JPH01207756A - 電子写真用感光体の製造方法 - Google Patents
電子写真用感光体の製造方法Info
- Publication number
- JPH01207756A JPH01207756A JP63033475A JP3347588A JPH01207756A JP H01207756 A JPH01207756 A JP H01207756A JP 63033475 A JP63033475 A JP 63033475A JP 3347588 A JP3347588 A JP 3347588A JP H01207756 A JPH01207756 A JP H01207756A
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- JP
- Japan
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- grinding
- nitric acid
- aluminum substrate
- substrate
- waviness component
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/10—Bases for charge-receiving or other layers
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/10—Bases for charge-receiving or other layers
- G03G5/102—Bases for charge-receiving or other layers consisting of or comprising metals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、AszSe@あるいは5e−To合金等Se
系光導電材料からなる感光層を円筒状のアルミニウム基
体上に真空蒸着する電子写真用感光体の製造方法に関す
る。
系光導電材料からなる感光層を円筒状のアルミニウム基
体上に真空蒸着する電子写真用感光体の製造方法に関す
る。
感光層の蒸着前にアルミニウム基体の表面が均一で感光
層と密着性の良好な状態にするため、従来は円筒形砥石
もしくは直方体形砥石を用いて研削を行っていた。
層と密着性の良好な状態にするため、従来は円筒形砥石
もしくは直方体形砥石を用いて研削を行っていた。
しかし研削により表面を加工した場合、下記の問題があ
る。第一の問題は、第2図に示すようにアルミニウム基
体1に砥石研削(ず3が食い込み、その上にAs、Se
、1蒸着すると蒸着層2の表面に突起21が生ずること
である。第二の問題は、第3図に示すように基体lにア
ルミニウムのばり4が発生し、やはり蒸着層2の表面に
突起21が生ずることである。第三の問題は、第4図に
示すように砥石目詰まりによりきず5が発生し、蒸着層
2の表面に凹部22が生ずることである。これらの感光
層2の欠陥21.22が感光層にピンホールが生じたり
、画像上に白抜は等の欠陥が現われたりする原因となる
。
る。第一の問題は、第2図に示すようにアルミニウム基
体1に砥石研削(ず3が食い込み、その上にAs、Se
、1蒸着すると蒸着層2の表面に突起21が生ずること
である。第二の問題は、第3図に示すように基体lにア
ルミニウムのばり4が発生し、やはり蒸着層2の表面に
突起21が生ずることである。第三の問題は、第4図に
示すように砥石目詰まりによりきず5が発生し、蒸着層
2の表面に凹部22が生ずることである。これらの感光
層2の欠陥21.22が感光層にピンホールが生じたり
、画像上に白抜は等の欠陥が現われたりする原因となる
。
本発明の課題は、上述のような問題のある砥石による研
削加工を行わないで、アルミニウム基体の安定した表面
状態にし、Se系材料の蒸着により欠陥のない感光層を
形成でき、画像欠陥不良の低減する電子写真用感光体の
製造方法を提供することにある。
削加工を行わないで、アルミニウム基体の安定した表面
状態にし、Se系材料の蒸着により欠陥のない感光層を
形成でき、画像欠陥不良の低減する電子写真用感光体の
製造方法を提供することにある。
上記の課題を解決するため、本発明の方法は、円筒状ア
ルミニウム基体の表面を切削により表面の十点平均粗さ
を0.57ua 〜l、 O,74%、うねり成分を0
.4n以下にし、さらに硝酸によるエツチングを行った
のち、その基体表面上にSe系光導電材料を蒸着するも
のとする。
ルミニウム基体の表面を切削により表面の十点平均粗さ
を0.57ua 〜l、 O,74%、うねり成分を0
.4n以下にし、さらに硝酸によるエツチングを行った
のち、その基体表面上にSe系光導電材料を蒸着するも
のとする。
切削と化学的処理の組み合わせで、蒸着層との密着性を
有する適度の粗さをもつ表面がアルミニウム基体に砥石
による研削によらないで形成できる。
有する適度の粗さをもつ表面がアルミニウム基体に砥石
による研削によらないで形成できる。
100鶴程度の直径を有するアルミニウム円筒を精密加
工旋盤に装着し、ダイヤモンドバイトを用いて切削して
表面の十点平均粗さRzを0.5.eないし1.0/4
〜に、うねり成分を0.44以下に加工し、それを洗浄
した後、20〜30%のHNOs水溶液中に10〜15
分程度浸程度た。その際の表面状態を第1図にヒストグ
ラムで示し、試料数34における表面粗さが第1図(a
)、表面うねりが第1図山)である、 Fixの平均は
0.75−+表面うねりの平均は0.32−である0図
中に下方管理限界LCL、上方管理限界UCLが記入さ
れている。第5図はHNOs溶液浸漬後のアルミニウム
基体表面をESCAで調べたもので、縦軸はアルミニウ
ム酸化物/アルミニウム金属強度比、横軸にスパッタ時
間を示し、表面において酸化膜が形成されていることが
わかる。このようにアルミニウム基体の表面加工処理を
行ワたのちAsx5es感光層を蒸着した結果、第1表
に示すように砥石により研削する従来方法で同様な表面
粗さ、うねり成分の範囲に管理した場合に比して不良率
が低くなった。
工旋盤に装着し、ダイヤモンドバイトを用いて切削して
