JPH01192108A - コンデンサの製造方法 - Google Patents
コンデンサの製造方法Info
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- JPH01192108A JPH01192108A JP63017666A JP1766688A JPH01192108A JP H01192108 A JPH01192108 A JP H01192108A JP 63017666 A JP63017666 A JP 63017666A JP 1766688 A JP1766688 A JP 1766688A JP H01192108 A JPH01192108 A JP H01192108A
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Landscapes
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、誘電体としての絶縁膜、及び電極部としての
導電体をLB法により累積して得たコンデンサの¥A造
方法に関する。
導電体をLB法により累積して得たコンデンサの¥A造
方法に関する。
[従来の技術]
従来、固体電解コンデンサは、アルミニウム、タンタル
などの皮膜形成性金属に陽極酸化皮膜を形成した陽極と
、その表面に二酸化マンガンや、7.7,8.8−テト
ラシアノキノジメタン電荷移動錯体(以下TCNQ錯体
という)などの固体電解質層を形成し、この上にざらに
金属層を形成して陰極を構成したり、または陽極酸化皮
膜上に直接二酸化マンガンや、TCNQ鏡体、及び金属
層を真空蒸着やスパッタリングなどで形成して陰極を構
成したりして製造していた。
などの皮膜形成性金属に陽極酸化皮膜を形成した陽極と
、その表面に二酸化マンガンや、7.7,8.8−テト
ラシアノキノジメタン電荷移動錯体(以下TCNQ錯体
という)などの固体電解質層を形成し、この上にざらに
金属層を形成して陰極を構成したり、または陽極酸化皮
膜上に直接二酸化マンガンや、TCNQ鏡体、及び金属
層を真空蒸着やスパッタリングなどで形成して陰極を構
成したりして製造していた。
しかしながら、熱分解によって二酸化マンガンを形成す
る方法は、陽極酸化皮膜が劣化しやすく、また、TCN
Q錯体の溶融含浸または塗布は、錯体自身の熱安定性が
不十分で劣化しやすく、ざらに、真空蒸着法はこれら自
体の皮膜修復性の低さと相俟って、ショート、或いは絶
縁不良を起こし易い問題点があった。
る方法は、陽極酸化皮膜が劣化しやすく、また、TCN
Q錯体の溶融含浸または塗布は、錯体自身の熱安定性が
不十分で劣化しやすく、ざらに、真空蒸着法はこれら自
体の皮膜修復性の低さと相俟って、ショート、或いは絶
縁不良を起こし易い問題点があった。
一方、プラスチックフィルムを誘電体とするフィルムコ
ンデンサは、ポリエステルやポリプロピレンなどのフィ
ルムの表面に°電極として金属を蒸着し、この金属箔の
表面に、誘電体として有機高分子膜を電解重合、溶液塗
布、スパッタリングなどで形成していた。
ンデンサは、ポリエステルやポリプロピレンなどのフィ
ルムの表面に°電極として金属を蒸着し、この金属箔の
表面に、誘電体として有機高分子膜を電解重合、溶液塗
布、スパッタリングなどで形成していた。
しかしながら、有機フィルムに金属を蒸着する方法は、
フィルムが厚くなってしまい、コンデンサの大型化につ
ながる上、また、ピンホールなど−が生じ易いという欠
陥があるため、小型、大容量のものを形成し難いという
問題があった。また、金属箔上に電解重合、溶液塗布、
スパッタリングなどで誘電体を形成する方法は、不均質
で厚くなり易く、小型化や安定した特性の確保が困難で
あった。
フィルムが厚くなってしまい、コンデンサの大型化につ
ながる上、また、ピンホールなど−が生じ易いという欠
陥があるため、小型、大容量のものを形成し難いという
問題があった。また、金属箔上に電解重合、溶液塗布、
スパッタリングなどで誘電体を形成する方法は、不均質
で厚くなり易く、小型化や安定した特性の確保が困難で
あった。
以上のような各方法に対し、ざらに、最近では、LB法
と称し、一方の電極となる金属箔を基体として、この基
体上に、水画上に展開した有機物単分子膜を累積して誘
電体とするコンデンサも提案されている。この18法を
用いた場合、均質で薄い誘電体を形成できるという長所
を有する反面、基体表面の凹凸や、基体表面に付着した
不純物や塵埃などにより、形成された単分子膜の破損、
ピンホール、剥離、局所反転等を生じ、累積効率が低下
すると共に、静電容量のばらつきが大きく、耐電圧が低
下するなどの特性低下を生じ易い欠点を有していた。
と称し、一方の電極となる金属箔を基体として、この基
体上に、水画上に展開した有機物単分子膜を累積して誘
電体とするコンデンサも提案されている。この18法を
用いた場合、均質で薄い誘電体を形成できるという長所
を有する反面、基体表面の凹凸や、基体表面に付着した
不純物や塵埃などにより、形成された単分子膜の破損、
ピンホール、剥離、局所反転等を生じ、累積効率が低下
すると共に、静電容量のばらつきが大きく、耐電圧が低
下するなどの特性低下を生じ易い欠点を有していた。
[発明が解決しようとする課題]
上述したように、18法によって誘電体及び電極を形成
したコンデンサでは、有機物単分子膜を累積する基体表
