JPS6034252B2 - 電子部品のエ−ジング・検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子部品のエージング・検査装置に関し、特に
コンデンサのエージング・検査装置に関する。

従来、電子部品の多数個を一括して、エージング・検査
する装置としては、多数個の電子部品をエージング工程
ではエージング専用治具に、検査工程では検査専用の袷
具にそれぞれセットして処理していた。

しかしこのような従来手段では、エージング装置と検査
装置との相互間に関連性がないため、エージング装置と
検査装置の双方で、各々独自に一括処理する数量を決め
ている。

このため専用治具に電子部品をセットする工程がエージ
ングと検査の両工程で必要となる欠点があった。本発明
の目的はかかる従来欠点を改良した電子部品のエージン
グ・検査装置を提供することにある。

本発明によれば電子部品を接続する両電極の内、一方を
共通電極に他方を個別電極とした回路に、個別電極をエ
ージング入力ラインの一方に集合接続、または遮断し独
立復帰させる回路切換部と、回路切換部の個別端子と、
個別電極間の回路に配したエージング保護抵抗と、エー
ジング保護抵抗と、個別電極間から引出した個別引出端
子とを設けたことを特徴とするエージング・検査装置が
得られる。

以下、本発明の実施例を第１図〜第４図を参照して詳細
に説明する。

第１図は本発明のエージング・検査装置の回路図である
。

図中、１は電子部品を接続する共通電極、２は電子部品
を接続する個列電極、３はェ−ジングの入力ライン、４
はエージング時と検査時の回路接続を切換える回路切換
部、５は回路切換部の個別端子、６は回路切換部の集合
端子、７はエージングの保護抵抗、８は保護抵抗７と個
別電極２間から引出された個別引出端子、９は共通電極
１より引出した共通引出端子、１０はエージング電圧を
印加するための、エージング入力接続端子である。第２
図ａは短絡板１１の斜視図で回路切襖部４の個別端子５
と集合端子６間を短絡させてェ−ジング時に使用する。

短絡板１１には着脱作業用の取手１２が付いている。回
路切換部４は第２図ｂに示す如く、コネクタ１３と短絡
板１１により構成されており、コネクタ１３の一方、す
なわち上側の端子１４群を個別端子５に、他方すなわち
下側の端子１５群を集合端子６として用いる。ェージン
グ工程時には短絡板１１をコネクター３に挿着すること
により、エージング回路が形成される。一方、検査時に
は短絡板１１をコネクタ１３より抜去することにより検
査可能な回路が形成される。第３図は、本発明装置のエ
ージング時の稼動状態の回路図を示す。

電子部品接続用の共通電極１と、個別電極２との間には
、エージングおよび検査工程用に架台にセットされて、
流れてきた製品であるコンデンサー６が接続されている
。回路切換部４には短絡板１１が挿着されて、個別端子
５と集合端子６との間が互いに接続され、保護抵抗７を
介してエージング回路が形成される。次にエージング入
力端子１川こエージング電源１７を接続し、所定の電圧
を印加してエージング処理が行なわれる。この時、個別
引出端子８と共導引出端子９との間は解放状態にしてお
く。第４図は本発明装置の検査時の稼動状態の回路図を
示す。

次の検査時にはェージン‐グ電源の接続は解除してエー
ジング入力端子１川ま解放状態にして、かつ、回路切換
部４から短絡板１１を抜去している。個別端子５のそれ
ぞれは、接続が解除され独立した状態で検査回路に支障
を及ぼさない回路を形成している。測定器１８の測定端
子は、個別引出端子８のそれぞれと共通引出端子９へ接
続され、多数のコンデンサ１６が順次スキャンされなが
ら測定されていく。また、エージング終了後、コンデン
サー６内の電荷を放電する場合には、個別引出端子８と
共通引出端子９とを短絡することにより、蓄積電荷の放
電を行なうことができる。

実際には短絡回路を形成するコネク夕を個別引出端子８
と、共通引出端子９に装着することにより、同時に多数
個の放電を行なっている。以上本発明によれば、回路切
換部の短絡板の着脱によりエージング回路と検査測定回
路の切換が簡単に行なえるため、従来２回行っていた被
処理製品の着脱作業が１回ですむため、エージング・検
査準備工数の大幅な低減をもたらし、実用上その効果は
非常に大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のエージング・検査装置の一実施例の回
路図。 第２図ａは回路切襖部に使用する短絡板の斜視図。第２
図ｂは短絡板を回路切襖部のコネクタに挿着した状態を
示す構成図。第３図は本発明のエージング・検査装置の
エージング状態の回路図。第４図は本発明のエージング
・検査装置の検査状態の回路図。図中の符号、１・・・
・・・（電子部品を後続する）共通電極、２・・・・・
・（電子部品を接続する）個別電極、３・・・・・・エ
ージング入力ライン、４・…・・回路切換部、５・・・
・・・（回路切換部の）個別端子、６・・・・・・（回
路切換部の）集合端子、７・・・・・・保護抵抗、８・
・・・・・（検査測定用の）個別引出端子、９・・…・
（検査測定用の）共通引出端子、１０・・・・・・エー
ジング入力接続端子、１１・…・・短絡板、１２・…・
・短絡板の取手、１３・・・・・・（回路切襖部の）コ
ネクタ、１４…・・・（コネクタの）個別端子、１５・
・・・・・（コネクタの）集合端子、１６・・・・・・
コンデンサ、１７・・・・・・エージング電源、１８・
・・・・・測定器。 第２図努ノ図 孫３図 浩４図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 電子部品を接続する両電極の内、一方を共通電極と
   し、他方を個別電極とした回路に、前記個別電極をエー
   ジング入力ラインの一方に集合接続、または遮断し独立
   復帰させる回路切換部と、前記回路切換部の個別端子と
   前記個別電極間の回路に配したエージング保護抵抗と、
   前記エージング保護抵抗と前記個別電極間から引出した
   個別引出端子とを設けたことを特徴とする電子部品のエ
   ージング・検査装置。