JPH01200720A - アナログカウンタ回路 - Google Patents
アナログカウンタ回路Info
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- JPH01200720A JPH01200720A JP2527288A JP2527288A JPH01200720A JP H01200720 A JPH01200720 A JP H01200720A JP 2527288 A JP2527288 A JP 2527288A JP 2527288 A JP2527288 A JP 2527288A JP H01200720 A JPH01200720 A JP H01200720A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 21
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- Analogue/Digital Conversion (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はアナログカウンタ回路に関する。
従来この種のカウンタ回路は非同期式のデジタルカウン
タを使用し、前段の7リツプフロツプの出力端子を次の
段の7リツプフロツプのクロック端子に接続して使用し
ていた。使用するフリップフロップによりアップカウン
タとダウンカウンタを構成することができ、フリップフ
ロップの出力の反転論理積を得てその出力をリセット端
子に接続することにより、何周期でパルスを出力するか
を指定することができた。
タを使用し、前段の7リツプフロツプの出力端子を次の
段の7リツプフロツプのクロック端子に接続して使用し
ていた。使用するフリップフロップによりアップカウン
タとダウンカウンタを構成することができ、フリップフ
ロップの出力の反転論理積を得てその出力をリセット端
子に接続することにより、何周期でパルスを出力するか
を指定することができた。
上述した従来のデジタルカウンタはフリップフロップの
接続で構成されており、パルスの立ち上がり及びパルス
の立ち下がりをラッチしてカウントを行なって練だ。カ
ウントできる最大のパルス数をダ、フリップフロップ数
をNとすれば、カウントできる最大パルス数は(1)の
式で得られる。
接続で構成されており、パルスの立ち上がり及びパルス
の立ち下がりをラッチしてカウントを行なって練だ。カ
ウントできる最大のパルス数をダ、フリップフロップ数
をNとすれば、カウントできる最大パルス数は(1)の
式で得られる。
m = 2”・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・(1)従って、カウントする数が多い時に回
路素子が多くなるという欠点がある。また、カウントす
る数を変える場合は各フリップフロップの出力端子をセ
レクタ回路に接続し、セレクタ回路でカウントする数を
選択する回路構成となっていたため、少ない回路素子で
カウントする数を容易に変えることができないという欠
点もある。
・・・・・(1)従って、カウントする数が多い時に回
路素子が多くなるという欠点がある。また、カウントす
る数を変える場合は各フリップフロップの出力端子をセ
レクタ回路に接続し、セレクタ回路でカウントする数を
選択する回路構成となっていたため、少ない回路素子で
カウントする数を容易に変えることができないという欠
点もある。
本発明の目的は、少ない回路素子でカウンタを構成した
い場合で、しかもカウントする数を容易に変化させたい
場合に適した回路を提供することにある。
い場合で、しかもカウントする数を容易に変化させたい
場合に適した回路を提供することにある。
従って本発明は、上述した従来のフリップ70さ
ツブの接続で構成Zれたディジタルカウンタに対し、電
圧変換回路と電圧比較器との接続により構成され、少な
い回路素子でカウントを構成することができ、しかもカ
ウントする数を容易に変化させることができるという相
違点を有する。
圧変換回路と電圧比較器との接続により構成され、少な
い回路素子でカウントを構成することができ、しかもカ
ウントする数を容易に変化させることができるという相
違点を有する。
第1のキャパシタの一端が第1のMOSトランジスタの
ソースとゲートとに接続され、前記第1のキャパシタの
他端が互いに180度の位相差を有する第1および第2
のクロックのうちいずれか一方に接続され、第2のMO
Sトランジスタのドレインが前記第1のMOSトランジ
スタのソースとゲーρに接続され、前記第2のMOSト
ランジスタのソースが第2の電源線に接続される複数個
の部分回路により構成され、前記部分回路を構成する前
記第1のMOSトランジスタのソースとゲートとが前段
の部分回路のMOSトランジスタのドレインに接続され
、前記第1のMOS)ランジ分回路に対し、その順序に
従って前記第1および第2のクロック信号が交互に供給
され、ソースとゲートとをあらかじめ定められた電圧源
に接続した少なくとも1個の第3のMOSトランジスタ
