KR100762019B1 - 결정질 질화갈륨 및 결정질 질화갈륨의 제조방법 - Google Patents
결정질 질화갈륨 및 결정질 질화갈륨의 제조방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100762019B1 KR100762019B1 KR1020027004411A KR20027004411A KR100762019B1 KR 100762019 B1 KR100762019 B1 KR 100762019B1 KR 1020027004411 A KR1020027004411 A KR 1020027004411A KR 20027004411 A KR20027004411 A KR 20027004411A KR 100762019 B1 KR100762019 B1 KR 100762019B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- gallium nitride
- capsule
- hpht
- pressure
- source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B7/00—Single-crystal growth from solutions using solvents which are liquid at normal temperature, e.g. aqueous solutions
- C30B7/10—Single-crystal growth from solutions using solvents which are liquid at normal temperature, e.g. aqueous solutions by application of pressure, e.g. hydrothermal processes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J3/00—Processes of utilising sub-atmospheric or super-atmospheric pressure to effect chemical or physical change of matter; Apparatus therefor
- B01J3/06—Processes using ultra-high pressure, e.g. for the formation of diamonds; Apparatus therefor, e.g. moulds or dies
- B01J3/062—Processes using ultra-high pressure, e.g. for the formation of diamonds; Apparatus therefor, e.g. moulds or dies characterised by the composition of the materials to be processed
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2203/00—Processes utilising sub- or super atmospheric pressure
- B01J2203/06—High pressure synthesis
- B01J2203/065—Composition of the material produced
- B01J2203/0665—Gallium nitrides
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J2203/00—Processes utilising sub- or super atmospheric pressure
- B01J2203/06—High pressure synthesis
- B01J2203/0675—Structural or physico-chemical features of the materials processed
- B01J2203/068—Crystal growth
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
Description
Claims (39)
- 질화갈륨 공급원(15)을 제공하고;광화제(17)를 제공하고;용매(17)를 제공하고;캡슐(10)을 제공하고;상기 질화갈륨 공급원(15), 광화제(17) 및 용매(17)를 상기 캡슐(10) 내에 배치하고;상기 캡슐(10)을 밀봉하고;상기 캡슐(10)을 압력 셀(1) 내에 배치하고;상기 압력 셀(1)에 5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT) 조건을 적용하여 상기 질화갈륨 공급원(15)을 용해시키고 하나 이상의 질화갈륨 결정으로 재침전시킴을 포함하는,결정질 질화갈륨을 형성시키기 위한 질화갈륨 성장 방법.
- 제 1 항에 있어서,압력 셀(1)에 5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT) 조건을 적용하는 단계가, 압력 셀(1)을 고압고온(HPHT)계(100) 내에 배치함을 포함하는 방법.
- 제 2 항에 있어서,고압고온(HPHT)계(100)를 냉각시키고;5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT)에서 압력을 완화시키고;상기 고압고온(HPHT)계(100)로부터 질화갈륨 결정을 제거하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
- 제 3 항에 있어서,고압고온(HPHT)계(100)로부터 질화갈륨 결정을 제거하는 단계가, 질화갈륨 결정을 물 및 무기산중 하나 이상으로 세척함을 포함하는 방법.
- 제 4 항에 있어서,무기산이 염산(HCl) 및 질산(HNO3)으로 구성된 군에서 선택되는 방법.
- 제 1 항에 있어서,질화갈륨 공급원(15), 및 광화제(17) 및 용매(17)중 하나 이상을 포함하는 혼합물을 형성하고; 상기 혼합물을 캡슐(10)에 배치하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
- 제 6 항에 있어서,혼합물을 압착시키는 단계를 추가로 포함하는 방법.
- 제 1 항에 있어서,하나 이상의 질화갈륨 결정이 하나 이상의 질화갈륨 결정 또는 질화갈륨 불(boule)을 포함하는 방법.
- 제 8 항에 있어서,질화갈륨 결정 또는 질화갈륨 불의 직경이 1 인치 내지 6 인치의 범위인 방법.
- 제 8 항에 있어서,하나 이상의 질화갈륨 결정 또는 질화갈륨 불의 두께가 0.02 인치 내지 12 인치의 범위인 방법.
- 제 1 항에 있어서,용매가 질소함유 용매 및 유기 용매중 하나를 포함하는 방법.
- 제 11 항에 있어서,질소 함유 용매가 암모니아(NH3) 및 히드라진중 하나 이상을 포함하고, 유기 용매가 메틸아민, 멜라민 및 에틸렌디아민으로 구성된 군에서 선택되는 방법.
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,광화제(17)가 Li3N, Mg3N2 및 Ca3Na2로 구성된 군에서 선택된 하나 이상의 알칼리 금속 및 알칼리 토금속 질화물; LiNH2, NaNH2 및 KNH2로 구성된 군에서 선택된 아미드; 우레아; NH4F 및 NH4Cl로 구성된 군에서 선택된 암모늄 염; NaCl, Li2S 및 KNO3로 구성된 군에서 선택된 하나 이상의 할라이드 염, 설파이드 염, 리튬 염 및 니트레이트 염; 및 이들의 혼합물을 포함하는 방법.
- 제 1 항에 있어서,광화제(17)가 용매에 용해된 첨가제를 포함하는 방법.
- 제 1 항에 있어서,질화갈륨 공급원(15)을 제공하는 단계가 결정질 질화갈륨을 제공함을 포함하는 방법.
- 제 18 항에 있어서,질화갈륨 공급원(15)을 제공하는 단계가,압력 셀(1)에 5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT) 조건을 적용하여 질화갈륨 공급원(15)을 용해시키고 하나 이상의 질화갈륨 결정으로 재침전시킴을 포함하는 단계 이전에, 질화갈륨이 용해되는 것을 방지하기 위한 보호막을 포함하는 질화갈륨 종자결정(50)을 제공함을 포함하는 방법.
- 제 1 항에 있어서,압력 셀(1)에 5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT) 조건을 적용하여 질화갈륨 공급원(15)을 용해시키고 하나 이상의 질화갈륨 결정으로 재침전시킴을 포함하는 단계가, 상기 압력 셀(1) 내에 온도차를 생성함을 추가로 포함하는 방법.
- 제 20 항에 있어서,압력 셀(1) 내에 온도차를 생성하는 단계가, 압력 셀(1)과 열원(16)을 서로 가깝게 배치함을 포함하는 방법.
