、反転試験の開始前における監視点
の状態を予め記憶する記憶装置を設け、反転試験
中に被制御所において状態変化を検出したとき
は、このことを条件として通常の状変検出を無効
とするかわりに上記記憶装置の内容と監視点の状
態とを比較し、状変が検出されたときだけ表示ラ
ンプをフリツカさせるようにした点にある。
の状態を予め記憶する記憶装置を設け、反転試験
中に被制御所において状態変化を検出したとき
は、このことを条件として通常の状変検出を無効
とするかわりに上記記憶装置の内容と監視点の状
態とを比較し、状変が検出されたときだけ表示ラ
ンプをフリツカさせるようにした点にある。
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明
する。
する。
第１図はこの発明の実施例を示すブロツク図、
第２図は第１図の動作を説明するためのタイムチ
ヤートである。
第２図は第１図の動作を説明するためのタイムチ
ヤートである。
第１図において、１は入力回路１１、反転試験
制御回路１２からなる被制御所、２は入力メモリ
２１、保持メモリ２２，２３、状態変化検出回路
２４およびフリツカ演算回路２５等からなる制御
所である。なお、AN３はアンドゲート、SW１
は反転試験「入」スイツチ、SW２は反転試験
「切」スイツチ、SW３はフリツカ停止スイツチ、
また状態変化検出回路２４内のEX１，EX２は排
他的論理和回路、AN１，AN２はアンドゲート、
Ｔは反転試験信号の入力端子である。
制御回路１２からなる被制御所、２は入力メモリ
２１、保持メモリ２２，２３、状態変化検出回路
２４およびフリツカ演算回路２５等からなる制御
所である。なお、AN３はアンドゲート、SW１
は反転試験「入」スイツチ、SW２は反転試験
「切」スイツチ、SW３はフリツカ停止スイツチ、
また状態変化検出回路２４内のEX１，EX２は排
他的論理和回路、AN１，AN２はアンドゲート、
Ｔは反転試験信号の入力端子である。
通常は、複数の機器または装置等からの外部信
号は、被制御所１を介して制御所２の入力メモリ
２１にて受信、記憶される。保持メモリ２２は該
入力メモリ２１の以前の状態を保持しており、し
たがつて外部機器等に状変が生じると、状態変化
検出回路２４内の排他的論理和回路EX１にて検
出され、アンドゲートAN１を介してフリツカ演
算回路２５に与えられる。フリツカ演算回路２５
は表示のためのフリツカ周期等を演算し、状変が
生じた機器等に対応するランプを選択してフリツ
カ表示させる。
号は、被制御所１を介して制御所２の入力メモリ
２１にて受信、記憶される。保持メモリ２２は該
入力メモリ２１の以前の状態を保持しており、し
たがつて外部機器等に状変が生じると、状態変化
検出回路２４内の排他的論理和回路EX１にて検
出され、アンドゲートAN１を介してフリツカ演
算回路２５に与えられる。フリツカ演算回路２５
は表示のためのフリツカ周期等を演算し、状変が
生じた機器等に対応するランプを選択してフリツ
カ表示させる。
ここで、反転試験を行なうべく反転試験「入」
スイツチSW１をオンにすると、反転試験指令信
号が被制御所１へ伝送されて反転試験制御回路１
２が動作する。これにより、入力回路１１を介し
て与えられる外部入力の状態が反転され、伝送路
を介して制御所２の入力メモリ２１に与えられ
る。このとき、保持メモリ２２には反転試験状態
になる直前の状態が保持されているが、その内容
は反転試験「入」スイツチSW１がオンになると
同時にアンドゲートAN３を介して保持メモリ２
３に転送されるので、保持メモリ２３には反転試
験開始直前の状態が記憶される。こうして反転さ
れた情報が入力メモリ２１に入力されると、該メ
モリ２１の状態と保持メモリ２２の状態とが状態
変化検出回路２４で比較され不一致、つまり状変
が検出されるとフリツカ演算回路２５によつて表
示ランプをフリツカさせるべく出力Ｌが発せられ
る。その後、メモリ２１の内容は保持メモリ２２
へ転送され、したがつて保持メモリ２２には常に
