JPH01105520A - スパッタリング・ターゲット - Google Patents
スパッタリング・ターゲットInfo
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- JPH01105520A JPH01105520A JP26318587A JP26318587A JPH01105520A JP H01105520 A JPH01105520 A JP H01105520A JP 26318587 A JP26318587 A JP 26318587A JP 26318587 A JP26318587 A JP 26318587A JP H01105520 A JPH01105520 A JP H01105520A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F41/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties
- H01F41/14—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates
- H01F41/18—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or assembling magnets, inductances or transformers; Apparatus or processes specially adapted for manufacturing materials characterised by their magnetic properties for applying magnetic films to substrates by cathode sputtering
- H01F41/183—Sputtering targets therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
本発明は、例えば磁気光学素子に用いられる重希土類金
属・遷移金属合金磁性薄膜作成に用いるスパッタリング
・ターゲットに関する。
属・遷移金属合金磁性薄膜作成に用いるスパッタリング
・ターゲットに関する。
重希土類金属S遷移金屑合金薄膜の成膜には一般に真空
蒸着、スパッタリング等が用いられる。
蒸着、スパッタリング等が用いられる。
中でもスパッタリング法は他の成膜法に比べて磁気的に
優れた膜が得られる点や、マグネトロンスパッタリング
法の進歩により量産性が著しく向上したことなどの理由
で、今日では最も広(利用されている。
優れた膜が得られる点や、マグネトロンスパッタリング
法の進歩により量産性が著しく向上したことなどの理由
で、今日では最も広(利用されている。
スパッタリング法により多元素合金薄膜を形成する方法
として、′Ra方向及び面内方向に均一な組成の膜が得
られ、またスパッタリングを多数回繰り返し行っても、
得られる膜の組成は一定であることから、合金ターゲッ
トをスパッタリングする方法が適している。
として、′Ra方向及び面内方向に均一な組成の膜が得
られ、またスパッタリングを多数回繰り返し行っても、
得られる膜の組成は一定であることから、合金ターゲッ
トをスパッタリングする方法が適している。
しかし、合金ターゲット中に不純物が多く含まれると、
スパッタリングにより不純物が磁性薄膜に混入すること
になる。それにより、磁性薄膜の磁気特性が劣化し、同
時に長期信頼性を低下させる。そこで、本発明はこのよ
うな問題点を解決するもので、その目的とするところは
、磁性WIWXの本来育する磁気性能を十分引出し、尚
且つ長期間の信頼性を確保する磁性膜の作成を可能にす
る、スパッタリング・ターゲットを提供することにある
。
スパッタリングにより不純物が磁性薄膜に混入すること
になる。それにより、磁性薄膜の磁気特性が劣化し、同
時に長期信頼性を低下させる。そこで、本発明はこのよ
うな問題点を解決するもので、その目的とするところは
、磁性WIWXの本来育する磁気性能を十分引出し、尚
且つ長期間の信頼性を確保する磁性膜の作成を可能にす
る、スパッタリング・ターゲットを提供することにある
。
本発明のスパッタリング・ターゲットは、重希土類金属
及び遷移金属を主たる成分とする磁性膜、 膜を作成す
る際に用いるスパッタリング・ターゲットにおいて、酸
素含有量が重量比で400PPM以下であることを特徴
としている。さらに、前記スパッタリング・ターゲット
の、組成を原子比で、 ((LR)X (HR)I−x)yA−so−yと表
すとき(但し、LRは軽希土類金属Ce、Pr + N
d * S mのうち14以上、HRは重希土類金属
Gd、Tb、Dyのうち111類以上、AはFe、Co