- 제 20 항에 있어서,압력 셀(1) 내에 온도차를 생성하는 단계가,압력 셀(1) 내에서 압력 셀(1)의 550 내지 3000℃의 고온 말단에 질화갈륨 공급원(15)을 비대칭적으로 배치하는 단계; 보조 히터를 제공하여 상기 압력 셀(1)의 한 쪽 말단을 가열하는 단계; 및 상기 압력 셀(1)의 질화갈륨 공급원(15)에 차별적인 열을 발생하는 열원(16)을 제공하는 단계중 하나 이상의 단계를 포함하는 방법.
- 제 20 항에 있어서,압력 셀(1) 내에 온도차를 생성하는 단계가,압력 셀(1) 내의 질화갈륨 공급원(15) 부근에, 열원(16)으로서, 압력 셀(1)을 위한 시너(thinner) 히터 부재를 갖는 히터를 제공함으로써, 상기 시너 히터 부재가 압력 셀 외부보다 압력 셀 내부에 더 많은 열을 발생시키고 상기 질화갈륨 공급원(15)을 과열시켜 온도차를 생성하게 함을 포함하는 방법.
- 제 1 항에 있어서,캡슐(10)을 제공하는 단계가,열원(16)에 근접하게 배치되기에 적합한 한 개의 말단 유니트를 포함하는 두 개의 접합된 말단 유니트(11, 12); 및 압력 셀(1)에 5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT) 조건을 적용하여 질화갈륨 공급원(15)을 용해시키고 하나 이상의 질화갈륨 결정으로 재침전시키는 동안 상기 말단 유니트들(11, 12) 사이에서의 열의 자연대류를 방지하는 배플 구조체(18)를 포함하는, 캡슐을 제공함을 포함하는 방법.
- 제 1 항에 있어서,압력 셀(1)에 5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT) 조건을 적용하여 질화갈륨 공급원(15)을 용해시키고 하나 이상의 질화갈륨 결정으로 재침전시키는 단계가, 압력 셀(1)을 5 내지 80 kbar의 고압 조건을 가하는 프레스 장치(101) 내에 배치함을 포함하는 방법.
- 제 25 항에 있어서,압력 셀(1)을 프레스 장치(101) 내에 배치하는 단계가,압력 셀(1)을 5 내지 80 kbar의 고압을 가하는 다이(102) 및 펀치(103)중 하나 이상을 포함하는 프레스 장치(101) 내에 배치함을 포함하는 방법.
- 제 1 항에 있어서,질화갈륨 공급원(15); 질화갈륨 및 용매(17) 또는 질화갈륨 및 광화제(17)를 포함하는 혼합물; 또는 질화갈륨, 용매(17) 및 광화제(17)를 포함하는 혼합물중 하나 이상을 압착시키는 단계;고압고온(HPHT)계(100)를 냉각시키는 단계;5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT)에서 압력을 완화시키는 단계;상기 고압고온(HPHT)계(100)로부터 질화갈륨 결정을 제거하는 단계; 및상기 질화갈륨 결정을 물 및 무기산중 하나 이상으로 세척하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
- 삭제
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,질화갈륨 공급원(15), 광화제(17) 및 용매(17)를 캡슐(10) 내에 배치하는 단계가, 캡슐(10)을 감압 다기관에 연결하고; 상기 캡슐(10)을 진공 상태로 만들고; 상기 캡슐(10)을 실온 이하로 냉각시키고; 상기 감압 다기관에 증기상 용매를 넣고; 상기 증기상 용매를 캡슐(10) 내에서 응축시킴을 포함하고,상기 캡슐(10)이 구리 캡슐 또는 불활성-금속 라이너를 갖는 구리 캡슐인 방법.
- 제 30 항에 있어서,캡슐(10)을 밀봉하는 단계가, 캡슐(10)을 밀봉하기 위하여 캡슐의 단면을 핀치 오프(pinching-off)하는 것 및 감압 다기관으로 연결되는 밸브를 잠그는 것중 하나 이상에 의하여 캡슐(10)을 막는 것을 포함하는 방법.
- 질화갈륨 공급원(15)을 제공하고;광화제(17)를 제공하고;용매(17)를 제공하고;캡슐(10)을 제공하고;상기 질화갈륨 공급원(15)을 하나 이상의 광화제(17) 및 용매(17)와 혼합하여 혼합물을 형성하고;상기 혼합물을 압착시키고;상기 혼합물을 상기 캡슐(10)에 배치하고;상기 광화제(17) 및 용매(17)중 하나 이상을 상기 캡슐(10)에 배치하여, 상기 캡슐(10)에 상기 질화갈륨 공급원(15), 광화제(17) 및 용매(17)를 포함시키고;상기 캡슐(10)을 밀봉하고;상기 캡슐(10)을 압력 셀(1)에 배치하고;상기 압력 셀(1)에 5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT) 조건을 적용하여 상기 질화갈륨 공급원(15)을 용해시키고 하나 이상의 질화갈륨 결정으로 재침전시키고;고압고온(HPHT)계(100)를 냉각시키고;5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT)에서 압력을 완화시키고;상기 고압고온(HPHT)계(100)로부터 질화갈륨 결정을 제거하고;상기 질화갈륨 결정을 물 및 무기산중 하나 이상으로 세척함을 포함하는,결정질 질화갈륨을 형성시키기 위한 질화갈륨 성장 방법.
- 두 개의 마주보는 말단 유니트(11,12)를 포함하는 캡슐(10)을 제공하고;상기 캡슐(10)의 한쪽 말단 유니트에 질화갈륨 종자결정 공급원을 배치하고;상기 캡슐(10)의 다른 쪽 말단 유니트에 광화제 및 용매중 하나 이상과 함께 질화갈륨 공급원을 배치하고;상기 캡슐(10)의 각 말단 유니트에 용매를 배치하고;상기 캡슐(10)에, 고압고온(HPHT)계에 생성된 온도차를 갖는 5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT) 조건을 적용하여 상기 질화갈륨 공급원을 용해시키고 하나 이상의 질화갈륨 결정으로 재침전시킴을 포함하는,결정질 질화갈륨을 형성시키기 위한 질화갈륨 성장 방법.
- 제 33 항에 있어서,고압고온(HPHT)계를 냉각시키고;상기 고압고온(HPHT)계의 압력을 완화시키고;상기 고압고온(HPHT)계로부터 질화갈륨 결정을 제거하고;상기 질화갈륨 결정을 물 및 무기산중 하나 이상으로 세척하는 단계를 추가로 포함하는 방법.