のドレインが初段の部分回路の第1のMOSトランジス
タのソースとゲートとに接続され、最後の段の部分回路
の第1のMOSトランジスタのドレインは第2のキャパ
シタの一方と電圧比較器の入力と第4のMOSトランジ
スタのドレインとKそれぞれ接続され、前記第2のキャ
パシタの他方と前記第4のMOSトランジスタのソース
とが前記第2の電源線に接続され、前記電圧比較器の出
力が出力端子と前記論理和回路の入力とに接続され、入
力端からの入力信号と前記電圧比較器の出力とを入力し
た前記論理和回路の出力は前記第4のMOSトランジス
タのゲートと複数個の前記部分回路の第2のMOSトラ
ンジスタのゲートとに接続して構成される。
ソースとゲートとに接続され、前記第1のキャパシタの
他端が互いに180度の位相差を有する第1および第2
のクロックのうちいずれか一方に接続され、第2のMO
Sトランジスタのドレインが前記第1のMOSトランジ
スタのソースとゲーρに接続され、前記第2のMOSト
ランジスタのソースが第2の電源線に接続される複数個
の部分回路により構成され、前記部分回路を構成する前
記第1のMOSトランジスタのソースとゲートとが前段
の部分回路のMOSトランジスタのドレインに接続され
、前記第1のMOS)ランジ分回路に対し、その順序に
従って前記第1および第2のクロック信号が交互に供給
され、ソースとゲートとをあらかじめ定められた電圧源
に接続した少なくとも1個の第3のMOSトランジスタ
のドレインが初段の部分回路の第1のMOSトランジス
タのソースとゲートとに接続され、最後の段の部分回路
の第1のMOSトランジスタのドレインは第2のキャパ
シタの一方と電圧比較器の入力と第4のMOSトランジ
スタのドレインとKそれぞれ接続され、前記第2のキャ
パシタの他方と前記第4のMOSトランジスタのソース
とが前記第2の電源線に接続され、前記電圧比較器の出
力が出力端子と前記論理和回路の入力とに接続され、入
力端からの入力信号と前記電圧比較器の出力とを入力し
た前記論理和回路の出力は前記第4のMOSトランジス
タのゲートと複数個の前記部分回路の第2のMOSトラ
ンジスタのゲートとに接続して構成される。
次に1本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の第一の実施例の構成を示す回路図、第
2図は第1図の部分回路の構成を示す回路図である。
2図は第1図の部分回路の構成を示す回路図である。
本発明の回路は昇圧回路部と電圧比較部とから構成され
、昇圧回路部は1個のキャパシタと2個のNチャネルM
O8トランジスタか、らなる6段の部分回路の縦続接続
回路を備えている。
、昇圧回路部は1個のキャパシタと2個のNチャネルM
O8トランジスタか、らなる6段の部分回路の縦続接続
回路を備えている。
第2図を見るに、キャパシタC1の一端がNチャネルM
OSトランジスタM1のソースとゲートとに接続され、
キャパシタC1の他端が互いに180度の位相差を有す
るクロック幻・鎖2のいずれか一方に接続されている。
OSトランジスタM1のソースとゲートとに接続され、
キャパシタC1の他端が互いに180度の位相差を有す
るクロック幻・鎖2のいずれか一方に接続されている。
また、NチャネルMOSトランジスタM7のドレインが
NチャネルMOSトランジスタM1のソースとゲートと
に接続され、NチャネルMO8トランジスタM7のソー
スが接地端子GNDに接続される部分回路が構成されて
いる。
NチャネルMOSトランジスタM1のソースとゲートと
に接続され、NチャネルMO8トランジスタM7のソー
スが接地端子GNDに接続される部分回路が構成されて
いる。
第2図の部分回路を構成するNチャネルMOSトランジ
スタMlのソースとゲートとが前段の部分回路のNチャ
ネルMOSトランジスタのドレインに接続され、Nチャ
ネルMO8,トランジスタM1のドレインが次段のMO
Sトランジスタのツクφ1に偶数番目がクロックφ2に
接続されている。
スタMlのソースとゲートとが前段の部分回路のNチャ
ネルMOSトランジスタのドレインに接続され、Nチャ
ネルMO8,トランジスタM1のドレインが次段のMO
Sトランジスタのツクφ1に偶数番目がクロックφ2に
接続されている。
−箕干ホ零等4貴第1図を見るに初段の部分回路のNチ
ャネA/MOSトランジスタMlのソースとゲートとが
NチャネルMOSトランジスタMOのドレインに接続さ
れ、NチャネルMOSトランジスタMOのソースとゲー
トとが電源端子Vlに接続きれている。最後の段の部分
回路のNチャネルMO8トランジスタM6のドレインは
、キャパシタC7の一方と電圧比較器への入力とNチャ
ネルMO8トランジスタM13のドレイイそれぞれ接続
きれ、キャパシタC7の他方とNチャネルMOSトラン
ジスタのM13のソースとが接地端子GNDに接続され
ている。電圧比較器への出力が本アナログカウンタ回路
の出力OUTに接続され、電圧比較器Aの出力と本アナ
ログカウンタ回路の入力端子Eとが論理和回路りの入力
側に接続され、論理和回路りの出力端子がNチャネルM