入力メモリ２１の更新される直前の状態が保持さ
れていることになる。なお、表示ランプがフリツ
カしている状態でフリツカ停止スイツチSW３が
オンになると、フリツカは停止する。
スイツチSW１をオンにすると、反転試験指令信
号が被制御所１へ伝送されて反転試験制御回路１
２が動作する。これにより、入力回路１１を介し
て与えられる外部入力の状態が反転され、伝送路
を介して制御所２の入力メモリ２１に与えられ
る。このとき、保持メモリ２２には反転試験状態
になる直前の状態が保持されているが、その内容
は反転試験「入」スイツチSW１がオンになると
同時にアンドゲートAN３を介して保持メモリ２
３に転送されるので、保持メモリ２３には反転試
験開始直前の状態が記憶される。こうして反転さ
れた情報が入力メモリ２１に入力されると、該メ
モリ２１の状態と保持メモリ２２の状態とが状態
変化検出回路２４で比較され不一致、つまり状変
が検出されるとフリツカ演算回路２５によつて表
示ランプをフリツカさせるべく出力Ｌが発せられ
る。その後、メモリ２１の内容は保持メモリ２２
へ転送され、したがつて保持メモリ２２には常に
入力メモリ２１の更新される直前の状態が保持さ
れていることになる。なお、表示ランプがフリツ
カしている状態でフリツカ停止スイツチSW３が
オンになると、フリツカは停止する。
ここで、第２図も参照してその動作を説明す
る。
る。
いま、反転試験を行なうべく反転試験「入」ス
イツチSW１が第２図イの如くtp時点でオンにな
ると、この信号は被制御所１へ伝達されるので、
被制御所１は該信号に対する応答信号を第２図ニ
の如く返送する。なお、この応答信号は制御所２
からの信号とは非同期に返送されるため、制御所
２では該応答信号から所定の遅延時間（表示１サ
イクルに相当する時間td）をもつて第２図ホの如
く反転試験中信号をオンにし、端子Ｔを介して状
態変化検出回路２４に与える。一方、スイツチ
SW１がオンになつたとき、外部機器または装置
Ａ，Ｂの状態がそれぞれ第２図ロ，ハの如く
“０”、“０”であるとすると、この状態は反転試
験制御回路１２においてそれぞれ反転されて第２
図ヘ，トの如く“１”、“１”となつて入力メモリ
２１へ送られ、記憶される。このとき、保持メモ
リ２２は反転試験を開始する直前の入力メモリ２
１の内容、すなわち入力機器または装置Ａ，Ｂの
状態“０”、“０”を記憶していることから、状態
変化検出回路２４の排他的論理和回路EX１が成
立する。そして、この時点では第２図ホの如く反
転試験中信号はオンとなつていないので、これに
よつてアンドゲートAN１が成立し、フリツカ演
算回路２５を介して外部機器または装置Ａ，Ｂに
対応する表示ランプが第２図オ，ワの如くフリツ
カする。なお、第２図において、チ，リはそれぞ
れ外部機器または装置Ａ，Ｂの状変検出後のメモ
リ２２の内容、すなわち入力メモリ２１によつて
更新された直後のメモリ２２の内容を示すもので
ある。同様にヌ，ルはスイツチSW１の押下と同
時に転送されるメモリ２２の内容、すなわちメモ
リ２３の内容を示すものである。
イツチSW１が第２図イの如くtp時点でオンにな
ると、この信号は被制御所１へ伝達されるので、
被制御所１は該信号に対する応答信号を第２図ニ
の如く返送する。なお、この応答信号は制御所２
からの信号とは非同期に返送されるため、制御所
２では該応答信号から所定の遅延時間（表示１サ
イクルに相当する時間td）をもつて第２図ホの如
く反転試験中信号をオンにし、端子Ｔを介して状
態変化検出回路２４に与える。一方、スイツチ
SW１がオンになつたとき、外部機器または装置
Ａ，Ｂの状態がそれぞれ第２図ロ，ハの如く
“０”、“０”であるとすると、この状態は反転試
験制御回路１２においてそれぞれ反転されて第２
図ヘ，トの如く“１”、“１”となつて入力メモリ
２１へ送られ、記憶される。このとき、保持メモ
リ２２は反転試験を開始する直前の入力メモリ２
１の内容、すなわち入力機器または装置Ａ，Ｂの
状態“０”、“０”を記憶していることから、状態
変化検出回路２４の排他的論理和回路EX１が成
