JPH01138761A - 微細電極の形成法 - Google Patents
微細電極の形成法Info
- Publication number
- JPH01138761A JPH01138761A JP29600487A JP29600487A JPH01138761A JP H01138761 A JPH01138761 A JP H01138761A JP 29600487 A JP29600487 A JP 29600487A JP 29600487 A JP29600487 A JP 29600487A JP H01138761 A JPH01138761 A JP H01138761A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resist
- formation
- pattern
- electrode
- negative resist
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title abstract description 7
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims abstract description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 11
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims abstract description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 abstract description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 abstract 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 235000008331 Pinus X rigitaeda Nutrition 0.000 description 1
- 235000011613 Pinus brutia Nutrition 0.000 description 1
- 241000018646 Pinus brutia Species 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Junction Field-Effect Transistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は微細電(への形成法に関し、特に抵抗の低減化
されたF字型微細電極の形成法に関する。
されたF字型微細電極の形成法に関する。
[従来の技術]
従来、微細電極の抵抗を下げる電極の形成方法トシテ、
持分U31−77370q公報rパターン形成X]に記
載の方法が知られている。前記公報記載の形成法を第2
図(a)〜(C)に示す。即ら、まず第2図(a)に示
すように低感度のポジ型レジスト21を基板20上に塗
布し、ついで高感度のポジ型レジスト22を上記低感度
ポジ型レジスト21土に塗布し、電子線23により露光
する。次いで現像して、マツシュルーム型(丁型)のレ
ジストパターンを17だ後、第2図(b)に示すように
金属24を蒸着し、有機洗浄によりレジス1〜21.2
2およびレジス1〜22上の蒸着金属24を除去するこ
とによって、第2図(C)に示すようにマツシュルーム
型(丁型)の電極25が形成され、電極抵抗の低減化が
図られている。
持分U31−77370q公報rパターン形成X]に記
載の方法が知られている。前記公報記載の形成法を第2
図(a)〜(C)に示す。即ら、まず第2図(a)に示
すように低感度のポジ型レジスト21を基板20上に塗
布し、ついで高感度のポジ型レジスト22を上記低感度
ポジ型レジスト21土に塗布し、電子線23により露光
する。次いで現像して、マツシュルーム型(丁型)のレ
ジストパターンを17だ後、第2図(b)に示すように
金属24を蒸着し、有機洗浄によりレジス1〜21.2
2およびレジス1〜22上の蒸着金属24を除去するこ
とによって、第2図(C)に示すようにマツシュルーム
型(丁型)の電極25が形成され、電極抵抗の低減化が
図られている。
[発明が解決しようとする問題点1
以上述べた形・成仏は、電4※の抵抗が小さくできる点
で従来の単層レジストによって形成された電極に比べて
改善されているものの、高感度レジメ1へを用いている
ため、両側への電極の張出しが生じ、オフセットをかけ
るのが困1′i:″あった。
で従来の単層レジストによって形成された電極に比べて
改善されているものの、高感度レジメ1へを用いている
ため、両側への電極の張出しが生じ、オフセットをかけ
るのが困1′i:″あった。
本発明の目的は、このような従来の欠点を除去せしめて
、オフセットをかけやすく、かつ抵抗の低減化された電
