JPH01207607A - 外観検査装置 - Google Patents
外観検査装置Info
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- JPH01207607A JPH01207607A JP3212988A JP3212988A JPH01207607A JP H01207607 A JPH01207607 A JP H01207607A JP 3212988 A JP3212988 A JP 3212988A JP 3212988 A JP3212988 A JP 3212988A JP H01207607 A JPH01207607 A JP H01207607A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、透光性材料からなる回転体状の部品、主と
してアンプルの溶閉端部を対象とする外観検査装置に関
する。
してアンプルの溶閉端部を対象とする外観検査装置に関
する。
従来、注射液を封入してからアンプルの端部を溶閉、つ
まり加熱溶融して密閉したのちに、この溶閉端部にパリ
（鋭い突起部）や凹凸部が生じてないか検査されるが、
この検査は人の目視によった。しかも、対象部品がアン
プルであることに鑑み、量産されたアンプルは全数検査
する必要があった。
まり加熱溶融して密閉したのちに、この溶閉端部にパリ
（鋭い突起部）や凹凸部が生じてないか検査されるが、
この検査は人の目視によった。しかも、対象部品がアン
プルであることに鑑み、量産されたアンプルは全数検査
する必要があった。
以上説明したように、従来の技術において、アンプルの
溶閉端部の外観検査が、人の目視に頼ってきた理由、言
いかえれば、検査の機械化ないし自動化の障害は、アン
プルの溶閉端部の、あらゆる方向から見たときの輪郭を
正確かつ明確に把握することの困難さにあった。要する
に、機械化ないし自動化による検査の正確度に、いまだ
技術的な問題があったわけである。 この発明の課題は、従来の技術がもつ以上の問照点を解
消し、透光性材料からなる回転体状の部品の外観検査を
正確かつ自動的になすための外観検査装置を提供するこ
とにある。
溶閉端部の外観検査が、人の目視に頼ってきた理由、言
いかえれば、検査の機械化ないし自動化の障害は、アン
プルの溶閉端部の、あらゆる方向から見たときの輪郭を
正確かつ明確に把握することの困難さにあった。要する
に、機械化ないし自動化による検査の正確度に、いまだ
技術的な問題があったわけである。 この発明の課題は、従来の技術がもつ以上の問照点を解
消し、透光性材料からなる回転体状の部品の外観検査を
正確かつ自動的になすための外観検査装置を提供するこ
とにある。
前記の課題を解決するために、本発明に係る外観検査装
置は、 透光性材料からなる回転体状の部品を外観検査する装置
であって、 軸線のまわりに回転される前記部品と；この部品をとお
りその軸線と直角な直線上の、前記部品を挟んで一方の
側に設置される光源と；この光源と前記部品との中間位
置に設置される、拡散透過フィルタおよび所定寸法、形
状の中空部をもつ遮光板と； 前記部品を挟んで他方の側に光軸が前記直線と一致する
ように設置され、撮像視野内に前記部品の輪郭に倣って
内側領域と外側領域とが設定される撮像装置と；を備え
、 この撮像装置における前記部品の輪郭画像が前記内側、
外側の各領域の少なくともいずれかに存在することに基
づいて前記部品の外観検査をするようにした。
置は、 透光性材料からなる回転体状の部品を外観検査する装置
であって、 軸線のまわりに回転される前記部品と；この部品をとお
りその軸線と直角な直線上の、前記部品を挟んで一方の
側に設置される光源と；この光源と前記部品との中間位
置に設置される、拡散透過フィルタおよび所定寸法、形
状の中空部をもつ遮光板と； 前記部品を挟んで他方の側に光軸が前記直線と一致する
ように設置され、撮像視野内に前記部品の輪郭に倣って
内側領域と外側領域とが設定される撮像装置と；を備え
、 この撮像装置における前記部品の輪郭画像が前記内側、
外側の各領域の少なくともいずれかに存在することに基
づいて前記部品の外観検査をするようにした。
光源からの照明光は、拡散透過フィルタおよび遮光板に
よって、あらゆる方向に拡散されるとともに、その照明
範囲が限定される。したがって、この光が被検査対象と
しての部品を透過した後に撮像装置に入射することによ
って、部品の鮮明な（強調された）輪郭画像、しかも部
品をその軸線のまわりに回転させることによって、あら