- 삭제
- 하나 이상의 액체 또는 고체 갈륨을 포함하는 질화갈륨 공급원(15)을 제공하고;두 개의 마주보는 말단 유니트(11,12)를 포함하는 캡슐(10)을 제공하고;상기 질화갈륨 공급원(15)을 상기 캡슐(10)의 한쪽 말단 유니트에 배치하고;상기 질화갈륨 공급원(15)에, 광화제(17) 및 용매(17)를 개별적으로 배치하거나, 또는 용매 및 광화제를 따로 배치함으로써, 광화제(17) 및 용매중 하나 이상과 함께 상기 질화갈륨 공급원(15)을 배치하여 혼합물을 형성하고;상기 캡슐(10)에 5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT) 조건을 적용하여 고압고온(HPHT) 성장 조건하에서 액화 갈륨이 암모니아와 반응하여 질화갈륨을 형성하게 하고;상기 캡슐(10)에 5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT) 조건을 적용하여 상기 형성된 질화갈륨을 용해시키고 하나 이상의 질화갈륨 결정으로 재침전시킴을 포함하는,결정질 질화갈륨을 형성시키기 위한 질화갈륨 성장 방법.
- 제 36 항에 있어서,고압고온(HPHT)계를 냉각시키고;5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT)에서 압력을 완화시키고;상기 고압고온(HPHT)계로부터 질화갈륨 결정을 제거하고;상기 질화갈륨 결정을 물 및 무기산중 하나 이상으로 세척함을 추가로 포함하는 방법.
- 삭제
- 질화갈륨 공급원(15)을 제공하고;광화제(17)를 제공하고;용매(17)를 제공하고;캡슐(10)을 제공하고;상기 질화갈륨 공급원(15)을 광화제(17) 및 용매(17)중 하나 이상과 혼합하여 혼합물을 형성하고;상기 혼합물을 상기 캡슐(10)에 배치하고;상기 캡슐(10)에 상기 광화제(17) 및 용매(17)중 하나 이상을 배치하여, 상기 캡슐(10)에 상기 질화갈륨 공급원(15), 광화제(17) 및 용매(17)를 포함시키고;상기 캡슐(10)을 밀봉하고;상기 캡슐(10)을 압력 셀(1) 내에 배치하고;고압고온(HPHT)계(100)에서 상기 압력 셀(1)에 5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT) 조건을 적용하여 상기 질화갈륨 공급원(15)을 용해시키고 하나 이상의 질화갈륨 결정을 재침전시키고;상기 고압고온(HPHT)계(100)를 냉각시키고;5 내지 80 kbar 및 550 내지 3000℃의 고압고온(HPHT)에서 압력을 완화시키고;상기 고압고온(HPHT)계(100)로부터 질화갈륨 결정을 제거하고;상기 질화갈륨 결정을 물 및 무기산중 하나 이상으로 세척함을 포함하는,결정질 질화갈륨을 형성시키기 위한 질화갈륨 성장 방법.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/413,446 | 1999-10-06 | ||
| US09/413,446 US6398867B1 (en) | 1999-10-06 | 1999-10-06 | Crystalline gallium nitride and method for forming crystalline gallium nitride |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20020042705A KR20020042705A (ko) | 2002-06-05 |
| KR100762019B1 true KR100762019B1 (ko) | 2007-10-04 |
Family
ID=23637257
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020027004411A Expired - Fee Related KR100762019B1 (ko) | 1999-10-06 | 2000-09-28 | 결정질 질화갈륨 및 결정질 질화갈륨의 제조방법 |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6398867B1 (ko) |
| EP (1) | EP1230005B1 (ko) |
| JP (1) | JP4942270B2 (ko) |
| KR (1) | KR100762019B1 (ko) |
| AT (1) | ATE350143T1 (ko) |
| AU (1) | AU7729700A (ko) |
| CA (1) | CA2385713A1 (ko) |
| DE (1) | DE60032793T2 (ko) |
| TW (1) | TWI272122B (ko) |
| WO (1) | WO2001024921A1 (ko) |
Families Citing this family (155)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6592663B1 (en) | 1999-06-09 | 2003-07-15 | Ricoh Company Ltd. | Production of a GaN bulk crystal substrate and a semiconductor device formed on a GaN bulk crystal substrate |
| ATE528421T1 (de) | 2000-11-30 | 2011-10-15 | Univ North Carolina State | Verfahren zur herstellung von gruppe-iii- metallnitrid-materialien |
| US6787010B2 (en) | 2000-11-30 | 2004-09-07 | North Carolina State University | Non-thermionic sputter material transport device, methods of use, and materials produced thereby |
| US7146164B2 (en) * | 2000-12-20 | 2006-12-05 | Denso Corporation | Intelligent base station antenna beam-steering using mobile multipath feedback |
| TWI277666B (en) * | 2001-06-06 | 2007-04-01 | Ammono Sp Zoo | Process and apparatus for obtaining bulk mono-crystalline gallium-containing nitride |
| PL207400B1 (pl) | 2001-06-06 | 2010-12-31 | Ammono Społka Z Ograniczoną Odpowiedzialnością | Sposób i urządzenie do otrzymywania objętościowego monokryształu azotku zawierającego gal |
| PL374180A1 (en) * | 2001-10-26 | 2005-10-03 | Ammono Sp.Z O.O. | Nitride semiconductor laser element, and production method therefor |
| JP4693351B2 (ja) | 2001-10-26 | 2011-06-01 | アンモノ・スプウカ・ジ・オグラニチョノン・オドポヴィエドニアウノシツィオン | エピタキシャル成長用基板 |
| JP3910047B2 (ja) * | 2001-11-20 | 2007-04-25 | 松下電器産業株式会社 | 半導体記憶装置 |
| US20060005763A1 (en) * | 2001-12-24 | 2006-01-12 | Crystal Is, Inc. | Method and apparatus for producing large, single-crystals of aluminum nitride |
| US8545629B2 (en) | 2001-12-24 | 2013-10-01 | Crystal Is, Inc. | Method and apparatus for producing large, single-crystals of aluminum nitride |
| US7638346B2 (en) * | 2001-12-24 | 2009-12-29 | Crystal Is, Inc. | Nitride semiconductor heterostructures and related methods |
| US7097707B2 (en) * | 2001-12-31 | 2006-08-29 | Cree, Inc. | GaN boule grown from liquid melt using GaN seed wafers |
| US7125453B2 (en) * | 2002-01-31 | 2006-10-24 | General Electric Company | High temperature high pressure capsule for processing materials in supercritical fluids |
| JP4513264B2 (ja) * | 2002-02-22 | 2010-07-28 | 三菱化学株式会社 | 窒化物単結晶の製造方法 |
| US7063741B2 (en) * | 2002-03-27 | 2006-06-20 | General Electric Company | High pressure high temperature growth of crystalline group III metal nitrides |
| WO2003089696A1 (en) * | 2002-04-15 | 2003-10-30 | The Regents Of The University Of California | Dislocation reduction in non-polar gallium nitride thin films |
| US8809867B2 (en) * | 2002-04-15 | 2014-08-19 | The Regents Of The University Of California | Dislocation reduction in non-polar III-nitride thin films |
| US20030209191A1 (en) * | 2002-05-13 | 2003-11-13 | Purdy Andrew P. | Ammonothermal process for bulk synthesis and growth of cubic GaN |
| US20060138431A1 (en) * | 2002-05-17 | 2006-06-29 | Robert Dwilinski | Light emitting device structure having nitride bulk single crystal layer |
| JP4416648B2 (ja) * | 2002-05-17 | 2010-02-17 | アンモノ・スプウカ・ジ・オグラニチョノン・オドポヴィエドニアウノシツィオン | 発光素子の製造方法 |
