JPH01206205A - スペックルパターン干渉計 - Google Patents
スペックルパターン干渉計Info
- Publication number
- JPH01206205A JPH01206205A JP3158788A JP3158788A JPH01206205A JP H01206205 A JPH01206205 A JP H01206205A JP 3158788 A JP3158788 A JP 3158788A JP 3158788 A JP3158788 A JP 3158788A JP H01206205 A JPH01206205 A JP H01206205A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser light
- transparent cover
- measurement
- camera
- speckle pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 4
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 abstract description 4
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 description 2
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産1上互■凪分■
本発明はスペックル干渉法を利用して粗面物体の微少な
変形や振動振幅の分布等を測定するスペックルパターン
干渉計に関する。
変形や振動振幅の分布等を測定するスペックルパターン
干渉計に関する。
皿米坐肢歪
スペックル干渉法は、レーザ光を粗面に照射したときに
生ずるスペックルパターンと呼ばれる不規則な明暗の粒
状の干渉パターンの明暗の変化を計測する方法で、変形
、変位等の測定が容易にできる特長がある。この干渉法
を用いたスペックルパターン干渉計は従来より各種存在
する。
生ずるスペックルパターンと呼ばれる不規則な明暗の粒
状の干渉パターンの明暗の変化を計測する方法で、変形
、変位等の測定が容易にできる特長がある。この干渉法
を用いたスペックルパターン干渉計は従来より各種存在
する。
第2図′は従来のスペックルパターン干渉計のうち本発
明に最も近いものを示している。この従来の干渉計は一
つの箱体21内にレーザ光源22゜レンズ23.ビーム
スプリッタ24.参照粗面25及びTVカメラ26を図
示のような光学的配置関係で設けている。そして、外部
に置かれた測定対象物27と向き合った箱体21の壁面
には透明カバー28を設けて、ビームスプリッタ24で
反射されたレーザ光をこの透明カバー28を通じて測定
対象物に照射し、また測定対象物からの反射光をTVカ
メラ26に入射するようにしている。
明に最も近いものを示している。この従来の干渉計は一
つの箱体21内にレーザ光源22゜レンズ23.ビーム
スプリッタ24.参照粗面25及びTVカメラ26を図
示のような光学的配置関係で設けている。そして、外部
に置かれた測定対象物27と向き合った箱体21の壁面
には透明カバー28を設けて、ビームスプリッタ24で
反射されたレーザ光をこの透明カバー28を通じて測定
対象物に照射し、また測定対象物からの反射光をTVカ
メラ26に入射するようにしている。
TVカメラ26には、測定対象物27からの反射光と参
照粗面25からの反射光との光学的合成によって生じる
スペックルパターンが撮影される。
照粗面25からの反射光との光学的合成によって生じる
スペックルパターンが撮影される。
TVカメラ26からのスペックルパターン逼像信号は信
号処理回路29に入力され、所定の処理を受けて測定対
象物27の変形に対応した干渉縞をモニタTV30に表
示する。
号処理回路29に入力され、所定の処理を受けて測定対
象物27の変形に対応した干渉縞をモニタTV30に表
示する。
■ く”° しよ゛と る1
上記従来の干渉計において、透明カバー28はレーザ光
の入出射窓としての機能の他に、箱体21内にゴミやホ
コリが浸入するのを防止するという機能を果たしており
、従って、レーザ光源22゜ビームスプリッタ24.参
照粗面25及びTVカメラ26を箱体内に一体的に組込
んだタイプの干渉計においては欠かせない構成である。
の入出射窓としての機能の他に、箱体21内にゴミやホ
コリが浸入するのを防止するという機能を果たしており
、従って、レーザ光源22゜ビームスプリッタ24.参
照粗面25及びTVカメラ26を箱体内に一体的に組込
んだタイプの干渉計においては欠かせない構成である。
ところで、この透明カバー28はそれ自体僅かではある
が、無視できない量のレーザ光を反射するため、次のよ
うな問題がある。即ち、反射されたレーザ光は第2図中
矢印aで示すように入射方向と平行に進行しビームスプ
リッタを通じてTVカメラ26に入射するため、モニタ
TVで観測すると丁度光軸に相当する画面中央が明るく
飽和してしまい、この部分の測定対象物の変形等を測定
できなくなるという問題がある。
が、無視できない量のレーザ光を反射するため、次のよ
うな問題がある。即ち、反射されたレーザ光は第2図中
矢印aで示すように入射方向と平行に進行しビームスプ
リッタを通じてTVカメラ26に入射するため、モニタ