表面の十点平均粗さRzを0.5.eないし1.0/4
〜に、うねり成分を0.44以下に加工し、それを洗浄
した後、20〜30%のHNOs水溶液中に10〜15
分程度浸程度た。その際の表面状態を第1図にヒストグ
ラムで示し、試料数34における表面粗さが第1図(a
)、表面うねりが第1図山)である、 Fixの平均は
0.75−+表面うねりの平均は0.32−である0図
中に下方管理限界LCL、上方管理限界UCLが記入さ
れている。第5図はHNOs溶液浸漬後のアルミニウム
基体表面をESCAで調べたもので、縦軸はアルミニウ
ム酸化物/アルミニウム金属強度比、横軸にスパッタ時
間を示し、表面において酸化膜が形成されていることが
わかる。このようにアルミニウム基体の表面加工処理を
行ワたのちAsx5es感光層を蒸着した結果、第1表
に示すように砥石により研削する従来方法で同様な表面
粗さ、うねり成分の範囲に管理した場合に比して不良率
が低くなった。
第1表
このような不良率の低減は、他の5s−As合金、 S
。
。
−Te合金あるいは純Ssを蒸着する場合にも得られる
。
。
本発明によれば、アルミニウム円筒基体表面を表面十点
平均粗さ9.5 %s 〜l、 Q )bah、うねり
成分0、4 n以下に管理された状態に切削したのち、
HNOs溶液による処理によって酸化膜層を形成して、
安定した表面状態にすることにより、砥石による研削を
用いて同一管理範囲で表面を加工した場合に比し均一で
安定したSs−^3系悪感光を蒸着することができ、砥
石による研削の場合に生ずるアルミニウムのぼり、研削
くずの食い込み、砥石目詰まりによるきすが無くなるた
め、電子写真用感光体製造時の不良率が低減し、画像品
質が向上した。
平均粗さ9.5 %s 〜l、 Q )bah、うねり
成分0、4 n以下に管理された状態に切削したのち、
HNOs溶液による処理によって酸化膜層を形成して、
安定した表面状態にすることにより、砥石による研削を
用いて同一管理範囲で表面を加工した場合に比し均一で
安定したSs−^3系悪感光を蒸着することができ、砥
石による研削の場合に生ずるアルミニウムのぼり、研削
くずの食い込み、砥石目詰まりによるきすが無くなるた
め、電子写真用感光体製造時の不良率が低減し、画像品
質が向上した。
第1図は本発明の一実施例における研削後の表面状態を
示すヒストグラムで(alは表面十点平均粗さ、伽)は
表面うねりであり、第2図、第3図、第4図は従来の砥
石による表面研削の際に生ずる不良部をそれぞれ示す断
面図、第5図は本発明の一実施例における硝酸浸漬後の
表面のESCAによ覆面↑点子q徂Z Rz 桟面)力り 第1図 第3図 第4図 スバ・ンタ叫B(匁) 15 図
示すヒストグラムで(alは表面十点平均粗さ、伽)は
表面うねりであり、第2図、第3図、第4図は従来の砥
石による表面研削の際に生ずる不良部をそれぞれ示す断
面図、第5図は本発明の一実施例における硝酸浸漬後の
表面のESCAによ覆面↑点子q徂Z Rz 桟面)力り 第1図 第3図 第4図 スバ・ンタ叫B(匁) 15 図
Claims (1)
- 1)円筒状アルミニウム基体の表面を切削により表面の
十点平均粗さを0.5μm〜1.0μm、うねり成分を
0.4μm以下にし、さらに硝酸によるエッチングを行
ったのち、該基体表面上にセレン系光導電材料を蒸着す
ることを特徴とする電子写真用感光体の製造方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63033475A JPH01207756A (ja) | 1988-02-16 | 1988-02-16 | 電子写真用感光体の製造方法 |
| US07/310,535 US5223363A (en) | 1988-02-16 | 1989-02-13 | Method of manufacturing electro-photographic photoreceptor |
| DE3904408A DE3904408C2 (de) | 1988-02-16 | 1989-02-14 | Verfahren zur Herstellung eines elektrofotografischen Fotorezeptors |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63033475A JPH01207756A (ja) | 1988-02-16 | 1988-02-16 | 電子写真用感光体の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01207756A true JPH01207756A (ja) | 1989-08-21 |
Family
ID=12387569
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63033475A Pending JPH01207756A (ja) | 1988-02-16 | 1988-02-16 | 電子写真用感光体の製造方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5223363A (ja) |
| JP (1) | JPH01207756A (ja) |
| DE (1) | DE3904408C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3785632A1 (en) | 2019-08-30 | 2021-03-03 | Sysmex Corporation | Pretreatment method and in-vivo component measuring device |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0282262A (ja) * | 1988-09-20 | 1990-03-22 | Fuji Electric Co Ltd | 電子写真用感光体の製造方法 |
| US5955231A (en) * | 1997-12-15 | 1999-09-21 | Konica Corporation | Electrophotographic apparatus and electrophotographic photoreceptor employed by the same |