| JP4403067B2 (ja) | 2002-05-17 | 2010-01-20 | アンモノ・スプウカ・ジ・オグラニチョノン・オドポヴィエドニアウノシツィオン | 超臨界アンモニアを用いるバルク単結晶生産設備 |
| JP4663319B2 (ja) * | 2002-06-26 | 2011-04-06 | アンモノ・スプウカ・ジ・オグラニチョノン・オドポヴィエドニアウノシツィオン | ガリウム含有窒化物バルク単結晶の製造方法 |
| US7315559B2 (en) * | 2002-06-26 | 2008-01-01 | Ammono Sp. Z O.O. | Nitride semiconductor laser device and a method for improving its performance |
| CN1327044C (zh) * | 2002-07-31 | 2007-07-18 | 财团法人大阪产业振兴机构 | Ⅲ族元素氮化物单晶的制造方法及由此制得的ⅲ族元素氮化物透明单晶 |
| US7220311B2 (en) * | 2002-11-08 | 2007-05-22 | Ricoh Company, Ltd. | Group III nitride crystal, crystal growth process and crystal growth apparatus of group III nitride |
| PL224992B1 (pl) | 2002-12-11 | 2017-02-28 | Ammono Spółka Z Ograniczoną Odpowiedzialnością | Podłoże typu template dla urządzeń opto-elektrycznych lub elektrycznych oraz sposób jego wytwarzania |
| WO2004053208A1 (en) * | 2002-12-11 | 2004-06-24 | Ammono Sp. Z O.O. | Process for obtaining bulk-crystalline gallium-containing nitride |
| WO2004061923A1 (en) * | 2002-12-27 | 2004-07-22 | General Electric Company | Gallium nitride crystal, homoepitaxial gallium-nitride-based devices and method for producing same |
| US7098487B2 (en) | 2002-12-27 | 2006-08-29 | General Electric Company | Gallium nitride crystal and method of making same |
| US20070040181A1 (en) * | 2002-12-27 | 2007-02-22 | General Electric Company | Crystalline composition, wafer, and semi-conductor structure |
| US7859008B2 (en) * | 2002-12-27 | 2010-12-28 | Momentive Performance Materials Inc. | Crystalline composition, wafer, device, and associated method |
| US9279193B2 (en) * | 2002-12-27 | 2016-03-08 | Momentive Performance Materials Inc. | Method of making a gallium nitride crystalline composition having a low dislocation density |
| US20060169996A1 (en) * | 2002-12-27 | 2006-08-03 | General Electric Company | Crystalline composition, wafer, and semi-conductor structure |
| US7638815B2 (en) * | 2002-12-27 | 2009-12-29 | Momentive Performance Materials Inc. | Crystalline composition, wafer, and semi-conductor structure |
| US8089097B2 (en) * | 2002-12-27 | 2012-01-03 | Momentive Performance Materials Inc. | Homoepitaxial gallium-nitride-based electronic devices and method for producing same |
| US8357945B2 (en) * | 2002-12-27 | 2013-01-22 | Momentive Performance Materials Inc. | Gallium nitride crystal and method of making same |
| US7786503B2 (en) * | 2002-12-27 | 2010-08-31 | Momentive Performance Materials Inc. | Gallium nitride crystals and wafers and method of making |
| US7261775B2 (en) | 2003-01-29 | 2007-08-28 | Ricoh Company, Ltd. | Methods of growing a group III nitride crystal |
| US7959729B2 (en) * | 2003-03-17 | 2011-06-14 | Osaka University | Method for producing group-III-element nitride single crystals and apparatus used therein |
| JP4881553B2 (ja) * | 2003-09-18 | 2012-02-22 | 三菱化学株式会社 | 13族窒化物結晶の製造方法 |
| US7009215B2 (en) * | 2003-10-24 | 2006-03-07 | General Electric Company | Group III-nitride based resonant cavity light emitting devices fabricated on single crystal gallium nitride substrates |
| JP5375740B2 (ja) * | 2004-01-29 | 2013-12-25 | 三菱化学株式会社 | 周期表第13族金属窒化物結晶の製造方法及びそれを用いた半導体デバイスの製造方法。 |
| JP4541935B2 (ja) * | 2004-03-10 | 2010-09-08 | 三菱化学株式会社 | 窒化物結晶の製造方法 |
| JP5356933B2 (ja) * | 2004-03-10 | 2013-12-04 | 三菱化学株式会社 | 窒化物結晶の製造装置 |
| EP1734158B1 (en) * | 2004-03-31 | 2012-01-04 | NGK Insulators, Ltd. | Gallium nitride single crystal growing method |
| JP2005298269A (ja) * | 2004-04-12 | 2005-10-27 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Iii族窒化物結晶基板およびその製造方法ならびにiii族窒化物半導体デバイス |
| JP4714143B2 (ja) * | 2004-05-19 | 2011-06-29 | 住友電気工業株式会社 | Iii族窒化物半導体結晶の製造方法 |
| EP1769105B1 (en) * | 2004-06-11 | 2014-05-14 | Ammono S.A. | Bulk mono-crystalline gallium nitride and method for its preparation |
| PL371405A1 (pl) * | 2004-11-26 | 2006-05-29 | Ammono Sp.Z O.O. | Sposób wytwarzania objętościowych monokryształów metodą wzrostu na zarodku |
| US8858708B1 (en) | 2005-01-03 | 2014-10-14 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Polycrystalline III-nitrides |
| US7704324B2 (en) * | 2005-01-25 | 2010-04-27 | General Electric Company | Apparatus for processing materials in supercritical fluids and methods thereof |
| US7316746B2 (en) * | 2005-03-18 | 2008-01-08 | General Electric Company | Crystals for a semiconductor radiation detector and method for making the crystals |
| DE102005020741A1 (de) * | 2005-05-02 | 2006-03-30 | Basf Ag | Verwendung von flüssigen Farbmittelzubereitungen zur Einfärbung von Cellulose/Polymer-Verbundwerkstoffen |
| JP5023312B2 (ja) * | 2005-07-01 | 2012-09-12 | 三菱化学株式会社 | 超臨界溶媒を用いた結晶製造方法、結晶成長装置、結晶およびデバイス |
| EP1960570A2 (en) | 2005-11-28 | 2008-08-27 | Crystal Is, Inc. | Large aluminum nitride crystals with reduced defects and methods of making them |
| JP5281408B2 (ja) * | 2005-12-02 | 2013-09-04 | クリスタル・イズ,インコーポレイテッド | ドープされた窒化アルミニウム結晶及びそれを製造する方法 |
| US7942970B2 (en) | 2005-12-20 | 2011-05-17 | Momentive Performance Materials Inc. | Apparatus for making crystalline composition |
| US9034103B2 (en) * | 2006-03-30 | 2015-05-19 | Crystal Is, Inc. | Aluminum nitride bulk crystals having high transparency to ultraviolet light and methods of forming them |
| EP2007933B1 (en) * | 2006-03-30 | 2017-05-10 | Crystal Is, Inc. | Methods for controllable doping of aluminum nitride bulk crystals |