ゆる方向から見たときの部品の輪郭画像を得ることがで
きる。この部品の輪郭画像の一部が内側、外側の各領域
の少なくともいずれかに存在することに基づいて、部品
の形状の異常が判別される。
よって、あらゆる方向に拡散されるとともに、その照明
範囲が限定される。したがって、この光が被検査対象と
しての部品を透過した後に撮像装置に入射することによ
って、部品の鮮明な（強調された）輪郭画像、しかも部
品をその軸線のまわりに回転させることによって、あら
ゆる方向から見たときの部品の輪郭画像を得ることがで
きる。この部品の輪郭画像の一部が内側、外側の各領域
の少なくともいずれかに存在することに基づいて、部品
の形状の異常が判別される。
本発明に係る実施例を示す外観検査装置について、以下
に図面を参照しながら説明する。なお、検査対象は、ア
ンプルの溶閉端部である。 第１図はこの外観検査装置の平面図であり、同図におい
て、ｌは検査対象としてのアンプルの溶閉端部（横断面
図）、２は単一光源、３は拡散透過フィルタで、例えば
乳白色のプラスチック板、４は中空部４ａをもつ遮光板
、５．６はいずれも撮像用のカメラである。 アンプル１は、その軸線のまわりに矢印方向の回転（自
転）をしつつ、かつ破線表示の円軌道上を矢印方向に移
動（公転）する。そして、カメラ５．６はアンプル１の
一方の片面、他方の片面の撮像をそれぞれ担当する。言
いかえれば、アンプル１の中心位置が、点Ａ１を中央点
として単一光源２に対し中心角θの範囲の公転軌道上を
移動する間に、アンプル１の片面をカメラ５によって、
同様に点Ａ２を中央点として単一光源２に対し中心角θ
の範囲の公転軌道上を移動する間に、アンプル１の反対
側の片面をカメラ６によってそれぞれ撮像する。つまり
、２台のカメラ５．６によって、アンプルｌの全外周の
撮像をおこなう。なお、角度θは、単一光源２に向かう
カメラ５，６の各光軸がなす角度、また点ＡＩ、Ａ２は
、それぞれカメラ５，６の各光軸が公転軌道と交差する
点、点Ａｏは公転軌道上の点ＡＬＡ２の中央点である。 なお、中心角θはあまり大きくなると、アンプルの鮮明
な輪郭画像が得られなくなる。しかも、アンプルのあら
ゆる方向から見たときの輪郭画像を得るために、アンプ
ルの自転と公転との各角速度をそれぞれ決める必要があ
る。すなわち、中心角θの範囲の公転軌道上を移動する
に要する時間をＴとすると、公転角速度はθ／Ｔ、自転
角速度は１８０／Ｔ にする。 また、遮光板４の中空部４ａは、アンプル１の溶閉端部
についての照射範囲を限定する役割をもち、この照射範
囲の適切な限定によって、アンプル端部の輪郭画像が鮮
明になる（強調される）ことが、経験的に分かっている
。したがって、中空部４ａの寸法、形状は、アンプル端
部の寸法、形状、アンプル１．単一光源２．遮光板４．
カメラ５．６などの位置関係などに応じて決定されるべ
き設計上の重要Ｉｌｆ項である。 さて、以上のようにして得られたカメラ５，６の各撮像
視野について、第２図を参照しながら説明する。同図（
ａ）は正常アンプルの場合の説明図、同図（ｂ）はやや
大形の正常アンプルの場合の説明図、同図（Ｃ）はパリ
を生じた異常アンプルの場合の説明図、同図（ｄ）は凸
部をもつ異常アンプルの場合の説明図、同図（ｅ）は凹
部をもつ異常アンプルの場合の説明図である。 第２図（ａ）において、Ｐｏは標準寸法の正常アンプル
端部の輪郭画像、Ｗｉは輪郭画像Ｐｏに倣ってその内側
に設定された内側領域、Ｗｏは輪郭画像Ｐｏに倣ってそ
の外側に設定された外側領域、Ｙ軸、Ｙ軸はアンプルの
輪郭画像と、内側、外側の各設定領域との相対位置を正
規化する、言いかえれば、輪郭画像を判別しやすいよう
に位置規正するための基準座標軸である。 なお、内側領域Ｗｉ と外側領域Ｗｏとの中間に形成さ
れた逆Ｕ字空間で、右側の脚部の幅が左側のそれより大
きくしであるのは、アンプルの外径寸法が多少変化して
も、同じ内側領域Ｗｉ と外側領域Ｗｏとが共通に適用
できるようにするためである。同図（ｂ）はやや大形の
正常アンプル（輪郭画像ＰＩ）の場合で、このことを示
している。 同図（Ｃ）はパリを生じた異常アンプル（輪郭画像Ｐ２
）の場合で、パリの部分が外側領域Ｗｏに存在すること
によって異常判別が可能となる。また、同図（ｄ）は凸
部をもつ異常アンプル（輪郭画像Ｐ３）の場合で、凸部
が外側領域Ｗｏに存在することによって異常判別が可能
となる。なお、異常内容がパリであるか、凸部であるか
の区別は実瞭上は不要である。さらに、同図（ｅ）は凹
部をもつ異常アンプル（輪郭画像Ｐ４）の場合で、凹部