立する。そして、この時点では第２図ホの如く反
転試験中信号はオンとなつていないので、これに
よつてアンドゲートAN１が成立し、フリツカ演
算回路２５を介して外部機器または装置Ａ，Ｂに
対応する表示ランプが第２図オ，ワの如くフリツ
カする。なお、第２図において、チ，リはそれぞ
れ外部機器または装置Ａ，Ｂの状変検出後のメモ
リ２２の内容、すなわち入力メモリ２１によつて
更新された直後のメモリ２２の内容を示すもので
ある。同様にヌ，ルはスイツチSW１の押下と同
時に転送されるメモリ２２の内容、すなわちメモ
リ２３の内容を示すものである。
こうして反転試験中信号がオンとなり、反転試
験が行なわれている最中の時刻t1において、外部
機器または装置Ｂに第２図ハの如き状態変化が生
ずると、被制御所１では図示されていない状態変
化検出手段によりいずれかの外部機器または装置
Ｂに状態変化が生じたことを検出する。これによ
り、被制御所１では反転試験制御回路１２を不動
作として反転試験を中止させるとともに、制御所
２における反転試験も中止すべく、第２図ニの応
答信号を“０”にしてその旨を制御所２へ伝達す
る。被制御所１における状態変化検出手段は、単
に外部機器または装置Ｂの状態変化を検出して反
転試験を中止させるために設けられているもので
あり、反転試験を行なうように構成された装置に
は通常設置されているものである。したがつて、
被制御所１における状態変化検出手段は、制御所
２における状態変化の項目を検出できるようにし
た状態変化検出回路２４とは全く関係しないもの
である。制御所２では、応答信号“０”を確認し
た後、所定の遅延時間tdをとつてから第２図ホの
如く反転試験中信号を“０”にする。反転試験が
中止されたことにより、外部機器からの状態信号
は反転されることなく入力メモリ２１に送られる
が、このとき保持メモリ２２には反転試験中の状
態が保持されているため、該保持メモリ２２の内
容と入力メモリ２１の内容とを比較すると、実際
に状変が生じた機器または装置の表示はフリツカ
せずに、状変の生じないもののみがフリツカする
ことになつて不都合である。したがつて、この発
明では遅延された反転試験中信号を用いることに
よつて入力メモリ２１と保持メモリ２２による状
変検出を無効にし、そのかわり反転試験開始直前
の内容を保持しているメモリ２３と入力メモリ２
１との内容を排他的論理和回路EX２で比較する
ことにより、実際に状変が生じた機器または装置
を検出し、フリツカ演算回路２５にて対応するラ
ンプをフリツカさせるものである。すなわち、こ
の場合は第２図ロの如く外部機器Ａでは状変が生
じていないため、メモリ２１，２３の内容は第２
図ヘ，ヌの如く“０”となつて一致するため、第
２図オの如くフリツカ表示は行なわれないのに対
し、外部機器Ｂでは状変が生じて第２図ト，ルの
如く“１”、“０”となるため不一致が検出され、
第２図ワの如くフリツカすることになる。なお、
フリツカ停止スイツチSW３を第２図カの如く操
作することにより、フリツカが停止する点は前述
のとおりである。
験が行なわれている最中の時刻t1において、外部
機器または装置Ｂに第２図ハの如き状態変化が生
ずると、被制御所１では図示されていない状態変
化検出手段によりいずれかの外部機器または装置
Ｂに状態変化が生じたことを検出する。これによ
り、被制御所１では反転試験制御回路１２を不動
作として反転試験を中止させるとともに、制御所
２における反転試験も中止すべく、第２図ニの応
答信号を“０”にしてその旨を制御所２へ伝達す
る。被制御所１における状態変化検出手段は、単
に外部機器または装置Ｂの状態変化を検出して反
転試験を中止させるために設けられているもので
あり、反転試験を行なうように構成された装置に
は通常設置されているものである。したがつて、
被制御所１における状態変化検出手段は、制御所
２における状態変化の項目を検出できるようにし
た状態変化検出回路２４とは全く関係しないもの
である。制御所２では、応答信号“０”を確認し