| US8357243B2 (en) | 2008-06-12 | 2013-01-22 | Sixpoint Materials, Inc. | Method for testing group III-nitride wafers and group III-nitride wafers with test data |
| US20070234946A1 (en) * | 2006-04-07 | 2007-10-11 | Tadao Hashimoto | Method for growing large surface area gallium nitride crystals in supercritical ammonia and lagre surface area gallium nitride crystals |
| WO2007149487A2 (en) * | 2006-06-21 | 2007-12-27 | The Regents Of The University Of California | Opto-electronic and electronic devices using n-face or m-plane gan substrate prepared with ammonothermal growth |
| KR100894959B1 (ko) * | 2006-07-28 | 2009-04-27 | 주식회사 엘지화학 | Ⅲ족 원소 질화물 결정체 분말의 합성방법 및 이에 의하여제조된 ⅲ족 원소 질화물 결정체 분말 |
| CN101522962A (zh) * | 2006-10-16 | 2009-09-02 | 三菱化学株式会社 | 氮化物半导体的制造方法、结晶生长速度增加剂、氮化物单晶、晶片及器件 |
| WO2008051589A2 (en) * | 2006-10-25 | 2008-05-02 | The Regents Of The University Of California | Method for growing group iii-nitride crystals in a mixture of supercritical ammonia and nitrogen, and group iii-nitride crystals grown thereby |
| US9771666B2 (en) | 2007-01-17 | 2017-09-26 | Crystal Is, Inc. | Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth |
| US8323406B2 (en) | 2007-01-17 | 2012-12-04 | Crystal Is, Inc. | Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth |
| US8080833B2 (en) * | 2007-01-26 | 2011-12-20 | Crystal Is, Inc. | Thick pseudomorphic nitride epitaxial layers |
| CN101652832B (zh) * | 2007-01-26 | 2011-06-22 | 晶体公司 | 厚的赝晶氮化物外延层 |
| US8088220B2 (en) * | 2007-05-24 | 2012-01-03 | Crystal Is, Inc. | Deep-eutectic melt growth of nitride crystals |
| US7727874B2 (en) * | 2007-09-14 | 2010-06-01 | Kyma Technologies, Inc. | Non-polar and semi-polar GaN substrates, devices, and methods for making them |
| JP5751513B2 (ja) | 2007-09-19 | 2015-07-22 | ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア | 窒化ガリウムのバルク結晶とその成長方法 |
| JP4816633B2 (ja) * | 2007-12-26 | 2011-11-16 | 三菱化学株式会社 | 窒化物単結晶の製造方法 |
| TWI487817B (zh) * | 2008-02-25 | 2015-06-11 | Sixpoint Materials Inc | 用於製造第iii族氮化物晶圓之方法及第iii族氮化物晶圓 |
| WO2009149299A1 (en) | 2008-06-04 | 2009-12-10 | Sixpoint Materials | Methods for producing improved crystallinty group iii-nitride crystals from initial group iii-nitride seed by ammonothermal growth |
| EP2291551B1 (en) | 2008-06-04 | 2018-04-25 | SixPoint Materials, Inc. | High-pressure vessel for growing group iii nitride crystals and method of growing group iii nitride crystals using high-pressure vessel and group iii nitride crystal |
| US8097081B2 (en) * | 2008-06-05 | 2012-01-17 | Soraa, Inc. | High pressure apparatus and method for nitride crystal growth |
| US8871024B2 (en) | 2008-06-05 | 2014-10-28 | Soraa, Inc. | High pressure apparatus and method for nitride crystal growth |
| US9157167B1 (en) | 2008-06-05 | 2015-10-13 | Soraa, Inc. | High pressure apparatus and method for nitride crystal growth |
| US8303710B2 (en) * | 2008-06-18 | 2012-11-06 | Soraa, Inc. | High pressure apparatus and method for nitride crystal growth |
| US20090320745A1 (en) * | 2008-06-25 | 2009-12-31 | Soraa, Inc. | Heater device and method for high pressure processing of crystalline materials |
| US9404197B2 (en) | 2008-07-07 | 2016-08-02 | Soraa, Inc. | Large area, low-defect gallium-containing nitride crystals, method of making, and method of use |
| WO2011044554A1 (en) | 2009-10-09 | 2011-04-14 | Soraa, Inc. | Method for synthesis of high quality large area bulk gallium based crystals |
| US20100003492A1 (en) * | 2008-07-07 | 2010-01-07 | Soraa, Inc. | High quality large area bulk non-polar or semipolar gallium based substrates and methods |
| WO2010017148A1 (en) * | 2008-08-04 | 2010-02-11 | Soraa, Inc. | White light devices using non-polar or semipolar gallium containing materials and phosphors |
| US8284810B1 (en) | 2008-08-04 | 2012-10-09 | Soraa, Inc. | Solid state laser device using a selected crystal orientation in non-polar or semi-polar GaN containing materials and methods |
| US8323405B2 (en) * | 2008-08-07 | 2012-12-04 | Soraa, Inc. | Process and apparatus for growing a crystalline gallium-containing nitride using an azide mineralizer |
| US8430958B2 (en) * | 2008-08-07 | 2013-04-30 | Soraa, Inc. | Apparatus and method for seed crystal utilization in large-scale manufacturing of gallium nitride |
| US8979999B2 (en) * | 2008-08-07 | 2015-03-17 | Soraa, Inc. | Process for large-scale ammonothermal manufacturing of gallium nitride boules |
| US8021481B2 (en) | 2008-08-07 | 2011-09-20 | Soraa, Inc. | Process and apparatus for large-scale manufacturing of bulk monocrystalline gallium-containing nitride |
| US10036099B2 (en) | 2008-08-07 | 2018-07-31 | Slt Technologies, Inc. | Process for large-scale ammonothermal manufacturing of gallium nitride boules |
| US8148801B2 (en) * | 2008-08-25 | 2012-04-03 | Soraa, Inc. | Nitride crystal with removable surface layer and methods of manufacture |
| US7976630B2 (en) | 2008-09-11 | 2011-07-12 | Soraa, Inc. | Large-area seed for ammonothermal growth of bulk gallium nitride and method of manufacture |
| US8354679B1 (en) | 2008-10-02 | 2013-01-15 | Soraa, Inc. | Microcavity light emitting diode method of manufacture |
| WO2010045567A1 (en) * | 2008-10-16 | 2010-04-22 | Sixpoint Materials, Inc. | Reactor design for growing group iii nitride crystals and method of growing group iii nitride crystals |