のうちいずれかを必ず含む(LR)。
及び遷移金属を主たる成分とする磁性膜、 膜を作成す
る際に用いるスパッタリング・ターゲットにおいて、酸
素含有量が重量比で400PPM以下であることを特徴
としている。さらに、前記スパッタリング・ターゲット
の、組成を原子比で、 ((LR)X (HR)I−x)yA−so−yと表
すとき(但し、LRは軽希土類金属Ce、Pr + N
d * S mのうち14以上、HRは重希土類金属
Gd、Tb、Dyのうち111類以上、AはFe、Co
のうちいずれかを必ず含む(LR)。
(HR)以外の元素を表す。)X、yが各々、0.05
5X50.60 15≦y≦40 の範囲にある。
5X50.60 15≦y≦40 の範囲にある。
以下、実施例に基づいて本発明の詳細な説明する。本実
施例に用いたスパッタリング・ターゲットは特に断わら
ない限り、すべて純度99.0%以上の高純度金属の原
料を誘導加熱炉にて真空中で加熱・溶解した後、アルゴ
ン雰囲気で鋳造したものを直径10口、厚さ5 amの
円盤状に加工し、さらに銅板からなるバッキングプレー
トにインジウム系ハンダで接合して用いた。原料純度及
び鋳造条件を変えることにより、酸素濃度は重量比で2
00PPM 〜1000PPMI7)ターゲットが得ら
れた。比較例として用いた焼結ターゲット中の酸素濃度
は重量比で^2000PPMであった。
施例に用いたスパッタリング・ターゲットは特に断わら
ない限り、すべて純度99.0%以上の高純度金属の原
料を誘導加熱炉にて真空中で加熱・溶解した後、アルゴ
ン雰囲気で鋳造したものを直径10口、厚さ5 amの
円盤状に加工し、さらに銅板からなるバッキングプレー
トにインジウム系ハンダで接合して用いた。原料純度及
び鋳造条件を変えることにより、酸素濃度は重量比で2
00PPM 〜1000PPMI7)ターゲットが得ら
れた。比較例として用いた焼結ターゲット中の酸素濃度
は重量比で^2000PPMであった。
また、以下に示す組成は原子比である。
(実施例1)
作成した、鋳造ターゲットの組成を第−表に示す。これ
らのスパッタリング・ターゲットを用いて初期真空度5
.0XIO−’ Toor以下にチャンバー内を排気し
た後、キャリアーガスとしてArG導入L、300Wの
高周波電力をカソードに印加して、ガラス基板上に50
nmの膜厚に成膜した。磁性膜の酸化を防止するため真
空を破らずに連続して窒化アルミニウムと窒化ケイ素の
混合物を1100nの膜厚に形成した。第一図は、試料
番号1の組成で酸素濃度が重量比で200PPM、40
0PPM及cF1000PPMの81111のスパッタ
リング・ターゲットにより作成した試料の成膜直後のフ
ァラデー・ループと、60℃。
らのスパッタリング・ターゲットを用いて初期真空度5
.0XIO−’ Toor以下にチャンバー内を排気し
た後、キャリアーガスとしてArG導入L、300Wの
高周波電力をカソードに印加して、ガラス基板上に50
nmの膜厚に成膜した。磁性膜の酸化を防止するため真
空を破らずに連続して窒化アルミニウムと窒化ケイ素の
混合物を1100nの膜厚に形成した。第一図は、試料
番号1の組成で酸素濃度が重量比で200PPM、40
0PPM及cF1000PPMの81111のスパッタ
リング・ターゲットにより作成した試料の成膜直後のフ
ァラデー・ループと、60℃。
R890%の恒温恒湿槽内に20時間放置した後の、フ
ァラデー・ループを示し、第二表はファラデー回転角と
ファラデー・ループから得られた保磁力の変化を示す。
ァラデー・ループを示し、第二表はファラデー回転角と
ファラデー・ループから得られた保磁力の変化を示す。
スパッタリング・ターゲットの、酸素6度が低い試料の
順に成膜直後のファラデー回転角、保磁力ともに大きべ
、また60℃。
順に成膜直後のファラデー回転角、保磁力ともに大きべ
、また60℃。
R)1130%中に20時間放置しても、ファラデー回
転角、保磁力の低下が少ない、試料番号2〜8の組成の
スパッタリング・ターゲットにより作成した試料につい
ても同様な結果が得ら、れた。このことから、低@素濃
度のスパッタリング・ターゲットを用いて磁性薄膜を作
成することは磁気特性の改善と磁気特性の長期信頼性に
効果があることがわかる。
転角、保磁力の低下が少ない、試料番号2〜8の組成の
スパッタリング・ターゲットにより作成した試料につい
ても同様な結果が得ら、れた。このことから、低@素濃
度のスパッタリング・ターゲットを用いて磁性薄膜を作
成することは磁気特性の改善と磁気特性の長期信頼性に
効果があることがわかる。
第−表
第二表
(実施例2)
案内溝付きのポリカーボネイト基板に、第−保Nff1
として窒化アルミニウムと窒化ケイ素の混合物を110
0nの膜厚に形成し、連続して試料番号1の組成で酸素