面の平滑度や付着異物などにより、形成した単分子膜の
破損や、それに伴う特性の低下などの問題点を生じてい
た。
したコンデンサでは、有機物単分子膜を累積する基体表
面の平滑度や付着異物などにより、形成した単分子膜の
破損や、それに伴う特性の低下などの問題点を生じてい
た。
本発明は、このようなLB法における欠点を除去し、特
性及び累積効率に優れたコンデンサの製造方法を提供す
ることを目的としている。
性及び累積効率に優れたコンデンサの製造方法を提供す
ることを目的としている。
[課題を解決するための手段]
本発明によるコンデンサの製造方法は、LB法による単
分子累積膜の形成に際し、一方の電極となり、且つ累積
の基体とされる金属箔を、予め電解研磨した後に、単分
子膜を累積することを構成の特徴としている。
分子累積膜の形成に際し、一方の電極となり、且つ累積
の基体とされる金属箔を、予め電解研磨した後に、単分
子膜を累積することを構成の特徴としている。
[作用]
以上のような構成を有する本発明においては、電解研磨
によって、基体である金属箔の表面に付着している不純
物や塵埃、及び表面の凹凸を電気化学的に除去できるた
め、その表面を平滑且つ正常にした状態で単分子膜を形
成できる。従って、基体である金属箔の表面の不純物や
塵埃、凹凸などを原因とした単分子膜の破損、ピンホー
ル、剥離、局所反転等の問題を解消して、累積効率を向
上でき、静電容量のばらつきが少なく、耐電圧の高い、
優れた特性のコンデンサを提供できる。
によって、基体である金属箔の表面に付着している不純
物や塵埃、及び表面の凹凸を電気化学的に除去できるた
め、その表面を平滑且つ正常にした状態で単分子膜を形
成できる。従って、基体である金属箔の表面の不純物や
塵埃、凹凸などを原因とした単分子膜の破損、ピンホー
ル、剥離、局所反転等の問題を解消して、累積効率を向
上でき、静電容量のばらつきが少なく、耐電圧の高い、
優れた特性のコンデンサを提供できる。
[実施例]
進んで、以上説明したような、本発明によるコンデンサ
の製造方法を具体的に説明する。なお、本発明において
、一方の電極となり、且つ基体として使用する電極箔と
しては、アルミニウム、ニッケル、ステンレス鋼などを
使用することができるが、以下には、純度99.998
%、厚さ100μmのアルミニウム箔を基体とした実施
例について説明する。
の製造方法を具体的に説明する。なお、本発明において
、一方の電極となり、且つ基体として使用する電極箔と
しては、アルミニウム、ニッケル、ステンレス鋼などを
使用することができるが、以下には、純度99.998
%、厚さ100μmのアルミニウム箔を基体とした実施
例について説明する。
まず、電解研磨工程においては、アルミニウム箔を電解
液中に垂直に浸漬し、冷却装置を備えたアルミニウム容
器を陰極として通電を行い、一定時間電解する。具体的
には、過塩素酸700rl、硫1200m1、クロム酸
75cx、水100mff1から成る電解液を使用し、
電圧50V、電流密度100A/dm2 、液温度70
℃にて30秒間通電し、電解研磨する。この後、流水洗
及び純水洗を行い、アルミニウム箔を屹燥させる。
液中に垂直に浸漬し、冷却装置を備えたアルミニウム容
器を陰極として通電を行い、一定時間電解する。具体的
には、過塩素酸700rl、硫1200m1、クロム酸
75cx、水100mff1から成る電解液を使用し、
電圧50V、電流密度100A/dm2 、液温度70
℃にて30秒間通電し、電解研磨する。この後、流水洗
及び純水洗を行い、アルミニウム箔を屹燥させる。
次に、電解研磨されたアルミニウム箔を基体として、ア
ラキシン酸カドミウム単分子膜を50層累積し、さらに
最上層に金を真空蒸着して対向電極を形成し、コンデン
サを得る。
ラキシン酸カドミウム単分子膜を50層累積し、さらに
最上層に金を真空蒸着して対向電極を形成し、コンデン
サを得る。
第1図は、以上のようにして製造した本実施例によるコ
ンデンサと、従来の18法、即ち、純度99.998%
、厚さ100μmのアルミニウム箔を電解研磨すること
なくそのまま基体として、アラキシン酸カドミウム単分
子膜を50層累積し、ざらに最上層に金を真空蒸着して
対向電極を形成して製造した、従来コンデンサとにおけ
る印加電圧と漏れ電流との関係を示すグラフであり、曲
線Aは本実施例によるコンデンサの特性、曲線Bは従来
方法によるコンデンサの特性をそれぞれ示している。
ンデンサと、従来の18法、即ち、純度99.998%
、厚さ100μmのアルミニウム箔を電解研磨すること
なくそのまま基体として、アラキシン酸カドミウム単分
子膜を50層累積し、ざらに最上層に金を真空蒸着して
対向電極を形成して製造した、従来コンデンサとにおけ
る印加電圧と漏れ電流との関係を示すグラフであり、曲
線Aは本実施例によるコンデンサの特性、曲線Bは従来
方法によるコンデンサの特性をそれぞれ示している。
この第1図からも明らかなように、従来例Bの漏れ電流
は、0.5V程度の印加電圧で早くも10 ’Aを越え
、印加電圧2■では1O−4Aにもなり、それ以上の電
圧では、10 Aから10−3以上と一桁も違う程の
大きなばらつきを示しながら、増加している。それに比
べ、本実施例Aの漏れ電流は、1.5V程度から5V程
度に至る範囲の印加電圧でほぼ1O−5Aと、ばらつき
のほとんどない安定した低い漏れ電流を保っており、耐
電圧が大幅に向上している。
は、0.5V程度の印加電圧で早くも10 ’Aを越え