| US8455894B1 (en) | 2008-10-17 | 2013-06-04 | Soraa, Inc. | Photonic-crystal light emitting diode and method of manufacture |
| US20110203514A1 (en) * | 2008-11-07 | 2011-08-25 | The Regents Of The University Of California | Novel vessel designs and relative placements of the source material and seed crystals with respect to the vessel for the ammonothermal growth of group-iii nitride crystals |
| US20110212013A1 (en) * | 2008-11-07 | 2011-09-01 | The Regents Of The University Of California | Addition of hydrogen and/or nitrogen containing compounds to the nitrogen-containing solvent used during the ammonothermal growth of group-iii nitride crystals |
| KR20110093856A (ko) * | 2008-11-07 | 2011-08-18 | 더 리전츠 오브 더 유니버시티 오브 캘리포니아 | Ⅲ족 질화물 결정들의 암모노열 성장 동안의 보론-함유 화합물들, 가스들 및 유체들의 사용 |
| KR20110093857A (ko) * | 2008-11-07 | 2011-08-18 | 더 리전츠 오브 더 유니버시티 오브 캘리포니아 | Ⅲ족 질화물 결정의 암모노열 성장 동안의 ⅲ족 질화물 결정의 상이한 노출된 결정학적 파세트들의 상대적인 성장 속도들의 제어 |
| WO2010060034A1 (en) * | 2008-11-24 | 2010-05-27 | Sixpoint Materials, Inc. | METHODS FOR PRODUCING GaN NUTRIENT FOR AMMONOTHERMAL GROWTH |
| US9589792B2 (en) | 2012-11-26 | 2017-03-07 | Soraa, Inc. | High quality group-III metal nitride crystals, methods of making, and methods of use |
| USRE47114E1 (en) | 2008-12-12 | 2018-11-06 | Slt Technologies, Inc. | Polycrystalline group III metal nitride with getter and method of making |
| US9543392B1 (en) | 2008-12-12 | 2017-01-10 | Soraa, Inc. | Transparent group III metal nitride and method of manufacture |
| US20100147210A1 (en) * | 2008-12-12 | 2010-06-17 | Soraa, Inc. | high pressure apparatus and method for nitride crystal growth |
| US8461071B2 (en) * | 2008-12-12 | 2013-06-11 | Soraa, Inc. | Polycrystalline group III metal nitride with getter and method of making |
| US8878230B2 (en) | 2010-03-11 | 2014-11-04 | Soraa, Inc. | Semi-insulating group III metal nitride and method of manufacture |
| US8987156B2 (en) | 2008-12-12 | 2015-03-24 | Soraa, Inc. | Polycrystalline group III metal nitride with getter and method of making |
| US20110100291A1 (en) * | 2009-01-29 | 2011-05-05 | Soraa, Inc. | Plant and method for large-scale ammonothermal manufacturing of gallium nitride boules |
| US8299473B1 (en) | 2009-04-07 | 2012-10-30 | Soraa, Inc. | Polarized white light devices using non-polar or semipolar gallium containing materials and transparent phosphors |
| WO2010129718A2 (en) | 2009-05-05 | 2010-11-11 | Sixpoint Materials, Inc. | Growth reactor for gallium-nitride crystals using ammonia and hydrogen chloride |
| US8306081B1 (en) | 2009-05-27 | 2012-11-06 | Soraa, Inc. | High indium containing InGaN substrates for long wavelength optical devices |
| US9250044B1 (en) | 2009-05-29 | 2016-02-02 | Soraa Laser Diode, Inc. | Gallium and nitrogen containing laser diode dazzling devices and methods of use |
| US8509275B1 (en) | 2009-05-29 | 2013-08-13 | Soraa, Inc. | Gallium nitride based laser dazzling device and method |
| US9800017B1 (en) | 2009-05-29 | 2017-10-24 | Soraa Laser Diode, Inc. | Laser device and method for a vehicle |
| US20100314551A1 (en) * | 2009-06-11 | 2010-12-16 | Bettles Timothy J | In-line Fluid Treatment by UV Radiation |
| US8435347B2 (en) | 2009-09-29 | 2013-05-07 | Soraa, Inc. | High pressure apparatus with stackable rings |
| WO2011065436A1 (ja) | 2009-11-27 | 2011-06-03 | 三菱化学株式会社 | 窒化物結晶の製造方法、製造容器および部材 |
| JP2010077022A (ja) * | 2009-11-30 | 2010-04-08 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Iii族窒化物結晶基板およびその製造方法ならびにiii族窒化物半導体デバイス |
| US9564320B2 (en) | 2010-06-18 | 2017-02-07 | Soraa, Inc. | Large area nitride crystal and method for making it |
| WO2012003304A1 (en) | 2010-06-30 | 2012-01-05 | Crystal Is, Inc. | Growth of large aluminum nitride single crystals with thermal-gradient control |
| US8729559B2 (en) | 2010-10-13 | 2014-05-20 | Soraa, Inc. | Method of making bulk InGaN substrates and devices thereon |
| EP2660365B1 (en) | 2010-12-27 | 2023-03-22 | Mitsubishi Chemical Corporation | Method for producing gan semiconductor crystal, and apparatus for crystal production |
| US8786053B2 (en) | 2011-01-24 | 2014-07-22 | Soraa, Inc. | Gallium-nitride-on-handle substrate materials and devices and method of manufacture |
| WO2012128263A1 (ja) | 2011-03-22 | 2012-09-27 | 三菱化学株式会社 | 窒化物結晶の製造方法 |
| US8492185B1 (en) | 2011-07-14 | 2013-07-23 | Soraa, Inc. | Large area nonpolar or semipolar gallium and nitrogen containing substrate and resulting devices |
| US8962359B2 (en) | 2011-07-19 | 2015-02-24 | Crystal Is, Inc. | Photon extraction from nitride ultraviolet light-emitting devices |
| KR20140059823A (ko) * | 2011-08-26 | 2014-05-16 | 콘삭 코퍼레이션 | 소모성 전극 진공 아크 재용해 공정에 의한 반금속의 정제 |
| US9694158B2 (en) | 2011-10-21 | 2017-07-04 | Ahmad Mohamad Slim | Torque for incrementally advancing a catheter during right heart catheterization |
| US10029955B1 (en) | 2011-10-24 | 2018-07-24 | Slt Technologies, Inc. | Capsule for high pressure, high temperature processing of materials and methods of use |
| WO2013062042A1 (ja) | 2011-10-28 | 2013-05-02 | 三菱化学株式会社 | 窒化物結晶の製造方法および窒化物結晶 |
| US8482104B2 (en) | 2012-01-09 | 2013-07-09 | Soraa, Inc. | Method for growth of indium-containing nitride films |