極の形成法を提供覆ることにおる。
、オフセットをかけやすく、かつ抵抗の低減化された電
極の形成法を提供覆ることにおる。
[問題点を解決覆るための手段1
本発明は、半導体基板上にネガ型しジメ1〜による所定
のパターンを形成する工程と、前記パターン形成面上に
ポジ型レジスト層を形成する工程と、首記ネガ型レジメ
1〜端部を含むネガ型レジスト面および基板面が共に露
光11るように前記ポジをレジス1〜を露光・現像して
所定のパターンを形成づる工程と、前記パターン形成面
上に方向性を有して金属を蒸着する工程と、前記各レジ
ストおよびポジ型レジスト上の金属を除去して断面[−
字型の金属パターンを形成する工程とを備えてなること
を特徴とする微細電極の形成法でおる。
のパターンを形成する工程と、前記パターン形成面上に
ポジ型レジスト層を形成する工程と、首記ネガ型レジメ
1〜端部を含むネガ型レジスト面および基板面が共に露
光11るように前記ポジをレジス1〜を露光・現像して
所定のパターンを形成づる工程と、前記パターン形成面
上に方向性を有して金属を蒸着する工程と、前記各レジ
ストおよびポジ型レジスト上の金属を除去して断面[−
字型の金属パターンを形成する工程とを備えてなること
を特徴とする微細電極の形成法でおる。
[作用1
本発明においては、ネガ型レジストによるパターン而お
よび半導体基板面が共に露ソするように単層のポジ型レ
ジストの露光が行われるので、金属を蒸着することによ
りネガ型レジストの存在する方向に張出しが生じ、「型
の低抵抗電極が形成できる。一方、ネガ型レジストの存
在しない方向には、電極の張出しが存在しないので、こ
の方向へのオフセットがかけやすくなる。また、ポジ型
レジストを露光できるパターンの幅が小さくできなくて
も、基板と接する部分での電極幅を小さくすることがで
きる。
よび半導体基板面が共に露ソするように単層のポジ型レ
ジストの露光が行われるので、金属を蒸着することによ
りネガ型レジストの存在する方向に張出しが生じ、「型
の低抵抗電極が形成できる。一方、ネガ型レジストの存
在しない方向には、電極の張出しが存在しないので、こ
の方向へのオフセットがかけやすくなる。また、ポジ型
レジストを露光できるパターンの幅が小さくできなくて
も、基板と接する部分での電極幅を小さくすることがで
きる。
[実施例]
次に、図面を参照して、本発明の実施例について説明す
る。
る。
第1図(a)〜(e)は本発明による工程の一例を承り
概略断面図である。まず、第1図(a)に示すように基
板上にネガ型レジスト11(例えば、東し社製、α−C
MS (R))を塗布した後、露光・現像を行って所定
のレジストパターンを形成する。
概略断面図である。まず、第1図(a)に示すように基
板上にネガ型レジスト11(例えば、東し社製、α−C
MS (R))を塗布した後、露光・現像を行って所定
のレジストパターンを形成する。
次いで第1図(b)に示すように上記ネガ型レジスト1
1を覆うようにポジ型しジスl−12(例えばシラプレ
ー社製、MP−2415)を塗イhする。その後、第1
図(C)に示すように、ネガ型レジスト11の端部を含
むように、ポジ型レジスト12を露光し、現Sすること
によって、[型のレジス1へパターンを得ることができ
る。次いで第1図((1)に示1ように、方向f(を持
たせて電極となる金属13を蒸着する。次いで第1図(
e)に示すように、有機洗浄あるいはtmN (02)
プラズマによってレジメ1−11および12並びにレジ
スト11および12上の蒸着金属13を除去することに
よって[′型の電極14を1qることができる。
1を覆うようにポジ型しジスl−12(例えばシラプレ
ー社製、MP−2415)を塗イhする。その後、第1
図(C)に示すように、ネガ型レジスト11の端部を含
むように、ポジ型レジスト12を露光し、現Sすること
によって、[型のレジス1へパターンを得ることができ
る。次いで第1図((1)に示1ように、方向f(を持
たせて電極となる金属13を蒸着する。次いで第1図(
e)に示すように、有機洗浄あるいはtmN (02)
プラズマによってレジメ1−11および12並びにレジ
スト11および12上の蒸着金属13を除去することに
よって[′型の電極14を1qることができる。
[発明の効果]
以」二説明したように、本発明においては、一方におい
て電極の張出しを形成できるので低抵抗の電]〜が形成
できると共に、ネガ型しジメ上の存在しない方向には電
44疼の張出しが存在しないので、この方向へのオフセ
ットがかけやすくなる。また、ポジ型しジス1への露光
パターンとネガ型レジストパターンの手ね合U早を制御
することで、基板と接する部分の電極の幅を調整できる
等の効果を有する。
て電極の張出しを形成できるので低抵抗の電]〜が形成
できると共に、ネガ型しジメ上の存在しない方向には電
44疼の張出しが存在しないので、この方向へのオフセ
ットがかけやすくなる。また、ポジ型しジス1への露光
パターンとネガ型レジストパターンの手ね合U早を制御