TVで観測すると丁度光軸に相当する画面中央が明るく
飽和してしまい、この部分の測定対象物の変形等を測定
できなくなるという問題がある。
上記問題を解決するため、現在、透明カバーに減反対コ
ーティングを施すといった工夫がなされているが、反射
を完全に零にすることはできず、上記した問題を満足の
いく程度まで解決するには至っていない。
ーティングを施すといった工夫がなされているが、反射
を完全に零にすることはできず、上記した問題を満足の
いく程度まで解決するには至っていない。
本発明はこのような点にあって、透明カバーの反射を完
全に零にしなくても上記課題を解決できる極めて有用な
手段を提供することを目的としている。
全に零にしなくても上記課題を解決できる極めて有用な
手段を提供することを目的としている。
゛ るための
上記目的を達成するため本発明はビームスプリッタで2
分されたレーザ光の一方を測定対象物に、残りを参照粗
面に照射すると共に、測定対象物及び参照粗面からの反
射光を合成し、その時に生じるスペックルパターンをT
Vカメラで撮影し表示するようにしたスペックルパター
ン干渉計において、少なくともレーザ光源、ビームスプ
リッタ、参照粗面及びTVカメラが箱体内に一体的に組
込まれると共に、この箱体の一部であって外部の測定対
象物と向き合った壁面部分にレーザ光を透過する透明カ
バーが設けられ、かつ前記透明カバーがレーザ光の光軸
に対して傾けてあることを特徴としている。
分されたレーザ光の一方を測定対象物に、残りを参照粗
面に照射すると共に、測定対象物及び参照粗面からの反
射光を合成し、その時に生じるスペックルパターンをT
Vカメラで撮影し表示するようにしたスペックルパター
ン干渉計において、少なくともレーザ光源、ビームスプ
リッタ、参照粗面及びTVカメラが箱体内に一体的に組
込まれると共に、この箱体の一部であって外部の測定対
象物と向き合った壁面部分にレーザ光を透過する透明カ
バーが設けられ、かつ前記透明カバーがレーザ光の光軸
に対して傾けてあることを特徴としている。
昨ニーー町
上記構成によれば、透明カバーがレーザ光の光軸に対し
て傾けであるので、透明カバー面でレーザ光の反射があ
っても反射方向は入射方向とは角度をもっている。従っ
て、反射光がTVカメラに入射することは防止でき、測
定時における従来の問題は解消できる。
て傾けであるので、透明カバー面でレーザ光の反射があ
っても反射方向は入射方向とは角度をもっている。従っ
て、反射光がTVカメラに入射することは防止でき、測
定時における従来の問題は解消できる。
実−一見一一■
第1図は本発明の一実施例としてのスペックルパターン
干渉計を示す。この干渉計は光学系Aと、光学系Aから
の出力を処理する信号処理系Bとから成る。光学系Aは
、レーザ光源1、該光源1から発するレーザ光を拡大す
るビーム拡大レンズ2、レーザ光を透過光と反射光に2
分するビームスプリッタ3、ビームスプリッタ3で分割
された一方のレーザ光が照射される参照粗面4、残りの
レーザ光が照射される測定対象物5、この測定対象物5
及び参照粗面4からの夫々の反射光を合成し、そのとき
生じるスペックルパターンを撮影するTVカメラ6とか
ら成る。そのうち、測定対象物5を除く各構成部材が1
つの箱体7内に図示のような光学的配置関係で組込まれ
ている。そして、測定対象物5と向き合った箱体壁面に
は透明カバー8が設けられている。この透明カバー8は
機能的には従来と同様、レーザ光の入出射用窓としての
機能と箱体7内にゴミやホコリの浸入を防止する機能を
果たす。但し、従来と異なり、レーザ光の光軸lに対し
て図示のように斜めに傾けて設けである。光軸に対して
透明カバー8の面に垂直な方向(法線方向)のなす角度
をθとした場合、この角度θは次のような条件で定めら
れる。
干渉計を示す。この干渉計は光学系Aと、光学系Aから
の出力を処理する信号処理系Bとから成る。光学系Aは
、レーザ光源1、該光源1から発するレーザ光を拡大す
るビーム拡大レンズ2、レーザ光を透過光と反射光に2
分するビームスプリッタ3、ビームスプリッタ3で分割
された一方のレーザ光が照射される参照粗面4、残りの
レーザ光が照射される測定対象物5、この測定対象物5
及び参照粗面4からの夫々の反射光を合成し、そのとき
生じるスペックルパターンを撮影するTVカメラ6とか
ら成る。そのうち、測定対象物5を除く各構成部材が1
つの箱体7内に図示のような光学的配置関係で組込まれ
ている。そして、測定対象物5と向き合った箱体壁面に
は透明カバー8が設けられている。この透明カバー8は
機能的には従来と同様、レーザ光の入出射用窓としての
機能と箱体7内にゴミやホコリの浸入を防止する機能を
果たす。但し、従来と異なり、レーザ光の光軸lに対し
て図示のように斜めに傾けて設けである。光軸に対して
透明カバー8の面に垂直な方向(法線方向)のなす角度
をθとした場合、この角度θは次のような条件で定めら
れる。
2θ 〉 □ α ・・・・・・ (1)但し、αは透
明カバー8と光軸の交点からTVカメラ6を視た場合の
立体角である。
明カバー8と光軸の交点からTVカメラ6を視た場合の
立体角である。
透明カバー8を上記条件を満たすよう設ければ、透明カ
バー8で反射されたレーザ光はTVカメラ6に到達せず
、従ってこの反射光によってモニタTVの画面上いずれ
の箇所も明るく飽和するといったことは起こらない。尚