が内側領域Ｗｉに存在することによって異常判別が可能
となる。なお、図示してないが、部分的に凸部と凹部と
が共存するアンプルの場合には、内側領域Ｗｉ。 外側領域Ｗｏのいずれにも輪郭画像の一部が存在するか
ら、このことで異常判別できる。 ところで、以上説明したことから明らかなように、この
発明装置の優れる点は、一つには、拡散透過フィルタと
所定寸法、形状の中空部をもつ遮光板とによって、アン
プル端部の鮮明な（強調された）輪郭画像が得られるこ
と、いま一つには、異常判別のための撮像視野内の設定
領域が内側。 外側の各領域の二つでよいことである。ちなみに、従来
一般には、画像の輪郭部に沿って複数個の領域が設定さ
れてきた。
に図面を参照しながら説明する。なお、検査対象は、ア
ンプルの溶閉端部である。 第１図はこの外観検査装置の平面図であり、同図におい
て、ｌは検査対象としてのアンプルの溶閉端部（横断面
図）、２は単一光源、３は拡散透過フィルタで、例えば
乳白色のプラスチック板、４は中空部４ａをもつ遮光板
、５．６はいずれも撮像用のカメラである。 アンプル１は、その軸線のまわりに矢印方向の回転（自
転）をしつつ、かつ破線表示の円軌道上を矢印方向に移
動（公転）する。そして、カメラ５．６はアンプル１の
一方の片面、他方の片面の撮像をそれぞれ担当する。言
いかえれば、アンプル１の中心位置が、点Ａ１を中央点
として単一光源２に対し中心角θの範囲の公転軌道上を
移動する間に、アンプル１の片面をカメラ５によって、
同様に点Ａ２を中央点として単一光源２に対し中心角θ
の範囲の公転軌道上を移動する間に、アンプル１の反対
側の片面をカメラ６によってそれぞれ撮像する。つまり
、２台のカメラ５．６によって、アンプルｌの全外周の
撮像をおこなう。なお、角度θは、単一光源２に向かう
カメラ５，６の各光軸がなす角度、また点ＡＩ、Ａ２は
、それぞれカメラ５，６の各光軸が公転軌道と交差する
点、点Ａｏは公転軌道上の点ＡＬＡ２の中央点である。 なお、中心角θはあまり大きくなると、アンプルの鮮明
な輪郭画像が得られなくなる。しかも、アンプルのあら
ゆる方向から見たときの輪郭画像を得るために、アンプ
ルの自転と公転との各角速度をそれぞれ決める必要があ
る。すなわち、中心角θの範囲の公転軌道上を移動する
に要する時間をＴとすると、公転角速度はθ／Ｔ、自転
角速度は１８０／Ｔ にする。 また、遮光板４の中空部４ａは、アンプル１の溶閉端部
についての照射範囲を限定する役割をもち、この照射範
囲の適切な限定によって、アンプル端部の輪郭画像が鮮
明になる（強調される）ことが、経験的に分かっている
。したがって、中空部４ａの寸法、形状は、アンプル端
部の寸法、形状、アンプル１．単一光源２．遮光板４．
カメラ５．６などの位置関係などに応じて決定されるべ
き設計上の重要Ｉｌｆ項である。 さて、以上のようにして得られたカメラ５，６の各撮像
視野について、第２図を参照しながら説明する。同図（
ａ）は正常アンプルの場合の説明図、同図（ｂ）はやや
大形の正常アンプルの場合の説明図、同図（Ｃ）はパリ
を生じた異常アンプルの場合の説明図、同図（ｄ）は凸
部をもつ異常アンプルの場合の説明図、同図（ｅ）は凹
部をもつ異常アンプルの場合の説明図である。 第２図（ａ）において、Ｐｏは標準寸法の正常アンプル
端部の輪郭画像、Ｗｉは輪郭画像Ｐｏに倣ってその内側
に設定された内側領域、Ｗｏは輪郭画像Ｐｏに倣ってそ
の外側に設定された外側領域、Ｙ軸、Ｙ軸はアンプルの
輪郭画像と、内側、外側の各設定領域との相対位置を正
規化する、言いかえれば、輪郭画像を判別しやすいよう
に位置規正するための基準座標軸である。 なお、内側領域Ｗｉ と外側領域Ｗｏとの中間に形成さ
れた逆Ｕ字空間で、右側の脚部の幅が左側のそれより大
きくしであるのは、アンプルの外径寸法が多少変化して
も、同じ内側領域Ｗｉ と外側領域Ｗｏとが共通に適用
できるようにするためである。同図（ｂ）はやや大形の
正常アンプル（輪郭画像ＰＩ）の場合で、このことを示
している。 同図（Ｃ）はパリを生じた異常アンプル（輪郭画像Ｐ２
）の場合で、パリの部分が外側領域Ｗｏに存在すること
によって異常判別が可能となる。また、同図（ｄ）は凸
部をもつ異常アンプル（輪郭画像Ｐ３）の場合で、凸部
が外側領域Ｗｏに存在することによって異常判別が可能
となる。なお、異常内容がパリであるか、凸部であるか
の区別は実瞭上は不要である。さらに、同図（ｅ）は凹
部をもつ異常アンプル（輪郭画像Ｐ４）の場合で、凹部
が内側領域Ｗｉに存在することによって異常判別が可能