| US10145026B2 (en) | 2012-06-04 | 2018-12-04 | Slt Technologies, Inc. | Process for large-scale ammonothermal manufacturing of semipolar gallium nitride boules |
| US9275912B1 (en) | 2012-08-30 | 2016-03-01 | Soraa, Inc. | Method for quantification of extended defects in gallium-containing nitride crystals |
| US9299555B1 (en) | 2012-09-28 | 2016-03-29 | Soraa, Inc. | Ultrapure mineralizers and methods for nitride crystal growth |
| JP6275817B2 (ja) | 2013-03-15 | 2018-02-07 | クリスタル アイエス, インコーポレーテッドCrystal Is, Inc. | 仮像電子及び光学電子装置に対する平面コンタクト |
| US9650723B1 (en) | 2013-04-11 | 2017-05-16 | Soraa, Inc. | Large area seed crystal for ammonothermal crystal growth and method of making |
| KR101744923B1 (ko) | 2015-06-09 | 2017-06-08 | 한국화학연구원 | 신규한 기밀구조를 가지는 단결정 성장용 압력용기 |
| US11437774B2 (en) | 2015-08-19 | 2022-09-06 | Kyocera Sld Laser, Inc. | High-luminous flux laser-based white light source |
| US10648102B2 (en) | 2017-01-09 | 2020-05-12 | Slt Technologies, Inc. | Oxygen-doped group III metal nitride and method of manufacture |
| US10174438B2 (en) | 2017-03-30 | 2019-01-08 | Slt Technologies, Inc. | Apparatus for high pressure reaction |
| CN107089646B (zh) * | 2017-06-20 | 2019-06-28 | 陕西师范大学 | 一种GaN纳米颗粒的制备方法 |
| US11421843B2 (en) | 2018-12-21 | 2022-08-23 | Kyocera Sld Laser, Inc. | Fiber-delivered laser-induced dynamic light system |
| US11239637B2 (en) | 2018-12-21 | 2022-02-01 | Kyocera Sld Laser, Inc. | Fiber delivered laser induced white light system |
| US11466384B2 (en) | 2019-01-08 | 2022-10-11 | Slt Technologies, Inc. | Method of forming a high quality group-III metal nitride boule or wafer using a patterned substrate |
| US12152742B2 (en) | 2019-01-18 | 2024-11-26 | Kyocera Sld Laser, Inc. | Laser-based light guide-coupled wide-spectrum light system |
| US12000552B2 (en) | 2019-01-18 | 2024-06-04 | Kyocera Sld Laser, Inc. | Laser-based fiber-coupled white light system for a vehicle |
| US11884202B2 (en) | 2019-01-18 | 2024-01-30 | Kyocera Sld Laser, Inc. | Laser-based fiber-coupled white light system |
| WO2021162727A1 (en) | 2020-02-11 | 2021-08-19 | SLT Technologies, Inc | Improved group iii nitride substrate, method of making, and method of use |
| US11721549B2 (en) | 2020-02-11 | 2023-08-08 | Slt Technologies, Inc. | Large area group III nitride crystals and substrates, methods of making, and methods of use |
| US12091771B2 (en) | 2020-02-11 | 2024-09-17 | Slt Technologies, Inc. | Large area group III nitride crystals and substrates, methods of making, and methods of use |
| JP7483669B2 (ja) | 2020-11-02 | 2024-05-15 | エスエルティー テクノロジーズ インコーポレイテッド | 窒化物結晶成長のための超高純度鉱化剤及び改良された方法 |
| US20240026563A1 (en) | 2022-07-20 | 2024-01-25 | Slt Technologies, Inc. | Compound internally-heated high-pressure apparatus for solvothermal crystal growth |
| CN117165939B (zh) * | 2023-10-30 | 2024-03-15 | 苏州大学 | 一种制备纳米氮化镓薄膜的设备及方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996041906A1 (en) * | 1995-06-13 | 1996-12-27 | Advanced Technology Materials, Inc. | Bulk single crystal gallium nitride and method of making same |
| EP0937790A2 (en) * | 1998-01-26 | 1999-08-25 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of making GaN single crystal and apparatus for making GaN single crystal |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5248957B2 (ko) * | 1973-12-04 | 1977-12-13 | ||
| JPS58161995A (ja) * | 1982-03-19 | 1983-09-26 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ダイヤモンドの合成方法 |
| EP0173764B1 (en) * | 1984-08-31 | 1989-12-13 | Gakei Electric Works Co., Ltd. | Single crystal growing method and apparatus |
| JPS62171998A (ja) * | 1986-01-22 | 1987-07-28 | Shinichi Hirano | ベリル単結晶の再結晶方法 |
| JPH0722692B2 (ja) * | 1988-08-05 | 1995-03-15 | 株式会社日本製鋼所 | 水熱合成用容器 |
| US5433169A (en) | 1990-10-25 | 1995-07-18 | Nichia Chemical Industries, Ltd. | Method of depositing a gallium nitride-based III-V group compound semiconductor crystal layer |
| US5306662A (en) | 1991-11-08 | 1994-04-26 | Nichia Chemical Industries, Ltd. | Method of manufacturing P-type compound semiconductor |
| PL173917B1 (pl) | 1993-08-10 | 1998-05-29 | Ct Badan Wysokocisnieniowych P | Sposób wytwarzania krystalicznej struktury wielowarstwowej |
| JPH07138094A (ja) * | 1993-11-16 | 1995-05-30 | Ngk Insulators Ltd | 酸化亜鉛単結晶の育成方法 |
| FR2724645B1 (fr) | 1994-09-19 | 1997-01-24 | Centre Nat Rech Scient | Procede d'obtention de bn cubique par une methode solvothermale avec utilisation d'hydrazine comme solvant |
| WO1997013891A1 (en) | 1995-10-13 | 1997-04-17 | Centrum Badan Wysokocisnieniowych | METHOD OF MANUFACTURING EPITAXIAL LAYERS OF GaN OR Ga(A1,In)N ON SINGLE CRYSTAL GaN AND MIXED Ga(A1,In)N SUBSTRATES |
| JPH11171699A (ja) * | 1997-12-16 | 1999-06-29 | Furukawa Electric Co Ltd:The | GaNP単結晶成長方法 |
| FR2796657B1 (fr) | 1999-07-20 | 2001-10-26 | Thomson Csf | Procede de synthese de materiaux massifs monocristallins en nitrures d'elements de la colonne iii du tableau de la classification periodique |
-
1999
- 1999-10-06 US US09/413,446 patent/US6398867B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-09-28 EP EP00967039A patent/EP1230005B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-09-28 JP JP2001527911A patent/JP4942270B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2000-09-28 WO PCT/US2000/026704 patent/WO2001024921A1/en not_active Ceased