OSトランジスタM7〜M13のゲートに接続されてい
る。
ャネA/MOSトランジスタMlのソースとゲートとが
NチャネルMOSトランジスタMOのドレインに接続さ
れ、NチャネルMOSトランジスタMOのソースとゲー
トとが電源端子Vlに接続きれている。最後の段の部分
回路のNチャネルMO8トランジスタM6のドレインは
、キャパシタC7の一方と電圧比較器への入力とNチャ
ネルMO8トランジスタM13のドレイイそれぞれ接続
きれ、キャパシタC7の他方とNチャネルMOSトラン
ジスタのM13のソースとが接地端子GNDに接続され
ている。電圧比較器への出力が本アナログカウンタ回路
の出力OUTに接続され、電圧比較器Aの出力と本アナ
ログカウンタ回路の入力端子Eとが論理和回路りの入力
側に接続され、論理和回路りの出力端子がNチャネルM
OSトランジスタM7〜M13のゲートに接続されてい
る。
にするとカウンタの動作が止まる。入力端子をロウにし
てカウンタをオン状態に保ち、クロック1251カ・・
イレベルカラロウレベルに、クロック5212がロウレ
ベルからノ・イレベルに変化すると、初段の部分回路の
MOSトランジスタM1のソースとゲートとの接続点の
電位がおし下げられ、ドレインの電位はおし上げられて
、NチャネルMO8)うは ンジスタM1〆非導通になるとともに、NチャネルMO
SトランジスタMOは導通し、電荷がNチャネルMOS
トランジスタMOを介して電源VlからキャパシタCI
に充電される。つぎにクロツクダ1がロウレベルカラノ
・イレベルニ、クロツクダ2がハイレベルからロウレベ
ルになると、NチャネルMO8トランジスタMO・M2
は非導通になりNチャネルMO8I−ランジスタM1は
導通し、キャパシタC2ハキヤパシタC1の電荷によっ
て充電される。この動作をくり返して次々に電荷は移送
されて最後にキャパシタC7を充電して、電圧比較器A
の正の入力電位は上昇する。
てカウンタをオン状態に保ち、クロック1251カ・・
イレベルカラロウレベルに、クロック5212がロウレ
ベルからノ・イレベルに変化すると、初段の部分回路の
MOSトランジスタM1のソースとゲートとの接続点の
電位がおし下げられ、ドレインの電位はおし上げられて
、NチャネルMO8)うは ンジスタM1〆非導通になるとともに、NチャネルMO
SトランジスタMOは導通し、電荷がNチャネルMOS
トランジスタMOを介して電源VlからキャパシタCI
に充電される。つぎにクロツクダ1がロウレベルカラノ
・イレベルニ、クロツクダ2がハイレベルからロウレベ
ルになると、NチャネルMO8トランジスタMO・M2
は非導通になりNチャネルMO8I−ランジスタM1は
導通し、キャパシタC2ハキヤパシタC1の電荷によっ
て充電される。この動作をくり返して次々に電荷は移送
されて最後にキャパシタC7を充電して、電圧比較器A
の正の入力電位は上昇する。
このようにクロックS、−外を動作させることにより、
電源および回路が形成されている半導体基板から電荷を
吸い上げ電圧比較器AK高電圧を発生させ、電圧比較器
Aの正の入力端子の電圧が、(電圧比較器Aの負の入力
端子に印加されている)基準電圧源72以上の電圧に達
すると、電圧比較器Aが動作し電圧比較器Aの出力がロ
ウレベルからハイレベルに変化する。その結果Nチャネ
ルMOSトランジスタM7〜M13が導通状態になりキ
ャパシタC1〜C7に充電された電荷が放電され電圧比
較器Aの出力端子がハイレベルからロウレベルに変化し
、クロックをカウントすることができる。
電源および回路が形成されている半導体基板から電荷を
吸い上げ電圧比較器AK高電圧を発生させ、電圧比較器
Aの正の入力端子の電圧が、(電圧比較器Aの負の入力
端子に印加されている)基準電圧源72以上の電圧に達
すると、電圧比較器Aが動作し電圧比較器Aの出力がロ
ウレベルからハイレベルに変化する。その結果Nチャネ
ルMOSトランジスタM7〜M13が導通状態になりキ
ャパシタC1〜C7に充電された電荷が放電され電圧比
較器Aの出力端子がハイレベルからロウレベルに変化し
、クロックをカウントすることができる。
以上NチャネルMO8トランジスタで説明を行ったが、
電源および入出力の極性を反転させることによりPチャ
ネルMOSトランジスタでも構成することができる。
電源および入出力の極性を反転させることによりPチャ
ネルMOSトランジスタでも構成することができる。
第3図は本発明の第2の実施例の構成を示す回路図であ
る。
る。
第2の実施例は、初期電位設定トランジスタMOのドレ
インにNチャネルMOSトランジスタM14・M2Sの
ドレインが接続され、NチャネルMO3トランジスタM
14のソースが婢テ力1源端子V3に接続され、Nチャ
ネルMOSトランジスタM15のソースが第3の電源端
子■4に接続され、NチャネルMOSトランジスタMO
−M14・M2SのゲートがセレクタBの出力に接続さ
れ、セレクタBのセレクト端子Cのある点が第1の実施
例と異った構成をもつものである。
インにNチャネルMOSトランジスタM14・M2Sの
ドレインが接続され、NチャネルMO3トランジスタM