た後、所定の遅延時間tdをとつてから第２図ホの
如く反転試験中信号を“０”にする。反転試験が
中止されたことにより、外部機器からの状態信号
は反転されることなく入力メモリ２１に送られる
が、このとき保持メモリ２２には反転試験中の状
態が保持されているため、該保持メモリ２２の内
容と入力メモリ２１の内容とを比較すると、実際
に状変が生じた機器または装置の表示はフリツカ
せずに、状変の生じないもののみがフリツカする
ことになつて不都合である。したがつて、この発
明では遅延された反転試験中信号を用いることに
よつて入力メモリ２１と保持メモリ２２による状
変検出を無効にし、そのかわり反転試験開始直前
の内容を保持しているメモリ２３と入力メモリ２
１との内容を排他的論理和回路EX２で比較する
ことにより、実際に状変が生じた機器または装置
を検出し、フリツカ演算回路２５にて対応するラ
ンプをフリツカさせるものである。すなわち、こ
の場合は第２図ロの如く外部機器Ａでは状変が生
じていないため、メモリ２１，２３の内容は第２
図ヘ，ヌの如く“０”となつて一致するため、第
２図オの如くフリツカ表示は行なわれないのに対
し、外部機器Ｂでは状変が生じて第２図ト，ルの
如く“１”、“０”となるため不一致が検出され、
第２図ワの如くフリツカすることになる。なお、
フリツカ停止スイツチSW３を第２図カの如く操
作することにより、フリツカが停止する点は前述
のとおりである。
以上のように、この発明によれば、反転試験中
に状態変化が生じた外部機器または装置に対応す
る表示のみをフリツカさせるようにしたから、実
際に状態変化が生じたものを容易かつ短時間に、
そのうえ正確に探し出すことができる利点を有す
るものである。
に状態変化が生じた外部機器または装置に対応す
る表示のみをフリツカさせるようにしたから、実
際に状態変化が生じたものを容易かつ短時間に、
そのうえ正確に探し出すことができる利点を有す
るものである。
なお、この発明は、上述の如き遠方監視制御装
置ばかりでなく、機器等の監視、表示を行なう表
示監視盤等にも適用しうるものである。
置ばかりでなく、機器等の監視、表示を行なう表
示監視盤等にも適用しうるものである。
第１図はこの発明の実施例を示すブロツク図、
第２図はその動作を説明するためのタイムチヤー
トである。 符号説明 １……被制御所、１１……入力回
路、１２……反転試験制御回路、２……制御所、
２１……入力メモリ、２２，２３……保持メモ
リ、２４……状態変化検出回路、２５……フリツ
カ演算回路、EX１，EX２……排他的論理和回
路、AN１〜AN３……アンドゲート、Ｔ……反
転試験中信号入力端子。
第２図はその動作を説明するためのタイムチヤー
トである。 符号説明 １……被制御所、１１……入力回
路、１２……反転試験制御回路、２……制御所、
２１……入力メモリ、２２，２３……保持メモ
リ、２４……状態変化検出回路、２５……フリツ
カ演算回路、EX１，EX２……排他的論理和回
路、AN１〜AN３……アンドゲート、Ｔ……反
転試験中信号入力端子。
Claims (1)
- １ 複数の機器または装置（以下、機器等とい
う。）の状態を監視するとともに反転試験信号を
受信したとき該状態情報を反転して送出する被制
御所からの情報を受信して一時記憶する第１の記
憶手段と、該第１の記憶手段の前回の値を今回の
新たな情報によつて更新される迄記憶する第２の
記憶手段と、前記反転試験信号を受信したとき該
第２記憶手段の内容を読出して保持する第３の記
憶手段と、前記第１、第２記憶手段の内容を比較
する第１の比較手段と、前記第１、第３記憶手段
の内容を比較する第２の比較手段と、該各比較手
段の出力にもとづき前記各機器等の状態をフリツ
カ表示する表示手段と、少なくとも反転試験中に
機器等に実際に状態変化が生じたときは反転試験
を中止するとゝもに、所定の時間だけ前記第１比
較手段の出力を無効として前記第２比較手段およ
び表示手段を介して監視、表示を行なう制御手段
とを設け、反転試験中に実際に状態変化が生じた