となる。なお、図示してないが、部分的に凸部と凹部と
が共存するアンプルの場合には、内側領域Ｗｉ。 外側領域Ｗｏのいずれにも輪郭画像の一部が存在するか
ら、このことで異常判別できる。 ところで、以上説明したことから明らかなように、この
発明装置の優れる点は、一つには、拡散透過フィルタと
所定寸法、形状の中空部をもつ遮光板とによって、アン
プル端部の鮮明な（強調された）輪郭画像が得られるこ
と、いま一つには、異常判別のための撮像視野内の設定
領域が内側。 外側の各領域の二つでよいことである。ちなみに、従来
一般には、画像の輪郭部に沿って複数個の領域が設定さ
れてきた。
以上説明したように、この発明においては、光源からの
照明光は、拡散透過フィルタおよび遮光板によって、あ
らゆる方向に拡散されるとともに、その照明範囲が限定
される。したがって、この光が被検査対象としての部品
を透過した後に撮像装置に入射することによって、部品
の鮮明な（強調された）輪郭画像、しかも部品をその軸
線のまわりに回転させることによって、あらゆる方向か
ら見たときの部品の輪郭画像を得ることができる。 この部品の輪郭画像の一部が内側、外側の各領域の少な
くともいずれかに存在することに基づいて、部品の形状
の異常が判別される。 したがって、この発明によれば、従来の技術に比べ次の
ようなすぐれた効果がある。 （１）部品の輪郭形状の異常、例えばパリ、凹凸などが
正確に検出でき、したがって、外観検査が正確かつ自動
的におこなわれ、検査の質、量両面の能力向上と検査コ
ストの低減とが図れる。 （２）部品の輪郭形状異常を判別するための設定領域が
、内側領域と外側領域との二つだけであるから、従来一
般に輪郭に沿って複数個の領域が設定されたのと比較し
て簡単であり、かつ後段の画像処理も容易、迅速になる
。 （３）装置構成が比較的簡単であるから、実施が容易に
なるとともに、低コスト化が図れる。
照明光は、拡散透過フィルタおよび遮光板によって、あ
らゆる方向に拡散されるとともに、その照明範囲が限定
される。したがって、この光が被検査対象としての部品
を透過した後に撮像装置に入射することによって、部品
の鮮明な（強調された）輪郭画像、しかも部品をその軸
線のまわりに回転させることによって、あらゆる方向か
ら見たときの部品の輪郭画像を得ることができる。 この部品の輪郭画像の一部が内側、外側の各領域の少な
くともいずれかに存在することに基づいて、部品の形状
の異常が判別される。 したがって、この発明によれば、従来の技術に比べ次の
ようなすぐれた効果がある。 （１）部品の輪郭形状の異常、例えばパリ、凹凸などが
正確に検出でき、したがって、外観検査が正確かつ自動
的におこなわれ、検査の質、量両面の能力向上と検査コ
ストの低減とが図れる。 （２）部品の輪郭形状異常を判別するための設定領域が
、内側領域と外側領域との二つだけであるから、従来一
般に輪郭に沿って複数個の領域が設定されたのと比較し
て簡単であり、かつ後段の画像処理も容易、迅速になる
。 （３）装置構成が比較的簡単であるから、実施が容易に
なるとともに、低コスト化が図れる。
第１図は本発明に係る実施例の平面図、第２図は撮像視
野を示し、同図（ａ）は正常アンプルの場合の説明図、
同図（ｂ）はやや大形の正常アンプルの場合の説明図、
同図（Ｃ）はパリを生じた異常アンプルの場合の説、明
図、同図（ｄ）は凸部をもつ異常アンプルの場合の説明
図、同図（ｅ）は凹部をもつ異常アンプルの場合の説明
図である。 符号説明 ■＝チアンル、２：単一光源、 ３：拡散透過フィルタ、４：遮光板、
野を示し、同図（ａ）は正常アンプルの場合の説明図、
同図（ｂ）はやや大形の正常アンプルの場合の説明図、
同図（Ｃ）はパリを生じた異常アンプルの場合の説、明
図、同図（ｄ）は凸部をもつ異常アンプルの場合の説明
図、同図（ｅ）は凹部をもつ異常アンプルの場合の説明
図である。 符号説明 ■＝チアンル、２：単一光源、 ３：拡散透過フィルタ、４：遮光板、
Claims (1)
- 透光性材料からなる回転体状の部品を外観検査する装
置であって、軸線のまわりに回転される前記部品と；こ
の部品をとおりその軸線と直角な直線上の、前記部品を
挟んで一方の側に設置される光源と；この光源と前記部
品との中間位置に設置される、拡散透過フィルタおよび
所定寸法、形状の中空部をもつ遮光板と；前記部品を挟
んで他方の側に光軸が前記直線と一致するように設置さ
れ、撮像視野内に前記部品の輪郭に倣って内側領域と外
側領域とが設定される撮像装置と；を備え、この撮像装
置における前記部品の輪郭画像が前記内側、外側の各領