14のソースが婢テ力1源端子V3に接続され、Nチャ
ネルMOSトランジスタM15のソースが第3の電源端
子■4に接続され、NチャネルMOSトランジスタMO
−M14・M2SのゲートがセレクタBの出力に接続さ
れ、セレクタBのセレクト端子Cのある点が第1の実施
例と異った構成をもつものである。
この回路において、セレクト端子Cの入力によってNチ
ャネルMO8トランジスタMO・M14・M2Sのいず
れかのトランジスタが選択される。そして、電源端子■
1・V3.−V4のいずれかの電圧からNチャネルMO
8’トランジスタのスレッショルド電圧だけ電圧降下し
た電圧がNチャネルMOSトランジスタM1のソースと
ゲートとに加わることにより、カウントするパルスの数
を容易に変えることができるという利点がある。
ャネルMO8トランジスタMO・M14・M2Sのいず
れかのトランジスタが選択される。そして、電源端子■
1・V3.−V4のいずれかの電圧からNチャネルMO
8’トランジスタのスレッショルド電圧だけ電圧降下し
た電圧がNチャネルMOSトランジスタM1のソースと
ゲートとに加わることにより、カウントするパルスの数
を容易に変えることができるという利点がある。
以上説明したように本発明は、本アナログカウンタ回路
を用いることにより、少ない回路素子で多くのパルスを
カウントすることができるという効果があり、電圧比較
器の基準電圧を変化させることにより容易に変化させる
ことができるという効果がある。
を用いることにより、少ない回路素子で多くのパルスを
カウントすることができるという効果があり、電圧比較
器の基準電圧を変化させることにより容易に変化させる
ことができるという効果がある。
第1図は本発明の第一の実施例の構成を示す回路図、第
2図は第1図の部分回路の構成を示す回路図、第3図は
本発明の第二の実施例の構成を示す回路図。 vl・v3・■4・・・・・・電源端子、■2・・・・
・・基準電圧源、ダ・5251−φ2・−・・・・クロ
ック端子、 Cl−C7・=−キャパシタ、MO〜M1
5・−・・・・NチャネルMOSトランジスタ、A・・
・・・・電圧比較器、B・・・・・・セレクタ、C・・
・・・・セレクト端子、D・・・・・・論理和回路、E
・−・・・・入力端子、RTN・・・・・・帰還端子。 代理人 弁理士 内 原 音
2図は第1図の部分回路の構成を示す回路図、第3図は
本発明の第二の実施例の構成を示す回路図。 vl・v3・■4・・・・・・電源端子、■2・・・・
・・基準電圧源、ダ・5251−φ2・−・・・・クロ
ック端子、 Cl−C7・=−キャパシタ、MO〜M1
5・−・・・・NチャネルMOSトランジスタ、A・・
・・・・電圧比較器、B・・・・・・セレクタ、C・・
・・・・セレクト端子、D・・・・・・論理和回路、E
・−・・・・入力端子、RTN・・・・・・帰還端子。 代理人 弁理士 内 原 音
Claims (1)
- 第1のキャパシタの一端が第1のMOSトランジスタの
ソースとゲートとに接続され、前記第1のキャパシタの
他端が互いに180度の位相差を有する第1および第2
のクロックのうちいずれか一方に接続され、第2のMO
Sトランジスタのドレインが前記第1のMOSトランジ
スタのソースとゲートとに接続され、前記第2のMOS
トランジスタのソースが第2の電源線に接続される複数
個の部分回路により構成され、前記部分回路を構成する
前記第1のMOSトランジスタのソースとゲートとが前
段の部分回路のMOSトランジスタのドレインに接続さ
れ、前記第1のMOSトランジスタのドレインが次段の
MOSトランジスタのソースとゲートとに接続され、縦
続接続された前記部分回路に対し、その順序に従って前
記第1および第2のクロック信号が交互に供給され、ソ
ースとゲートとをあらかじめ定められた電圧源に接続し
た少なくとも1個の第3のMOSトランジスタのドレイ
ンが初段の部分回路の第1のMOSトランジスタのソー
スとゲートとに接続され、最後の段の部分回路の第1の
MOSトランジスタのドレインは第2のキャパシタの一
方と電圧比較器の入力と第4のMOSトランジスタのド
レインとにそれぞれ接続され、前記第2のキャパシタの
他方と前記第4のMOSトランジスタのソースとが前記
第2の電源線に接続され、前記電圧比較器の出力が出力
端子と前記論理和回路の入力とに接続され、入力端から
の入力信号と前記電圧比較器の出力とを入力した前記論
理和回路の出力は前記第4のMOSトランジスタのゲー
トと複数個の前記部分回路の第2のMOSトランジスタ
のゲートとに接続されることを特徴とするアナログカウ
ンタ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2527288A JPH0691462B2 (ja) | 1988-02-04 | 1988-02-04 | アナログカウンタ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2527288A JPH0691462B2 (ja) | 1988-02-04 | 1988-02-04 | アナログカウンタ回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01200720A true JPH01200720A (ja) | 1989-08-11 |