、透明カバー8を上記(1)式を満足するように設けて
も、透明カバー8で反射されたレーザ光が参照粗面に照
射されたような場合には測定精度に影響するとも考えら
れるので、その方向へ反射しないように傾き方向を選ん
で透明カバー8を設けるべきである。又、透明カバー8
で反射されたレーザ光が箱体内壁で何度か反射された後
TVカメラに入射するといったことのないよう箱体内壁
はレーザ光の吸収の良い材料を塗布しておくのがよい。
バー8で反射されたレーザ光はTVカメラ6に到達せず
、従ってこの反射光によってモニタTVの画面上いずれ
の箇所も明るく飽和するといったことは起こらない。尚
、透明カバー8を上記(1)式を満足するように設けて
も、透明カバー8で反射されたレーザ光が参照粗面に照
射されたような場合には測定精度に影響するとも考えら
れるので、その方向へ反射しないように傾き方向を選ん
で透明カバー8を設けるべきである。又、透明カバー8
で反射されたレーザ光が箱体内壁で何度か反射された後
TVカメラに入射するといったことのないよう箱体内壁
はレーザ光の吸収の良い材料を塗布しておくのがよい。
次に、信号処理系Bは、A/Dコンバータ9゜画像メモ
リ10.減算回路11.2東回路12゜D/Aコンバー
タ13及びモニタTV14とから成っている。この処理
系Bの動作は次の通りである。先ず、TVカメラ6から
のスペックルパターン撮像信号はA/Dコンバータ9に
てディジタル化され、スイッチSWを通じて画像メモリ
lOに一時的に記憶される。スイッチSWはTVカメラ
で撮影している生の画像(スルー画像という。)とこの
スルー画像を処理した後の画像(処理画像という。)と
の切り換えを行う。接点aが処理画像側、bがスルー画
像側である。
リ10.減算回路11.2東回路12゜D/Aコンバー
タ13及びモニタTV14とから成っている。この処理
系Bの動作は次の通りである。先ず、TVカメラ6から
のスペックルパターン撮像信号はA/Dコンバータ9に
てディジタル化され、スイッチSWを通じて画像メモリ
lOに一時的に記憶される。スイッチSWはTVカメラ
で撮影している生の画像(スルー画像という。)とこの
スルー画像を処理した後の画像(処理画像という。)と
の切り換えを行う。接点aが処理画像側、bがスルー画
像側である。
スイッチSWを切り換えて処理画像モードにすると、画
像メモリ10に記憶されていた変形前の画像と変形後の
現在の画像とが減算回路11に入力されて減算処理され
る。そして、2東回路12によって非線形処理を受け、
D/Aコンバータ13にてアナログ化されてモニタTV
14に変形量に応じた干渉縞が表示される。尚、この信
号処理系Bの回路を高速化することにより、干渉縞の変
化を実時間で連続的に表示することができる。
像メモリ10に記憶されていた変形前の画像と変形後の
現在の画像とが減算回路11に入力されて減算処理され
る。そして、2東回路12によって非線形処理を受け、
D/Aコンバータ13にてアナログ化されてモニタTV
14に変形量に応じた干渉縞が表示される。尚、この信
号処理系Bの回路を高速化することにより、干渉縞の変
化を実時間で連続的に表示することができる。
一方、スイッチSWをスルー画像側すに倒しておくと、
画像メモリ10が自動的に書き換えられてスルー画像が
そのままモニタTVで表示される。
画像メモリ10が自動的に書き換えられてスルー画像が
そのままモニタTVで表示される。
加えて、透明カバーとして必ずしも減反対コーティング
した高価なものを使う必要がないので、コスト的にも有
利である。
した高価なものを使う必要がないので、コスト的にも有
利である。
主尻夏苅来
以上説明したように本発明に係るスペックルパターン干
渉計によれば、測定対象物と向き合った箱体壁面に設け
る透明カバーをレーザ光の光軸に対して傾斜させたので
、透明カバーで反射されるレーザ光がTVカメラに入射
することがなく、従って、画面上に明るく飽和する箇所
が生じたりすることがなく、安定して測定対象物の変位
等を測定することができる。
渉計によれば、測定対象物と向き合った箱体壁面に設け
る透明カバーをレーザ光の光軸に対して傾斜させたので
、透明カバーで反射されるレーザ光がTVカメラに入射
することがなく、従って、画面上に明るく飽和する箇所
が生じたりすることがなく、安定して測定対象物の変位
等を測定することができる。
加えて、本発明によれば透明カバーとして必ずしも減反
対コーティングの施されたものを用いる必要がないので
コスト的にも有利である。
対コーティングの施されたものを用いる必要がないので
コスト的にも有利である。
第1図は本発明の一実施例を示すスペックルパターン干
渉計の構成図、第2図は従来例を示す図である。 1・・・レーザ光源、3・・・ビームスプリッタ、4・
・・参照粗面、5・・・測定対象物、6・・・TVカメ
ラ、7・・・箱体、8・・・透明カバー。
渉計の構成図、第2図は従来例を示す図である。 1・・・レーザ光源、3・・・ビームスプリッタ、4・
・・参照粗面、5・・・測定対象物、6・・・TVカメ
ラ、7・・・箱体、8・・・透明カバー。
Claims (1)
- (1)ビームスプリッタで2分されたレーザ光の一方を
測定対象物に、残りを参照粗面に照射すると共に、測定
対象物及び参照粗面からの反射光を合成し、その時に生
じるスペックルパターンをTVカメラで撮影し表示する
ようにしたスペックルパターン干渉計において、 少なくともレーザ光源、ビームスプリッタ、参照粗面及