することで、基板と接する部分の電極の幅を調整できる
等の効果を有する。
第1図は本発明による工程の一例を承り概略断面図、第
2図は従来例による電(へ形成工程の一例を示す概略断
面図である。 10.20・・・基板 11・・・ネガ型レジ
スト12・・・ポジ型しジスl−13,24・・・蒸着
金属14.25・・・電極 21・・・低感度ポジ型レジスト 22・・・高感度ポジ型レジスト 23・・・電子線
2図は従来例による電(へ形成工程の一例を示す概略断
面図である。 10.20・・・基板 11・・・ネガ型レジ
スト12・・・ポジ型しジスl−13,24・・・蒸着
金属14.25・・・電極 21・・・低感度ポジ型レジスト 22・・・高感度ポジ型レジスト 23・・・電子線
Claims (1)
- (1)半導体基板上にネガ型レジストによる所定のパタ
ーンを形成する工程と、前記パターン形成面上にポジ型
レジスト層を形成する工程と、前記ネガ型レジスト端部
を含むネガ型レジスト面および基板面が共に露呈するよ
うに前記ポジ型レジストを露光・現像して所定のパター
ンを形成する工程と、前記パターン形成面上に方向性を
有して金属を蒸着する工程と、前記各レジストおよびポ
ジ型レジスト上の金属を除去して断面T字型の金属パタ
ーンを形成する工程とを備えてなることを特徴とする微
細電極の形成法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29600487A JPH01138761A (ja) | 1987-11-26 | 1987-11-26 | 微細電極の形成法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29600487A JPH01138761A (ja) | 1987-11-26 | 1987-11-26 | 微細電極の形成法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01138761A true JPH01138761A (ja) | 1989-05-31 |
Family
ID=17827885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29600487A Pending JPH01138761A (ja) | 1987-11-26 | 1987-11-26 | 微細電極の形成法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01138761A (ja) |
-
1987
- 1987-11-26 JP JP29600487A patent/JPH01138761A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH02266517A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPH01138761A (ja) | 微細電極の形成法 | |
| JPH0466345B2 (ja) | ||
| JPS6222463B2 (ja) | ||
| JPH04348030A (ja) | 傾斜エッチング法 | |
| JPH01292829A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPS6312156A (ja) | 微細パタ−ン形成方法 | |
| JPH022175A (ja) | 薄膜トランジスタ及びその製造方法 | |
| JPH0246738A (ja) | 微細電極の形成法 | |
| JPH02181936A (ja) | 微細電極の形成法 | |
| JPH01296624A (ja) | 微細電極の形成法 | |
| JPS58132927A (ja) | パタ−ン形成方法 | |
| JPS61128524A (ja) | 微細パタ−ン形成方法 | |
| JPS60202441A (ja) | 半導体装置用パタ−ン形成マスク | |
| JPH02165623A (ja) | 微細電極の形成法 | |
| JPS62279633A (ja) | パタ−ン形成方法 | |
| JPH01162331A (ja) | X線露光用マスクの形成方法 | |
| JPS61245531A (ja) | 薄膜のパタ−ニング方法 | |
| JPH02187023A (ja) | 電極パターン形成方法 | |
| JPH0330337A (ja) | 微細電極の形成方法 | |
| JPH0382131A (ja) | パターンの形成法 | |
| JPH04168730A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPH01304457A (ja) | パターン形成方法 | |
| JPS61245532A (ja) | 薄膜のパタ−ニング方法 | |
| JPH0212820A (ja) | 微細電極の形成法 |