| JPH0691462B2 JPH0691462B2 (ja) | 1994-11-14 |
Family
ID=12161394
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2527288A Expired - Lifetime JPH0691462B2 (ja) | 1988-02-04 | 1988-02-04 | アナログカウンタ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0691462B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7767487B2 (en) | 2002-10-23 | 2010-08-03 | Ipl Intellectual Property Licensing Limited | Formation of contacts on semiconductor substrates |
| US7872237B2 (en) | 2002-10-25 | 2011-01-18 | Ipl Intellectual Property Licensing Limited | Circuit substrate and method |
| US8169522B2 (en) | 1994-06-01 | 2012-05-01 | Siemens Aktiengesellschaft | Imaging devices, systems and methods |
| JP2013062016A (ja) * | 2011-09-12 | 2013-04-04 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
| US9029793B2 (en) | 1998-11-05 | 2015-05-12 | Siemens Aktiengesellschaft | Imaging device |
| KR20210065194A (ko) * | 2018-10-24 | 2021-06-03 | 마이크론 테크놀로지, 인크. | 메모리 동작을 위한 이벤트 카운터 |
-
1988
- 1988-02-04 JP JP2527288A patent/JPH0691462B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8169522B2 (en) | 1994-06-01 | 2012-05-01 | Siemens Aktiengesellschaft | Imaging devices, systems and methods |
| US9029793B2 (en) | 1998-11-05 | 2015-05-12 | Siemens Aktiengesellschaft | Imaging device |
| US7767487B2 (en) | 2002-10-23 | 2010-08-03 | Ipl Intellectual Property Licensing Limited | Formation of contacts on semiconductor substrates |
| USRE43948E1 (en) | 2002-10-23 | 2013-01-29 | Siemens Aktiengesellschaft | Formation of contacts on semiconductor substrates |
| US7872237B2 (en) | 2002-10-25 | 2011-01-18 | Ipl Intellectual Property Licensing Limited | Circuit substrate and method |
| JP2013062016A (ja) * | 2011-09-12 | 2013-04-04 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
| KR20210065194A (ko) * | 2018-10-24 | 2021-06-03 | 마이크론 테크놀로지, 인크. | 메모리 동작을 위한 이벤트 카운터 |
| EP3871335A4 (en) * | 2018-10-24 | 2022-07-13 | Micron Technology, Inc. | EVENT COUNTERS FOR MEMORY OPERATIONS |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0691462B2 (ja) | 1994-11-14 |
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