| JP2020046618A (ja) * | 2018-09-21 | 2020-03-26 | 富士ゼロックス株式会社 | 電子写真感光体用支持体、電子写真感光体、プロセスカートリッジ、及び画像形成装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5729051A (en) * | 1980-07-30 | 1982-02-16 | Fuji Electric Co Ltd | Pretreatment of substrate of electrophotographic receptor |
| JPS6146966A (ja) * | 1984-08-10 | 1986-03-07 | Toshiba Corp | 電子写真装置 |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3973967A (en) * | 1972-06-01 | 1976-08-10 | Itek Corporation | Processes utilizing photographic element containing a physical development activator |
| JPS5238459A (en) * | 1975-08-14 | 1977-03-25 | Sato Gijutsu Kenkyusho:Kk | Waste gas purification method and its apparatus |
| JPS5827496B2 (ja) * | 1976-07-23 | 1983-06-09 | 株式会社リコー | 電子写真用セレン感光体 |
| JPS58172652A (ja) * | 1982-04-02 | 1983-10-11 | Ricoh Co Ltd | セレン系電子写真感光体の製造方法 |
| JPS5974567A (ja) * | 1982-10-20 | 1984-04-27 | Olympus Optical Co Ltd | 電子写真感光体 |
| JPS59193463A (ja) * | 1983-04-18 | 1984-11-02 | Canon Inc | 電子写真用光導電部材 |
| DE3418401C3 (de) * | 1983-05-18 | 1994-10-20 | Kyocera Corp | Elektrophotographisches Aufzeichnungsmaterial |
| JPS6079360A (ja) * | 1983-09-29 | 1985-05-07 | Kyocera Corp | 電子写真感光体及びその製造方法 |
| JPS60166956A (ja) * | 1984-02-09 | 1985-08-30 | Canon Inc | 感光体及びそれを用いた画像形成方法 |
| US4696882A (en) * | 1984-07-12 | 1987-09-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Member having light receiving layer with smoothly interconnecting nonparallel interfaces |
| JPS6236676A (ja) * | 1985-08-10 | 1987-02-17 | Canon Inc | 光導電部材用の支持体及び該支持体を有する光導電部材 |
| US4929524A (en) * | 1986-09-12 | 1990-05-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Organic photo conductive medium |
| JPH0282262A (ja) * | 1988-09-20 | 1990-03-22 | Fuji Electric Co Ltd | 電子写真用感光体の製造方法 |
| JPH03261367A (ja) * | 1990-03-12 | 1991-11-21 | Sony Corp | スイッチング電源 |
-
1988
- 1988-02-16 JP JP63033475A patent/JPH01207756A/ja active Pending
-
1989
- 1989-02-13 US US07/310,535 patent/US5223363A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-02-14 DE DE3904408A patent/DE3904408C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5729051A (en) * | 1980-07-30 | 1982-02-16 | Fuji Electric Co Ltd | Pretreatment of substrate of electrophotographic receptor |
| JPS6146966A (ja) * | 1984-08-10 | 1986-03-07 | Toshiba Corp | 電子写真装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3785632A1 (en) | 2019-08-30 | 2021-03-03 | Sysmex Corporation | Pretreatment method and in-vivo component measuring device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3904408A1 (de) | 1989-08-24 |
| US5223363A (en) | 1993-06-29 |
| DE3904408C2 (de) | 1996-01-25 |
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