JPH01211042A - 試験プログラムの実行方式 - Google Patents

試験プログラムの実行方式

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Publication number
JPH01211042A
JPH01211042A JP63035235A JP3523588A JPH01211042A JP H01211042 A JPH01211042 A JP H01211042A JP 63035235 A JP63035235 A JP 63035235A JP 3523588 A JP3523588 A JP 3523588A JP H01211042 A JPH01211042 A JP H01211042A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
output
test program
test
output device
Prior art date
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Pending
Application number
JP63035235A
Other languages
English (en)
Inventor
Yatachika Takesue
武末 八太力
Toshiyuki Kokurozawa
小黒沢 利幸
Hisashi Tamaru
田丸 久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Electronics Services Co Ltd
Hitachi Computer Engineering Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Electronics Services Co Ltd
Hitachi Computer Engineering Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Electronics Services Co Ltd, Hitachi Computer Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPH01211042A publication Critical patent/JPH01211042A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、情報処理システムに係り、特に、複数の入出
力装置に対するサービス試験を効率よく行うに好適な試
験プログラムの実行方式に関する。
〔従来の技術〕
複数の入出力装置に対する試験を開始するに先立ち、オ
ペレータが入出力装置アドレス及び入出力装置タイプを
入力しプログラムが、試験対象入出力装置を識別し入出
力テストプログラムを決定する方式は、その処理のため
に入出力装置が多くなればなる程、台数に比例して多く
の時間を必要とする欠点がある。
なお、この種の技術は、例えば、特開昭61−6714
9号公報に開示される。
〔発明が解決しようとする課題〕
入出力装置の台数が増加する傾向にある近年の情報処理
システムを試験する場合、前述の試験を開始する前に必
ず試験対象の入出力装置に対する制御テーブルを作成す
る従来技術は、入出力装置が多くなればなる程、試験開
始までの時間が多く必要となり、短時間に全ての入出力
装置の試験を行うことが望めないという問題点がある。
本発明の目的は、前述の従来技術の問題点を解決し、短
時間に情報処理システムの入出力装置の試験を行える試
験プログラムの実行方式を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的は、オペレータが入力した入出力装置アドレス
及び入出力装置タイプとあらかじめ試験プログラム内に
備えた入出力装置タイプと入出力テストプログラムの対
応を示すリンケージテーブルによって、入出力装置アド
レス単位に入出力テストプログラムを決定し、入出力装
置アドレスと1対1に作成する入出力制御テーブル内に
、入出力テストプログラムのアドレスを格納する機能を
備え、試験プログラムと入出力制御テーブル群及びこれ
らのプログラムを主記憶装置上にロードするためのIP
Lブートプログラムを編集し、入出力装置に蓄積する機
能を備えることによって、工PL操作により蓄積した試
験プログラムと入出力制御テーブル群を短時間に再現で
きるようにすることにより達成される。
〔作 用〕
入出力制御テーブル内に設けられた、入出力テストプロ
グラムポインタは、入出力装置を試験する入出力テスト
プログラムのアドレスを示し、試験対象入出力装置の入
出力制御テーブル群と試験プログラムを、試験プログラ
ムに設けた、入出力装置に対して、編集して蓄積する機
能により、−度作成された入出力制御テーブルと試験プ
ログラムは、再利用できる形で蓄積され、以後、この蓄
積されたプログラムは、IPL操作により、主記憶装置
上に再現されるので、短時間で試験を開始することがで
きる。
〔実施例〕
以下、本発明による試験プログラムの実行方式の一実施
例を図面により詳細に説明する。
第1図は本発明の試験プログラムの実行方式が適用され
る情報処理システムの一例を示す構成図、第2図は入出
力装置と1対1に対応した入出力制御テーブルとリンケ
ージテーブルと入出力テストプログラムの関連を示す図
、第3図は試験プログラムと入出力制御テーブルの主記
憶装置上の配置図、第4図は本発明の詳細な説明するフ
ローチャートである。第1図〜第3図において、1は中
央処理装置、2は主記憶装置、3はチャネル制御装置、
31〜:3nはチャネル、311〜3171は入出力制
御装置、3111〜3171*は入出力装置。
T3111〜T31−nnは入出力制御テーブル。
T1はリンケージテーブル、P21〜P22は入出力テ
ストプログラムである。
本発明が適用される情報処理システムは、第1図に示す
ように、複数の入出力装置3111〜311η、312
1〜312*、・・・31*1〜317171が夫々対
応する複数の入出力制御装置311〜31?1に接続さ
れ、これらの入出力制御装置311〜3171がチャネ
ル31を介してチャネル制御装置3に接続され、さらに
、チャネル制御装置3が中央処理装置1と主記憶装置2
に接続されて構成される。チャネル32〜3yには、チ
ャネル31と同様に入出力制御装置、入出力装置が接続
されているが、説明の便宜上省略しである。
第1図に示す計算機システムを構成する入出力装置31
11〜3171nに対応して作成される入出力制御テー
ブルT3111〜T317171は、第2図に示すよう
に、入出力装置アドレス511〜5171と、入出力装
置タイプと入出力テストプログラムP21〜P271と
の対応を示すリンケージテーブルT1によって決定され
る入出力テストプログラムポインタ521〜5271を
含んで構成される。
入出力制御テーブルT3111〜T317171と試験
プログラムを構成する試験プログラム制御部P1.リン
ケージテーブルTl、入出力テストプログラムP21〜
P271は、第3図に示すように試験開始時に主記憶装
置2に格納する。
このように構成された本発明の一実施例の動作を第4図
に示すフローチャートにより説明する。
■ まず、試験プログラムを主記憶装置2に格納し初期
設定を行う(処理SL、S2)。
■ もし、試験プログラム格納時(処理SL)に入出力
制御テーブルT3111〜T3171nが主記憶装置2
に格納されていて、新規に入出力制御テーブルT311
1〜317171を作成する必要が無い場合は、入出力
制御テーブルの作成は行われない。オペレータの介入に
より入出力制御テーブルT3111〜T31n71の作
成指示があれば、入出力制御テーブルT3111〜T3
17171を作成する(処理S3.S4)。
■ オペレータの介入により、試験プログラムの蓄積要
求があれば、IPLローダ、試験プログラムと入出力制
御テーブルT3111〜T3171*を入出力装置31
11〜31n71のうち、オペレータにより指定された
1つの入出力装置に編集して出力する(処理S5゜S6
)。
■ オペレータの試験実行指示により、入出力制御テー
ブルT3111〜T31n71に基づいて入出力装置の
試験を実行しく処理S7)。
試験結果の報告を行い(処理S8)、試験を終了する。
処理S6により作成した入出力制御テーブルを含む試験
プログラムにより、情報処理システムの入出力装置等の
試験を行う場合、処理S4の入出力制御テーブルの作成
を省略することが可能となる。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように、本発明によれば、複数
の入出力装置の試験のための入出力制御テーブルが準備
できた時点の主記憶装置の内容を再利用可能な状態に編
集して、入出力装置の媒体に蓄積することによって、入
出力装置の数が増大しても、短時間に目的とする試験の
開始ができるので、情報処理システムの正常性の確認、
障害検出時間の短縮に大きな効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の試験プログラムの実行方式が適用され
る情報処理システムの一例を示す構成図、第2図は入出
力装置と1対1に対応した入出力制御テーブル、リンケ
ージテーブルおよび入出力テ4ドブログラムの関連を示
す図、第3図は試験プログラムと入出力制御テーブルの
主記憶装置上の配置図、第4図は本発明の詳細な説明す
るフロチャートである。 1・・・中央処理装置、2・・・主記憶装置、3・・・
チャネル制御装置、31〜3n・・・チャネル、311
〜3172・・・入出力制御装置、3111〜3171
71・・・入出力装置、T3111〜T317171・
・・入出力制御テーブル、入出力テストプログラム・・
・P21〜P271゜