機器等に対応する表示手段のみをフリツカさせる
ことによりその判別を容易ならしめたことを特徴
とする監視・表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9407082A JPS58212291A (ja) | 1982-06-03 | 1982-06-03 | 監視・表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9407082A JPS58212291A (ja) | 1982-06-03 | 1982-06-03 | 監視・表示装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58212291A JPS58212291A (ja) | 1983-12-09 |
| JPS648960B2 true JPS648960B2 (ja) | 1989-02-15 |
Family
ID=14100238
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9407082A Granted JPS58212291A (ja) | 1982-06-03 | 1982-06-03 | 監視・表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58212291A (ja) |
-
1982
- 1982-06-03 JP JP9407082A patent/JPS58212291A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58212291A (ja) | 1983-12-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5070476A (en) | Sequence controller | |
| US20050038621A1 (en) | Test method, test system, and program therefor | |
| JPS648960B2 (ja) | ||
| JP3702605B2 (ja) | トリガ機能を持つ伝送システム及びその入出力信号の時間間隔測定方法 | |
| JPS604358A (ja) | 監視試験架制御装置 | |
| JP2833794B2 (ja) | キー入力処理装置 | |
| JPS5824237Y2 (ja) | アラ−ム付電子時計 | |
| JPS58186898A (ja) | 反転試験中の状態変化項目の表示方式 | |
| JPS61218235A (ja) | 信号判定回路 | |
| JP6813963B2 (ja) | 作動状態記録システム及び作動状態記録方法 | |
| JP3038748B2 (ja) | 需要電力計測装置の自動同期切替方式 | |
| JPH04284511A (ja) | プログラマブルコントローラ異常検出装置 | |
| JPS61184603A (ja) | プロセス表示装置 | |
| JPH0250226A (ja) | マイクロコンピュータ | |
| JPS6141015B2 (ja) | ||
| JPH0734385Y2 (ja) | 信号発生装置 | |
| JPS63163290A (ja) | Ｉｃ検査装置 | |
| JP2713836B2 (ja) | ディジタル制御装置 | |
| JPH0363867B2 (ja) | ||
| KR960028205A (ko) | 캠코더의 장애요인 검출방법 | |
| JPS5916287B2 (ja) | 配線検査装置 | |
| JPH0765262A (ja) | 火災検知システム及び火災感知器 | |
| JPS60116040A (ja) | デ−タ処理装置 | |
| JPS63241622A (ja) | デ−タ処理装置 | |
| JPS5877323A (ja) | 時限回路 |