濃度が重量比で200PPM。
として窒化アルミニウムと窒化ケイ素の混合物を110
0nの膜厚に形成し、連続して試料番号1の組成で酸素
濃度が重量比で200PPM。
400PPM及び11000PPのターゲット、比較例
として試料番号9の組成の焼結ターゲット(酸素濃度2
000PPM)4種類をスパッタリングすることにより
光磁気配ti層を40nmの膜厚で形成し、前記光磁気
記録層上に第二像F[とじて第−保N層と同一組成のも
のを1100nの膜厚に形成して、4811類の光磁気
記録媒体を作製した。4種類の記録媒体を60°C,R
H90%、の恒温恒湿槽内に放置して耐候性試験を行い
、第2図は4N類の記録媒体のファラデ一方式による再
生信号のCN比の経時変化を示す。尚、線速4.7m/
s、記録周波数IMHz、分解能帯域30KHzの条件
にて評価を行った。
として試料番号9の組成の焼結ターゲット(酸素濃度2
000PPM)4種類をスパッタリングすることにより
光磁気配ti層を40nmの膜厚で形成し、前記光磁気
記録層上に第二像F[とじて第−保N層と同一組成のも
のを1100nの膜厚に形成して、4811類の光磁気
記録媒体を作製した。4種類の記録媒体を60°C,R
H90%、の恒温恒湿槽内に放置して耐候性試験を行い
、第2図は4N類の記録媒体のファラデ一方式による再
生信号のCN比の経時変化を示す。尚、線速4.7m/
s、記録周波数IMHz、分解能帯域30KHzの条件
にて評価を行った。
第2図から明らかなように、同一組成の記録媒体を比較
すると酸素含有量が少ないターゲットをスパッタリング
することにより作製した記録媒体の方がより高いCN比
を示し、また長期間に渡ってCN比の低下が少ない、i
!2素含育量装置い焼結ターゲットをスパッタリングす
ることにより作成した記録媒体は、作成直後のCN比は
試料番号1の組成の酸素濃度が重量比で200PPMの
ターゲットをスパッタリングすることにより作製した記
録媒体のCN比とほぼ同一であるが、CN比の劣化速度
は4N類の記録媒体の中でも最も大きな値である。試料
番号2〜8の組成のターゲットにより作成した試料につ
いても試料番号1と同様な結果が得られた。
すると酸素含有量が少ないターゲットをスパッタリング
することにより作製した記録媒体の方がより高いCN比
を示し、また長期間に渡ってCN比の低下が少ない、i
!2素含育量装置い焼結ターゲットをスパッタリングす
ることにより作成した記録媒体は、作成直後のCN比は
試料番号1の組成の酸素濃度が重量比で200PPMの
ターゲットをスパッタリングすることにより作製した記
録媒体のCN比とほぼ同一であるが、CN比の劣化速度
は4N類の記録媒体の中でも最も大きな値である。試料
番号2〜8の組成のターゲットにより作成した試料につ
いても試料番号1と同様な結果が得られた。
以上のことから、ターゲット中の酸素含有量をできる限
り低く抑えることにより長期倍額性の向上に効果がある
ことがわかる。
り低く抑えることにより長期倍額性の向上に効果がある
ことがわかる。
以上のべたように本発明によれば、重希土類金属及び遷
移金属を主たる成分とする磁性薄膜の特性を引き出すこ
とが可能で、また長期信頼性を向上させるという効果を
育する。
移金属を主たる成分とする磁性薄膜の特性を引き出すこ
とが可能で、また長期信頼性を向上させるという効果を
育する。
第1図(a)、(b)、(c)は、それぞれ試料番号1
の組成で酸素濃度が重量比で200PPM、400PP
M及び11000PPのターゲットを、スパッタリング
して形成直後の磁性膜のファラデー回転角の、磁場依存
性を表す図。第1図(d)、(e)、(f)は、それぞ
れ試料番号1の゛組成で酸素濃度が重量比で200PP
M、400PPM及び11000PPのターゲットをス
パッタリングして形成した磁性膜を60℃、R890%
の恒温恒湿槽内に20時間放置した後の磁性膜のファラ
デー回転角の磁場依存性を示す図。 第2図は、試料番号1の組成で酸素濃度が重量比で20
0PPM、400PPM及び11000PPのターゲッ
ト、及び試料番号9の組成の酸素濃度が重量比で200
0PPMのターゲットをスパッタリングして作製した光
磁気記録媒体を60’C1RH90%の恒温恒湿槽内に
放置した時のCN比の経時変化を表す図、尚・は試料番
号1の組成で酸素濃度がff1ffi比で200PPM
、Oは試料番号1の、組成で酸素濃度が重量比で400
PPM、ムは試料番号1の組成で酸素濃度が重量比で1
1000PP、Xは試料番号θの組成で酸素温度が重量
比で2000PPMのターゲットをスパッタリングして
作製した光磁気記録媒体を表す。 以 上 出願人 セイコーエプソン株式会社 窮1図(α) 第1図■ 葛1図(b’) θf[mr^〕 第1 m ce) 81図(c) 8f CM道〕 第11] (f)