- 2000-09-28 KR KR1020027004411A patent/KR100762019B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2000-09-28 DE DE60032793T patent/DE60032793T2/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-09-28 AT AT00967039T patent/ATE350143T1/de not_active IP Right Cessation
- 2000-09-28 CA CA002385713A patent/CA2385713A1/en not_active Abandoned
- 2000-09-28 AU AU77297/00A patent/AU7729700A/en not_active Abandoned
- 2000-10-02 TW TW089120475A patent/TWI272122B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996041906A1 (en) * | 1995-06-13 | 1996-12-27 | Advanced Technology Materials, Inc. | Bulk single crystal gallium nitride and method of making same |
| EP0937790A2 (en) * | 1998-01-26 | 1999-08-25 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method of making GaN single crystal and apparatus for making GaN single crystal |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2001024921A1 (en) | 2001-04-12 |
| EP1230005B1 (en) | 2007-01-03 |
| US6398867B1 (en) | 2002-06-04 |
| KR20020042705A (ko) | 2002-06-05 |
| DE60032793D1 (de) | 2007-02-15 |
| CA2385713A1 (en) | 2001-04-12 |
| WO2001024921A9 (en) | 2002-10-03 |
| JP2003511326A (ja) | 2003-03-25 |
| JP4942270B2 (ja) | 2012-05-30 |
| AU7729700A (en) | 2001-05-10 |
| EP1230005A1 (en) | 2002-08-14 |
| TWI272122B (en) | 2007-02-01 |
| DE60032793T2 (de) | 2007-11-08 |
| ATE350143T1 (de) | 2007-01-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100762019B1 (ko) | 결정질 질화갈륨 및 결정질 질화갈륨의 제조방법 | |
| CN100354458C (zh) | 第iii主族金属氮化物晶体的高温高压生长 | |
| EP2078105B1 (en) | Method for forming nitride crystals | |
| US6406540B1 (en) | Process and apparatus for the growth of nitride materials | |
| US7097707B2 (en) | GaN boule grown from liquid melt using GaN seed wafers | |
| US7803344B2 (en) | Method for growing group III-nitride crystals in a mixture of supercritical ammonia and nitrogen, and group III-nitride crystals grown thereby | |
| JP5751513B2 (ja) | 窒化ガリウムのバルク結晶とその成長方法 | |
| US20090092536A1 (en) | Crystal production process using supercritical solvent, crystal growth apparatus, crystal and device | |
| US20070158785A1 (en) | Gallium nitride crystals and wafers and method of making | |
| CN101573479A (zh) | 氮化镓晶体以及其制备方法 | |
| KR100322374B1 (ko) | 질화물결정의제조방법,혼합물,액상성장방법,질화물결정,질화물결정분말및기상성장방법 | |
| US20130340672A1 (en) | Using boron-containing compounds, gasses and fluids during ammonothermal growth of group-iii nitride crystals | |
| JP2002241112A (ja) | 13族窒化物結晶の製造方法 | |
| CN103443337A (zh) | 氮化物结晶的制造方法 | |
| JP2014534943A (ja) | Iii族窒化物結晶中への不純物混入を低減させるためのアルカリ土類金属の使用 | |
| JP2012171863A (ja) | 窒化物結晶の製造方法および結晶製造装置 | |
| Callahan et al. | Hydrothermal and ammonothermal growth of ZnO and GaN | |
| JP2012153598A (ja) | 窒化物結晶の製造方法、反応容器および結晶製造装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0105 | International application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A15-nap-PA0105 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| A201 | Request for examination | ||
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| T11-X000 | Administrative time limit extension requested |
St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000 |
|
| T11-X000 | Administrative time limit extension requested |
St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000 |
|
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
Fee payment year number: 1 St.27 status event code: A-2-2-U10-U12-oth-PR1002 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Fee payment year number: 4 St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Fee payment year number: 5 St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120905 Year of fee payment: 6 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Fee payment year number: 6 St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130909 Year of fee payment: 7 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Fee payment year number: 7 St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140905 Year of fee payment: 8 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Fee payment year number: 8 St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150904 Year of fee payment: 9 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Fee payment year number: 9 St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160908 Year of fee payment: 10 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Fee payment year number: 10 St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R14-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R14-asn-PN2301 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170818 Year of fee payment: 11 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Fee payment year number: 11 St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R14-asn-PN2301 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180329 Year of fee payment: 12 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Fee payment year number: 12 St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190624 Year of fee payment: 13 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Fee payment year number: 13 St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
Not in force date: 20200920 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20200920 St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R18-oth-X000 |