びTVカメラが箱体内に一体的に組込まれると共に、こ
の箱体の一部であって外部の測定対象物と向き合った壁
面部分にレーザ光を透過する透明カバーが設けられ、か
つ前記透明カバーがレーザ光の光軸に対して傾けてある
ことを特徴とするスペックルパターン干渉計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3158788A JPH01206205A (ja) | 1988-02-12 | 1988-02-12 | スペックルパターン干渉計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3158788A JPH01206205A (ja) | 1988-02-12 | 1988-02-12 | スペックルパターン干渉計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01206205A true JPH01206205A (ja) | 1989-08-18 |
Family
ID=12335321
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3158788A Pending JPH01206205A (ja) | 1988-02-12 | 1988-02-12 | スペックルパターン干渉計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01206205A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997029340A1 (en) * | 1996-02-05 | 1997-08-14 | The Secretary Of State For Trade & Industry | Interferometer |
| WO2000058820A1 (fr) * | 1999-03-25 | 2000-10-05 | Fujitsu Limited | Ecran tactile pour lecture optique |
| GB2377754A (en) * | 2001-06-09 | 2003-01-22 | Anthony Graham Booth | Movement detection using speckle interferometer |
| JP2014196954A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-16 | 株式会社ミツトヨ | 光電式エンコーダ |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5983007A (ja) * | 1982-11-02 | 1984-05-14 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 光学式測定機 |
| JPS61140802A (ja) * | 1984-12-14 | 1986-06-27 | Hitachi Ltd | 裏面反射光を防止した光波干渉装置 |
-
1988
- 1988-02-12 JP JP3158788A patent/JPH01206205A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5983007A (ja) * | 1982-11-02 | 1984-05-14 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 光学式測定機 |
| JPS61140802A (ja) * | 1984-12-14 | 1986-06-27 | Hitachi Ltd | 裏面反射光を防止した光波干渉装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997029340A1 (en) * | 1996-02-05 | 1997-08-14 | The Secretary Of State For Trade & Industry | Interferometer |
| WO2000058820A1 (fr) * | 1999-03-25 | 2000-10-05 | Fujitsu Limited | Ecran tactile pour lecture optique |
| GB2377754A (en) * | 2001-06-09 | 2003-01-22 | Anthony Graham Booth | Movement detection using speckle interferometer |
| GB2377754B (en) * | 2001-06-09 | 2005-08-17 | Anthony Gerald Booth | Movement detection apparatus and method |
| JP2014196954A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-16 | 株式会社ミツトヨ | 光電式エンコーダ |
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