の組成で酸素濃度が重量比で200PPM、400PP
M及び11000PPのターゲットを、スパッタリング
して形成直後の磁性膜のファラデー回転角の、磁場依存
性を表す図。第1図(d)、(e)、(f)は、それぞ
れ試料番号1の゛組成で酸素濃度が重量比で200PP
M、400PPM及び11000PPのターゲットをス
パッタリングして形成した磁性膜を60℃、R890%
の恒温恒湿槽内に20時間放置した後の磁性膜のファラ
デー回転角の磁場依存性を示す図。 第2図は、試料番号1の組成で酸素濃度が重量比で20
0PPM、400PPM及び11000PPのターゲッ
ト、及び試料番号9の組成の酸素濃度が重量比で200
0PPMのターゲットをスパッタリングして作製した光
磁気記録媒体を60’C1RH90%の恒温恒湿槽内に
放置した時のCN比の経時変化を表す図、尚・は試料番
号1の組成で酸素濃度がff1ffi比で200PPM
、Oは試料番号1の、組成で酸素濃度が重量比で400
PPM、ムは試料番号1の組成で酸素濃度が重量比で1
1000PP、Xは試料番号θの組成で酸素温度が重量
比で2000PPMのターゲットをスパッタリングして
作製した光磁気記録媒体を表す。 以 上 出願人 セイコーエプソン株式会社 窮1図(α) 第1図■ 葛1図(b’) θf[mr^〕 第1 m ce) 81図(c) 8f CM道〕 第11] (f)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)スパッタリング法により重希土類金属及び遷移金
属を主たる成分とする磁性薄膜を作成する際に用いるス
パッタリング・ターゲットにおいて、酸素含有量が重量
比で400PPM以下であることを特徴とするスパッタ
リング・ターゲット。 (2)前記スパッタリング・ターゲットの組成を、原子
比で {(LR)_X(HR)_1_−_X}_YA_1_0
_0_−_Yと表すとき(但し、LRは軽希土類金属C
e,Pr,Nd,Smのうち1種類以上、HRは重希土
類金属Gd,Tb,Dyの、うち1種類以上、AはFe
,Coのうちの、いずれかを必ず含む(LR),(HR
)以外の元素を表す)、X,Yが各々、 0.05≦X≦0.60 15≦Y≦40 の範囲にあることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
載のスパッタリング・ターゲット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26318587A JPH01105520A (ja) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | スパッタリング・ターゲット |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26318587A JPH01105520A (ja) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | スパッタリング・ターゲット |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01105520A true JPH01105520A (ja) | 1989-04-24 |
Family
ID=17385950
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26318587A Pending JPH01105520A (ja) | 1987-10-19 | 1987-10-19 | スパッタリング・ターゲット |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01105520A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8179776B2 (en) | 1999-03-02 | 2012-05-15 | Panasonic Corporation | OFDM transmission/reception apparatus |
-
1987
- 1987-10-19 JP JP26318587A patent/JPH01105520A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8179776B2 (en) | 1999-03-02 | 2012-05-15 | Panasonic Corporation | OFDM transmission/reception apparatus |
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