、印加電圧2■では1O−4Aにもなり、それ以上の電
圧では、10 Aから10−3以上と一桁も違う程の
大きなばらつきを示しながら、増加している。それに比
べ、本実施例Aの漏れ電流は、1.5V程度から5V程
度に至る範囲の印加電圧でほぼ1O−5Aと、ばらつき
のほとんどない安定した低い漏れ電流を保っており、耐
電圧が大幅に向上している。
なお、本発明において、電解研磨の条件は、前記実施例
に限定されず、適宜変更可能である。また、一方の電極
兼基体として使用する金属箔は、アルミニウム箔に限定
されず、例えば銅、ニッケル、ステンレス鋼など他の金
属箔を使用でき、電解液組成その他の電解研磨条件も、
金属に応じてそれぞれ適宜選定可能であり、いずれの場
合にも、前記実施例と同様漏れ電流が小さく安定・した
耐電圧を得られる。
に限定されず、適宜変更可能である。また、一方の電極
兼基体として使用する金属箔は、アルミニウム箔に限定
されず、例えば銅、ニッケル、ステンレス鋼など他の金
属箔を使用でき、電解液組成その他の電解研磨条件も、
金属に応じてそれぞれ適宜選定可能であり、いずれの場
合にも、前記実施例と同様漏れ電流が小さく安定・した
耐電圧を得られる。
一方、基体となる電極の対向電極は、アルミニウム、タ
ンタル、ニッケルなどを真空蒸着して形成したり、テト
ラチオフルバレン・オクタデシルTCNQ錯体などの導
電性LB膜を形成し、ざらに導電性ペーストで外部導出
電極としてもよい。
ンタル、ニッケルなどを真空蒸着して形成したり、テト
ラチオフルバレン・オクタデシルTCNQ錯体などの導
電性LB膜を形成し、ざらに導電性ペーストで外部導出
電極としてもよい。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の製造方法によれば、基体
とする金属箔を予め電解研磨するという簡単な構成の改
良により、従来の方法に比べて、累積効率が良く、漏れ
電流やそのばらつきが小さく、耐電圧が高いような、特
性の優れたコンデンサを提供できる。
とする金属箔を予め電解研磨するという簡単な構成の改
良により、従来の方法に比べて、累積効率が良く、漏れ
電流やそのばらつきが小さく、耐電圧が高いような、特
性の優れたコンデンサを提供できる。
第1図は本発明の方法によって製造したコンデンサと従
来方法によって製造したコンデンサとの特性を比較して
示すグラフである。
来方法によって製造したコンデンサとの特性を比較して
示すグラフである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 一方の電極となる金属箔を基体とし、この基体上に、水
面上に展開した有機物単分子膜を累積して誘電体とする
、LB法によるコンデンサの製造方法において、 前記基体とされる金属箔を、予め電解研磨してから、単
分子膜を累積することを特徴とするコンデンサの製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63017666A JPH01192108A (ja) | 1988-01-27 | 1988-01-27 | コンデンサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63017666A JPH01192108A (ja) | 1988-01-27 | 1988-01-27 | コンデンサの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01192108A true JPH01192108A (ja) | 1989-08-02 |
Family
ID=11950177
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63017666A Pending JPH01192108A (ja) | 1988-01-27 | 1988-01-27 | コンデンサの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01192108A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1299544C (zh) * | 2001-10-04 | 2007-02-07 | 奥克-三井有限公司 | 用作嵌置无源器件的电极并涂覆有镍的铜 |
| CN108447704A (zh) * | 2018-03-06 | 2018-08-24 | 安徽麦特电子股份有限公司 | 一种电容器加工用自动上料装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62180745A (ja) * | 1986-02-04 | 1987-08-08 | Res Dev Corp Of Japan | ラングミユア−ブロジエツト膜内で調製した超微粒子,その製造方法,及びそれからなる触媒 |
| JPS62221103A (ja) * | 1986-03-24 | 1987-09-29 | 松下電器産業株式会社 | コンデンサ−およびその製造方法 |
-
1988
- 1988-01-27 JP JP63017666A patent/JPH01192108A/ja active Pending
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