域の少なくともいずれかに存在することに基づいて前記
部品の外観検査をするようにしたことを特徴とする外観
検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3212988A JPH01207607A (ja) | 1988-02-15 | 1988-02-15 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3212988A JPH01207607A (ja) | 1988-02-15 | 1988-02-15 | 外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01207607A true JPH01207607A (ja) | 1989-08-21 |
Family
ID=12350276
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3212988A Pending JPH01207607A (ja) | 1988-02-15 | 1988-02-15 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01207607A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0451610U (ja) * | 1990-09-07 | 1992-04-30 | ||
| JPH0771935A (ja) * | 1993-09-07 | 1995-03-17 | Shionogi & Co Ltd | アンプルの外観検査装置及び検査方法 |
| JP2019120650A (ja) * | 2018-01-10 | 2019-07-22 | 本田技研工業株式会社 | 溶接部検査装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5734438A (en) * | 1980-08-09 | 1982-02-24 | Takeda Chem Ind Ltd | Method and apparatus for removing signals resulting from flaws, dirts and the like on container wall |
| JPS6055212A (ja) * | 1983-09-06 | 1985-03-30 | Nec Corp | 非接触三次元測定装置 |
| JPS62161043A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-07-17 | Eisai Co Ltd | 容器に付着した汚れを検出する方法 |
-
1988
- 1988-02-15 JP JP3212988A patent/JPH01207607A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5734438A (en) * | 1980-08-09 | 1982-02-24 | Takeda Chem Ind Ltd | Method and apparatus for removing signals resulting from flaws, dirts and the like on container wall |
| JPS6055212A (ja) * | 1983-09-06 | 1985-03-30 | Nec Corp | 非接触三次元測定装置 |
| JPS62161043A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-07-17 | Eisai Co Ltd | 容器に付着した汚れを検出する方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0451610U (ja) * | 1990-09-07 | 1992-04-30 | ||
| JPH0771935A (ja) * | 1993-09-07 | 1995-03-17 | Shionogi & Co Ltd | アンプルの外観検査装置及び検査方法 |
| JP2019120650A (ja) * | 2018-01-10 | 2019-07-22 | 本田技研工業株式会社 | 溶接部検査装置 |
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