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、中央処理装置、主記憶装置、チャネル制御装置を備
    え、チャネルを介して入出力装置等の各種周辺装置の試
    験を行う情報処理システムにおいて、入力された入出力
    装置アドレス及び入出力装置タイプとあらかじめ試験プ
    ログラム内に備えた入出力装置タイプと入出力テストプ
    ログラムの対応を示すリンケージテーブルによって入出
    力装置アドレス単位に入出力テストプログラムを決定し
    て、入出力装置アドレスと1対1対応に作成する入出力
    制御テーブル内に、入出力テストプログラムのアドレス
    を格納する機能と、前記試験プログラムと入出力制御テ
    ーブル群及びこれらのプログラムを前記主記憶装置上に
    ロードするためのIPLブートプログラムを編集し、前
    記入出力装置に蓄積する機能を備えることによって、I
    PL操作により、蓄積した試験プログラムを、短時間に
    再現することを特徴とする試験プログラムの実行方式。
JP63035235A 1988-02-19 1988-02-19 試験プログラムの実行方式 Pending JPH01211042A (ja)

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JP (1) JPH01211042A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06139100A (ja) * 1992-10-28 1994-05-20 Pfu Ltd アダプタ動作検証方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH06139100A (ja) * 1992-10-28 1994-05-20 Pfu Ltd アダプタ動作検証方法

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